Magnetmetro Kerr : anlisis de ruido

e instrumentacin
Kerr Magnetometer: Noise Analysis and Instrumentation

JAVIER I GNACIO T ORRES OsoRIO

Ingenie ro Electri cista de la Universidad Tec nolgica de Pereira y profesor del depa r-
tamento de F sica de la mi sma un ivers idad . Integrante del gmpo de invest igacin en
Propiedades Magnct icas y Magnetopticas de Nuevos Materiales .
oscuro@utp .cdu .co
B EATRIZ C RUZ M uJ'oz
Fsica, Magste r y Doctora en Ciencias Fsicas de la Uni ve rsidad del Valle. Profesora del
depanamcnto de Fsica de la Universidad Tecnolgica de Poreim. catcgoria Asistente .
Di rectora del gmpo de investigacin en Propiedades Magneticas y Magnetopticas de
Nuevos Materiales.
bcruz@.utp.edu .co
Ciasillca::loo del al1lcolo: invesl!gaciOO

FedJa di: recepcioo: 11de lulk) de 2C06 Fecha de n\IIidoo' l)IIe.tlrl1 de;W7

Palabras e/llve: magnetmetro. Kerr, ruido, instnllllcntaci n.

Key lVords: mag netomete r, Ke rr, noi se. instrumentari o n.

A nST !tM.- r

El mag netmetro Ke rr ha mostrado se r una de las
hermmienras ms gi les y efi caces para el estudi o y
la caracteri zacin de materiales magnticos (pe licu
las delgadas) . En este artculo se describen los ti pos
de ruido inherentes a l montajc de csta he rramienta y
la fonna como pueden se r minimizados: asi mismo,
se realiza un anlisis descri pti vo de diferentes tipos
de montajes prcticos . El criterio de d iseo emplea-
do para la instrumentacin de este montaj e se basa
en las tcni cas de eliminaci n de nlido utili zadas.
Como aspecto cen tral se presenta la reduccin de
ruido por wave/els. para poder ll egar a propone r
una nueva altemati va de instrumentacin y control
ms verstil y econmica . Por ltimo, se realiza un techniq ues of magnctic materia l charaeterization
anl isis com parati vo en relaci n con otras tcnicas
de ca racte rizac in de materia les mag nticos.
Kerr mag netom ete r is one of the most agile a nd
cfficient tools for the analysis and characterization
of mag nelic mate rials (thin films) . In thi s work
t here are dc scribed the kinds of no ise related to
lhe asscm bl y of this too l. and the way in which
lhey could be minimizcd . A dcscriptive analysis of
differcnt ty pes of practi cal asscmbli cs is made also,
conside ring the noise e liminatio n techniques uscd
as desig n criterion for the instrume ntation of sllch
assembly. As rhe principal aspect, rhe noise rcdlle-
tion by wa ve let is presented as a !le\\' alte rnati ve
of instnllllentatio n and control, more fl exibl e and
viable. Acomparati ve anal ysis in rclatio n ",ith other
is madc too.
con-ciencias
.
1. Introduccin
Recientemente. los efeclos mag ncto-pticos slo
han sido aplicados al estud io de pcliculas delgadas:
sin embargo, la historia de tal efecto comienza a
mediados del siglo XIX. con su descubrimiento por
parte de M . Faraday. A mediados de 1800, l Y 1.
Kcrr desarrollaron varios experimentos para estu-
diar la po larizaci n de la luz sobre la transmisin
y reflexin a travs de med ios no magnetizados.
La comprensin terica de los efectos de Faraday
y Kcrr contribuye al entendimie nto general de los
fenmenos magneto-pticos. El LISO del efecto Kerr
magneto-pt ico en el estudio de las propiedades
magnticas de mate riales utilizables en almacena-
miento de infonnacin, anl isis de sem iconductores
y/o construccin de mqu inas e lctri cas es una
hcrramienta til , verst il r de bajo costo .
Las aplicaciones dccste cfecto se realizan por medio
del magnetmetro Kerr: con respecto a ste. en la
actual idad se encucntra poca documcntacin acerca
de los tipos de ruido implcitos en este montaje, as
como del anlisis de las caracteristicas de la seal
ptica obteni da como base de infornlacin de l
material estudiado y. en trminos generales. sobre
la implementacin del magnetmetro Kerr desde
el punto de vista de inst rumentacin y control. En
estc docu mcnto se prcsentarn los tipos de ntido
inhe rentes a cada paso de su montaje, sus fuente s
y caractcristicas, para as i dcternlinar una fomla de
supresin de esta seal.
2. Fundamentacin terica
Los efectos pticos que exh iben la influencia de
campos magnticos, es decir. una emisin de luz
generada por una fuente luminosa que se propaga a
travs de un medio en presencia de un campo mag-
ntico se denominan efectos magneto-pticos. El
primer efecto magneto-ptico asociado a la transmi-
sin de la luz a travs de un cristal lo descubri M.
Faraday en septiembre de 1845 L1.1. Posteriormente,
en 1877, cuando exam inaba la po larizacin de la
luz al ser reflejada po r una superficie pu li da itUTIcrsa
32 Tecnura 1ano 101No. 20 1primer semeSlre de 2007
en un eanl po electromag ntico. J. Kcrr descubri
un fenmeno eq ui valente a l efecto Faraday. pero
asociado a la refl exin: esto fue ll amado efecto
Kerr magneto-ptico 12 1 131.
El tmlino efecto Kerr(o su acrnimo MOKE pro-
veni ente de la sigla en ingls : Magneto-Oplic Kerr
I!.JJect}. fue propuesto por Argyres y se empez a
emplear por primera vez en 1955 [41. El MOKE
haba sido usado cn c l cstudi o magntico de mucs-
tras, pe ro en 1985 Moog y Bader (en e l Argonne
Nacional LaboratO/y de los Estados Unidos de
Norteamc ri ca) int rod uje ron la aplicacin del efecto
Kerr mag neto-6ptico al estudio de las pe lcu las
magnticas delgadas. bajo e l acrnimo SMOKE
(SlIrface MagnelO-Oplic Kerr EJlixt) 151.
2.1. Efecto Kerr magneto-ptico
Se trata de un efecto magncto-ptieo relacionado
con la reflexin de la luz sobrc una superficie
magnetizada . Una completa descripcin fenome -
nol gic.'l del MOKE a nivel macroscpico puede
ser reali zada mediante la teoria de reflexin de
Frcsncl 161 PI , al relac ionar las amplitudes de la
onda reflejada con la incidente en trminos de la
matri z de rcfl exin dc Fresncl (R) [6] .
(1"'E; ) R(E
~ p
=
')
E;
~ p (1)
(2)
En ( 1) Y (2). i Y r denotan las ondas incidentes
y reflejadas respectivamente, y s y p defin en los
componentes de canlpo e lctrico paralelo y per-
pendicu lar a l plano de reflexin . Si se utilizan las
relaciones provenicntes de la condicin de continui-
dad se obtienen las relaciones entre las amplitudes
de los campos elctrico y magntico y, a travs de
estas dos, sc definen los coeficientes de la matriz
de reflex i n (R).
 .
con-CienCias

,
pp
_
(E')
_ ,
E~
,
'"
(E')
__P
E;
(e)
r= - '
E~ SI' $.S
(e)
r= ....:;...L.
E:
(3)

Para dete rminar los e lem entos de la matriz de de la m uestra med iante la recepcin. e l acondicio-
reflexin se debe contarse con el tensor de pC n1, isi- namien to y el proces.1.m icnto de la seal 1...
vidad elctrica (e), que defin e un mtodo para des-
cribirfcnmcnos pticos. Po r medio de la operacin _; (E' ) (Eocose ,. )
1- - p
.. - E; - Eosel/6
-
(4)
matemtica de estos el ementos se oblicnc la seal p

Ke rr l., que es la recibida por el fotodctec tor.

El efeclo Kc rr presenta tres configuraciones es-
tndar para e l montaje experimental: polar, lon-
gitudinal , y transversal [81 19 .1. La clasificacin se
establece de acuerdo con la relacin geomt rica
entre la oric nL:1cin de la magnetiz.acin y el plano
de incidencia de la luz (ver fig ura 1). El li SO de cada
una de estas variaciones defi ne la fonna de montar
as bobinas con respecto al equi po ptico .
Para com prender el desarrollo de la seal 1". en
pri mer lugar. se dcbe tenc r en cuenta el campo
elctrico de la seal incidente (E,) linealm ente po-
lariL'1da: sta presenta un ngulo ep con respecto
al plano de polari zacin de la luz :
Luego se detCnll ina el cam po elctrico de la scilal
reflectada, m ulti plicruldo el CrullpO elctri co inci-
dente por la matriz de refl exin de Fresnel (R).

,.
r ) (5)
B ':,.

La seal refl ejada pasa por el anal izador an tes de

llegar al fO lodctcctor: a ella se le adiciona un ngulo
Longitudinal Transversal Pol~1
arbitrario, con respecto al plano de polarizacin que
se denom inar e.: el campo e lctrico detectado (E d)
Figura 1. Confi guraci ones del 1\IOKE segun
su composicin gcomlrica
resul tan te es:
F!lente: Oispooib!e en: hn p:,l/WWWuam.esJdeparnmelllosJclEnciasJIismateniK:/eSpecnical
E = E~ cos8" +seI/8"
d
lasual11/danyel~.hlllll [lecha 00 consulta: sepUemllre (le 21))6) (6)
22 Seal Kerr (1,)
De este modo se obtiene la fu ncin de la intensidad
Cualquier variacin en la magnetizac i n de la rec ibida por e l fotodetecto r. defi ni da como:
muestra genera la variacin de la intensidad de
la luz reflej ada: entonces. esta ltima se puede uti li - (7)
zarse para monitorear las caracteri sticas magnticas

Si se sustituye E, cn l se o bticne la intensidad relativa l A"'

(8)

Magnetmetro Kerr: analisis de ruido e instrumentacin

JAVIER IGNAOO T ORRES OSORIO! BE~TRIZ C RUZ M uOZ 33
 . .
con-ciencias
En (8). lo ~ IEJ' .
Se dcoc tener en ClIenta que I K es funcin de tres
componentes de la magnetizac i n en la muestra
cuando los elementos de la matriz R son propor-
cionales a compo nentes de magneti za.cin en la
supe rfi cie reA ecto ra (m x ' my' m). -El efecto Kcrr se
clasifica de acuerdo con la direccin de la magne-
ti zacin en la pelcula.. es dec ir. en concordancia
con su confi gu racin .
L.:1 seal 'le es recibida por el fo todctccto r y tmns-
ducida en una seal elCerri ea compuesta por una
fo tocorricntc. mas linos componentes de ru ido que
se describirn en un aparte posterior. La 11: transdu-
cida a una corriente Kerr ;1 se defi ne como:
(9)
En (9). is es la fOlecamente generada po r el foto-
delecto r. e ir es la corriente ruidosa (ver e] apartado
3.2)
3. Descripcin del MEK convencional
El equipo bsico para rcali.:if .Jnu.:bas empleando
el efecto Ke rr mag neto-ptico eonSI<l. de tres seIs:
lino ptico. uno elctrico y otro de instrumentaci n
\' contro l.
El sel ptico se art icul a en una superficie estable: e l
liSO dc una mesa wlti vibratoria no cs indi spensable
si se minimizan las vibraciones ambientales L8J.
Como fucnte lumn ica se puede usarse un diodo
lser de alta estabilidad (- 0, 1) )' baja potencia
(- 5mW). con longitud de o nda entre 400 nm y 850
nm . Un fotod etector es util izado para transd uei r la
se al refl ejada por la muestra estudiada, conocida
'i'
como se al Ke rr Tambicn se pueden usar lentes
focales para minim izar los pro blemas asoc iados a
inestabilidades e n e l cam ino ptico.
De igual f0I111a. se usan un par de polarizadores : la
prime ra recibe la seilal emitida por e[ diodo lse r y
genera su po larizacin vertical seaL la segunda es
c ruzada po r la seal lumnica al se r reflejada por la
muestra y recibe e l nombre de analizador. Adems.
34 I
Tecnufa l a/lo 101No. 20 primer semeslfe de 2007
puede contarse con un chopper que pulsa la sei\al
del lser a una frecue ncia especfica defin ida po r
el experimentador: este elemento est.; inte rconec
tado al/ockil1. el cual presenta un filtro ran ura con
frecuencia de paso equi va lente a la frecuencia a la
que el chopper ope ra 1
De acue rdo con [os criterios de diseo que sea n re
plwlteados se tendrn variaciones e n los difercntes
seIs que generan dife rentes tipos de mo ntajes: el
MEK convencional I 8J19 1 (ve r fi gura 2). el MOKE
de difracci n (D-MOKE) 110 1 (ve r fi g ura 3)' el
Dllrham M EK I [ I1 (ve r figura 4) . La configuraci n
dc cada uno vara en especial cn su sel ptico. Las
variacio nes se producen porque el cxpe rimentador
tiene diferentes alte rnati vas para tratar el ruido y la
re lacin seilal a mido (SfN ). luego se prese ntan va
nac iones en el sel de instrumen tac i n )' control.
El se' e lctri co se com po ne de una fue nte de
co rriente y una o dos bobinas de Hel mho ltz que
gene ran e l campo magntico externo (H ). Por
su parte. el sel de instmmentacin y control est
compuesto por:
El control de la fuente de corriente : puede es
tar constituido por una ta~ c ta GPIB (General
Pllrpouse Interface Bus) ms las laIj elas de la
fuente o se puede cjercer por mcdio de una seilal
de voltaje controlada mediante un potencime
tro digit.11 y un microprocesado r.
Un sensor de campo mag nti co o una sonda
Hall qu e mo nito rean e l campo mag n tico
y e st n comunicados con e l pe (Personal
Compwer),
En la fue nte se debe n contro lar [a in vers in de
fase, e l nive l y e l nme ro de los incrementos en
la coniente .
Con el fin de hacerlo ms verst il y exacto y para
defin ir los crite rios del sel de instnmentacin y
control de este magnetmetro, se de ben conoce r
sus componentes bsicos. ventajas y desventajas
en cuan to a caractcrsticas fi sicas y de instrumenta
I El Lockin forma parte del se! de instr umentacin.
 . .
con-ciencias

I'"larindor

( Lser

AnalizJdor
Computador

FOlodclcctor

Figur, 2. ~lagnet6melro convencional

Divisor dc Haz
Po!arizudor

Foto-dctcctor Referencia

Fotodctector ()d !
i - i
. ;;:;j'
L_. _.__ .. _.~._ .. j
+- ._ ._ .. _.. _.. J
Com pa rador

Figu nI 3. ~ IO ":E di.: difracci n Figun.... Durham "IOK E

cin. Al montaje bsico se pucdcn adicionar o qu itar
elcmentos (chopper, lock-in y fotodctecto rcs), con
el propsi to de mejorar las caracte rsticas de la
relacin SIR de I k (ve r figuras 2 a 4).
3.1. Ruido en el MEK
Los midos en el MEK son de tipo ambie ntal y
tcnico o instrumentall6]. El primero es produc ido
por fuentes extras de luz sobre el haz lum nico y el
ruido electromagntico sobre el lser, el fotodetec-
tor, los conductores u otros elementos electrnicos.
El segundo es intrnseco a los dispos itivos como
fotodetectores O lser.
Una profun da comprensin del ruido tcn ico t"1ci-
litara su mayor supresin cn un montaje magneto-
ptico. Para ello este se clasifica de acuerdo con su
fue nte, distribucin y ubicacin dentro del montaje:
las caractersticas resultantes en cada clase defi nen
el tipo de tratamiento quc se le debe dar.

Magnetmetro Kerr: anlisis de ruide e instrumentacin

J AVIER IGNAaO T ORRES OseRIO/ BEATRIZ CRUZ MuOZ 35
 . .
con-ciencias
3.2. Ruido ptico: ruido en fa senal Kerr
Esta seal se puede presentar en el camino ptico
o en algunos de los elementos pti cos. Se debe a
dife rentes cl ases de fuentes: entre e llas, las fu entes
ambienta les (externas) afectan la seal lumnica
en el camino ptico . Tambin puede ser causado
por imperfecciones e n eleme ntos pticos como los
polarizado rcs ll 21(que se pueden considerar fu ente
externa) . Este tipo de n lido se compensa fcilmente
si se el iminan sus fu entes.
3.3. Ruido tcnico: ruido en la corriente Ke"
Puede tener las siguientes fil cntcs y caractersticas:
Fl uctuaciones en la a lim entac i n de l lser,
producidas po r la vari abilidad en la red de su-
min istro de energa: si las flu ctuac iones duran
entre 1 y 10 pueden generar distorsiones en la
seal I.J 8 1
Vibraciones mecnicas q ue generan ruido aClls-
tico [ 13 1.
c) Fluctuacioncs cn el fotod etecto r 114- 1TI.
3.1. Ruido debido al lser
El proceso de generacin de la sea l lumni ca no
introducc ruido a la sc al en cste di sposit ivo por s
solo. La presencia de esta seal indeseada se puede
de ber a alte rac iones en la seal dc alimentacin de
la red elct ri ca (eolll o se expres an terionnente) o
a inducciones por radiaciones e lectromagnticas.
3.2. Ruido debido a fotodetectores
Cuando la seal lumnica incide sobre este transduc-
tor causa el fluj o de una fOlocorriente que flu ye del
diodo, seguida po r una com ente denominada co-
rricnte oscura iD, que corresponde a la expresin:
2'D - 2qio!::J.f
Asimi smo, la naturaleza cuanti ca de los foton es
genera un proceso fotoe lctrico a leato ri o en la
generacin de pares electrn hueco (EH P) .
36 1
TOCflura ao 101No. 20 1pr imer semest re de 2007
Dado que estos dos ruidos no estn corre lacio nados.
se deben sumar cuadrticamente 11 6 1(ve r ecuac in
( 13))
La co rriente ruidosa ir consta de la superpos icin
de cuatro componentes: el ruido tnnico i,,-. el ruido
de disparo id' el ruido de contacto ie y el ruido de
gene racin-recombinacin igr. Las func iones que
describen estos tipos de nJido son:
' ~ 4KT6.F ( 12)
"
( 13)
( 14)
,.
La corrie nte i prescnta una espectro-de nsidad de
mido blanco goussiano [ 13] . Este transductor es
un e lemento muy importante, por se r un detecto r
y transmisor de infoffi1acin que puede se r carac-
terizado mediante la realiza.cin de una se rie de
medi ciones [17], a sabcr: la re lacin seal/m ido
(SIR) , la m nima seal detectable y la sensibilidad
de captac in.
4. Atenuacin del ruido en la seal Kerr
La atenuac in se puede real izar si se emplean
hardware o software. Se prctende reducir el ruido
en la seilal Ke rr empleando tcnicas basadas en [a
transformada wave/el que han mostrado una mejor
cstimac in de la seal sin ruido; postcri omlente, se
observa si la seal Kerr mejora.
4.1. Atenuacin por hardware
(10)
En el MEK convencional para minimizar la re lacin
seal/ruido se puede lIsar lIn sistema de deteccin de
fase . Estc sistcmaconsta de un chopper que modula
mecnicamente la sei\al luminosa a una frecuencia
determinada: la seal es detectada y amplificada

por un lock-in. que debe sintoni zarse a la misma
frecuenc ia : para e llo los experimentadores cuentan
con diferentes tipos de montaje.
En e l MEK convencional, Be rling el al. [1 8], Wro-
na el al. 1191 y Ham pton el al. 1"20] recomiendan
el siste ma compuesto por chopper y lock-in como
una buena alternativa para e l mejoramiento de la
relacin SIR Po r su parte. Lpez e l al. [21 '1y Gri-
msdicth y Vavassori en el MOKE de difracc in (0-
MOK E) [101 plantean e l uso de doble fotodetector:
el primero toma la seal de referenc ia despucs de
se r polari zada y la compara con la sea l JK reci bida
po r el segundo: la diferencia de estas dos seales
contina a la etapa de preproceso . Tamb in si se
usan dos fotodetectores, All wod el al. [11 Jplantean
el mej oramiento de la relacin SIR, ya que locali-
zan ambos detectores despus del analizador: po r
consigu iente. el fotodetector de referencia cs puesto
despu s del analizado r para generar deteccin dife-
rencial y compensar e l ru ido corre lacionado .
En el amilisis del mido sobre la seal l k realizado en
e l apartado 3.5 se detennin que las componentes
de mido son de tipo blanco goussiano: en conse-
cuencia. el denoising se puede haeer med iante el
uso de wavelers [22].
4.2. Atenuacin mediante software con
wavelets
4.21. Reduccin de ruido ptico
Se trata de disminuir el n li do inherente a la adqui-
sicin de la seal po r partc del fotodetector; este
mido es producido en el proceso de generacin de
la fotocorriente luego de la captac in de fotones,
Se pretende reduci rlo usando tcnicas basadas en la
transfornlada wavelel, las cuales han mostrado una
onda Illejor de la seal si n mido; para posterionnen-
te realizar el proccsamiento de la seal.
. .
con-ciencias
4.22 Modelo
En la red ucci n de mido ptico se busca encontrar
una aproxi macin ce rcana a los valores x~ de Y M
,
dado e l siguiente mode lo:
( 15)
Y" = x" + 11" n = J, ... N
En ( 15) x es la sea l sin perturbaciones. Tl es UIl
proceso aleatorio blanco gallssiano con media ~l =
OY varianza O" = 1). y N cs la longitud de la seal.
La reduccin dc mido por medio de waveler se
realiza med iante cluso de algoritm os quc pueden
elasificarse en mtodos lineales o no lineales de re-
du ccin de mido. Los lineales slo elimimm el nlido
en una escala dete mlnada: los no lineales asumen
que el mido se encuentra en todos los coefic icntes y
est di stri buido sobre todas las escalas, atendi endo
a tal distribucin .
Para llevar a cabo la ope racin de filtrado los m-
todos no lineales asumen dos fonnas: la de umbral
duro (hard lhreshold) y la suave (solr Ihreshold):
la segunda es una extensin de la primera. Ambas
dcsarrollnllUIl barrido sobre todos los coefic ientes
de cada nive l: para hacerlo se debe seleccionar un
valor umbraL En e l caso del umbral duro, se rn
elim inados los coeficientes analizados menores quc
el umbral ; en e l otro caso, los coefici entes mayorcs
al valor umbral se atenan en un factordete mlinado
y los menores se suprim en.
A continuac in , se pre se ntan lo s algoritmos de
filtrado con wavelels; Minimax. Algoritmo Fixed
from treshold , Algori tmo Rigorolls SURE y el Heu-
ristic SURE. Con el uso de wavelcls se debc tene r
espec ial cuidado con la longitud de las muestras y
la onda madre seleccionada . Generalmente, si se
se lecciona un espacio de llluest ras muy grande.
adems del mido el fi ltrado tiende a supri mir com-
ponentes de inters.
Magnetmetro Kerr: anlisis de ruido e instrumentacin
JAVIER IGNAOO TORRES OSOAIOI BEAmlZ CRUZ MuOz 37
 . .
con-CienCias
Para la reduccin de ruido por medio de wavelesls buen resultado del proceso para una seal ptica.
fu e empIcado el filtro denoising simple de LabVicw. Con la seal filtrada se contina el proceso de la
que cuenta con cuatro pariunctros de e ntrada , infonnacin captada para entregar como resultado
la curva de ng ulo Kerr (seal filtrada del fo tode-
lector) contra campo magntico .
thresho/ds settirqs
wavelet
thresholdmo rule
9 db1'l
9 rrWnimaxi
SCllles 1, 91

~6
resc~ mett'lod
a. .
~t threshold?
o.,

PARAMETROS WAVElETS

o. ~

Gnilk-a 1. Param c'lrtll; del filtro denowng

o. ~
simple por ....(n'elel$
I,IM I
o
,
0,04
. C,06.
O,OS
,
0,07
I
0,0'1
,
0,09
I
0,1
La combinacin de tales parmetros depende del i~(tM)
tipo de seal que se va a trata r. En este caso se
Grlkll J. S~~:. I plic:. fillr.W:, mcdbnle
obtuvieron buenos resultados con la combinac in
presentada en la figura 4: ellos son los siguientes: de-lIQise por ...uvelet

La seal filtrada registr una relacin SIR de 29.

4. Conc lusio nes

Con respecto al MEK convenci onal. el MEK

G.-,lI! c:;,2. SC'Jlal hl/n ini ca tronsduci da
por <.'1 rOlodC1ec1~. ( V versus 1)
En la g rfica 2 se presenta la seal captada po r el
fotodctcclor. sta es transducida a una seilal de
vo ltaje que presenta distorsiones debidas a los tipos
de ruido cxpres..'ldos en el apartado 3.2. La seal es
procesada mediante de-noise po r wave/el. Como
resultado se obliene la scilal ex puesta en la grfica
3, que es mucho ms suavc en su fo rnla, puesto q ue
conserva e l promcdio de la scal: csto demuestra e l
implementado por medio de procesamiento con
wave/e/s es ms fcil de implemcntar y ms
econmico. dada la ausencia del chopper y el
/ock-in .
Co n respecto a los dos tipos de montaj es po r
comparacin de haz (D-MOKE y Durham
MEK), e l MEK implementado por medi o de
procesamie nto con lI'ove/els es ms verstil ,
gracias al uso de un so lo fotod ctecto r. Asimi s-
mo, req uie re dc mello r cantidad de elementos
para el preprocesam iento de la seal. dado que
no cuenta con etapas de comparacin.
Es necesario que los criteri os de diseo para el
proceso de instmmentacin y control del MEK
sean defi nidos y documenL:1dos. para fac ilitar
futu ras impl ementaciones para realizar en la-
boratorios interesados.

38 I I
Tecnura a~o 101No. 20 primer semestre de 2007
 con-ciencias
Referencias bibliogrficas

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Magnetmetro Kerr: anlisis de ruido e instrumentacin

JAVIER IGNAOO TORRES OSORIOI BEATRIZ CRUZ MufOoz 39