UNIVERSIDAD DE SANTIAGO DE CHILE

FACULTAD DE CIENCIA
DEPARTAMENTO MATEMTICA Y CIENCIA DE LA COMPUTACIN
REA DE ESTADSTICA

PEP 1 Probabilidades y Estadstica 10009 -25009 (13/09/2007)

Nombre:...................................................................................Prof.:...................................... Nota:

1. Se toman muestras, de barras planas de dos tipos de acero, de tamao 80 y 100 respectivamente,
para analizar la resistencia a la ruptura. Los siguientes grficos muestran los tiempos mximos (Y),
en minutos que soportan dichas barras antes de fragmentarse, cuando son sometidos a la tensin:

Muestra 1 Muestra 2
Acero Tipo 1 Acero Tipo 2
,35 ,35

,30 ,30
Frecuencia relativa

Frecuencia relativa
,25 ,25

,20 ,20

,15 ,15

,10 ,10

,05 ,05

0,00 0,00
0

12

16
0

12

16
-4

-8

-1

-4

-8

-1
-1

-2

-1

-2
2

2
6

0
Tiempos mximos Tiempos mximos
minutos minutos

1.1. En base a la informacin contenida en los grficos, determine que distribucin es ms

homognea y que tipo de acero resisti en mejor forma la tensin aplicada. Justifique
utilizando medidas adecuadas. (1.2 ptos.)
1.2. Si las barras de acero tipo 1, se clasifican de acuerdo a su resistencia en {RB, RM, RA}
Baja resistencia (RB) : si soportan un tiempo mximo inferior a 5,5 minutos
Alta resistencia (RA) : si soportan un tiempo mximo de por lo menos 14 minutos
Resistencia media (RM) : en otro caso.
Muestre grficamente la distribucin de las barras de acuerdo a la nueva clasificacin.
(1.2 ptos.)

2. El tiempo de respuestas (en nanosegundos) de un circuito lgico en fro (X) y el tiempo de

respuesta tras una hora de uso intensivo (Y), para una muestra de 12 mquinas es el siguiente:
Mquina 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
Tiempo de respuesta en fro (X) 6 5 8 14 7 4 5 9 6 5 7 6
Tiempo de respuesta tras una hora de uso (Y) 4 8 15 8 9 6 9 6 11 7 5 9

2.1. Se sabe que un dato es atpico, si su valor no se encuentra en el intervalo

( Q1 1,5RI ; Q3 + 1,5RI )
Detecte los posibles valores atpico en Y. (Qk cuartil k RI Amplitud (rango) intercuartlica)
(0.8 ptos.)
2.2. Se desea pronosticar el tiempo que tardar un determinado circuito lgico tras una hora de
funcionamiento intensivo, utilizando informacin del tiempo de respuesta en fro. Para un
pronstico fiable, las variables deben estar fuertemente relacionadas, utilizando una medida
estadstica adecuada, qu concluira usted? (0.8 ptos.)
3. Una caja contiene 250 chips, de los cuales 120 han sido fabricados por la compaa A, 80 por la
compaa B y el resto por la compaa C. El 10% de los chips fabricados por A son defectuosos,
de los fabricados por B son defectuosos el 7% y un 5% de los fabricados por C son
defectuosos.
3.1. Se elige un chip aleatoriamente y se encuentra que es defectuosos. Calcular la
probabilidad de que no haya sido fabricado por la compaa B. (0.5 ptos.)

3.2. Se seleccionan aleatoriamente y sin reposicin una muestra de 20 chips de la caja.

Determine la probabilidad de que la muestra contenga a lo ms dos chips de la
compaa C. (0.5 ptos.)

4. Un equipo electrnico consta de tres componentes que funcionan independientemente. La

probabilidad de que una de estas componentes fallen antes de 200 horas es 0,135. Suponga que
el equipo falla si al menos una de las componentes falla.
4.1. Determine la probabilidad de que el equipo deje de funcionar antes de 200 horas.
(0.5 ptos.)

4.2. Determine la distribucin de probabilidad (funcin de cuanta) de la variable aleatoria

X = Nmero de componentes que fallan antes de 200 horas (0.5 ptos.)