UNIVERSIDAD DE LAS FUERZAS ARMADAS ESPE

Juan Fernando Bravo

Carlos Masaquiza
ATENUACIN DE LAS RADIACIONES ELECTROMAGNTICAS
PRACTICA No. 3.2
Departamento de Ciencias Exactas
FISICA III
Ing. Washington Chamorro
13 de julio de 2017

Abstract

X-ray diffraction is based on the optical interference that occurs when a

monochromatic radiation passes through a slit of thickness comparable to the
wavelength of the radiation. X-rays have Angstroms wavelengths, of the same order as
the interatomic distances of the components of the crystal lattices. When irradiated on
the sample to be analyzed, the X-rays are diffracted with angles that depend on the
interatomic distances. The analytical method of Random Powder or Debye-Scherrer
consists of irradiating with X-rays on a sample formed by a multitude of crystals placed
at random in all possible directions. For this, the Bragg Law is applicable: n = 2d. Sin.

Resumen

La Difraccin de Rayos X est basada en las interferencias pticas que se producen

cuando una radiacin monocromtica atraviesa una rendija de espesor comparable a
la longitud de onda de la radiacin. Los Rayos X tienen longitudes de onda de
Angstroms, del mismo orden que las distancias interatmicas de los componentes de
las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se
difractan con ngulos que dependen de las distancias interatmicas. El mtodo
analtico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X sobre
una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las
direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: n = 2d. sen
 1. Objetivos

Comprobar la Ley de Bragg

Identificar la naturaleza ondulatoria de los rayos X
Explicar la difraccin de los rayos X

2. Materiales y equipo

Aparato bsico de rayos X

Tubo de rayos X
Colimador con diafragma de rendija
Portamuestras
Mesa giratoria
Escala goniomtrica
Filtro de Zircn
Monocristal de NaCl o LiF
Tubo contador de rayos
Indicador de valor medio
Contador digital

3. Fundamentacin terica

Ley de Bragg

Considrese la figura de la derecha conformada por planos de tomos distanciados a una

longitud d. Para el primer plano, las rayos 1 y 1a golpean los tomos K y P los cuales son
dispersados en todas la direcciones; pero para cierta direccin, estos rayos (1 y 1a') se
encuentran en fase y por lo tanto se cumple que:

Esta condicin se cumple para cada plano.

Para analizar los rayos dispersados por tomos en diferentes planos se toma los rayos 1 y 2 de
la figura de arriba. Estos rayos son dispersados por los tomos K y L, la diferencia en sus
caminos pticos es:

As estos rayos estarn completamente en fase si su diferencia de caminos es igual a un

nmero entero (n) de longitudes de onda , de tal manera que se cumple que:

La interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase entre la radiacin emitida por

diferentes tomos es proporcional a 2. Esta condicin se expresa en la ley de Bragg:
siendo:

n es un nmero entero,
es la longitud de onda de los rayos X,
d es la distancia entre los planos de la
red cristalina y,
es el ngulo entre los rayos incidentes y los
planos de dispersin.

Rayos X

Los rayos X son una radiacin electromagntica de la misma naturaleza que las ondas de radio,
las ondas de microondas, los rayos infrarrojos, la luz visible, los rayos ultravioleta y los rayos
gamma. La diferencia fundamental con los rayos gamma es su origen: los rayos gamma son
radiaciones de origen nuclear que se producen por la desexcitacin de un nuclen de un nivel
excitado a otro de menor energa y en la desintegracin de istopos radiactivos, mientras que
los rayos X surgen de fenmenos extranucleares, a nivel de la rbita electrnica,
fundamentalmente producidos por desaceleracin de electrones. La energa de los rayos X en
general se encuentra entre la radiacin ultravioleta y los rayos gamma producidos
naturalmente. Los rayos X son una radiacin ionizante porque al interactuar con la materia
produce la ionizacin de los tomos de la misma, es decir, origina partculas con carga (iones).

Descubrimiento de Rayos X

La historia de los rayos X comienza con los experimentos del cientfico britnico William
Crookes, que investig en el siglo XIX los efectos de ciertos gases al aplicarles descargas de
energa. Estos experimentos se desarrollaban en un tubo vaco, y electrodos para generar
corrientes de alto voltaje. l lo llam tubo de Crookes. Este tubo, al estar cerca de placas
fotogrficas, generaba en las mismas algunas imgenes borrosas. Pese al descubrimiento,
Nikola Tesla, en 1887, comenz a estudiar este efecto creado por medio de los tubos de
Crookes. Una de las consecuencias de su investigacin fue advertir a la comunidad cientfica el
peligro para los organismos biolgicos que supone la exposicin a estas radiaciones.[cita
requerida]

El fsico alemn Wilhelm Conrad Rntgen descubri los rayos X en 1895, mientras
experimentaba con los tubos de Hittorff-Crookes y la bobina de Ruhmkorff para investigar la
fluorescencia violeta que producan los rayos catdicos. Tras cubrir el tubo con un cartn
negro para eliminar la luz visible, observ un dbil resplandor amarillo-verdoso proveniente de
una pantalla con una capa de platino-cianuro de bario, que desapareca al apagar el tubo.
Determin que los rayos creaban una radiacin muy penetrante, pero invisible, que atravesaba
grandes espesores de papel e incluso metales poco densos. Us placas fotogrficas para
demostrar que los objetos eran ms o menos transparentes a los rayos X dependiendo de su
espesor y realiz la primera radiografa humana, usando la mano de su mujer. Los llam "rayos
incgnita", o "rayos X" porque no saba qu eran, solo que eran generados por los rayos
catdicos al chocar contra ciertos materiales.

Produccin de Rayos X
Los rayos X se pueden observar cuando un haz de electrones muy energticos (del orden de 1
keV) se desaceleran al chocar con un blanco metlico. Segn la mecnica clsica, una carga
acelerada emite radiacin electromagntica, de este modo, el choque produce un espectro
continuo de rayos X a partir de cierta longitud de onda mnima dependiente de la energa de
los electrones. Este tipo de radiacin se denomina Bremsstrahlung, o radiacin de frenado.
Adems, los tomos del material metlico emiten tambin rayos X monocromticos, lo que se
conoce como lnea de emisin caracterstica del material. Otra fuente de rayos X es la
radiacin sincrotrn emitida en aceleradores de partculas.

Para la produccin de rayos X en laboratorios y hospitales se usan los tubos de rayos X, que
pueden ser de dos clases: tubos con filamento o tubos con gas.

El tubo con filamento es un tubo de vidrio al vaco en el cual se encuentran dos electrodos en
sus extremos. El ctodo es un filamento de tungsteno y el nodo es un bloque de metal con
una lnea caracterstica de emisin de la energa deseada. Los electrones generados en el
ctodo son enfocados hacia un punto en el blanco (que por lo general posee una inclinacin de
45) y los rayos X son generados como producto de la colisin.

El tubo con gas se encuentra a una presin de aproximadamente 0.01 mmHg y es controlada
mediante una vlvula; posee un ctodo de aluminio cncavo, el cual permite enfocar los
electrones y un nodo. Las partculas ionizadas de nitrgeno y oxgeno, presentes en el tubo,
son atradas hacia el ctodo y nodo. Los iones positivos son atrados hacia el ctodo e
inyectan electrones a este. Posteriormente los electrones son acelerados hacia el nodo (que
contiene al blanco) a altas energas para luego producir rayos X.

Espectro Continuo

El tubo de rayos X est conformado por dos electrodos (ctodo y nodo), una fuente de
electrones (ctodo caliente) y un blanco. Los electrones se aceleran mediante una diferencia
de potencial entre el ctodo y el nodo. La radiacin es producida justo en la zona de impacto
de los electrones y se emite en todas direcciones.
La energa adquirida por los electrones va a estar determinada por el voltaje aplicado entre los
dos electrodos. Como la velocidad del electrn puede alcanzar velocidades de hasta 1/3
c debemos considerar efectos relativistas, de tal manera que,

Los diferentes electrones no chocan con el blanco de igual manera, as que este puede ceder
su energa en una o en varias colisiones, produciendo un espectro continuo.
La energa del fotn emitido, por conservacin de la energa y tomando los postulados
de Planck es:

Donde K y K es la energa del electrn antes y despus de la colisin respectivamente.

El punto de corte con el eje x de la grfica de espectro continuo, es la longitud de onda mnima
que alcanza un electrn al ser acelerado a un voltaje determinado. Esto se puede explicar
desde el punto de vista de que los electrones chocan y entregan toda su energa. La longitud
de onda mnima est dada por:

La energa total emitida por segundo, es proporcional al rea bajo la curva del espectro
continuo, del nmero atmico (Z) del blanco y el nmero de electrones por segundo (i). As la
intensidad est dada por:

Donde A es la constante de proporcionalidad y m una constante alrededor de 2.

4. Tabulacin de datos

Cristal:
Inclinacin
del Cristal 3 4 5 6 7 8 9 10 11

Impulsos N 498 260 432 924 1037 1004 1153 3342 1079
S-1

Inclinacin
del Cristal 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Impulsos N 1030 1014 1219 4413 1059 1103 1012 777 1074
S-1

Inclinacin
del Cristal 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

Impulsos N 647 572 474 478 385 293 261 0.66 237 150
S-1

5. PREGUNTAS
A. Construya un grfico impulsos-inclinacin del cristal y efectu un estudio de el
 NUMERO DE PULSACIONES-DESVIACION DE THETA

5000
NUMERO DE PULSACIONES

4000

3000

2000

1000

0
0 5 10 15 20 25 30
-1000
DESVIACION DE THETA

En el difracto grama podemos observar que en los picos o puntos mximos se ubican
los planos que cumplen con la ley de BRAGG

Ejemplos de clculo:
La ecuacin de Bragg.

= 2 sin /
= 2 sin 30/3
= 110

1 + 2 + 3
Impulsos =
3
36 + 34 + 32
Impulsos = = 34 1
3

B. Analticamente demuestre los mximos () en base a la ecuacin de Bragg

considerando los siguientes datos de acuerdo al cristal utilizado por usted:

Cristal NaCl liF

2d (pm) 563.94 * 10-12 402.76*10-12

La ecuacin de Bragg.

= 2 sin /
Cristal: NaCl
2d: 563.94 x10-12m
 = (. )

Para =13 :

n = (563.94 1012 ) sin 12

= .

El valor terico de = . el error porcentual ser:

8.37 100
Error% = 100 ( )
11.723

% = .

Cristal: LiF
2d: 402,76x10-12m

= (, )

Para =12:

n = (402,76 1012 ) sin 12

= ,

El valor terico de = , el error porcentual ser:

8.37 100
Error% = 100 ( )
7.1

% = .

C. Explique el razonamiento que le permiti a W.L Bragg explicar la difraccin de

rayos X
La hiptesis de Bragg consiste en imaginar la difraccin como una reflexin de los
rayos X originada por "espejos" imaginarios formados por planos de tomos de la red
cristalina (mostrados como lineas horizontales que pasan por los centros dispersores,
es decir, por los tomos que se muestran como crculos azules en la imagen de la
izquierda). Debido a la naturaleza repetitiva del cristal, estos planos estaran separados
entre s por distancias constantes d.
D. Porque en la difraccin de rayos X se mide el ngulo entre el rayo incidente y la
cara del cristal y no la norma a la cara, que se usa para explicar la reeleccin
Es debido esencialmente a la relacin entre las fases de todas las ondas reflejadas por
cada celda unidad del cristal: las diferencias de camino ptico entre los rayos que han
atravesado distintos puntos del cristal, que a su vez producen un cambio en la
amplitud de la onda resultante.
E. Por qu se admite que el rayo dispersado, abandona la superficie formando un
ngulo theta igual al ngulo de incidencia. Qu pasara si no fuera as?
Debido a que cuando el rayo choca debe tener cierto tipo de ngulo para conservar la
cantidad de energa, si no de lo contrario la longitud de onda no sera pequea
F. Explique en qu consiste la reflexin, difraccin y dispersin.
La difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas, ste se basa en el curvado y
esparcido de las ondas cuando encuentran un obstculo o al atravesar una rendija. La
difraccin ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la superficie
de un fluido y ondas electromagnticas como la luz y las ondas de radio.
La reflexin es el cambio de direccin de un rayo o una onda que ocurre en la
superficie de separacin entre dos medios, de tal forma que regresa al medio inicial.
Cuando la superficie reflectante es muy lisa ocurre una reflexin de luz llamada
especular o regular. Para este caso las leyes de la reflexin son las siguientes:

El rayo incidente, el rayo reflejado y la recta normal, deben estar en el mismo

plano (mismo medio), con respecto a la superficie de reflexin en el punto de
incidencia.
El ngulo formado entre el rayo incidente y la recta normal es igual al ngulo
que existe entre el rayo reflejado y la recta normal.i = r
Se denomina dispersin al fenmeno de separacin de las ondas de distinta frecuencia
al atravesar un material. Todos los medios materiales son ms o menos dispersivos, y
la dispersin afecta a todas las ondas; por ejemplo, a las ondas sonoras que se
desplazan a travs de la atmsfera, a las ondas de radio que atraviesan el espacio
interestelar o a la luz que atraviesa el agua, el vidrio o el aire.
G. An cuando la ecuacin de Bragg, para el retculo de difraccin cristalino, es
parecido a la ecuacin para los retculos planos, es sustancialmente diferente.
Explique por qu?
Ambos son diferentes, pues la retcula de difraccin cristalina, es decir la distancia
entre los tomos de cristal tiene una magnitud del orden de la longitud de onda de
rayos X que es el centro de nuestro estudio.
Adems que se considera una rejilla tridimensional en vez de rejillas planas
dimensionales.
H. Explique el mecanismo de difraccin propuesto por Debye y Scherrer.
Debye colabor tambin con Scherer en el desarrollo de un nuevo mtodo de
difraccin de rayos X, basado en la utilizacin de cristales en polvo, de tamao
diminuto, que sustituyen las estructuras cristalinas grandes. Fue un nuevo mtodo de
difraccin de rayos X, basado en la utilizacin de cristales en polvo, de tamao
diminuto, que sustituyen las estructuras cristalinas grandes.
El mtodo analtico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con
Rayos X sobre una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en
todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: n = 2d . sen, en la
que d es la distancia entre los planos interatmicos que producen la difraccin
I. Cmo se explica que las mediciones de difraccin de rayos X sirvan para
determinar la longitud de onda del haz de rayos X y a partir de aqu se utilice para
determinar la estructura de un slido.
Las direcciones de difraccin estn determinadas por la ley de Bragg (nl = 2dsenq) y
por tanto slo dependen del aspecto (estructura cristalina) y el tamao de la celda
unidad del cristal, por lo que midiendo las direcciones delos haces difractados por un
cristal, slo podemos conocer el aspecto y tamao de la celda unidad Las intensidades
de los haces difractados estn determinadas por las posiciones de los tomos dentro
de la celda unidad, por lo que debemos medir las intensidades si queremos obtener
cualquier informacin sobre las posiciones atmicas.

6. Resultados de aprendizaje

La luz que incide sobre la placa de metal debe de tener una frecuencia
mnima para arrancar los electrones de la superficie metlica.
A esta frecuencia mnima se le conoce como frecuencia umbral o de
entrada.

7. Conclusiones

En base a los resultados obtenidos en la prctica podemos concluir lo siguiente:

Los picos mximos que se presentan en los difractogramas corresponden a

materiales cristalinos, es decir cuando se cumpla la ley de Bragg.
La tcnica de difraccin nos permite mediante un difractograma conocer el tipo
de material con el que estamos tratando.
Luego de realizar la comparacin del difractograma de la muestra desconocida
con los difractogramas sugeridos por el programa XPert Collector, concluimos
la muestra desconocida es MOLIBDENO.

8. Recomendaciones

Tener mucho cuidado al momento de recoger los datos puesto que esto
afectara al clculo
 Tener en cuenta que La luz que incide sobre la placa de metal debe de
tener una frecuencia mnima para arrancar los electrones de la
superficie metlica.
Verificar que el equipo funcione correctamente y calibrarlo.

9. Bibliografa

https://www.ecured.cu/Rayos_X
https://es.wikipedia.org/wiki/Ley_de_Bragg
http://comunicaciones-upc.blogspot.com/2011/01/difraccion-reflexion-refraccion-
y.html