DIFRAO DE RAIOS-X

APLICADA A POLMEROS
(NANOCOMPSITOS)

Humberto Gracher
Riella
 Historico

8 de novembro de 1895 (alemo - Wilhelm Conrad

Roentgen);
Max von Laue em 1912 uso da Difrao de
Raios-X de uma estrutura cristalinas como rede
tridimensional;
William Henry Bragg e seu filho William Lawrence
Bragg (lei de Bragg), fundamental para o estudo de
estruturas cristalinas;
Cristais causam o fenomeno da difrao (tamanho
dos atomos)
 Raios - X

Raios X podem ser produzidos quando

eltrons so acelerados em direo a um
alvo metlico.
O choque do feixe de eltrons (que saem
do catodo com energia de dezenas de KeV)
com o anodo (alvo) produz dois tipos de
raios X. Um deles constitui o espectro
contnuo, resulta da desacelerao do
eltron durante a penetrao no anodo.
O outro tipo o raio X caracterstico do
material do anodo.
Assim, cada espectro de raios X a
superposio de um espectro contnuo e de
uma srie de linhas espectrais
caractersticas do anodo
Teoria da Difrao de Raios-X
A difrao ocorre quando o espaamento entre as
fendas (ou obstculos) for da ordem de alguns
comprimentos de onda da luz incidente.
No caso dos raios-X, l A ou 0,1 nm;
No incio do sculo 20, era absolutamente impossvel
a fabricao de uma rede de difrao nanomtrica
Laue usando material cristalino como rede de
difrao tridimensional conduziu a difrao de Raios-
X;
Teoria da Difrao de Raios-X
1. Espalhamento Thomson

O campo eltrico oscilante associado ao feixe de raios X que incide sobre

um eltron, obrigado este a oscilar em torno da sua posio de equilbrio.
Sabemos que toda partcula carregada acelerada emite radiao. Assim o
eltron, submetido a um campo eltrico oscilante, emite uma onda
eletromagntica, que possui o mesmo comprimento de onda da radiao
incidente (espalhamento elstico).
A intensidade I do feixe de raios X espalhado por um eltron de carga e- de
massa m, a uma distncia r do eltron dada por:

onde Io a intensidade do feixe incidente e 2 o ngulo de

espalhamento da radiao, sendo a onda eletromagntica plana e
polarizada (Cullity, 1956; Blundell and Johnson, 1976).
Teoria da Difrao de Raios-X
2. Espalhamento Comptom

Esse efeito ocorre quando raios X incidem sobre eltrons livres ou fracamente
ligados e pode ser entendido a partir da teoria quntica. Assim a partir da
conservao do momento e da energia da coliso do fton com o eltron,
obtemos a expresso abaixo,

onde 2 o ngulo de espalhamento e a diferena entre o

comprimento de onda da radiao espalhada e incidente. Assim temos que
a radiao espalhada possui um comprimento de onda maior que o da
radiao incidente (espalhamento inelstico), devido transferncia de
energia do fton para o eltron. Experimentalmente encontra-se que a
radiao espalhada pelos materiais consiste de duas partes. A primeira
parte aquela associada ao espalhamento Thomson e possui o mesmo
comprimento de onda da radiao incidente; a segunda parte tem um
comprimento de onda maior que a radiao incidente, com o aumento do
comprimento de onda sendo dependente do ngulo de espalhamento
(Cullity, 1956).
 Tubos de Rntgen

Para obter raios X, construram-se mecanismos muito perfeitos que se

chamam tubos de Rntgen.
 Esquema de Difratograma

DRX

Difrao

Cristal Espectro
 Aplicaes

Na medicina aplicam-se para diagnosticar doenas.

So ainda amplamente aplicados na investigao cientfica.
(Devido ao quadro de difrao, quando atravessam cristais,
possvel verificar a ordem de disposio dos tomos no espao-estrutura
dos cristais).

OBS: Mas com o auxlio da anlise estrutural com raios de Rntgen pode
decifrar-se a estrutura das ligaes orgnicas complexas, incluindo as
protenas. Esta descoberta foi possvel porque o comprimento de onda
dos raios X muito pequeno, tornando possvel "ver" as estruturas
moleculares.

Uma outra aplicao dos raios X a radiolocalizao - um mtodo de

detectar falhas em peas fundidas, fendas nos carris, verificao da
qualidade das costuras de soldagem, etc.
 Aplicaes
Na rea de polmeros, a aplicao de difrao de raios-X
intensa, principalmente, quando se fala em nanocompsitos.
Nanocompsitos so produtos quando se misturam, a nvel
nano, polmeros a outros materiais.
Um exemplo so nanocompsitos de argila (organoflica) com
poliestireno, produzindo um nanocomposto com caractersticas
diferencias a do polmero puro.
As argila usadas, organoflicas, so preparadas pela adio de
ctions (normalmente sais de amnio) a argilas bentoniticas
(sdicas montmorilonitas), modificando-as de hidrfilas a
hidrfobas, aumentando, tambm, o espaamento basal das
ultimas.
A difrao de raios-X ajudas, juntamente com outras tcnicas, a
elucidar esta mudana.
 Espaamento Basal

Distncia entre as lamelas da argila:

Estrutura de Argilas Sdicas

Espaamento
Basal
Estrutura de Argilas Sdicas
Caracterizao dos Materiais
Difratograma de Raios-X
 Concluses

A Difrao de Raios-X ajuda na

investigao da modificao das argilas.
Serve como parmetro de comparao;
E valor de anlise em artigos.
 Bibliografia
http://wwwalt.uni-wuerzburg.de/mineralogie/crystal/teaching/
http://www.scprod.com/
http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/m_s03.html
http://www.dcmm.puc-rio.br/~drx/raios_x.htm
http://fisica.ufpr.br/edilson/cap37.pdf#search=%22difracao%20de
%20raios%20x%20%2B%20lei%20de%20bragg%22
Apostila de Caracterizao de Polmeros Curso de Catlise e
Polmeros, UFRGS 1998.
Manual tcnico de Difrao de Raios-X CENPES/RJ.