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CAPTULO 02
MTODOS DE CLCULO
CONTENIDO
INDICE
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2-2 MTODOS DE CLCULO 160121
Las consideraciones que siguen tomndose en cuenta en la mayora de los mtodos, son:
Una impedancia cero en el lugar de la falla
Cada de tensin de cero por causa de la falla
Desprecio por la corriente normal de las cargas al momento de la falla
Desprecio por la resistencia de los conductores en sistemas con relacin X/R mayor a 4
(normalmente todos los de media y alta tensin)
La utilidad de cada mtodo depender del uso que le demos al resultado. Si es nicamente
para obtener la corriente de falla trifsica (valor de secuencia positiva), cualquier mtodo es
apropiado para obtenerla. Si se busca otro tipo de falla, es preciso calcular adems los valores
de corriente de secuencia negativa y cero, y con ellos y el dibujo de las mallas de secuencia
obtener el valor de las corrientes, para lo que no todos los mtodos son igualmente efectivos.
De tiempo en tiempo, aparecen otros mtodos de clculo para resolver las limitantes de los
mtodos anteriores. Por ejemplo, en sistemas de distribucin con miles de buses trifsicos,
monofsicos, radiales y en anillo como es el caso de CFE y otras empresas elctricas no se
puede utilizar el mtodo por componentes simtricas porque la topologa desde hace algunos
aos no es igual para las tres fases, por lo que se requiere la representacin por fase
individual.
2 CONSIDERACIONES ANSI/IEEE
ANSI/IEEE
Como ambos procedimientos son empricos y tratan las fuentes de las corrientes de
cortocircuito como una tensin detrs de una impedancia equivalente, como se muestra en la
tabla siguiente, estas impedancias son usadas con o sin un multiplicador para obtener valores
ms acorde con las magnitudes de corriente de cortocircuito reales.
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RUELAS-GMEZ, Roberto. CORTOCIRCUITO Y APLICACIONES 2-3
Notas:
(1) X"d del generador es en KVA base. Si no se conoce: use 0.15 si < 6 polos; 0.20 si es > 6
polos.
(2) Si fp = 0.8, kVA = HP; Si fp = 1.0 entonces kVA = 1.25 HP
(3) Si no se conoce use 0.167 con: kVA = HP para < 100 HP; HP = 0.90 kVA; para > 100 HP
Este estndar para instalaciones en media y alta tensin tiene dos procedimientos de clculo:
a) El que usa nmeros complejos, donde los diagramas unifilares se reducen a un valor R + jX,
mientras que la reduccin por separado es para calcular nicamente la relacin X / R.
b) Reduccin por separado de X y R por facilidad de clculo, pero que conlleva resultados ms
conservadores que el anterior (Mtodo hmico por unidad).
3 CONSIDERACIONES IEC
El criterio mnimo para considerar la contribucin a la falla de la corriente de los motores en baja
tensin es que la suma de las corrientes nominales de los motores (Inm Inm)
Inm conectados al sistema
donde ocurre el cortocircuito sea mayor a la centsima parte de la corriente de cortocircuito (IkIk)
Ik
sin la contribucin de los motores [7]
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2-4 MTODOS DE CLCULO 160121
Mtodos tradicionales
Mtodos basados en ANSI/IEEE
Mtodos basados en IEC 60909 [7]
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ETAP - Programa modular que calcula cortocircuito y protecciones bajo normas IEC o
ANSI/IEEE. Es un programa con muchos aos en el mercado.
http://etap.com/short_circuit_analysis/short_circuit_ansi_ieee.htm
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2-6 MTODOS DE CLCULO 160121
5 REFERENCIAS
[1] Mullin, Ray C. & Smith, Robert L. Electrical Wiring Commercial. 11th Edition. Delmar 2002.
[2] Tsai-Hsiang Chen et al. Distribution System SC Analysis. IEEE Transactions on Power
Systems. February 1992 pag 444-450.
[3] Dunki-Jacobs et al. ANSI-Based and Dynamically Rigorous Shortcircuit Current Calculation.
IEEE Transactions on Industry Applications Nov-Dic 1988 pp. 1180-1194
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RUELAS-GMEZ, Roberto. CORTOCIRCUITO Y APLICACIONES 2-7
[4] ANSI/IEEE C37.010-1979 (Revision 1999) IEEE Application Guide for AC High-Voltage
Circuit Breakers Rated on a Symmetrical Current Basis
[5] IEEE C37.13-1990 IEEE Standard for Low-Voltage AC Power Circuit Breakers Used in
Enclosures. Revision of ANSI/IEEE C37.13-1981
[6] IEEE Std 551-2006 Recommended Practice for Calculating Short-Circuit Currents in
Industrial and Commercial Power Systems - Libro Violeta
[7] IEC Std 60909. Short-circuit currents in three-phase a.c. systems. 2001.
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