EL METODO DE REFINAMIENTO DE RIETVELD

Ponente: Dr. Salvador A. Palomares Snchez

Oscar Arturo Granados

El mtodo de Rietveld consiste en ajustar tericamente los parmetros estructurales,

deslizamientos atmicos, anisotropa, tensiones de la red, etc, al perfil completo del
difractograma en polvo suponiendo que el difractograma es la suma de un nmero de
reflexiones de Bragg centradas en sus posiciones angulares respectivas.

Es una tcnica de refinamiento que tiene la capacidad de determinar con mayor precisin
parmetros estructurales de la muestra, mediante el mtodo de mnimos cuadrados se
construye un modelo terico que se ajuste a un patrn de difraccin experimental. Este
modelo terico se basa en un modelo que incluye aspectos estructurales (grupo espacial,
tomos en la unidad asimtrica, factores trmicos, etc), microestructurales (concentracin,
tamao de cristal, microdeformaciones), e instrumentales (anchura a la altura media del
pico de difraccin causada por el instrumento, anchura de las rejillas (slits) utilizadas en la
medicin, tamao de la muestra irradiada, penetracin del haz de rayos-X en la muestra,
etc.).

Difraccin de rayos X es una tcnica aplicada para la caracterizacin de materiales

cristalinos. Es un mtodo tradicionalmente usado para anlisis cualitativo, cuantitativo de
fases y para la determinacin de la estructura cristalina.

El mtodo Rietveld fue diseado originalmente para analizar patrones de difraccin de

neutrones, con el tiempo se ha utilizado en patrones de difraccin de rayos-X.

La mitologa consiste en ajustar un modelo terico a un patrn experimental de difraccin

de rayos-x mediante el mtodo de mnimos cuadrados, la funcin que se minimiza por
mnimos cuadrados se denomina residuo, la cual est definida como Sy y se calcula con la
siguiente frmula:
||

2
y i ( y(calc) )

Wi
S y =
i

Donde yi(abs) y yi(calc) son las intensidades experimentales y calculadas en el punto i del
patrn de difraccin, Wi es el peso respectivo dado. El valor de S y es una funcin compleja
que incluye todos los parmetros que dan lugar al patrn de difraccin. El refinamiento
consiste en encontrar los valores ptimos de todos estos parmetros de manera que S y
adopte el valor mnimo posible.