MICROSCOPA DE EFECTO TNEL

En mecnica cuntica el estado de un electrn de energa E y masa m est descripto por la

funcin de onda .

INTRODUCCIN
El funcionamiento del microscopio de efecto tnel (STM- por sus siglas en ingls) fue
introducido por Binning y Rohrer en 1982 (Binning y Rohrer, 1982), y su importancia fue
reconocida cuando en 1986 recibieron el Premio Nobel de Fsica (Binning y Rohrer,
1987)

gracias

la

descripcin

escala

atmica

de

una

estructura

x 7 de silicio usando el microscopio (Binning y Rohrer, 1983).

El STM es principalmente usado como una herramienta de caracterizacin de superficies
con resolucin atmica; sin embargo, su experimentacin ha demostrado la posibilidad de
manipular y crear estructuras de escala nanomtrica, dando as la oportunidad de fabricar

patrones y geometras tiles en el posterior diseo de dispositivos electrnicos (Ruess y

Oberbeck, 2004).
EN QUE CONSISTE?
Este sistema basa su funcionamiento en un efecto cuntico, denominado efecto tnel, que
se da en distancias menores a un nanmetro. El control de este tipo de fenmeno es lo que
nos permite hacer topografa de superficies a nivel atmico. Desde el punto de vista de la
mecnica clsica un electrn no puede superar una barrera de potencial superior a su
energa. Sin embargo, segn la mecnica cuntica, los electrones no estn definidos por una
posicin precisa, sino por una nube de probabilidad. Esto provoca que en ciertos sistemas
esta nube de probabilidad se extienda hasta el otro lado de una barrera de potencial. Por
tanto el electrn puede atravesar la barrera, y contribuir a generar una intensidad elctrica.
Esta intensidad se denomina intensidad de tnel y es el parmetro de control que nos
permite realizar la topografa de superficie.
Este efecto cuntico aparece tambin en otras ramas de la fsica. Gamow lo aplic para dar
explicacin a la desintegracin mediante emisin de partculas alfa en ncleos inestables.
En electrnica, hay transistores que basan parte de su funcionamiento en el efecto tnel.
En una instalacin cuyo fin es tomar medidas en escala atmica es necesario que el
elemento que se usa como sonda de medida tenga una resolucin de esa misma escala. En
un microscopio de efecto tnel la sonda es una punta conductora, por ejemplo, de
Wolframio. La punta se trata para eliminar los xidos y para que sea lo ms afilada posible.
En

condiciones

ideales

hay

un

solo

tomo

en

el

extremo

de

la

sonda.

La instalacin consiste en un circuito elctrico en el que estn incluidos la muestra y la

punta de medida. Como se ha apuntado anteriormente, el parmetro de medida es la
intensidad de corriente tnel. Esta intensidad apenas alcanza los nanoamperios y, adems,
es muy sensible tanto a la distancia, como a la diferencia de tensin entre la punta y la
muestra. Debido a esta sensibilidad todo el sistema debe estar controlado electrnicamente.
As, la toma de medidas y los movimientos de la punta (realizados mediante un dispositivo
piezoelctrico con precisiones que pueden llegar a los 0.05 nm) son controlados por el
usuario, a travs de las interfases correspondientes, por ejemplo: mediante un PC de
sobremesa.

La punta no toca la muestra, sino que se queda a una distancia equivalente a un par de
tomos (del orden de angstroms) de la superficie. El PC registra la trayectoria de la punta y
entonces se puede desplegar la informacin como una imagen en escala de grises a manera
de mapa de densidades o mapa topogrfico. A la imagen se le puede agregar color slo para
mejorar el contraste y as observar mejor los cambios detectados.
ESTRUCTURA DEL EQUIPO (CARACTERISTICAS)
Mecanismo de aproximacin gruesa, con el que se aproxima la sonda hasta alcanzar el
rgimen tnel. Dispositivos basados en el empleo de cristales piezoelctricos, o incluso en
dispositivos mecnicos de alta precisin.
Mecanismo de control en rgimen tnel. Se trata de uno o varios cristales piezoelctricos
que permiten controlar la distancia d, y a la vez barrer sobre la superficie. Simultneamente
al barrido, se registra la corriente tnel IT que atraviesa el electrodo.
El diseo debe tener en cuenta que se deben minimizar las vibraciones y los
desplazamientos debidos a in homogeneidades en la temperatura.
La punta puede estar fabricada de tungsteno o platino-iridio, aunque tambin se utiliza
el oro para ello.3 Las puntas de tungsteno estn fabricadas habitualmente por grabado
electroqumico, y las puntas de platino-iridio estn fabricadas por corte mecnico. 3
Manteniendo la posicin de la punta con respecto a la muestra, el escaneo de la muestra y la
adquisicin de los datos son controlados por computadora. 5 La computadora puede ser usada
tambin para mejorar la imagen con la ayuda de procesamiento digital de imgenes12 13 as
como tambin para realizar medidas cuantitativas.14

FUNCIN
En este microscopio (Figura 2a), un electrodo, T, con una punta de dimensiones
microscpicas se mueve sobre la superficie de la muestra, S, que acta como un segundo
electrodo. La punta se desplaza con la ayuda de tres brazos piezoelctricos x, y y z,
perpendiculares entre s, mientras que un mecanismo L permite aproximar la muestra a la
punta hasta una distancia de 0.1 m; con el piezoelctrico Z se termina de aproximar la
punta a la muestra. Cuando la separacin entre la punta y la muestra es de ~ 5 , los
electrones pueden pasar de una a la otra por efecto tnel. Si en estas condiciones se
establece una diferencia de potencial adecuada, V T (entre 1 y 0.01 V), se genera una
corriente tnel IT del orden de 1 nA. Los electrones fluyen de la punta a la muestra o
viceversa dependiendo de la polaridad de VT. En este modo de operacin, la distancia de la
punta a la muestra se vara aplicando un voltaje Vz al piezoelctrico Z a travs de una
unidad de contacto UC (Figura 2b), de tal modo que la corriente tnel I T permanece
constante a medida que la punta barre la superficie de la muestra variando los potenciales
Vx y Vy de los otros dos piezoelctricos. Las variaciones en la posicin de la punta
describen, en general, la topografa de la superficie. Los perfiles que se registran, como
consecuencia de la variacin en la altura de la punta (posicin en z) frente a sus distintas
posiciones laterales (x, y), constituyen un mapa de los contornos de la superficie.

La sencillez de esta tcnica estriba en que la corriente tnel IT, en muy buena aproximacin,
depende exponencialmente de la distancia de separacin S entre los dos electrodos y
linealmente del voltaje aplicado VT para valores bajos del mismo (V T < 1 V). La expresin
que

proporciona

la

corriente

viene

dada

por:

donde A es una constante que depende de la densidad de estados

electrnicos en el sistema punta-muestra; (x,y) es la funcin de trabajo
(expresada en eV) en cada punto de la superficie y S la distancia entre la
punta y la muestra expresada en ngstrom.
CMO FUNCIONA EL MICROSCOPIO DE EFECTO TNEL? (I) Una pequea
punta metlica que acta como una sonda se aproxima a la superficie que se desea
observar (que e tambin es conductora de la electricidad). A una distancia
pequesima (inferior al nanmetro) se establece una dbil corriente elctrica entre la

punta y la muestra. Esta corriente, que se debe al llamado efecto tnel (un
fenmeno cuntico!), vara muy rpidamente a medida que cambia la separacin
entre muestra y punta. Es decir, midiendo cambios de corriente se pueden determinar
los cambios de la distancia entre la muestra y la punta. Esto nos permite conocer la
topografa de la superficie y determinar las regiones planas, la presencia de escalones,
hoyos, montculos e incluso ver tomos.
Si recorremos la superficie con la punta, sin contacto alguno entre ambas, podemos
medir la topografa de la misma a partir de la medida de la corriente. Si hay
montculos, escalones, tomoslos podremos percibir! La punta acta como una
sonda que palpa la superficiecon resolucin atmica!
Existen dos modos de operacin de un STM, el de altura constante (CHM) y el de corriente
constante (CGM). La eleccin de uno u otro modo de operacin depende bsicamente de
cun plana es la muestra y/o cun grande es el barrido que sobre ella se quiere hacer. El
modo ms sencillo de operacin es el de CHM en el que se barre sobre la muestra y se
adquieren los cambios en corriente tnel, como se muestra en la Figura 8.

La limitacin fundamental de este modo es que para rugosidades grandes (qu es grande
para
este microscopio?) la punta termina chocndose sobre la muestra ya que no existe ningn
tipo de lazo de realimentacin que lo prevenga.

PARA QUE SIRVE?

El microscopio STM permite ver lo que ocurre en una superficie. Permite modificar una
superficie haciendo colisionar la punta con la superficie. Pero tambin se ha logrado usar la
punta como una nanopinza para mover tomos uno a uno o para oxidar de forma
controlada regiones de una superficie.
Adems de su funcin de microscopio (o ms bien nanoscopio) el STM agrega
informacin espectroscpica: por ejemplo la densidad local de estados electrnicos, los
modos vibracionales de molculas adsorbidas o los modos colectivos de excitacin de una
muestra. Esto se debe a que la informacin recogida en un STM (o en cualquier SPM) es
cierta convolucin de la topografa con las propiedades electrnicas de la muestra.
MATERIALES QUE PUEDE DESCRIBIR
El microscopio de efecto tnel trabaja mejor con materiales conductores, pero es tambin
posible preparar molculas orgnicas en una superficie y estudiar sus estructuras.
Por ejemplo, esta tcnica ha sido usada en el estudio de molculas de ADN.
La STM, dio lugar a grandes avances en la llamada Nanoingenieria. Cuanto ms pequeo
se disean los dispositivos, mayor es la influencia en su comportamiento y desempeo del
orden atmico de sus materiales constituyentes.
Estos detalles incluyen arreglos de tomos en estructuras cristalinas, presencia, tamao y
densidad de bordes de granos, impurezas, dislocaciones o imperfecciones.

Otras de la aplicacin del STM es la nanolitografa, se refiere a la fabricacin de

microestructuras con un tamao de escala que ronda los nanmetros. Esto implica la
existencia de patrones litografiados en los que, al menos, una de sus dimensiones
longitudinales es del tamao de tomos individuales y aproximadamente del orden de 10
nm. La nanolitografa se usa durante la fabricacin de circuitos integrados de
semiconductores

sistemas

Nanoelectromechanical Systems o NEMS.

EJEMPLOS

nanoelectromecnicos,

conocidos

como

Imagen de reconstruccin sobre una superficie limpia de oro (100).

Una imagen STM de un nanotubode carbono de pared simple.

Figura 6-32.-Micrografa de la superficie de un cristal en el cual se

aprecian los tomos de silicio, mediante la tcnica de microscopio de
efecto tnel. Tomado de Daz C. Pgina de electrnica. tomo (129).

Fotografa por microscopio de efecto tnel de una capa biatmica de plomo superconductora a baja
temperatura. (C) Science

Imagen: Imagen tomada con un microscopio de efecto tnel. Esta imagen es de aproximadamente 5
nanmetros muestra una superficie de cobre, donde los tomos de cobre estn contenidos dentro de un
recinto cuntico de 48 tomos de hierro. La barrera circular del hierro tiene un radio de 71,3 Angstroms (71,3
x10-10) metros. Vemos que los electrones se comportan como ondas.

VENTAJAS Y DESVENTAJAS

LA DESCRIPCIN ES TANTO CUALITATIVA COMO CUANTITATIVA.

Mediante un juego de cermicas piezoelctricas se consigue acercar una punta metlica a la

superficie de la muestra o viceversa a distancias de nanmetros. Para distancias de
aproximadamente 1nm y tras aplicar una diferencia de potencial V b entre la punta y la
muestra, se establece una corriente entre ambos electrodos por efecto tnel. Estos mismos
elementos piezoelctricos u otros similares sern los que bajo deformaciones controladas
consigan el barrido horizontal de la punta en el plano XY paralelo a la superficie as como
el control de la distancia punta-muestra en Z. La corriente tnel, convenientemente
transformada a una seal de voltaje mediante un transductor elctrico, ser el parmetro que
har posible la adquisicin de imgenes de topografa de la superficie en cualquiera de los
dos modos habituales de medida