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Dispositivos Electrnicos y
Fotnicos II
R. Alcubilla
A. Rodrguez
1. En un MESFET defina, explicando su sentido fsico y obteniendo expresiones que
permitan calcularlos, los siguientes parmetros:
a) Tensin de pinch-off VPO.
b) Tensin de saturacin VDSAT.
Semiaislante
Se pide:
a) Calcular VPO (tensin de pinch-off).
b) Si VGS= -3V y la tensin Vbi del diodo Schottky es de 0.7V, para qu tensin
VDS satura el dispositivo?
c) Obtenga la expresin de IDS=f(VDS,VG) en zona hmica.
d) Por qu el MESFET es utilizado en aplicaciones de alta frecuencia en lugar
del JFET?
e) D una expresin para la corriente IDS en saturacin.
f) Obtenga una expresin para la transconductancia en zona lineal.
B1 B2
C
Se pide:
a) Suponga que los terminales B1 y B2 estn cortocircuitados entre si formando
un nico terminal B. La estructura se polariza con VE=0, VB=0.7V, VC=5V. En
estas condiciones, cunto valen las densidades de corriente JB y JC? Para
obtenerlas analice la seccin vertical punteada y desprecie los efectos de dos
dimensiones. Si utiliza alguna aproximacin justifquela.
b) Si el rea efectiva del dispositivo es de 100 m2, calcule el valor de los par-
metros siguientes del modelo hbrido en : gm, r, C.
c) Suponga ahora que los terminales E y C estn cortocircuitados entre s (a este
nodo nico lo llamaremos en adelante G) y conectados a un potencial VG>0.
Suponga asimismo VB1= 0V, VB2> 0. Describa el funcionamiento del dispositivo
en esta nueva configuracin y dibuje de forma cualitativa la evolucin de la
corriente IB2 en funcin de VB2 tomando VG como parmetro.
Datos: NE=1018 cm-3, NB=1017 cm-3, NC=1016 cm-3, We=1m; Wb=0.5 m, Wc=10 m,
ni=1.5 1010 cm-3, VT=0.025V, LPE=0.1m, PE=350 cm2/Vs, LNB=1m, NB=103 cm2/Vs
VG
Metal
P-type Si SiO2
Metal
Se pide:
a) Calcule la tensin umbral.
b) Calcule el potencial de superficie en funcin de VG. En particular especifique
los valores tomados por el potencial de superficie cuando VG=0V y VG=1V.
Datos: ni= 1.5 1010 cm-3, Eg=1.1 eV, VT=0.025V (300K), Si = 4.15 eV, m= 6 eV,
ox= 3.9, o= 8.85 10-14 F/cm, Xox= 1000 , p= 350 cm2/Vs.
Se pide:
a) Calcular la tensin umbral suponiendo que no hay cargas en el oxido.
b) Suponiendo que la tensin umbral es 1V, calcular el incremento relativo en la
corriente del transistor debido al estrechamiento del canal entre las siguientes
polarizaciones: VD=5V y VD en el umbral de saturacin.
Se pide:
a) Calcular la tensin umbral suponiendo que no hay cargas en el xido.
b) Calcular la variacin en la tensin umbral al pasar la temperatura de 300 K a
400 K
VG
Metal
P-type Si
SiO2
Na=5 1016 cm-3
Metal
Se pide:
a) Calcule el valor del potencial en el volumen del semiconductor B, tomando
como referencia de potenciales el nivel de Fermi intrnseco.
b) Dibuje cualitativamente la evolucin del potencial de superficie S para valores
de VG crecientes a partir de 0V. Para ello suponga VT= 1V y que para VG= 0
estamos en situacin de banda plana.
c) Teniendo en cuenta que para VG= 0 las bandas son planas, cunto vale la con-
centracin de cargas en el xido? Y el espesor del xido?
Datos: ni= 1.5 1010 cm-3, Eg=1.1 eV, VT=0.025 V, Si =4.15 eV, m=6 eV, ox= 3.9,
o= 8.85 10-14 F/cm.
VG
Poly N+
P-type Si
SiO2
Na=5 1016 cm-3
Metal
Se pide:
a) Calcular la caida de potencial en el xido y en el semiconductor en la frontera
de fuerte inversin (momento en que se considera formado el canal)
b) Calcule la tensin umbral VTO en ausencia de cargas en el xido.
Sugerencia: al estar el contacto de puerta realizado mediante polisilicio N+ con-sidere
que el nivel de Fermi en el polisilicio coincide con EC. La afinidad electr-nica en el
polisilicio es la misma que en al Silicio.
Datos: ni= 1.5 1010 cm-3, Eg=1.1 eV, VT=0.025V (a 300K), Si = 11.2, Si = 4.15 eV,
ox= 3.9 , o= 8.85 10-14 F/cm, q = 1.6 10-19 C, tox = 750 .
10. Si en un transistor MOS aumentamos el dopado del sustrato, cmo varan los
valores absolutos de los diferentes trminos que intervienen en la expresin de VT?
QB Qox
VT = M S 2 B
Cox Cox
11. Sea la estructura MOS de la figura:
VG
Metal
Si
SiO2
Metal
Datos: ni= 1.5 1010 cm-3, Eg=1.1 eV, VT=0.025 V, Si =4.15 eV, m=6 eV, ox= 3.9,
o= 8.85 10-14 F/cm., si= 11, tox=1000 Armstrongs, Qox= 10-8 C/cm2
Se pide:
a) Sabiendo que la tensin Vg necesaria para conseguir que las bandas sean planas
es de 0.71 V, calcule el dopado del substato y diga si es de tipo P o N.
En lo sucesivo suponga substrato tipo P con un dopado de 1016 cm-3.
b) Calcule la tensin umbral VT.
c) Si deseamos ajustar la tensin umbral a 1V . Qu dosis debe implantarse por
unidad de superficie ? De qu tipo deben ser las impurezas implantadas?.
29. Establezca una clasificacin entre los siguientes dispositivos de potencia: tiristores,
MOS, transistores bipolares y tiristores GTO, atendiendo a los siguientes conceptos:
margen de frecuencias, tensiones de ruptura soportadas y corrientes controlables (1 para
el mayor, 4 para el menor).
frec. V I
GTO
MOS
BJT
Tiristor
50 m 100 m 40 m 10 m
P1 N1 P2 N2
A K
Se pide:
a) Calcule el valor de la tensin de ruptura en inversa del tiristor en funcin del
dopado de la zona N1.
b) Suponga en lo sucesivo que el dopado de la zona N1 es 1014 cm-3. Calcule el
valor de en el transistor P1N1P2. Datos: LpN1= 200 m, LnP1= 10 m). Tenga en
cuenta en el clculo de la la recombinacin en la zona N1.
c)-Qu es la off del tiristor?. Calclela. Datos: off=2/(1+2-1)), LnP2=80 m.
50 m 100 m 40 m 10 m
P1 N1 P2 N2
A K
Se pide:
a) Cunto vale la tensin de ruptura en inversa del tiristor cuando el dopado de la
zona N1 vale 1013 cm-3?
b) Repetir el clculo anterior cuando el dopado de la zona N1 vale 1015 cm-3.
c) Cuanto vale la del transistor P1N1P2? Para simplificar los clculos suponga
la distribucin de minoritarios en la zona N1 lineal y la inyeccin en P1 desde N1
nula. Dato: LpN1=200 m.