ESCOLA POLITCNICA DA UNIVERSIDADE DE SO PAULO

Departamento de Engenharia Metalrgica e de Materiais

Fundamentos de Cincia e Engenharia de Materiais

Prof. Dr. Andr Paulo Tschiptschin

CRISTALOGRAFIA E DIFRAO DE
RAIOS-X
RETICULADO CRISTALINO
CLULA UNITRIA
 Sistemas cristalinos
Existem somente sete diferentes combinaes dos parmetros de
rede. Cada uma dessas combinaes constitui um sistema cristalino.
 Reticulados de Bravais
Qualquer reticulado cristalino pode ser descrito por um dos 14
reticulados de Bravais.
SIMETRIA
 ndices de Miller: direes cristalogrficas

Direo cristalogrfica: vetor que une dois pontos da rede

cristalina.
Procedimento para determinao dos ndices de Miller de uma
direo cristalogrfica:
transladar o vetor direo de maneira que ele passe pela
origem do sistema de coordenadas.
determinar a projeo do vetor em cada um dos trs eixos
de coordenadas. Essas projees devem ser medidas em
termos dos parmetros de rede (a,b,c)
multiplicar ou dividir esses trs nmeros por um fator
comum, tal que os trs nmeros resultantes sejam os
menores inteiros possveis.
representar a direo escrevendo os trs nmeros entre
colchetes: [u v w].
 Direes cristalogrficas : exemplo

x y z
projees xa 1xb Oxc
projees em 1 0
termos de a,b e c
reduo a mnimos 1 2 0
inteiros
notao [120]

Nota: uma famlia de direes, por exemplo [100], [100],

[010], [010], [001] e [001] representada por <100>
NDICES DE MILLER (Direes)
 ndices de Miller: Planos Cristalogrficos

Determinao dos ndices de Miller de um plano cristalogrfico:

determinar os interceptos do plano com os eixos do sistema
de coordenadas em termos dos parmetros de rede a, b e c.
Se o plano passar pela origem, transladar o plano para uma
nova posio no sistema de coordenadas.
obter os recprocos desses trs interceptos. Se o plano for
paralelo a um dos eixos, considera-se o intercepto infinito e o
seu recproco zero.
representar na forma ( h k l )

Nota : s vezes necessrio multiplicar os trs nmeros resultantes

por um fator comum para assim obter trs ndices inteiros.
NDICES DE MILLER (Planos)
Planos cristalogrficos

Nota: uma famlia de planos, como

por exemplo (111), (111), (111),
(111), (111), (111), (111) e (111)
representada por {111}
 Estruturas compactas HC

Plano compacto formado por esferas

rgidas (A). Observam-se dois tipos de
interstcios, que so assinalados como
B e C.

Empilhamento de planos compactos

formando uma estrutura HC.
Empilhamento de dois planos
compactos.
 Estruturas compactas - CFC

Plano compacto formado por esferas rgidas

(A). Observam-se dois tipos de interstcios, que
so assinalados como B e C.

Empilhamento de planos compactos

formando uma estrutura CFC.
 Fator de empacotamento atmico (FEA)

Vtomos
FEA =
V clula

4R 3 4R 3
4 4
FEACFC = 3
= 3
= 0,74
3 3
a (2 R 2 )
 Alotropia e polimorfismo

Polimorfismo: fenmeno no qual um slido (metlico ou no metlico)

pode apresentar mais de uma estrutura cristalina, dependendo da
temperatura e da presso (por exemplo, a slica, SiO2 como quartzo,
cristobalita e tridimita).
Alotropia: polimorfismo em elementos puros.
Exemplo: o diamante e o grafite so constitudos por atmos de carbono
arranjados em diferentes estruturas cristalinas.

Diamante Grafite
Hibridizao sp3 Hibridizao sp2
RELAO ENTRE
RETICULADOS
NDICES DE MILLER E DISTNCIAS
INTERPLANARES
NDICES DE MILLER-BRAVAIS
NDICES DE MILLER E DISTNCIAS
INTERPLANARES
CRISTAIS METLICOS
CRISTAIS INICOS
CRISTAIS COVALENTES
CRISTAIS ORDENADOS
SOLUES SLIDAS
CRISTAIS MACLADOS
PROJEO ESTEOROGRFICA
PROJEO ESTEOROGRFICA
PROJEO ESTEOROGRFICA
PROJEO ESTEOROGRFICA
PROJEO ESTEOROGRFICA
DIFRAO DE RAIOS-X
ONDAS ELETROMAGNTICAS
INTENSIDADE DE RAIOS-X
INTENSIDADE DE RAIOS-X
INTENSIDADE DE RAIOS-X
DECAIMENTO DE ELTRONS
DECAIMENTO DE ELTRONS
APLICAO DE FILTROS
APLICAO DE FILTROS
TUBOS DE RAIOS-X
TUBOS DE RAIOS-X
DIFERENA DE TRAJETRIAS DE
ONDAS ELETROMAGNTICAS
LEI DE BRAGG
LEI DE BRAGG
DIFRATMETROS
DIFRATOMETRIA
CONES DE DIFRAO
CONES DE DIFRAO
TIPOS DE MATERIAIS
 ESPECTROMETRIA DE RAIOS-X

Bombardeamento de amostras com feixe de eltrons

haver emisso de raios-X caractersticos dos elementos
constituintes da amostra
ESPECTROMETRIA DE RAIOS-X
 ESPECTROMETRIA DE RAIOS-X

As emisses caractersticas de cada elemento tm uma energia associada.

possvel identificar os elementos pela separao dos canais de energia.
ESPECTROMETRIA EDS DE RAIOS-X

Disperso de energia
ESPECTROMETRIA EDS DE RAIOS-X
 ESPECTROMETRIA WDS DE RAIOS-X

Lei de Moseley:

= B / (Z - C)2 , onde

- comprimento de onda
B, C - constantes diferentes para K,
L, M
Z - nmero atmico

= 1,2396 / E Disperso de comprimento de onda

Espectrmetro por disperso de comprimento de onda - WDS
 DISPERSO DE COMPRIMENTO DE ONDA - DIFRAO

Lei de Bragg n = 2dsen Geometria do WDS

ESPECTRMETRO WDS