UNIVERSIDAD TCNICA FEDERICO SANTA

MARA
CAMPUS SANTIAGO
LABORATORIO FIS 140

EXPERIENCIA N3: Reflexin y Refraccin de la Luz.

Andrs Cifuentes 201004652-4 andres.cifuentesv@alumnos.usm.cl
Jos Ignacio Ramos 201004767-9 jose.ramos@alumnos.usm.cl
Grupo 461-A

Resultados 0.80

n1 f(x) = 0.60
0.68x - 0
Incidencia desde un medio (Aire), a
R = 1
n2 n1 <n2 0.40
un medio (Plstico), donde .
Seno ngulo Refractado Sin()
0.20
1.60
0.00
f(x) = 0.99x - 0.01
1.20 0.80
R = 1 0.00
0.80

Angulo Reflejado (
') [ 0,50] Seno Angulo Incidido Sin(i)
0.40
Grfico 2: Seno del ngulo refractado, en funcin del seno
0.00
del ngulo incidente. En este caso, el rayo entra desde el
2.00 aire hacia el medio plstico.
0.00
Angulo Incidente (i) [ 0,50]
n2
Incidencia desde un medio (Plstico),
Grfico 1: Angulo reflejado en funcin del ngulo n1 n2 >n1
incidente, cuando el rayo impacta desde el aire hacia el a un medio (Aire) donde .
polmero.
1.20

f(x) = 1.46x + 0.02

R = 1 0.80

Seno ngulo Refractado Sin(
) 0.40

0.00

Seno Angulo Incidido Sin(i)

Grfico 3: Seno del ngulo refractado, en funcin del

ngulo incidente. En este caso, el rayo entra en el medio de
plstico, y luego sale al plano normal hacia el aire.

De los grficos expuestos anteriormente y
aplicando una tendencia lineal a los datos, se
desprenden las siguientes ecuaciones
experimentales:
' 3
r =0,988 i7,40 10 [1]
3
sin ( r )=0,680 sin ( i ) 4,20 10 [2]
sin ( r )=1,46 sin ( i ) +1,81 102 [3]
Dnde:
i :
ngulo de incidencia con el plano
horizontal.
r ' :
ngulo reflejado con el
mismo plano horizontal anterior.
r : ngulo refractado con el plano
horizontal entre las superficies.
Los datos utilizados para obtener estos
grficos, pueden observarse en la seccin
apndices.
Discusin y Anlisis
El anlisis de dividir en los objetivos
que tiene el informe:
Verificar la ley de reflexin
Como se ha dicho en el marco terico, el haz
de luz al traspasar de un medio homogneo a
otro, va a haber una parte reflejada en el primer
medio, y otra refractada en el otro. El fenmeno
ser analizado en un plano de incidencia
horizontal.
En esta parte, se verificara la reflexin del
rayo en el aire. Tericamente, el rayo reflejado
medido desde la normal, como se indica en la
figura 1, debe ser el mismo que el incidente,
expresado matemticamente esto es:
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i= r ' (1)
Dnde:
i : ngulo del rayo incidente
'
r : ngulo del rayo reflejado
Por lo tanto, en el montaje, cada 10[ ]
se mide el ngulo de incidencia. Estos son
medidos obtenindose el grfico 1, con la
siguiente ecuacin emprica:
r ' =0,988 i7,40 103 (2)
Se obtiene una ecuacin de lnea de la forma
y=ax+b . El valor de b es el
desplazamiento de la expresin en el eje y,
debido a que su valor es bastante menor a la
pendiente se despreciar.
Debido a esto ltimo, se logra observar lo
similares que son la ecuacin terica y la
experimental. Ambas tienen diferencias en el
valor del coeficiente a , el cual tienen el
siguiente error experimental:
Err 1=0,120 {1 }
Para verificar la validez de la expresin
terica, el coeficiente de correlacin debe ser
cercano al nmero uno. Se obtuvo un coeficiente
de 0,999 , por lo que prcticamente, el error
de los valores en comparacin con la lnea de
tendencia, es en general muy diminuto.
Verificar la ley de Snell
La siguiente parte tiene continuacin con el
montaje utilizado en el punto anterior, pero ahora

el elemento a analizar ser el rayo que atraviesa
el semicrculo, este es, el rayo refractado.
Tericamente, la ley de Snell sirve para
determinar el ngulo refractado, formado con la
normal al plano de incidencia como se observa
en la figura 1. El ngulo refractado, depende de
la relacin de los coeficientes del medio, y de la
funcin seno del ngulo, tal como indica la
siguiente expresin:
n1 sin ( i )=n2 sin ( 2) (3)
n1
Para este caso, corresponde al
n2
ndice del aire, mientras que
semicrculo. Segn el tem Desarrollo
n2
Experimental, el valor de corresponde a
1,4 9 segn el fabricante del instrumento, por
lo que la expresin terica queda de la forma:
1,00
sin ( 2 ) = sin ( i ) ( 4)
1,49
El motivo de utilizar el seno del ngulo,
es porque el cateto opuesto al ngulo de
incidencia, es un buen referente para realizar una
comparacin en la desviacin del rato. As, los
ndices de refraccin indican cuanto cambia la
desviacin del rayo con la normal.
Para demostrar esto experimentalmente,
se aplica funcin seno a los ngulos en estudio, y
posteriormente se realiza un grfico entre el seno
del incidente con el refractado, obtenindose una
expresin similar a la ley de Snell. Del grfico 2,
se obtiene la siguiente expresin emprica:
sin ( r )=0,680 sin ( i ) 4,20 10 (5)
3 Determinar el ngulo crtico o lmite
La desviacin del eje vertical
b=4,20 10 3
en la lnea tendida se
desprecia, por tener un valor diminuto.
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Entonces ahora es posible analizar la
expresin terica y experimental. En la ecuacin
(4 ) , el valor que multiplica a la variable
independiente, es 0,671 .
El error experimental obtenido entre los
valores de a de ambas expresiones es:
Err =0,015
El bajo valor porcentual, deja en evidencia la
comprobacin de la ley de Snell.
Determinar el ndice de refraccin de un
semicilindro plstico
ser para el
Esta parte es derivada de la anterior, se
continuar estudiando el valor de la pendiente de
la curva, pero en este caso, se determinar un
n
valor terico para 2 .
Para esto, se despeja de la pendiente obtenida
experimentalmente, obteniendo lo siguiente (para
desarrollo vase apndice):
n2=1,47 {2}
Este es el ndice de refraccin del
semicrculo, obtenido con los resultados de la
experiencia. Comparando este valor con el
terico, se obtiene el siguiente error porcentual:
Err n =1,36 {3 }
2
Por lo cual, con el criterio del objetivo 2,
queda en constancia la demostracin
experimental de la ley de Snell.
Para este objetivo, se utiliza el segundo
montaje que est descrito en el tem desarrollo
experimental. Se har recorrer el rayo hacia el
plano de incidencia, desde el medio de mayor
ndice, saliendo por el menor.

Un dato interesante es el ngulo crtico, el
cual es el ngulo de incidencia mximo donde se
produce refraccin hacia el otro medio. Como en
el caso anterior el rayo incide desde un medio
n1=1,00
con , su ngulo crtico es 90 .
Pero como ahora el ndice de refraccin es
distinto, este ngulo tambin cambia, y por lo
tanto no se dar el caso lgico anterior.
Para el desarrollo experimental, se debe ir
variando el ngulo de incidencia cada 5 ,
esto es para la discrecin del resultado en
bsqueda. En un intervalo de 40 y 45, se
observa que el rayo llega a su ngulo crtico.
Discretamente, determinando el ngulo donde
ocurre este fenmeno, se obtiene el siguiente:
i critico =43,5 {4 }
El ngulo sealado en la experiencia a
utilizar como terico, se obtiene utilizando la ley
de Snell (para ver el procedimiento, vase
apndice). Se obtiene el siguiente ngulo como
terico:
i critico teo=42,2 {5 }
Comparando ambos resultados, se obtiene
el siguiente error porcentual:
%Er r critico=3,08 {6 }
Por lo que implica, que no hay mucho error.
Determinar la velocidad de la luz en el
semicilindro plstico
La parte final consiste en verificar la
velocidad en el semicrculo. En el aire, se sabe
que la velocidad de la luz, es similar al valor en
8 cual como se aprecia en la siguiente imagen:
el vaco, que corresponde a 3,00 10 [m/s ] ,
pero en el material no ser la misma. Se tiene la
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siguiente frmula para determinar velocidades en
los medios:
c
n=
v
Con esto, se procede a realizar los
clculos necesarios (vase apndice), obteniendo
el siguiente valor experimental para la velocidad:
v semicirculo=2,04 108 [ m/s ] {7 }
Para la terica, se utiliza los valores
tericos, obteniendo como velocidad
8
2,01 10 [m/s ]{8 } . El error porcentual
obtenido es el siguiente:
Err vn =1,34 {9 }
2
En el desarrollo experimental, estos
5,00 , son
errores por ser menores al
considerados totalmente aceptables. Aun as, la
explicacin del por qu se dieron estos errores
son a diversos factores.
Uno de ellos es la percepcin humana.
Como el instrumento no es digital, y el
laboratorio se encuentra oscuro, hay un
observador. Aun as, el rea fsica del
instrumento utilizado, es lo suficiente grande
para tener mediciones tiles. Si el crculo
medidor hubiese sido ms pequeo tal como un
transportador, la cantidad de error incrementara,
junto a esto, la incertidumbre del instrumento.
Otro detalle, es el dimetro del haz de
luz. En la segunda parte de la experiencia,
cuando se alcanza el intervalo del ngulo crtico,
el haz de luz comienza a aumentar su dimetro,
aumentando la incertidumbre se su medida, tal

Figura 4: Haz de luz reflejado, y refractado en el intervalo 40 y
45 de incidencia. Como se pareca, el haz de luz reflejado es
mucho ms ancho que el haz de luz reflejado.
Conclusiones
De la experiencia, se han cumplido los
cinco objetivos propuestos en el desarrollo
experimental, comprobando as el marco terico
de manera experimental.
En la primera parte del montaje, se ha
comprobado el comportamiento de un haz de luz,
al incidir en un plano horizontal que separa dos
medios.
El haz de luz al incidir, comienza a
reflejarse, en el mismo ngulo de incidencia a la
normal. Y tambin se refracta en el otro material,
con un ngulo de salida distinto al incidente,
cumpliendo con la ley de Snell.
Junto a este anlisis, tambin se encuentra
el ndice de refraccin del semicrculo plstico,
para obtener ms referencias del fenmeno.
En la segunda parte, se ha cumplido los
objetivos de encontrar el ngulo crtico del haz
de luz en el material plstico. Esto es importante,
porque el ngulo crtico por excelencia en el aire
es 90, pero en otros medios no es as. Es as que
se encuentra el de este material. En otros
materiales presentes en la naturaleza, como los
ndices son distintos, este ngulo cambia muchas
veces, teniendo este concepto importantes
aplicaciones dentro del diseo y la ingeniera.
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Otra parte para reforzar el concepto, es
encontrar la velocidad de la luz en el material.
Este siempre va a ser menos que la velocidad de
la luz en el vaco. Al tener menores velocidades,
es lgico pensar que la trayectoria de la luz
cambia (como se ha visto en la primera parte de
la experiencia), por lo que implica directamente
un cambio en la velocidad como seala las
expresiones:
c
n= ; n1 sin ( i )=n2 sin ( r )
v
Fuera de los principales objetivos, como
se observ en anlisis con la figura 4, el haz de
luz al acercarse al ngulo crtico, comienza a
aumentar su dimetro, por lo que aumenta su
rea. Esto es un claro ejemplo de la refraccin de
la luz, solo que en este caso, cada diferencial de
haz de luz, se refracta ms que en ngulos
menores, por lo que se tiene otro referente para
demostrar, que a medida que el ngulo aumenta,
la incertidumbre de refraccin aumenta.
Referencias
Apndice
Diferencias con el Pre Informe
En el pre informe, se ha realizado
diferentes errores burdos, y faltaron algunos
puntos importantes. Los cambios a realizar, para
que el informe sea coherente con lo solicitado, y
adems los errores, son lo siguiente:
a) El ngulo critico en la segunda parte, no es
42,5, sino es 43,5%. Esto fue debido a que
se realiz una nueva medicin de datos, por
lo que se gener otra tabla (la tabla
finalmente colocada). El cambiar este valor
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fue ignorado por factor de tiempo de los r

i
estudiantes.
b) El grfico 3 no es mostrado en el pre informe (ngulo
(ngulo Sen (i) Sen (r )
cuando debera. En lugar de tener este Refractado
Incidente)
grfico, el experimentador realizo un error )
[r ad 0 ,01]
burdo, confundiendo realizar un grfico de [rad 0 , 01]
seno del ngulo refractado en funcin del
incidente, a uno de solo el ngulo refractado 0,000 0,000 0,000 0,000
en funcin del ngulo incidente. 0,175 0,122 0,174 0,122
c) Los errores porcentuales obtenidos, y la 0,349 0,227 0,342 0,225
pendiente, fueron confundidos por esta, 0,524 0,332 0,500 0,326
mostrndose resultados distintos: 0,698 0,436 0,643 0,423
r ' 0,873 0,541 0,766 0,515
d) El grfico uno, el cual es en funcin
1,05 0,628 0,866 0,588
i
de , no sale en el pre informe, debido a 1,22 0,698 0,940 0,643
que no fue necesario realizarlo durante la 1,40 0,733 0,985 0,669
experiencia. 1,57 0,000 1,00 0,000
Tabla 2: ngulos incidente y refractados en la primera
parte de la experiencia, en [rad 0,010] . A estos se

Tablas les aplica funcin seno, para comprobar la ley de Snell.

Parte 1:
i r Parte 2:
r '

i r r
(incide (reflej (refrac i r ' r '

nte) ado) tado) (incide (refle (refract r '

rad 0,01 i r
[rad 0,01] [rad 0,01] nte)
jado) ado)
rad 0,01
[rad 0,01] [rad 0,01]
0,500 [ 0,500]
0,500
0,500 [ 0,500]
0,500
0,00 0,00 0,00 0,000 0,000 0,000
10,0 10,0 7,00 0,175 0,175 0,122 0,00 0,00 0,00 0,000 0,000 0,000
20,0 19,0 13,0 0,349 0,332 0,227 5,00 5,00 8,00 0,0873 0,087 0,140
30,0 29,0 19,0 0,524 0,506 0,332 10,0 10,5 15,5 0,175 0,183 0,271
40,0 39,0 25,0 0,698 0,681 0,436 15,0 15,0 24,0 0,262 0,262 0,419
50,0 48,0 31,0 0,873 0,838 0,541 20,0 20,0 32,5 0,349 0,349 0,567
60,0 58,5 36,0 1,05 1,02 0,628 25,0 25,0 41,0 0,436 0,436 0,716
70,0 69,0 40,0 1,22 1,20 0,698 30,0 30,0 50,0 0,524 0,524 0,873
80,0 79,5 42,0 1,40 1,39 0,733 35,0 34,5 60,0 0,611 0,602 1,05
Tabla 1: ngulos utilizados en la primera parte de la
40,0 39,5 70,5 0,698 0,689 1,23
experiencia, en [ 0,500] . Adems se muestra su
43,5 43,5 90,0 0,759 0,759 1,57
[rad 0,010] . Tabla 3: ngulos utilizados en la segunda parte de la
conversin a radianes, en 0,500 . Adems se
experiencia, en
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muestra su conversin a radianes, en 1,000,988

[rad 0,010] . {1}
Err 1= 100=0,12
0.988
1,00
{2}
n2= =1,47
0,680
i r
1,491,47
{3}
Err n = 100=1,36
(ngulo (ngulo Sen (i) Sen (r )
2
1,47
Incidente) Refractado)
i critico =43,5
[rad 0 , 01] [rad 0 , 01] {4} (Valor

0,00 0,00 0,00 0,00 experimental obtenido por

0,0873 0,140 0,0872 0,139 instrumento)
1,00
0,175
0,262
0,271
0,419
0,174
0,259
0,267
0,407 {5}
i critico teo=arcsin
1,49 ( )
=42,2

0,349 0,567 0,342 0,537

43,542,3
0,436 0,716 0,423 0,656 %Er r critico= 100=3,08
{6} 43,5
0,524 0,873 0,500 0,766
0,611 1,05 0,574 0,866 c 3,00 108 8
{7} v semicirculo= = =2,04 10
0,698 1,23 0,643 0,943 n2 1,47
0,759 1,57 0,688 1,00
Tabla 4: ngulos incidente y refractados en la segunda c 3,00 10 8
[rad 0,010] . A estos se {8} v teorica = = =2,0110 8
parte de la experiencia, en n2 teo 1,49
les aplica funcin seno, para comprobar la ley de Snell.
{9}
8
2,042,01 10
Err vn = 8 100=1,34
Clculos matemticos
2
2,04 10