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VERSO 7 - 2013
1. Medio....................................................................................................................3
2. Instrumentos de Medio.......................................................................................13
3. Erros de Medio...................................................................................................19
4. Incerteza de Medio.............................................................................................24
5. Resultado de Medio............................................................................................46
6. Blocos Padro........................................................................................................51
7. Calibrao..............................................................................................................58
8. Desvios de Circularidade........................................................................................66
10. Brunimento...........................................................................................................82
2
1.1 - EVOLUO DA TECNOLOGIA DE MEDIO
O conceito de quantificar grandezas existe h milhares de anos. No princpio, as
unidades de medida baseavam-se em partes do corpo humano. Por exemplo, a
antiga unidade de medida egpcia para comprimento era o cbito real, definido como
o comprimento do antebrao do fara reinante.
Com a expanso do comrcio, e especialmente do comrcio internacional, os
metrologistas desenvolveram sistemas internacionais de unidades de medida, sendo
os principais o mtrico e o ingls. O sistema mtrico inteiramente baseado na
notao decimal e usa essencialmente unidades de medida desenvolvidas por
cientistas nos sculos XIX e XX. No incio da dcada de 1970, todos os pases
industrializados, com a nica exceo dos Estados Unidos, j haviam adotado o
sistema mtrico ou haviam decidido faz-lo. Mais recente, foi elaborado um Sistema
Internacional de Unidades (SI) que consiste em:
3
Obsolescncia de Medidores de Limites Fixos
No incio do sculo, as tolerncias de produtos para corte de metal eram geralmente
da ordem de 0,005 a 0,10 polegadas, ou cerca de 0,10 a 0,25 (mm). Com tais
tolerncias, os medidores de limites fixos, apesar do erro de "sensibilidade" e apesar
da informao simplesmente "bom ou ruim" que proporcionavam, eram um meio
adequado, barato e rpido para inspeo de produtos. Em consequncia, a
predominncia dos medidores era do tipo limites fixos. Embora houvesse
disponibilidade de outros medidores tais como: aferidores com mostrador,
paqumetro, etc., os medidores de limites fixos dominavam o uso. Formas ainda
mais exatas de medio encontravam-se disponveis, mas essas eram usualmente
realizadas nos laboratrios de preciso (chamados na poca) e no na produo da
fbrica.
Ao longo de algumas dcadas, as tolerncias para corte de metal foram reduzidas,
tornando o medidor de limites fixos bastante obsoleto devido ao alto erro em relao
ao nvel de tolerncia e informao inadequada de "bom ou ruim" para propsitos
de controle do processo.
Teste No-Destrutivo
Esse termo amplo descreve os testes feitos para detectar falhas em materiais e
componentes e medir propriedades fsicas tais como dimenses, dureza,
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condutividade, composio, constante magntica e elstica. Esses testes so feitos
sem prejudicar a subsequente utilidade do produto.
M1 = 50 (mm);
6
b) a leitura obtida na escala do nnio 19 divises; sabe-se que a transformao da
leitura em medida efetuada atravs da constante multiplicativa 0.02 (mm/div),
assim a medida da escala do nnio :
M = M1 + M2 = 50.38 (mm)
A figura 1.2 mostra outro exemplo de SM. Deste SM faz parte um relgio
comparador, que mede o deslocamento vertical da sua haste. A medio efetuada
em trs etapas:
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Sistema de Medio: Paqumetro
Faixa de operao: 0 - 150 (mm)
Constante multiplicativa:
Escala do nnio
Relgio comparador:
Incremento de escala: 0, 02 (mm)
Bloco padro:
Dimenso: 50, 000 (mm)
Bloco padro
Dimetro
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1.3 - MTODOS BSICOS DE MEDIO
Para descrever o valor momentneo de uma grandeza como um mltiplo e uma
frao decimal de uma unidade padro, um SM pode operar segundo um mtodo de
medio, que , uma sequncia lgica de operaes, descritas genericamente.
Estes mtodos de medio podem ser qualificados de vrias maneiras, citadas
abaixo.
9
condicionador de sinais e o indicador. Cada elemento constitui uma unidade
independente ou pode estar fisicamente integrada ao SM. A figura 1.3 mostra
genericamente este SM.
Receptor
Registrador
GM Transdutor Condicionador Indicador
de sinais Controlador
10.42 N
11
dh
indicador
transdutor dV
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2.1 - DEFINIO
Instrumento de medio: Dispositivo utilizado para uma medio, sozinho ou em
conjunto com dispositivo(s) complementar (es).
Dispositivo pode ser: elemento; componente; parte; transdutor de medio;
dispositivo de medio; material de referncia; medida materializada; instrumento de
medio; aparelhagem; equipamento; cadeia de medio; sistema de medio ou
instalao de medio. (Fig. 2.1)
Relgio
apalpador
Traador
de altura
Mquina de Medir
Comparador de
dimetro interno
Trena
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2.2 - PAQUMETRO
Aplicao: So instrumentos de medio de preciso, provavelmente os mais
utilizados na engenharia mecnica devido facilidade de uso. Compe-se
basicamente de uma rgua graduada sobre a qual se movimenta um cursor (Figs.
2.2 e 2.3).
Medida
interna
Orelha mvel
Orelha
fixa
Nnio de vernier Fixador
em (polegadas) Haste de
profundidade
Escala
Cursor
Impulsor
Medida de
Nnio de profundidade
vernier (mm)
Bico mvel
Medida
Bico externa
fixo
Paqumetro digital
Paqumetro digital
Paqumetro universal
Paqumetro de profundidade
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Existem diferentes tipos de paqumetros, porm o mais usado o paqumetro
universal, tambm chamado quadrimensional, por permitir quatro maneiras de
acesso pea para efetuar a medio. Dentro dessa classificao, os paqumetros
podem oferecer leituras com diviso de escala de 0.02 e 0.05 mm (no sistema
mtrico) e 0.001 ou 1/128 (no sistema ingls).
Quando os zeros das duas rguas estiverem coincidindo, a distncia que separa as
primeiras linhas ser de 0.1 mm, das segundas 0.2 mm e assim sucessivamente. Se
movermos o cursor do paqumetro at que as primeiras linhas coincidam, a distncia
entre as linhas dos zeros ser 0.1 mm, que corresponde abertura dos bicos, das
orelhas e da vareta de profundidade. Se houver a coincidncia da quinta linha, a
distncia entre os zeros, e conseqentemente dos bicos, ser de 0.5 mm.
2.2.2 - Escala:
A escala do paqumetro pode ser obtida ao dividir o valor do menor trao gravado na
escala principal (geralmente 1 mm ou 1/16) pelo nmero de traos gravados no
nnio.
Unidade da escala fixa
Escala
Nmero de divises do nnio
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Menor trao na escala principal (1 mm) E = 1 mm/10 divises = 0.1 mm
Nnio com 10 divises
Menor trao na escala principal (1 mm) E = 1 mm/20 divises = 0.05 mm
Nnio com 20 divises
Menor trao na escala principal (1 mm) E = 1 mm/50 divises = 0.02 mm
Nnio com 50 divises
Leitura na escala
principal Leitura do nnio 0.05 mm
(1/20 mm)
Leitura escala principal
85 mm
Leitura escala do nnio
0.7 mm
Leitura 85.7 mm
2.3 - MICRMETRO
Aplicao: Instrumento de medio de alta preciso que permite, devido sua
forma construtiva (Figura 2.7), leituras de 0.01 mm nos modelos comuns e de 0.001
mm (1 m) nos modelos que incorporam um nnio.
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Escala de milmetros
Encosto Tambor
Medida
Faces de Haste
medio Bainha Catraca
Boca
Escala de meios
milmetros
Arco
Micrmetro interno
digital de trs pontas
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2.3.2 - Escala: menor medida que o instrumento oferece. A escala pode ser
estimada pela seguinte equao.
Leitura 7.37 mm
Leitura 5.713 mm
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3.1 - DEFINIO
3.1.1 - Medio: conjunto de operaes que tem por objetivo determinar um valor de
uma grandeza.
sujeira
Instrumental Ambiental
(ineficcia, maltrato e
rudo sobrecargas)
histerese
Observacional
(operador)
resoluo
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3.3 - ERROS GROSSEIROS
Enganos nas leituras e nos registros dos dados. Deslizes do observador, tais como a
leitura errada de uma escala e a transposio de algarismos no registro do
resultado.
Exemplo: ler 28.3 e registrar 23.8
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3.4.4 - Erros dos operadores
Vrias pessoas usando a mesma aparelhagem, para um mesmo conjunto de
medies, no duplicam necessariamente os resultados. Um observador pode,
caracteristicamente, tender para leituras
mais baixas (ou mais altas) do que o
valor correto, possivelmente devido ao
seu ngulo de leitura, e falhar na
eliminao da paralaxe.
3.4.5 - Erro de paralaxe
Erro cometido na leitura de uma escala
graduada, como conseqncia de os
raios visuais do observador no serem
perpendiculares ao plano da escala.
Durante a leitura o instrumento deve
permanecer na frente dos olhos evitando-
se assim o erro de paralaxe. (Fig. 3.2)
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3.6.1 - Erros dos instrumentos de medio
Devidos a tolerncias admissveis na fabricao dos elementos que conformam o
instrumento de medio; imperfeies na fabricao desses instrumentos. Dentre
eles tem-se:
O princpio de Abb (Fig. 3.3) conhecido tambm como Primeiro princpio de projeto
de Mquinas Ferramentas e de Medir, diz:
Eixo do
instrumento
Eixo do
instrumento
Brao de
Abb
Eixo de medio
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A medio de uma grandeza com a presena de braos de Abb constitui uma
transgresso do princpio e impe sobre ela a presena de erros. Os paqumetros
no obedecem ao princpio de Abb.
Os erros dos instrumentos, geralmente, so especificados pelos fabricantes como:
No linearidade;
Instabilidade;
Impreciso;
Campos eletromagnticos;
Temperaturas;
Vibraes, etc.
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4.1 INTRODUO
O objetivo de uma medio determinar o valor de um mensurando, que , um valor
de uma quantidade particular, a ser medida. Uma medio, portanto, se inicia com
uma especificao do mensurando, do mtodo de medio e do procedimento de
medio.
Em geral, o resultado de uma medio somente uma estimativa do valor do
mensurando e, portanto, completo somente quando acompanhado por uma
declarao da incerteza desta estimativa (WOODS & ZEHNA, 1966), DIN1319
(1977), BECKWITH (1981), VUOLO (1992), COUTO (1993), IPQ (1993), ISO (1993).
Uma medio tem imperfeies que do origem aos erros nos resultados de
medio. Tradicionalmente, um erro examinado como tendo duas componentes,
chamadas, componentes aleatrias e componentes sistemticas. O erro um
conceito idealizado e no pode ser exatamente conhecido.
A incerteza do resultado de medio reflete a falta de conhecimento do valor do
mensurando. O resultado de uma medio aps a correo dos efeitos sistemticos
reconhecidos , entretanto, somente uma estimativa do valor do mensurando devido
incerteza surgida dos efeitos aleatrios e das correes imperfeitas do resultado
dos efeitos sistemticos.
O resultado de uma medio depois de corrigido, pode desconhecidamente estar
bem prximo do valor do mensurando e possuir um erro insignificante, embora,
possa ter uma incerteza grande. Portanto a incerteza do resultado de uma medio
no deve ser confundida com os erros desconhecidos remanescentes.
Na prtica, existem muitas fontes possveis para a incerteza de uma medio, tais
como (ISO, 1993):
a) Definio incompleta do mensurando;
b) Realizao imperfeita da definio do mensurando;
c) Amostra no representativa; a amostra medida no representa o mensurando
medido;
d) Conhecimento insuficiente dos efeitos das condies ambientais na medio
ou erro na medio das condies ambientais;
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e) Desvio de leitura do operador em instrumentos analgicos;
f) Valor inexato de padres de medio e materiais de referncia;
g) Valores inexatos de constantes e outros parmetros obtidos de fontes
externas;
h) Aproximaes e suposies incorporadas aos mtodos e procedimentos de
medio;
i) Variaes em observaes do mensurando obtidas sob condies de
repetitividade.
Essas fontes no necessariamente so independentes, e algumas das fontes dos
itens a) at h) podem contribuir para a fonte i).
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O propsito da classificao Tipo A e Tipo B para indicar as duas maneiras
diferentes de avaliar os componentes de incerteza, no se pretende indicar que
existe diferena do resultado dos componentes para os dois tipos de avaliao.
Ambos os tipos de avaliao so baseados em distribuio de probabilidades, e o
resultado da incerteza dos componentes para outros tipos so quantificados por
varincias ou desvios padres.
Portanto, neste captulo ser tratado o procedimento para avaliao e expresso da
incerteza de medio.
4.2 DEFINIO
Este parmetro pode ser, por exemplo, um desvio padro (ou um mltiplo dele), ou a
metade de um intervalo correspondente a um nvel de confiana estabelecido.
A incerteza de medio compreende, em geral, muitos componentes. Alguns destes
componentes podem ser estimados com base na distribuio estatstica dos
resultados das sries de medies e podem ser caracterizados por desvios padres
experimentais. Outros componentes, que tambm podem ser caracterizados por
desvios padres, so avaliados por meio de distribuio de probabilidades
assumidas, baseadas na experincia ou em outras informaes.
Entende-se que o resultado da medio a melhor estimativa do valor do
mensurando, e que todos os componentes da incerteza, incluindo aqueles
resultantes dos efeitos sistemticos, como os componentes associados com
correes e padres de referncia, contribuem para a disperso.
Embora esses dois conceitos tradicionais sejam validos como ideais, eles focalizam
uma quantidade desconhecida: o "erro" do resultado de medio e o "valor
verdadeiro" de um mensurando (em comparao com seu valor estimado),
respectivamente. Todavia, qualquer conceito de incerteza adotado, sempre
avaliado usando os dados e informaes relacionados.
4.2.7 Fator k
Fator numrico usado como um multiplicador para a incerteza padro combinada
para obter uma incerteza expandida. Este fator k, tipicamente da ordem de 2 a 3
(Tabela A.1-ANEXOA).
N de medies Fator C
2 7.0
3 2.3
4 1.7
5 1.4
6 1.3
7 1.3
8 1.2
9 1.2
Os fatores multiplicadores baseiam-se nas distribuies de Student e normal, para k
=2
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conhecimentos gerais, e uma habilidade que pode ser obtida com a prtica.
reconhecido que uma avaliao da incerteza pelo Tipo B pode ser tanto confivel
quanto a do Tipo A, especialmente na situao em que a avaliao do Tipo A
baseada na comparao de pequenos nmeros de observaes estatisticamente
independentes (ISO, 1993)
A seguir, so apresentados 4 suposies disponveis para as grandezas de
entradas de influncia xi, para a avaliao da Incerteza Padro Tipo B.
Suposio 1
Se a estimativa xi retirada da especificao do fabricante, certificados de
calibrao, manuais ou outras fontes, e suas incertezas transcritas so declaradas
por ser uma parte mltipla do desvio padro, a incerteza padro u (xi)
simplesmente o valor citado dividido pelo nvel de confiana, e a varincia estimada
u (xi), o quadrado do quociente.
Exemplo 4.1:
Um certificado de calibrao afirma que a massa de um ao inoxidvel, de, massa
padro ms = 1000,000 325 g, e que a incerteza deste valor 240 g para um nvel
de confiana com k=3
A incerteza padro da massa padro, ento:
u(ms) = ( 240 g ) / 3 = 80 g .
A varincia estimada :
u(ms) = ( 80 g ) = 6,410
-9
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Suposio 2
Quando o valor de uma varivel de entrada xi, encontra-se no intervalo
a- at a+, ou seja, a probabilidade de xi estar dentro do intervalo 50% , e se,
possvel assumir que a distribuio dos possveis valores de xi aproximadamente
normal, ento a melhor estimativa xi pode ser apresentada como o ponto mdio do
intervalo. Portanto se a amplitude do intervalo denotada por a = (a+ - a-) / 2 pode-
se assumir que u (xi) = 1,48a, porque para a distribuio normal, o intervalo
ym /1.48 compreende aproximadamente 50% da distribuio.
Exemplo 4.2:
Um operador determinou que a dimenso de um comprimento se encontra, com
probabilidade de 50%, no intervalo 10.07mm a 10.15mm e relata que
L = ( 10.11 0.04 ) mm, significando que 0.04 (mm) define um intervalo tendo
nvel de confiana de 50%. Ento a = 0.04 (mm) , e se admitir uma distribuio
normal para o valor L, a incerteza padro do comprimento ser
u (L) = 1.48 x 0.04 (mm) = 0.06 (mm) e a varincia estimada ser
u (L) = (1.48 x 0.04 mm) = 0.0035 (mm).
Quando a probabilidade do valor xi encontrar-se no intervalo a- at a+ de
aproximadamente 68%, pode -se atribuir que ym (xi) = a , porque para uma
distribuio normal com mdia ym e desvio padro o intervalo ym compreende
aproximadamente 68,3% da distribuio.
Suposio 3
Em outros casos, pode ser possvel estimar somente os limites (limites superior a+ e
inferior a-) para xi, por exemplo, quando a grandeza de influncia a variao da
temperatura. A probabilidade de que o valor de xi se encontra dentro do
intervalo a- at a+, para todo propsito prtico, igual a 1 e a probabilidade que xi
esteja fora deste intervalo essencialmente zero. Se no h conhecimento
especfico sobre a possibilidade do valor xi estar dentro do intervalo, pode-se
somente admitir que, igualmente provvel encontr-lo por toda parte, dentro dele
(uma distribuio uniforme ou retangular).
Ento xi, o ponto mdio do intervalo, onde: xi = (a- + a+) / 2 , cuja varincia
associada dada por:
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Se a diferena entre os limites, (a+ - a-), apresentado por 2a, ou seja, os limites
so simtricos, ento a equao para varincia ser:
u (xi) = a / 3 (4.3)
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A incerteza expandida U obtida pela multiplicao da incerteza padro
combinada uc(y) por um fator k que relacionado com o nvel de confiana:
U = k uc (y) (4.4)
y-U y y+U
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4.6.6 Para as grandezas de entrada de influncia cujas distribuies so
conhecidas ou podem ser avaliadas, calcular a varincia indicada para estas
distribuies.
4.6.7 Determinar a incerteza padro combinada uc (y), pela soma das varincias
parciais.
4.6.8 Calcular a incerteza expandida U, cujo propsito obter um intervalo
y-U a y+U. Para obter a incerteza expandida, multiplica-se a incerteza padro
combinada uc(y) pelo fator k, obtendo assim, U = k uc (y). Selecionar k com base
no nvel de confiana exigido para o intervalo. Um fator normalmente usado k=2.
n
uc (y) = [y / xi] u(xi) (4.5)
i=1
Deve ser observado que u (x) e u c(y) so positivos, por definio. Assim deve
sempre ser considerado a raiz positiva de uc(y).
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4.7.1.1 Frmulas de Propagao Para Alguns Casos
A seguir sero apresentadas algumas frmulas especficas para casos comuns.
Soma de variveis:
Seja:
y = x1 x2 x3 ..... xn
Onde:
y / x1 = 1
y / x2 = 1
y / x3 = 1
...
y/ xn = 1
Dados:
Bloco 1
Dimenso nominal: 10 (mm)
Incerteza Expandida: U1 = 0.077(nm) para k = 2
Bloco 2
Dimenso nominal: 20 (mm)
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Incerteza Expandida: U2 = 0.084(nm) para k = 2
y = (x1 + x2)
Relao linear:
Seja:
y = ax + b
y / x = a
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u (y) = au (x) ou u (y) = |a|u (x) (4.8)
Produto de variveis:
Seja:
y = axw
Temos:
y / x = aw e y / w= ax
A expresso acima pode ser simplificada dividindo-a por y = axw, obtendo assim a
chamada varincia combinada relativa:
A expresso para o clculo da rea dada por: y = 1/4 d , que pode ser reescrita
como:
y = 1/4 (dd)
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Como trata-se apenas de multiplicaes, pela expresso (4.9) a varincia combinada
resulta em:
uc (y) / y = 2 (u (d) / d)
y = 709.2 2.3
y = xm y = m x m-1
u(y) = u(x) ou |u(y) /y| = |m u(x) / x|
u(y) = | a | u(x)
y = ax
u(y) = | a | u(x)
y = ax + b
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uc (y) = (aw) u(x) + (ax) u(w) ou
y=axw
uc (y) / y = u(x) / x + u(w) / w
uc (y) = (a/w) u(x) + (ax/y) u(w) ou
y = a (x / w)
uc (y) / y = u(x) / x + u(w) / w
u (x,w) =
1
n (n-1)
(xi - xm) (wi-wm) (4.10)
n=1
Onde:
rxw = rwx , e -1 rxw +1.
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uc(y) = ( (y/x) u(x) + (y/w) u(w) ) (4.13)
Neste caso, a incerteza padro combinada obtida por adio das incertezas
padro das estimativas de entrada, multiplicados pelas adequadas derivadas
parciais.
Dados:
Bloco 1
Dimenso nominal: 10 (mm)
Incerteza Expandida: U1 = 0.077(nm) para k = 2
Bloco 2
Dimenso nominal: 20 (mm)
Incerteza Expandida: U2 = 0.084(nm) para k = 2
y = (x + w)
onde:
x e w, so os blocos padro 1 e 2, respectivamente.
41
uc(y) = 0.038 + 0.042 = 0.08 (nm)
Quando se deseja arredondar um nmero para que seja expresso com certa
quantidade de dgitos significativos, deve-se aplicar as regras convencionais de
arredondamento (VUOLO, 1993):
Regra 1 :
Se o algarismo direita do ltimo dgito que se pretende representar for inferior a 5,
apenas desprezam-se os demais dgitos direita.
Regra 2 :
Se o algarismo direita do ltimo dgito que se pretende representar for maior que 5,
adiciona-se uma unidade ao ltimo dgito representado e desprezam-se os demais
dgitos direita.
Regra 3 :
Se o algarismo direita que se pretende representar for igual a 5, ento o
arredondamento deve ser tal que o ltimo dgito representado depois do
arredondamento deve ser par.
No existe uma regra bem definida para o nmero de algarismos que devem ser
indicados para a Incerteza de Medio (VUOLO, 1993). usualmente suficiente
indicar 2 algarismos significativos, alm dos zeros esquerda, embora em muitos
casos pode ser necessrio conservar dgitos adicionais para evitar erros de
arredondamento em clculos subseqentes (ISO, 1993). Entretanto muitos
pesquisadores utilizam 1 ou 2 algarismos conforme o caso, e alguns s admitem 1
algarismo em qualquer caso. Alm disso, em certos casos, no possvel atribuir
mais de 1 algarismo para a incerteza de medio.
42
A incerteza de medio pode ser apresentada com 1 algarismo quando o
primeiro algarismo da incerteza for 3 ou maior.
Adio e Subtrao
43
Multiplicao e Diviso
R = 0.0174
R = 0.017
Regra 1:
Quando a incerteza de medio apresentada com apenas um algarismo
significativo, deve ser arredondada a incerteza de medio e o resultado da medio
de forma que ambos tenham o mesmo numero de digitos decimais aps a vrgula
Exemplos:
37.8359 1 38 1
95.94 0.0378 95.94 0.04
44
Regra 2:
A incerteza de medio pode ser representada com dois algarismos significativos;
nestes casos devero ser levadas em considerao as seguintes situaes:
Exemplos:
45
5.1 - INTRODUO
O resultado de medio um valor atribudo a um mensurando obtido atravs da
medio (INMETRO, 1995). Quando relatado o resultado de medio, deve-se
indicar claramente, se ele se refere indicao, ao resultado no corrigido, ao
resultado corrigido, e, se corresponde ao valor mdio de vrias medies. A seguir
ser apresentada a definio de indicao, resultado corrigido e no corrigido:
RM = RA IR (unidade) (5.1)
46
5.2 - GRANDEZA VARIVEL E INVARIVEL
A grandeza a medir, para fins de medio, pode ser classificada como varivel ou
invarivel. A temperatura de uma sala ao longo do tempo um exemplo de
grandeza varivel, isto , seu valor se altera em funo do tempo e da posio ao
longo da sala. A grandeza invarivel quando o seu valor permanece constante. Em
termos especficos, no existem grandezas invariveis. Porm na prtica, possvel
atribuir que uma grandeza invarivel, em funo do sistema de medio ou do
mtodo de medio utilizado.
Exemplo 5.1 - Para a medio de uma esfera padro com variaes geomtricas na
ordem de nanmetro (0.001 m), foi utilizada uma mquina de medir tridimensional,
cujo apalpador possui uma incerteza de 0.1 (m); para este sistema de medio, a
esfera considerada como invarivel, pois a incerteza do apalpador 100 vezes
superior ao desvio da esfera.
47
medio, este anel padro considerado invarivel, pois no resultado de calibrao
no houve interferncia dos desvios da pea.
o
Posio 90 Anel padro
o
Posio 0
48
Posio 3
Posio 2
Anel padro
Posio 1
Portanto, o dimetro de um anel pode ser considerado como uma grandeza varivel
ou invarivel. Devido s imperfeies geomtricas na forma circular, resultaro
diferentes valores do dimetro quando medidos em pontos diferentes, o que
caracteriza uma grandeza varivel. Portanto, se estas variaes forem inferiores
resoluo do sistema de medio em uso, esta pea ser considerada em termos de
medio como invarivel. O uso de outro sistema de medio com melhores
caractersticas poderia levar a outra interpretao.
Portanto a classificao de grandeza varivel e invarivel no depende s do tipo da
grandeza, mas da relao das caractersticas da pea com as caractersticas do
sistema de medio e o procedimento de medio utilizado.
RM = ym U (5.2)
onde:
ym = mdia das medidas
U = incerteza de medio
50
6.1 - HISTRIA
A origem dos blocos padres data do sculo XIX, quando para garantir
intercambiabilidade entre peas, a indstria mecnica utilizava-se de uma infinidade
de padres dimensionais, um para cada padro que se desejasse, sendo que as
dimenses de cada pea produzida eram verificadas contra estes padres, os quais
garantiam a preciso das montagens. Em particular, a indstria armamentista e a de
mquinas de costura eram as que mais tinham exigncia de altos nveis de preciso.
Porm, foi na ltima dcada do sculo XIX que Carl Edvard Johansson trabalhando
em uma fbrica de rifles na Sucia, concebeu e implementou a idia de selecionar
padres de tamanhos apropriados que combinados entre si, fornecessem uma
ampla faixa de dimenses com pequenos incrementos.
Johansson props um conjunto limitado de blocos padres (102), que combinados
temporariamente permitiam teoricamente obter qualquer dimenso entre 1 e 201
mm, com incrementos de 0.01 mm. Isto , com 102 padres era possvel obter
20000 dimenses diferentes. Este conjunto de blocos padres estava constitudo
como segue:
49 padres em incrementos de 0.01 mm de 1.01 a 1.49 mm;
49 padres em incrementos de 0.5 mm de 0.5 a 24.5 mm;
4 padres em incrementos de 25 mm de 25 a 100 mm;
51
Figura 6.1 - Conjunto de blocos padres de cermica.
Face lateral
Face de
medio Face de Face de
esquerda medio medio
direita gravada
Face lateral
52
um plano de referncia de mesma textura superficial sobre o qual a outra fase de
medio foi aderida.
Comprimento centra (Lc): comprimento do bloco padro tomado no ponto central
da fase de medio. Esta a principal caracterstica para determinao do grau de
qualidade a ser atribudo para o bloco padro (Figura 6.3a).
Mxima variao de comprimento (fs): diferena entre o mximo comprimento
(Lmx) e o mnimo comprimento (Lmn) dentre todos os comprimentos (L) do bloco
padro (Figura 6.3b).
a) b)
Lmax
fs
Plano de
referncia Lmin
Lc
Tabela 6.1 Desvios permissveis dos blocos padres para cada grau de qualidade
Desvios permissveis (m) para Faixa de comprimento nominal (mm)
cada grau (DIN 861) 10 10 a 25 25 a 50 50 a 75 75 a 100
53
A Tabela 6.1 mostra os desvios permissveis para cada grau de qualidade dos
blocos padres.
6.2.1 - Planeza da fase de medio: distncia entre dois planos tericos paralelos
entre si, e que envolvem a face de medio com mnima separao. (Fig. 6.4)
O desvio de planeza pode ser avaliado com um espelho ptico. O feixe de luz
refletido em a e parcialmente transmitido atravs do colcho de ar, refletindo-se em b
que o ponto da superfcie inspecionada. Ambos so recombinados pelo olho
humano. (Figs. 6.5 e 6.6).
Franjas de interferncia
Olho
Fonte
Feixe de luz
monocromtica
Espelho ptico
Espelho ptico
b
b
a
a Colcho de ar
c
c
Bloco Padro
Bloco Padro
55
devem ser ortogonais ao plano de referncia onde esta aderida face de medio
considerada. A Tabela 6.3 mostra os desvios permissveis para blocos padres.
57
Um sistema de medio confivel deve ser capaz de apresentar resultados com
pequenos erros de medio. Seus princpios construtivos e operacionais devem ser
projetados para minimizar os erros de medio.
Atravs de um procedimento experimental denominado calibrao possvel
determinar os erros de um sistema de medio.
A calibrao um conjunto de operaes que estabelece, sob condies
especficas, a relao entre os valores indicados por um sistema de medio ou
valores representados por uma medida materializada ou um material de referncia, e
os valores correspondentes das grandezas estabelecidas por padres (INMETRO,
1995).
O resultado de uma calibrao permite tanto o estabelecimento dos valores do
mensurando para as indicaes, como a determinao das correes a serem
aplicadas.
Uma calibrao pode, tambm, determinar outras propriedades metrolgicas como o
efeito das grandezas de influncia.
onde:
usmp = incerteza do sistema de medio padro
usmc = incerteza do sistema de medio a calibrar
58
Desta forma, a incerteza do sistema de medio padro apresentar um dgito a
mais que o sistema de medio a calibrar, o que suficiente para a determinao
dos erros deste ltimo dgito. Excepcionalmente, em casos onde muito difcil ou
caro se obter um padro 10 vezes superior ao sistema de medio a calibrar aceita-
se 1/5 para a razo entre as incertezas usmp e usmc. Em ltimo caso, aceita-se at
1/3 para a razo entre as incertezas usmp e usmc (ISO1012-1, 1993).
Os padres de laboratrio, sejam estes, sistemas de medio ou grandezas
corporificadas, por sua vez, devem ter suas caractersticas comprovadas por meio
de calibraes, usando padres ainda superiores; e estes, por sua vez, a outros,
estabelecendo uma hierarquia que ir terminar nos padres primrios. A calibrao
peridica dos padres garante a rastreabilidade internacional.
Rastreabilidade a propriedade do resultado de uma medio ou do valor de um
padro estar relacionado a referncias estabelecidas, geralmente padres nacionais
ou internacionais, atravs de uma cadeia contnua de comparaes, todas tendo
incertezas estabelecidas. O conceito geralmente, expresso pelo adjetivo
rastrevel. Uma cadeia contnua de comparaes denominada de cadeia de
rastreabilidade.
59
7.2.3 - Padro Primrio
Padro que designado ou amplamente reconhecido, como tendo as mais altas
qualidades metrolgicas e cujo valor aceito sem referncias a outros padres de
mesma grandeza (VIM, 1995)
60
7.3.2 - Sistema de Comprovao
A comprovao metrolgica um conjunto de operaes necessrias para
assegurar que um dado equipamento de medio esteja em condies de
conformidade com os requisitos para uso pretendido. Uma comprovao metrolgica
normalmente inclui, entre outras atividades, a calibrao, a manuteno necessria,
a subsequente re-calibrao, bem como alguma lacrao ou etiquetagem
necessria.
62
Figura 7.1 a Certificado de Calibrao de um Relgio Comparador.
63
Figura 7.1 b Certificado de Calibrao de um Relgio Comparador.
64
7.3.9 - Intervalos de Comprovao
Um aspecto importante da operao eficiente de um sistema de comprovao o
estabelecimento de perodo mximo entre sucessivas comprovaes de padres e
equipamentos de medio.
65
Para a avaliao do desvio de circularidade existem quatro mtodos, quais sejam:
8.1 - MNIMOS QUADRADOS
O primeiro mtodo o dos mnimos quadrados ou Least Square Center (LSC).
Consiste em calcular o centro de uma circunferncia de tal modo que o quadrado
das somas das distncias dos pontos amostrados at a circunferncia seja mnimo.
A Fig. 8.1 mostra o resultado do mtodo LSC para um perfil qualquer.
Uma das vantagens dos mnimos quadrados que podem ser usados para qualquer
geometria, inclusive perfis genricos (KURNOSENKO & MIKHAILOV, 1991). Este
mtodo muito utilizado para a circularidade por causa da simplicidade com que se
pode fazer os clculos. Uma das maneiras de calcular derivar parcialmente
frmula da circunferncia e igualar a zero, obtendo-se o mnimo. As equaes
resultantes tm muitos termos e a soluo algbrica no fcil. No entanto, em uma
mquina especializada em medir circularidade, a pea deve ser inicialmente
"centralizada". Obtido o grfico polar, pode-se tirar vrios pontos de forma simtrica,
dividindo a circunferncia em ngulos iguais. Estas duas condies permitem
eliminar uma srie de termos, podendo-se calcular o centro da seguinte forma:
FIGURA 8.1 - Um perfil com o crculo ajustado pelo mtodo Least Square Center
(LSC). FONTE: RANK TAYLOR ROBSON, 1984.
66
8.2 - MIC E MCC
Outros dois mtodos so o Mximo Crculo Inscrito (MIC) e Mnimo Crculo
Circunscrito (MCC). Apesar de no estarem de acordo com a definio de
circularidade, estes mtodos tm sido usados na indstria e foram includas na
norma 889.3.1 porque podem ser interpretados como o menor anel ajustvel a um
eixo (MCC) ou como o maior eixo ajustvel num furo (MIC).
O MCC definido como o centro de duas circunferncias concntricas de modo que
a circunferncia externa seja a menor possvel. Analogamente, o MIC define um
centro de duas circunferncias de modo a ter a maior circunferncia interna. Pode-se
ver a definio na Fig. 8.2. At recentemente algoritmos heursticos eram utilizados,
mas algoritmos baseados em geometria computacional foram desenvolvidos e so
mais eficientes. MEGIDDO (1983) props um algoritmo para achar o menor crculo
circunscrito por programao linear, SKYUM (1991) tambm implementou um
algoritmo semelhante, baseado em geometria computacional que roda em tempo
O(n log n).
FIGURA 8.2 - Um perfil com o Mnimo Crculo Circunscrito (MCC) e Mximo Crculo
Inscrito (MIC). FONTE: RANK TAYLOR ROBSON, 1984.
8.3 - MZC
O ltimo dos quatro mtodos o de Zona Mnima de Tolerncia, ou Minimum Zone
Center (MZC), tambm chamada Minimum Radial Separation (MRS) ou ainda Total
Indicator Reading (TIR) (Fig. 8.3). Este est matematicamente de acordo com a
definio de circularidade, ou seja, procura-se o par de crculos concntricos que
67
forneam a menor separao entre si e que o anel formado contenha o perfil da
pea. No existiam algoritmos suficientemente eficientes e precisos (do ponto de
vista estritamente matemtico) para calcular o MZC at recentemente. Apesar da
aparncia simples do problema, pode-se demonstrar que no h soluo algbrica.
A prova de existncia e unicidade da soluo no trivial (KAISER et aI. 1994).
Vrios algoritmos utilizando aproximaes lineares foram desenvolvidos.
MURTHY & ABDIN (1980) desenvolveram mtodos simplex e propuseram "pesquisa
espiral" para desvios de forma em geral. Mais tarde descobriu-se que estes mtodos
no garantem a otimizao. O mtodo simplex para ajuste de curvas apresentado
de forma mais genrica por CACECI & CACHERIS (1984). SHUNMUGAM (1987)
desenvolveu outra abordagem para o mtodo simplex, utilizvel para vrias
geometrias de desvios de forma. FUKUDA & SHIMOKHOBE (1984) desenvolveram
algoritmos mini-max para circularidade e cilindricidade e mostraram que so uma
soluo equivalente (e aproximada) do problema. DHANISH & SHUNMUGAM (1991)
utilizaram a aproximao linear de Chebyshev. Uma abordagem inicial atravs de
programao quadrtica foi feita por VIDIGAL e DIRECTOR (1987) e por WANG
(1992). GOTA & IIZUKA (1991) utilizaram aproximao do perfil a uma srie
harmnica de Fourier. A concluso foi um tanto polmica, pois estes autores
afirmaram que basta multiplicar o LSC por 0,95 para obter o MZC com 95% de
confiabilidade.
Uma forma totalmente diferente de analisar o problema surgiu com o
desenvolvimento da computao para aplicaes de CAD (PREPARATA &
SHAMOS, 1988). Atravs da chamada geometria computacional desenvolveu-se
algoritmos de baixa complexidade. Para desvios de planeza e retilineidade
TRABAND et aI. (1989) desenvolveram um algoritmo baseado no conceito de
envelope convexo. LE & LEE (1991) e ROY & ZHANG (1994) desenvolveram
algoritmos geomtricos para circularidade. Estes mtodos no apresentam muitos
dos inconvenientes das aproximaes e garantem a otimizao.
68
FIGURA 8.3 - Um perfil com dois crculos concntricos obtidos pelo mtodo da zona
mnima (MZC). FONTE: RANK TAYLOR ROBSON, 1984.
a) b)
c) d)
FIGURA 8.4 - O mesmo perfil tem desvio calculado como: a) Rmax- Rmin = 0.88
mm no MCC; b) RmaxRmin = 0.76 mm no MIC; c) Rmax- Rmin = 0.72 mm no MZC;
d) Rma[ Rmin = 0.75 mm no LSC.
FONTE: WHITEHOUSE, 1994.
69
9.1 - SISTEMA DE MEDIO
Todo sistema de medio tem por objetivo fornecer dados com preciso e exatido
das caractersticas lidas. (Fig. 9.1)
Instrumentos e
dispositivos Padres
Software
de medio
Condies Dispositivos
ambientais Sistema de Medio de fixao
Valor de Exatido
referncia
71
Qual a diferena
entre preciso e
exatido??
?
P
Ex reci
at so
id
o
72
Figura 9.5 - Reprodutibilidade.
Estabilidade
Dados 2
Dados 1
73
Valor de Valor de Linearidade
referncia referncia
Descentralizao Descentralizao
menor maior
O estudo e anlise podem ser feitos por meio de VT ou com relao aos limites de
especificao (tolerncia). Normalmente para os processos produtivos utiliza-se
como base a VT e para Sistemas de Medies aplicados em inspees finais e
recebimento, utiliza-se a tolerncia. As porcentagens dos elementos so calculadas
conforme a Tabela 9.1.
75
Tabela 9.1 Elementos do estudo de R&R calculados em funo de VT ou da
tolerncia.
FONTE % da VT % da TOL
Mtodo / EM %VE = 100(VE/VT) %VE = 100((6VE)/TOL)
Operador %VO = 100(VO/VT) %VO = 100((6VO)/TOL)
R&R %R&R = 100(R%R/VT) %R&R = 100((6R R)/TOL)
Peas %VP = 100 (VP/VT) %VP = 100((6VP)/TOL)
Figura 9.6 Sada dos resultados de um ensaio R&R, calculado pelo mtodo
ANOVA
76
Conforme a Figura 9.6, na primeira parte (ANOVA) h a tabela da ANOVA com o
teste de igualdade de peas. Esta tabela leva em conta a interao pea*operador e
se este termo no for significativo, ele ser removido e uma nova tabela ser
montada.
A primeira coluna DF representa os graus de liberdade. Se forem analisadas 10
peas, tem-se 9 graus para as medies. Para 3 operadores, so 2. O nmero total
de medies 3 operadores 10 peas 3 vezes cada pea = 90 medies,
portanto o nmero de graus de liberdade 89.
A segunda coluna SS representa a soma dos quadrados (sum of squares) das
diferenas entre a mdia de cada grupo menos a mdia geral. Para se achar SS das
peas, por exemplo, acha-se a mdia de cada pea, subtrai-se da mdia geral das
medies, elevam-se cada uma dessas diferenas ao quadrado e multiplica-se pelo
nmero de operadores e pelo nmero de peas.
A coluna MS representa a mdia dos quadrados (mean squares). Isto feito
divindido a soma dos quadrados pelo nmero de graus de liberdade.
A prxima coluna F utilizada para detectar a interao. Isto feito dividindo-se o
MS da pea pelo MS total (no caso da tabela pelo MS peas*operador). Com base
neste valor de F, o Minitab calcula a probabilidade de significncia da variao de
cada termo ser diferente de zero.
Se o valor de P na maioria dos termos for igual a 0, rejeita-se a hiptese nula de que
a variao devido a este componente igual a zero e assume ser significante. Se o
valor de P da interao pea*operador for maior que 0,25, ele ser removido, visto
que a variao dele no significante.
Na segunda parte (Gage R&R) h duas colunas, VarComp (varincia do
componente de estudo) e %Contribution (percentual de contribuio). Cada
componente (Repetitividade, Reprodutibilidade, Pea a Pea) tem sua contribuio
fracionada. O Total Gage R&R a raiz quadrada da soma da varincia da
repetitividade e da varincia da reprodutibilidade. Ao se dividir cada valor da
VarComp pelo Total Variation, obtm-se o percentual correspondente da
%Contribution.
Na prxima tabela, tem-se na primeira coluna o desvio padro (SD). A segunda, o
desvio padro multiplicado por 6 (referente a seis sigma 99,73% dos dados
representando a variao total no processo). A prxima coluna (%Study Var)
representa o valor correspondente da variao da coluna anterior dividido pelo Total
Variation.
A %Tolerance representa os valores calculados tendo como base a tolerncia da
pea e no a variao das medidas (veja Tabela 9.1). Esta ltima coluna
representa qual o percentual de tolerncia comprometido pelos componentes do
estudo.
O nmero de categorias distintas de dados obtido por meio da diviso do desvio
padro das peas pelo desvio padro Gage R&R. Este valor (ndc) calculado por:
e deve ser maior ou igual a 5. Se este valor for inferior a 5, significa que o Sistema
de Medio no apropriado para identificar a variao do processo, ou seja, o
Sistema de Medio no consegue identificar a variao do processo.
A Figura 9.7 mostra 6 grficos, em que o primeiro um grfico de barras separado
em 4 variveis: Gage R&R, Repeat, Reprod e Part-to-Part. Cada varivel possui 3
barras com o valor percentual %Contribution, %Study Var e %Tolerrance,
representando o percentual de contribuio de cada componente, o percentual de
variao em relao a variao total do prprio estudo e o percentual que consome
77
da tolerncia. Se o Sistema de Medio for bom, a nica variao esperada no
estudo seria entre as peas (Part-to-Part) com valor esperado acima de 70%.
78
Os grficos a seguir mostram respectivamente o Histograma das medidas (h no
histograma uma gaussiana esperada e uma gaussiana real) e a distribuio das
medidas em um intervalo de confiana de 95%. AD a estatstica de Anderson
Darling. Se os pontos acompanharem aproximadamente a linha reta, o valor de p
for maior que 0,05 e o valor de AD for baixo, pode-se concluir que os dados provm
de uma distribuio normalmente distribudas. No caso do exemplo, o valor de p
baixo e AD alto, o que significa que os dados no so normalmente distribudos
(como, alis, se observa no histograma).
No grfico Capability Plot tem-se os valores Cp, Cpk, Pp, Ppk. Cp indica como o
processo se desempenharia se as variaes entre os subgrupos pudessem ser
eliminadas. Ento, ele calcula a disperso do processo usando a variao dentro
dos subgrupos (no caso do exemplo, so 10 subgrupos). O ndice P p ignora os
subgrupos e considera a variao total do processo. Esta variao global (Overall)
considera a variao que pode ocorrer entre os subgrupos. Se o valor Pp difere
muito de Cp, existe variao significativa de um subgrupo a outro (caso do exemplo).
Os ndices Cpk e Ppk so determinados levando-se em conta os limites de
especificao (ver cap. VIII do livro Introduo Engenharia de Fabricao
Mecnica, Novaski, 1994).
79
9.5. CRITRIO DE REJEIO DE MEDIDAS
Critrio 1. Quando uma grandeza y medida n vezes, pode ocorrer que o desvio
dy = ( yi - ym ) de uma determinada medida seja muito grande
comparada com o desvio padro do conjunto de medidas. Isto pode
ocorrer devido a erros grosseiros ou eventuais falhas momentneas do
equipamento de medio. Em um dos casos, razoavel eliminar yi do
conjunto de dados.
dy = ( yi - ym) > d Ch ( 04 )
80
Tabela 9.1 - Limite de rejeio de Chauvenet (PARADINE&RIVETT,
1974)
n dCh n dCh
2 1.15 20 2.24
3 1.38 30 2.39
4 1.54 40 2.50
5 1.65 50 2.58
6 1.73 100 2.80
8 1.76 200 3.02
10 1.96 500 3.29
12 2.04 1000 3.48
15 2.13 2000 3.66
81
10.1 - INTRODUO
O Brunimento o processo de usinagem, feito com ferramentas com arestas de
corte com geometria no definida, multicortantes, com gros abrasivos, que se
mantm em constante contato com a superfcie usinada, com o objetivo de se
aumentar a exatido dimensional, forma e qualidade superficial de componentes
pr-usinados. Entre o componente e a ferramenta ocorre uma mudana do sentido
longitudinal. A superfcie acabada revela um padro paralelo cruzado.
Segundo a norma DIN 8589, parte 14, a diferena entre os termos brunimento e
superacabamento reside no fato que, o curso do movimento de translao da
ferramenta no termo empregado como brunimento longo, enquanto no termo
adotado como superacabamento, o curso da ferramenta pequeno, ou seja, um
movimento vibratrio da mesma(fig. 10.1).
ve= (1)
84
Figura 10.5 - Desvios geomtricos possveis de serem corrigidos no brunimento
85
movimento e se acelerando aps a inverso, na direo contrria. Estas inverses
da direo do movimento axial da ferramenta, se do, obviamente, nos pontos
superiores e inferiores do furo.
Como as componentes avano e corte so praticamente constantes ao longo do
curso da ferramenta, o ngulo de cruzamento se mantm tambm praticamente
constante, alterando seu valor somente nos pontos de inverso da direo do
movimento da ferramenta, onde, nestes pontos, ter seu valor diminudo. O ngulo
de cruzamento dado pela expresso:
vf
tan (2)
2 vc
86
Figura 10.6 - Direo dos esforos atuantes em um gro
87
Figura 10.8 - A curva de Abbot-Firestone e parmetros relacionados
M M r1
A3 = r 2 xRk +A2 (3)
2
88
passo que aos vales no existe esta permisso, pois isto faria com que no
houvesse nenhuma reteno de leo. A rea A2 calculada como segue:
Rvk
A2 = (100 M r 2 ) x (4)
2
Alm destes parmetros, relacionados curva de Abbot, pode ser importante, para
se caracterizar a superfcie, os parmetros Pc, HSC(High Spot Count ) e o parmetro
Sm (fig. 10.9 e fig. 10.10).
89
HSC a quantidade de elevaes por mm (geralmente em 10 mm) que ultrapassa o
limite pr-selecionado.
Atravs destes dois parmetros consegue-se saber, por exemplo, se a superfcie
brunida est com muitos picos(indesejado) ou com poucos picos(situao ideal).
Sm (DIN 4762) a distncia mdia dos picos de perfil. Um Pico de Perfil uma
elevao seguida de um vale. O parmetro Sm veio substituir o parmetro Ar (DIN
4762-1960), que era a distncia entre vales. Este parmetro permite nos dar uma
idia da largura dos vales, para permitir o alojamento do leo.
Outro parmetro interessante o parmetro Vo, que representa o volume de leo
retido em uma rea quadrada da pea (mm3/cm2).
90
11.1 - DEFINIO
As Mquinas de Medir a Trs Coordenadas (MM3C) so instrumentos metrolgicos
extremamente versteis, caracterizados por sua simplicidade de operao,
flexibilidade e acuracidade. Permitem a medio dos mais variados tipos de peas
(engrenagem, revestimentos de aeronaves, mdulos de satlite e turbinas, entre
outros) com extrema rapidez e preciso, reduzindo o tempo de medio em at 90 %
se comparada com os instrumentos convencionais (Fig. 11.1).
91
Mquina de Medir CNC
92
A Mquina de Medir do tipo Ponte Mvel apresenta-se como a configurao mais
utilizada no meio industrial.
Guia do eixo X
Eixo Z
Sonda de
Guia do eixo Y medio
Computador
Z
Y X
Desempeno
de granito
93
11.4 - ERROS E SUAS FONTES
O desempenho das mquinas de medir afetado por diversos fatores, que atuam de
maneira conjunta, combinando-se de forma complexa por todo o volume de trabalho
da mquina, gerando o denominado erro volumtrico, Figura 11.4.
distncia ponto-ponto,
distncia ponto-reta,
distncia pontoplano,
distncia entre dois pontos,
distncia entre duas retas,
distncia entre dois planos
dimetro de crculo,
dimetro de esfera,
ngulo,
desvios de planeza,
desvio de circularidade,
desvio de cilindricidade,
desvio de paralelismo, etc.
95
Tabela 11.1 Quantidade mnima de pontos em funo da geometria a medir.
Geometria euclidiana Nmero de pontos
Reta 2
Plano 3
Crculo 3
Esfera 4
97
(Cpia do Folheto da Mahr)
98
99
100
101
102
103
104
105
106
107
108
109
110
111
112
113
13.1 TRANSFERNCIA DE COTAS
Normalmente uma determinada pea apresenta uma srie de cotas fazendo
surgir o seguinte problema: determinao da cota total da pea e sua tolerncia
tendo em vista as cotas parciais com as respectivas tolerncias. Deste problema
surgem trs situaes distintas:
b) Uma parte das cotas parciais possui tolerncia, a cota total possui tolerncia e
deseja-se determinar a tolerncia da cota semi-total. Neste caso, as cotas sem
tolerncia permitem obter uma compensao das dimenses (esta cota pode ser
colocada em parnteses). Na Figura 13.2, deseja-se saber a tolerncia da
medida de 86 mm;
114
Figura 13.2: Determinao da tolerncia da cota semi-total.
c) No caso em que a cota total, por razes de funcionamento tenha que ter uma
tolerncia bem definida, oportuno deixar uma das cotas parciais (a de menor
importncia) sem tolerncia para servir de compensao, Figura 13.3) (esta cota
pode ser colocada entre parnteses).
Figura 13.3: Cota parcial de 30 mm sem tolerncia para compensao dos erros.
Neste caso da Figura 13.3, a cota de 30 mm fica sem tolerncia para compensao.
115
Pode ocorrer em um desenho que a referncia das cotas indicadas (referncia de
projeto) no tenha a mesma referncia no momento da fabricao, tendo-se que
adotar uma outra referncia (referncia de fabricao) e ainda uma outra referncia
no momento da medio (referncia de medio). O ideal que as trs referncias
sejam sempre as mesmas. Este fato (referncias diferentes) indesejvel, mas
quando isto ocorre pode ser necessrio calcular as tolerncias das novas
referncias. Considere a Figura 13.4.
Caso 1:
Suponha que as cotas funcionais (de projeto) sejam A e B e se deseja saber o
valor da cota C, resultante, obtida na fabricao por meio de A e B.
Neste caso, tem-se:
13.1
13.2
13.3
( ) ( )
Ou seja:
13.4
13.5
116
13.6
13.7
( ) ( )
13.8
Nota-se neste caso que a tolerncia resultante (obtida na fabricao por meio
de A e C) e obtida indiretamente, em que uma diferena das outras e no uma
tolerncia funcional, a soma das tolerncias das outras cotas (das funcionais),
podendo se generalizar.
13.9
Portanto, sempre que a cota de fabricao for obtida por meio das cotas funcionais,
se aplica a expresso acima.
Caso 2:
Agora, supondo-se que as cotas funcionais sejam A e C (afetadas de
tolerncias que devem ser garantidas) e o processo de fabricao obrigue a
utilizar a medida B, para por meio dela, se obter as cotas funcional A. Neste
caso, portanto, necessita-se determinar a dimenso B com suas tolerncias,
de tal sorte que o resultado da fabricao proporcione a dimenso A dentro
dos seus limites. Nesta situao, o equacionamento tem que comear pela
cota A (obtida indiretamente por meio de B) que a que deve ser garantida,
pois a funcional. Assim, tem-se:
13.10
13.11
Isolando-se B, obtm-se:
13.12
13.13
Subtraindo-se 13.13 de 13.12, tem-se:
( ) ( )
Ou seja,
13.14
Para que esta expresso tenha sentido e que a tolerncia de B seja sempre
positiva, necessrio que a tolerncia de A seja maior que a tolerncia de C.
V-se neste caso em que a cota funcional deve ser obtida indiretamente por
meio de uma cota de fabricao que a tolerncia desta (de fabricao) a diferena
entre a cota funcional obtida indiretamente e a que permanece. Percebe-se numa
situao como esta, que os procedimentos so os seguintes:
117
a) Colocar as equaes a partir da cota funcional que ser obtida indiretamente
(cota condio, no caso do exemplo, a cota A);
b) Verificar se a cota a ser obtida indiretamente maior do que a que se
conserva;
c) Se o item anterior (b) no for atendido, chega-se a uma situao indesejvel
em que, por problemas de referncia na fabricao, a tolerncia funcional da
cota que se conserva (C, no exemplo) ter que ser alterada para um valor tal
que permita que a diferena entre as tolerncias das cotas seja positiva e,
portanto, seja possvel sua obteno.
Do exposto se conclui que sempre que possvel, o processo de fabricao deve ter
como referncias de obteno as cotas funcionais, j que as calculadas sero
sempre menores, podendo conduzir a um processo de fabricao tecnologicamente
invivel.
13.1.1 Exemplos:
Situao 1:
Nesta situao, a cota funcional C se obtm por:
118
Assim, nesta situao, a cota funcional A, teria que ser aumentada, o que
indesejvel, para que se obtenha uma cota de fabricao B positiva.
Situao 2:
Por outro lado, ao se considerar agora que a cota funcional diretamente
afetada e obtida indiretamente pela cota de fabricao B seja a A, tem-se:
{
Assim:
a) 14,9 e 30,1 = 45
b) 14,9 e 30,2 = 45,1
c) 15 e 30,1 = 45,1
d) 15 e 30,2 = 45,2
Todavia, supondo-se que a medida obtida pela fabricao para B foi 30,3 e a
medida C foi 14,9; pela tolerncia calculada, a pea seria refugada pela
medida B, entretanto a soma das duas resulta em 45,2, ou seja, as duas
cotas funcionais so atendidas. Portanto, em uma situao como esta,
119
embora tenha sido determinada a cota auxiliar B, as medidas a serem
controladas para aceite ou refugo das peas, so as funcionais (neste caso A
e C) e no a cota calculada.
Resoluo:
A dimenso A, neste caso ser a resultante, uma vez que a pea ser fabricada
por meio das cotas funcionais de 75 e 60. Portanto, neste caso, tem-se:
Ou seja, .
(Observe que expresso 13.4)
Se a dimenso B for obtida por meio das cotas funcionais, ento a tolerncia ser
a resultante da tolerncia destas. Assim:
120
Ou seja,
(observe que expresso 13.4)
121
ESTATSTICA APLICADA
A.1 DISTRIBUIO NORMAL
Uma das distribuies estatsticas mais comumente encontradas na prtica a
distribuio normal ou Gaussiana, tambm chamada de distribuio normal de erros.
Esta distribuio gaussiana, foi deduzida por K.F. Gauss em 1795 HOLMAN (1977),
MORETTIN (1990), VUOLO (1992).
A distribuio normal uma distribuio simtrica em relao mdia e cujo grfico
assemelha-se com a forma de um sino, como mostra a figura (A.1). O desvio padro
desta distribuio corresponde distncia entre a mdia e o ponto de inflexo da
curva; e avalia o quanto os valores esto dispersos em torno da mdia.
A distribuio normal o resultado da atuao conjunta de causas aleatrias, e
amplamente utilizada para descrever os erros aleatrios.
ym
Figura A.1 - Distribuio normal ou Gaussiana
Para uma funo aleatria com distribuio normal, valor mdio ym e desvio
padro , possvel obter a probabilidade de ym, em funo do intervalo de
confiana e do fator k, apresentado na tabela A.1.
122
A.2 MEDIDA DE TENDNCIA CENTRAL
As medidas de tendncia central so: mdia, mediana e moda. A mediana, em um
conjunto de nmeros ordenados em ordem de grandeza, o valor do meio; e a
moda, em um conjunto de valores, o valor que ocorre com mais frequncia, isto ,
o valor mais comum. A mdia pode ser obtida por quatro meios, sendo: mdia
aritmtica, mdia ponderada, mdia geomtrica e mdia harmnica. Neste trabalho,
onde se referir mdia das medidas ym , deve ser considerado a mdia aritmtica.
Devido a erros aleatrios, os resultados de n medidas sob condies de
repetitividade so geralmente diferentes. Indicando os resultados por:
y1 , y2 , y3 , ... , yi , ... , yn
n
1 yi
ym = ( A1 )
n i=1
yvc yvc
correo do erro
sistemtico
ys
Medidas Medidas
0 ym ym
R = ymx - ymin ( A2 )
123
Depende do nmero de medidas. Em geral o valor da amplitude cresce
quando aumenta o nmero n de medidas .
n
1
S (yi) = ( yi - ym ) ( A3 )
n-1 k=1
124