Espectroscopa Raman

Es una tcnica fotnica de alta resolucin que proporciona en pocos segundos informacin
qumica y estructural de casi cualquier material o compuesto orgnico y/o inorgnico
permitiendo as su identificacin, utilizada en fsica de la materia condensada y tamb
in en qumica para el estudio de los modos vibracionales, rotacionales y otros de b
aja frecuencia en un sistema.
El anlisis mediante espectroscopa Raman se basa en el examen de luz dispersada por
un material al indicir sobre l un haz de luz monocromtico. Una pequea porcin de la
luz es dispersada inelsticamente experimentando ligeros cambios de frecuencia que
son caractersticos del material analizado e independientes de la frecuencia de l
a luz incidente. Se trata de una tcnica de anlisis que se realiza directamente sob
re el material a analizar sin necesitar ste ningn tipo de preparacin especial y que
no conlleva ninguna alteracin de la superficie sobre la que se realiza el anlisis
, es decir, es no-destructiva.
Hay un nmero de tipos avanzados de espectroscopia Raman, incluyendo la superficie
realzada Raman, punta realzada Raman, Raman polarizado, Raman estimulado (anlogo
a la emisin estimulada), transmisin Raman, espacial compensado Raman, y la hiper-
Raman.
Experiencia en el anlisis de materiales como grafitos, materiales carbonosos
Aplicaciones:
- La espectrometra Raman espontnea se utiliza para, entre otras cosas, caracteriza
r los materiales, medir la temperatura, y encontrar la orientacin cristalogrfica d
e una muestra.
- La dispersin Raman mediante un cristal anisotrpico da informacin sobre la orienta
cin del cristal. La polarizacin de la luz de dispersin Raman en relacin con el crist
al, y la polarizacin de la luz lser, pueden utilizarse para conocer la orientacin d
el cristal, siempre que la estructura cristalina sea conocida.
- Resuelve problemas de control de calidad en polimeros y emulsiones. Tambien ay
uda a resolver problemas de desactivacion de catalizadores o su contaminacion
- Analisis de polimeros: estudio y caracterizacion de la cristalinidad en polime
ros,Aplicada para controlar el grado de cristalizacin, el tamao y la orientacin
de las molculas en polmeros. Adems, permite identificar impurezas o la
existencia de ciertos componentes en mezclas.
- el anlisis de piedras preciosas [8] e, incluso, el estudio de los
minerales de la superficie de Marte
La Espectroscopa Raman es probablemente la herramienta analtica ms importante dispo
nible para investigar las muchas y diferentes estructuras producidas a partir de
l carbono y la gran cantidad de nuevos materiales utilizados en nanotecnologa:
Analice todas las formas de carbono
Analice monocapas y pelculas delgadas
Analice el crecimiento del grafeno CVD sobre lminas de cobre
Nanotecnologa
La Espectroscopa Raman es una herramienta ideal para estudiar los semiconductores
, Dispositivos de vanguardia, como transistores, clulas solares y diodos emisores
de luz, llevan las propiedades de los materiales al lmite, y requieren utilizar
materia prima extremadamente homognea. La Espectroscopa Raman es una herramienta i
deal para estudiar los semiconductores:
Caracterizacion de semiconductores y analisis faciles
La Espectroscopa Raman est jugando un papel fundamental en el desarrollo tanto de
la tecnologa fotovoltaica existente, como en la de la prxima generacin: examinar y
caracterizar tanto los principales materiales fotovoltaicos existentes como los
nuevos (basados en el Si, CIGS, CdTe, orgnicos, III-Vs, etc),
La Espectroscopa Raman est siendo cada vez ms utilizada en el estudio de los catali
zadores y de las reacciones catalticas. Esto proporciona informacin crtica sobre lo
s mecanismos, ayudando a mejorar la eficiencia de la conversin.:
- Analice una amplia gama de sistemas catalticos
Control ambiental
La espectroscopa Raman es una herramienta ideal para caracterizar las bateras de i
ones de litio, tanto para investigacin como para desarrollo de los materiales inv
olucrados en la fabricacin de un producto hasta el control de calidad del product
o final y el anlisis de fallos.
- identificacion de materiales
-determinacniond e la distribucion y estructura
- mediciones in situ
Se aplica al estudio de pelculas delgadas, revestimientos, circuitos integrados,
inclusiones minerales

Espectroscopia por transformada de

FTIR est basada en los principios de la espectroscopa molecular. Esta rea de amplio
alcance en fsica y qumica cubre una gran cantidad de tcnicas experimentales. es un
a tcnica analtica simple y rpida, la cual proporciona valiosa informacin cuantitativ
a acerca de la composicin de las muestras y de los efluentes cromatogrficos
La espectrometra infrarroja por transformada de Fourier (FTIV) es una tcnica de anl
isis para obtener el espectro infrarrojo con mayor rapidez. En lugar de registra
r los datos variando la frecuencia de luz infrarroja monocromtica, se gua la luz I
V (con todas las longitudes de onda de pista utilizada) a travs de un interfermetr
o. Despus de pasar por la muestra, la seal medida da el interferograma. La realiza
cin de una transformada de Fourier de la seal produce un espectro idntico al de la
espectrometra infrarroja convencional (dispersiva).permite estudiar la vibracin y
rotacin de las molculas en la regin infrarroja del espectro electromagntico.
Esta tcnica proporciona un espectro de reflexin de las bandas de los grupos funcio
nales de las sustancias inorgnicas y orgnicas, por lo cual es posible realizar una
identificacin de los materiales. El equipo dotado de una sonda con fibra ptica pe
rmite el anlisis directo de la superficie del objeto de estudio. Se trate de un M
id-FTIR, Remspec con resolucin de 10 cm-1 en el intervalo espectral de 900-5000 c
m-1.
consta de una fuente de luz, cuyo haz es introducido en un
interfermetro de Michelson (Fig. II-1). ste ha sido preparado de forma que uno de
sus
espejos se puede desplazar a velocidad constante v con ayuda de un motor.
medir la longitud de onda de forma absoluta sin necesidad
de hacer medidas de referencia o calibrados en ? como ocurre con otras tcnicas
(monocromador, interfermetro Fabry-Perot...). En esta propiedad reside el xito de
la
tcnica no como espectrmetro, sino como medidor de longitudes de onda.
no utiliza elementos dispersores para
determinar el espectro (redes de difraccin, prismas, etc) por lo que, en principi
o, al
detector le llega una cantidad de luz mucho mayor, consiguiendo una relacin sealru
ido
superior (ventaja multiplex). Por este motivo, resulta muy til a la hora de medir
espectros de fuentes dbiles,
Se ejecuta rpidamente y es capaz de detectar simultneamente varios parmetros, inclu
yendo agua, combustible, glicol, oxidacin, holln y algunos aditivos.
Estudios qumicos de estructuras, de enlaces y entornos qumicos
Estudios de absorcin y catlisis
Anlisis cuantitativos.
CARACTERIZACIN DE MATERIALES POLMEROS
Haciendo medidas a una frecuencia especfica a travs del tiempo, se pueden seguir l
os cambios en la naturaleza o la cantidad de un enlace en particular, lo que es
especialmente til para medir el grado de polimerizacin en la fabricacin de polmeros.
 caracterizar muestras de polvo cermico.
estudio de muestras de tamao nanomtrico
terminacin individual y simultnea de antimonio, arsnico y estao,

[3.1] B. Schrader, Infrared and Raman Spectroscopy, VCH, Ney York, 1995, p.2 y
ss.
[3.2] R. Tolman, The principles of statistical mechanics, Dover, New York (1980)
.
[3.3] Manual de operacin del espectrmetro FT-Raman. Editado por Nicolet
Analytical Instruments, 1990.
[3.4] W. Brgel, Zeitschrift fr Physik, 127:400 (1950).
N. Alperti, IR-Theory and Practice of Infrared Spectroscopy, Plenum/Roseta,
New York (1983).
R. Chang, Basic principles of Spectroscopy, Mc-Graw-Hill, New York (1971).
A. Cross, Practical infrared spectroscopy, 3a edicin, Butterworths, Londres
(1969).
G. Herzberg, Infrared and Raman spectra, Van Nostrand Reinhold Company,
New York (1945).
M. Hollas, Modern Spectroscopy, 3a edicin, Wiley, New York (1996).
B. Schrader, Practical Fourier Transform Infrared Spectroscopy, Academic
Press (1990).