UNIVERSIDADE FEDERAL DO MARANHO

CENTRO DE CINCIAS EXATAS E TECNOLOGIA

DEPARTAMENTO DE FSICA

INTERFERMETRO DE MICHELSON

NOME: Thaynara Pinto de Lima

CURSO:Fsica
MATRCULA:2014010970

SO LUIS - MA
JANEIRO/2017
NDICE

1. Introduo
2. Objetivos
3. Materiais
4. Procedimentos
5. Resultados e Discusso
6. Concluso
7. Referncias

1. INTRODUO

O interfermetro de Michelson o tipo mais fundamental de

interfermetro de dois feixes. Ele pode ser utilizado para medir para
medir comprimentos de onda com grande preciso. Este aparelho foi
originalmente construdo por A. Michelson em 1881 e visava
comprovar a existncia do ter, o meio no qual se supunha na poca
deveria se propagar a luz. O experimento, como se sabe, no foi bem
sucedido e anos mais tarde, em 1905, A. Einstein publicou o seu
famoso trabalho intitulado Sobre a eletrodinmica dos corpos em
movimento rejeitando definitivamente a existncia do ter. A figura 1
a seguir mostra esquematicamente, a montagem do interfermetro.

Figura
1Interfermetro de Michelson

Nesse interfermetro, um feixe de luz monocromtico atravessa

um espelho semitransparente que faz com que o feixe incidente seja
dividido em dois. Um dos feixes transmitido atravs desse espelho
at o espelho direita, como mostra a figura 1, refletido de volta
para o espelho semiprateado e ento refletido para o detector,
localizado na parte inferior da figura, enquanto o outro feixe
refletido pelo espelho semiprateado at o espelho mostrado na parte
superior da figura, onde novamente refletido, passando atravs do
espelho semiprateado at o detector.
A energia do processo conservada devido ao espelho
semiprateado central, onde a energia das partes destrutivas

redistribuda para as partes construtivas. O efeito da interferncia

alterar a parcela da luz refletida que chega, a parcela que erra e a
parcela que refletida no anteparo.
A caracterstica do padro de interferncia depende da fonte da
luz e precisamente da orientao dos espelhos e do espelho
semitransparente. Em geral, se os espelhos (M 1 e M2) estiverem
posicionados como na situao a da figura ao lado, as franjas de

interferncia assumiro forma circular. Por outro lado, se os espelhos

estiverem posicionados como na situao b, um cruzando o outro, as
franjas de interferncia tendero a assumir forma paralela e serem
igualmente espaadas.

Figura 2- caracterstica do padro de interferncia

Quando os dois componentes da luz so recombinados no

detector, pode haver uma diferena de fase entre eles, j que eles

podem ter percorrido caminhos diferentes. Eles interferem construtiva

ou destrutivamente, dependendo da diferena de caminho. Se os dois
caminhos percorridos forem iguais ou diferirem por um nmero inteiro
de comprimento de onda, ocorre uma interferncia construtiva e
registrado um sinal forte no detector. Se, no entanto, a diferena for
um nmero inteiro e mais meio comprimento de onda, ocorre uma
interferncia destrutiva e registrado um sinal muito fraco no
detector.
Considere que a luz parte da fonte extensa F e incide no
espelho semiprateado(M) de espessura desprezvel. A luz ento
dividida em dois feixes que seguem respectivamente para os
espelhos M1 e M2 onda so refletidos de volta para M onde eles so
respectivamente transmitidos e refletidos indo interferir no ponto de
observao O. Sejam
Y 1=a 1 sen(t 1 )

(1)

Y 1=a 1 sen(t 1 )
(2)

as duas ondas que interferem em O e produzem como resultado

uma onda que pode ser descrita como
Y 1=a 1 sen(t 1 )

Y = Asen(t )

(3)

(4)

Onde

A=a1 +a2 +2 a1 a2 cos

(5)

= 1+ 2
(6)

Na prtica para se obter uma fonte extensa uma lente

inserida entre a fonte de luz e o espelho semiprateado. Sendo os
espelhos perpendiculares entre si podemos o sistema equivalente a
uma luz proveniente de uma fonte extensa incidindo sobre uma
camada de ar, de espessura d=d1 +d2 entre o espelho M1 e a imagem
virtual do espelho M2 como ilustra

Figura 3 Diagrama de raios de luz da Interferncia de Michelson.

Da Figura 3 acima pode-se verificar que a diferena de fase entre os

dois feixes

onde

2
2 cos

(7)

o comprimento de onda da luz utilizada. A

distribuio de intensidade no caso em que a 1=a2=a pode ser dada

por
I A 2=4 a2 cos2

( 2 )

(8)
Portanto mximos ocorrero cada vez que

for um mltiplo

de 2 , o que na Eq (7) significa que

2 dcos=m

m= 1,2,3...

(9)
e crculos concntricos so produzidos para cada valor de m,d e . Se
a posio do espelho mvel (M1) variada de modo que d , por

exemplo, diminua ento, de acordo com a Eq. 9, o dimetro do crculo

tambm diminuir. Portanto, um crculo desaparecer cada vez que d
seja diminuda (ou aumentada) de 2/ .

(N
)

P1 ( mbar )

P2 ( mbar )

P3 (mbar ) P4 (mbar) P5 (mbar ) Mdi

a

1
2
3
4
5

120
240
360
470
590

130
242
362
490
615

120
230
350
480
610

100
218
323
445
570

120
230
360
460
590

690

740

715

683

700

815

867

850

810

790

=2 d /m

10
0
20
0

118
232
351
489
595
705,
6
826,
4

Desvi
o
Padr
o
()
11
9,6
16,3
17,5
18

Press
o
Mdia
(mBar
)
882
768
649
511
405

22,7

294,4

31,3

173,6

630 109 m
637 109 m

2.1 DETERMINAO DO NDICE DE REFRAO DO AR

Para determinar o ndice de refrao do ar um recipiente de
comprimento s (cubeta) inserido no caminho do feixe, em frente ao
espelho fixo. Uma bomba de vcuo permite variar a presso no recipiente. O
ndice de refrao de um gs linearmente dependente da presso p,tal
que
n(p)=n(0)+(n/p)p
sendo que n(0)=1 e

n n ( p+ p )np
=
p
p

(10)

O caminho tico para o feixe luminoso percorrendo o recipiente de

comprimento s
x=n ( p ) . s
(12)

Se a presso no recipiente for variada de

, este caminho tico

sofrer uma variao de

x=n ( p+ p ) . sn ( p ) . s
(13)
Iniciando-se com a presso ambiente (po) e diminuindo-se at um
valor p ,observaremos que a configurao inicial do padro de
interferncia (caracterizada, por exemplo, por um mnimo no centro
do padro) se repetir N vezes. Cada mudana de mnimo para
mnimo corresponde a uma variao de no caminho tico. Assim
entre as presses p e p+ p o caminho tico ser alterado por
x=[ N ( p )N ( p+ p ) ] .
(14)
Considerando-se agora que o feixe de luz atravessa duas vezes o recipiente,
pelas Eq.13 e Eq.14 temos

n ( p + p )n ( p )=[ N ( p )N ( p p ) ] .

2s

e em vista da Eq. 11 podemos escrever:

n N
=
.
p
p 2s
A quantidade N/p pode ser determinada a partir do grfico do
nmero de variaes do padro de interferncia versus a presso. O
ndice de refrao n ento determinado com o uso das Eq. 16 Eq.
10.

2. OBJETIVOS

Determinar do comprimento da luz de um laser e do ndice de

refrao do ar utilizando tcnicas de interferometria.

3. MATERIAIS

01 Interfermetro de Michelson;
01 Laser, He-Ne 1.0 mW;
01 Lente = +20 mm;
01 Suporte para a lente;
01 Banco tico;
01 Anteparo;
01 Cubeta de vidro (comprimento = 10 mm);
01 Bomba de vcuo manual com manmetro.

4. PROCEDIMENTOS

A fim de obter o maior nmero possvel de crculos de

interferncia, os espelhos do interfermetro , antes de tudo, foram
ajustados. Constamos que o fixe de luz incide sobre o espelho
semirefletor sob um ngulo de 45 o dividindo-se em dois que so
refletidos pelos espelhos mvel (M1 ) e fixo (M2) e atingiram o
anteparo (A). Ajustamos os parafusos fixados base do espelho fixo
(M2) at os pontos de luz proveniente dos dois espelhos coincidirem
no anteparo.)Fizemos os ajuste cuidadosamente at que obtivemos
uma imagem de crculos concntricos.
4.1 MEDIDAS DO COMPRIMENTO DE ONDA DA LUZ DO LASER(FALTA
DADOS)

Para que fosse medido o comprimento de onda da luz do laser,

ajustamos o parafuso micromtrico na posio inicial L 1 =31 para a qual
haja um mnimo de intensidade no centro do padro de interferncia.

4.2 MEDIDA DO NDICE DE REFRAO DO AR

Pra a medida de refrao do ar ,fixamos a cubeta de vidro no

suporte em frente ao espelho fixo (M2) e ajustamos o interfermetro
e a lente (L) para obtermos
um padro de crculos
concntricos,verificamos a
existncia
e comeamos a medir.
Iniciamos as medidas com presso ambiente (po= 1004 mbar) e
diminumos a presso usando a bomba de vcuo anotando o nmero
de mnimos que chegam ao centro do padro de interferncia
(nmero de perodos). A tabela abaixo descreve as medidas para N
variando de 1 a 7,as medidas foram feitas 5 vezes para fim de
comparao e mais preciso dos dados.
N
(nmero
comprimentos
onda)

de
de

p (mbar)

-130

-242

-362

-490

-615

-740

-867

p (mbar)

-100

-218

-323

-445

-570

-683

-810

p (mbar)

-120

-230

-360

-460

-600

-700

-790

p (mbar)

-120

-230

-350

-480

-610

-715

-850

p (mbar)

- 120

-240

-360

-470

-590

-690

-815

p mdio (mbar)

-118

-232

-351

-469

-597

-705,6

-826,4

Presso (p0 + pm)

(mbar)

886

772

653

535

407

298,4

177,6

5. RESULTADOS E DISCUSSO

6. CONCLUSES
Aqui, deve-se apresentar as concluses e impresses sobre os
resultados e a prtica experimental...

7. REFERNCIAS
1. Referncia 1
2. Referncia 2
...

Observao: Usar a norma da ABNT para a formatao das

referncias.