Difraccin de rayos X y Microscopia ptica

Unidad 3 Clase 5

PhD. Nelson Orlando Moreno Salazar

Doctor en Fsica
Universidad Estatal de Campinas - Brasil
UNIDAD 3. TCNICAS DE CARACTERIZACIN DE LOS
MATERIALES: Difraccin de rayos X, Microscopia
ptica, Microscopia Electrnica de Barrido,
Microscopia Electrnica de Transmisin, Microscopia
de fuerza atmica, aplicaciones de las tcnicas. 4 h
 Tcnicas para la caracterizacin
de materiales

Difraccin de rayos X
Ley de Bragg,
Clculo de parmetros de red
Microscopa ptica
Microestructura
Tamao de grano
Microscopa electrnica
SEM (Scanning Electron Microscopy)
TEM (Transmission Electron Microscopy)
Microscopa de barrido por tunelaje:
STM (Scanning Tunneling Microscopy)
AFM (Atomic Force Microscopy)
Caracterstica de una Onda

Onda electromagntica

c = f c: 3,0 x 108 m/s velocidad de la luz no ar

f : frecuencia
E = hf E: energa y h = 6,62607 10-
34 m2 kg/s constante de Planck
 Difraccin de Rayos X

Es adecuada para la caracterizacin de materiales

porque ~d
Resolucin de la tcnica:
No tiene resolucin en separaciones
d es la distancia entre los planos de tomos
paralelos

La longitud de onda de los rayos X usados en cristalografa :

1 - 3 ( = 10-10m) ; lo ms tpico = 1.54 (Cu )
Frecuencia = c/ =(3x108m/s) /(1.54x10-10m) 2x1018 s-1
Produccin de rayos X

ionizacin
N n=4
M n=3
L L
L n=2

K K

K n=1
FENMENO
DE LA
DIFRACCIN
 Rayos X para determinar la estructura cristalina
Rayos X entrantes se difractan de los planos cristalinos.

Las reflexiones
deben estar en
fase para
Distancia extra Detectar la seal
recorrida
por la onda 2 Distancia
S T d entre
Planos (dhkl)
Q

La distancia entre dos planos atmicos paralelos adyacentes es funcin

de los ndices de Miller y del parmetro de red.

a
Para una estructura cbica: d hkl
h2 k 2 l 2
 Ley de Bragg

Interferencia constructiva si: con n = 1, 2, 3, = orden

SQ + QT = n de difraccin.
SQ = d sen y QT = d sen Ley de Bragg:
n = dhkl sen + dhkl sen 2 d Sen = n
= 2dhkl sen
 Difractmetro
Aparato para determinar
los ngulos a los cuales
se presenta el fenmeno
de la difraccin en la
muestra
Emisor
monocromtico

Detector
 Medicin del ngulo crtico, c, permite el clculo de la
distancia entre planos, d.

Intensidad n
d
Rayos-X 2 sin c
Metalurgia de (del
polvos detector)

c
La ley de Bragg es una condicin necesaria pero no suficiente para la
difraccin de cristales reales.

Especifica cundo ocurrir la difraccin para celdas que tienen tomos

posicionados en los vrtices.

Sin embargo, tomos situados en otras posiciones (como en la FCC o

BCC) actan como otros centros de dispersin que producen
dispersin fuera de fase de a ciertos ngulos de Bragg.

El resultado es la ausencia de ciertos picos que de acuerdo con la ley

de Bragg deberan estar presentes.

Para que ocurra difraccin en una estructura

BCC h + k + l debe ser par
FCC h + k + l deben ser todos pares o todos impares
 Patrn de difraccin en Rayos X
z z z
c c c

y (110) y y
Intensidad (relativa)

a b a b a b
x x x (211)

(200)

ngulo de Difraccin 2
Patrn de Difraccin para un policristal de hierro- (BCC)
 Espaciado y ngulos interplanares
En el sistema cbico, la distancia entre dos planos de tomos,
paralelos y adyacentes, con el mismo ndice de Miller se llama
espaciamiento interplanar (dhkl), y su ecuacin general est dada
por
a
d hkl
h k l
2 2 2

donde a es el parmetro de red y h, k y I representan los ndices

de Miller de los planos adyacentes considerados
Por ejemplo, las distancias interplanares (111) de la celda unidad
de plomo (Pb), que es CCC se da por:
 APLICAES
GEOLOGA
Identificacin y cuantificacin de fases cristalinas
Anlisis cualitativo y cuantificacin de roca total
Anlisis cualitativo y cuantificacin de minerales de arcilla
Porcentaje de cristalinidad
Orientacin preferencial en minerales

INDUSTRIA CEMENTERA
Identificacin y cuantificacin de componentes mineralgicos del cemento.
Cuantificacin (% volumen) de fases amorfas.

INDUSTRIA COSMETICA Y FARMACEUTICA

Anlisis de productos farmacuticos.
Anlisis cualitativo y cuantitativo de minerales comunes en cosmticos
( Talco, Caolinita).

OTRAS AREAS DE APLICACIN

Materiales de construccin
Metalurgia
Patrimonio, conservacin y rehabilitacin
Arqueologa
El clculo de las distancias interplanares de materiales no cbicos implica
ms ecuaciones complejas, las cuales no sern objeto de este curso.
El ngulo entre dos planos se puede determinar con
la ayuda de las ecuaciones contenida en la tabla abajo.
 Ejemplo:
Calcule la distancia entre planos (220) y el ngulo de difraccin para el
hierro BCC. El parmetro de red para el hierro es 0.2866 nm. Tambin
asuma que la radiacin monocromtica tiene una longitud de onda de
0.1790 nm y que el orden de reflexin es 1.

n = Orden de reflexin = 1
Intensidad
= Longitud de onda n 2 dhkl sin c
Rayos-X
a = Parmetro de red
hhkl= Distancia entre planos (del
= ngulo de difraccin detector)

a 0.2866 nm
d hkl 0.1013 nm c
h k l
2 2 2
2 2 0
2 2 2

n (1)(0.1790 nm)
sen 0.884 arcsen(0.884) 62.13
2d hkl 2(0.1013 nm)
Por lo tanto el ngulo de difraccin es 2=124.26
 Estudio Microscpico
Cristalitas, (cristales, granos) y Fronteras de grano. Cambian
considerablemente en tamao. Pueden ser muy grandes
ej: Monocristal grande de cuarzo o diamante o Si
ej: Granos individuales: Barra de Aluminio o bote de basura
Cristales (granos) pueden ser muy pequeos (mm o menos)
Necesarios para observarlos con el microscopio
 Resolucin de la Microscopa
Resolucin ptica. 10-7 m = 0.1 m = 100 nm
Para mayor resolucin se necesita mayor frecuencia
Rayos X.
Electrones
Longitud de onda 3 pm (0.003 nm)
(Magnificacin - 1,000,000X)
Resolucin Atmica posible
El haz de electrones se enfoca mediante lentes magnticas.
Comparacin de los microscopios;
ptico, transmisin y barrido
 Microscopa ptica
Luz Polarizada
Anlisis metalogrficos a menudo utilizan luz polarizada para
incrementar el contraste
Tambin se emplea en muestras trasparentes como algunos
polmeros
 Microscopa ptica
til hasta una magnificacin de 2000X
Pulido remueve las irregularidades de la superficie (e.g., rayas)
Ataque qumico cambia la reflexin, dependiendo de la orientacin
del cristal

Planos cristalogrficos

Micrografa del
Latn (Cu-Zn)

0.75mm
 Microscopa ptica
Fronteras de Grano
son imperfecciones,
son ms
susceptibles al Superficie pulida
ataque,
Ranura en la superficie
Se revelan como
Frontera de grano
lneas obscuras, (a)

Cambio en la
orientacin del cristal de
frontera a frontera.
Tamao de
Grano ASTM

2 n-1
N= (b)

nmero de granos/in2 Aleacin Fe-Cr

Magnificacin de 100x
 Ejercicio
Determine el tamao de grano bajo la norma ASTM (The American Society for
Testing Materials) para un espcimen metlico cuya metalografa se muestra en
la imagen. Y para este misma muestra determine cuantos granos por pulgada
cuadrada deben haber a 85X

log N (n 1) log 2
N = Nmero de granos por pulgada cuadrada
n = Tamao de grano ASTM

log10 N
n 1
log10 2
Para una magnificacin distinta de 100X
2
M n 1
NM 2
100 X 100
1 pulgada
NM = Nmero de granos por pulgada cuadrada
X = magnificacin
M = Magnificacin
n =Tamao de grano ASTM
Tamao de la micrografa: (77 mm * 101 mm)
N = Granos totales / (tamao micrografa/25,42)
= 15,5 / [(77*101)/(25,4*25,4)] = 1,3 granos/pulgada2

log10 N log10 1,3

n 1 1 1, 4
log10 2 log10 2