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Prueba de ronchi para un espejo

concavo

Article January 2006

Source: OAI

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5 authors, including:

Myrian Tebaldi Roberto Torroba

National University of La Plata Centro De Investigaciones Optica
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 REVISTA COLOMBIANA DE FSICA, VOL. 38, No. 2, 2006

PRUEBA DE RONCHI PARA UN ESPEJO CONCAVO

Germn Arenas 1,2, Omar Doria 1,2, Angela Narvez 1,2, Mayerlin Nuez 1,2
1
Universidad Nacional de Colombia. Sede Bogot
2
Grupo de Optica Aplicada
(Recibido 26 de Sep. 2005; Aceptado 08 de May. 2006; Publicado 16 de Jun. 2006)
RESUMEN
En el siguiente trabajo se reporta una prueba de Ronchi para determinar la topografa de un espejo
cncavo. El objetivo principal es hacer un anlisis cuantitativo del ronchigrama, ya que conven-
cionalmente este mtodo es usado cualitativamente en la elaboracin de superficies pticas. En el
montaje se utiliza una rejilla de 4 periodos por milmetro, una fuente de luz blanca y una cmara
digital como detector. A partir de un algoritmo para el anlisis de la fase se aproxima la forma de
la superficie del espejo. Se comparan los patrones obtenidos con luz blanca y con algunas fuentes
de luz cuasimonocromtica. La superficie del espejo se ajusta a una funcin polinomial modificada
de Zernike, con trminos relacionados con las aberraciones de tercer orden.

Palabras clave: prueba de Ronchi, corrimiento de fase, polinomios de Zernike.

ABSTRACT
A Ronchi test for determining the topography of a concave mirror was built. In the experiment, is
used a white light source, a diffuser, a grating with a 4 period in a mm, and a digital camera as a
detector. By means of a phase analysis method the shape of the mirror is founded. A comparation
of the patterns obtained with white light and other quasi-monochromatics sources is presented. Fi-
nally, the mirror surface is approximated as a modified Zernikes polinomial function, whose
terms are related with the third order aberrations.

Key words: Ronchi test, phase shifting interferometry, Zernike.

1. Introduccin
El test de Ronchi se emplea como un ensayo cualitativo de baja precisin, para la elaboracin y
prueba de superficies pticas. As, los talladores inexpertos emplean patrones simulados, que
les permiten guiarse durante su trabajo [1]. Algunos autores [2,3] proponen una aplicacin del
mtodo con un carcter ms cuantitativo. En este artculo se muestra el uso de esta aplicacin
para obtener informacin acerca de las aberraciones en espejos astronmicos, tallados por afi-
cionados. Continuando con el trabajo que hemos venido desarrollando[4], reemplazamos en el
montaje la fuente de luz blanca por grupo de diodos de alta luminosidad. Se utiliza el mtodo
de corrimiento de fase para la reconstruccin del frente de onda, y finalmente se hace una
aproximacin polinomial [5,6] para la superficie bajo prueba.

2. La Prueba de Ronchi
La prueba de Ronchi para un espejo cncavo consiste en colocar una rejilla de lneas paralelas,
transparentes y opacas, cerca del centro de curvatura del espejo. La rejilla se ilumina a travs de
un difusor y la imagen de la rejilla reflejada por el espejo se superpone con su original, obte-
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nindose un patrn de franjas que puede observarse directamente o a travs de una cmara de
video. La imagen as lograda aparece con franjas claras y oscuras que muestran las desviaciones
del frente de onda reflejado respecto a uno esfrico ideal. La figura 1 muestra la disposicin
descrita anteriormente:

Figura 1. Esquema de construccin de la prueba de Ronchi y patrones obtenidos para un espejo cncavo.

2.1 El Mtodo de corrimiento de fase

La onda reflejada por un espejo cncavo difiere de una onda ideal esfrica, en una cantidad
conocida como funcin de aberracin de onda,
Los frentes de onda de referencia (esfrico ideal) y de prueba, pueden escribirse como:
(1)

donde es una fase dependiente del tiempo introducida en la onda de referencia. La intensi-
dad en el patrn de franjas observado, va a ser el mdulo al cuadrado de la superposicin de los
dos frentes de onda:

donde es la intensidad promedio, , y

es la diferencia de fase entre los frentes de onda, relacionada con la
aberracin de onda.
Durante el experimento se controla la fase desplazando la rejilla tres veces en de su periodo,
de modo que se obtienen 4 intensidades correspondientes a :

(3)

A partir de la medida de estas intensidades, puede calcularse la funcin de aberracin:

La forma del espejo y la funcin de aberracin estn directamente relacionadas, segn:

, siendo la diferencia de camino ptico entre las ondas de refe-
rencia y reflejada (para incidencia normal la es igual a la altura del espejo ).

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2.2 Los Polinomios de Zernike

La aberracin de onda puede expresarse en trminos de las funciones de Zernike[5], las cuales
estn directamente relacionadas con las aberraciones pticas ms comunes. Considerando los
primeros 9 polinomios y agrupando trminos se obtiene:

donde son los coeficientes de cada polinomio en la expansin para . Los polinomios
de Zernike se construyen de forma que son ortonormales sobre una regin circular de radio
unidad. En el caso del espejo bajo prueba, debido a la presencia del agujero central, los poli-
nomios de Zernike deben ser modificados, de tal forma que estos nuevos polinomios sean orto-
normales sobre un anillo circular de radio interior r= rint/rext y radio exterior 1. El procedimiento
general para encontrar la forma de estas funciones se describe en la referencia [5].

3. Experimento
3.1 Montaje
La superficie bajo prueba es un espejo cncavo de un telescopio Cassegrain de 175mm de di-
metro, un radio medio de curvatura de 2050mm y con una perforacin circular central de 62mm
de dimetro. Se emple iluminacin por luz blanca y con dos arreglos de diodos de alta lumino-
sidad (uno rojo y otro azul). La rejilla tiene una frecuencia espacial de 4 periodos por mm, y un
tornillo micromtrico permite desplazarla transversalmente (al eje ptico). Las imgenes obte-
nidas son captadas por una cmara digital, y se llevan al computador para ser analizadas.

3.2 Imgenes obtenidas

La figura 3 muestra el patrn de franjas obtenido utilizando una fuente de luz blanca, roja y azul

Figura 2. Prueba de Ronchi: Imgenes obtenidas con des- Figura 3. Patrones de Ronchi obtenidos con
plazamientos de la rejilla de de su periodo. diferentes fuentes de luz
La imagen ms ntida y mejor resuelta se obtuvo en el caso de diodos azules, resultado que
puede asociarse a la construccin del sensor de la cmara con la que se capturaron las imgenes.
El anlisis siguiente lo hicimos entonces con este tipo de fuente. Se realiz el experimento con
dos orientaciones del espejo, girndolo 90 alrededor del eje ptico.

3.3 Resultados del anlisis de fase

Con la informacin de las intensidades de las 4 imgenes de la figura 4 puede encontrarse la
fase (ecuacin (4)) en cada punto sobre el espejo. Durante el proceso fue necesario filtrar
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el ruido presente en los datos adquiridos, y remover las discontinuidades en la fase producidas
por la funcin (Unwrapping). Finalmente se reconstruye la forma del espejo:

Figura 4. Proceso de construccin del mapa de fases resultante y la forma del espejo.

3.4 Resultados del anlisis mediante polinomios

A partir de un ajuste de mnimos cuadrados se encontraron los coeficientes para la aberracin
en trminos de los primeros 9 polinomios de Zernike Modificados. Como estos ltimos estn
directamente relacionados con los polinomios de Zernike[5], el resultado puede escribirse como:

donde, es el i-simo polinomio de Zernike. A partir de lo anterior se calcularon las

contribuciones de los siguientes trminos de la funcin aberracin:

Tabla No. 1. Aberraciones en el espejo obtenidas a partir de los polinomios de Zernike.

Conclusiones: La aplicacin del test de Ronchi con corrimiento de fase para nuestro espejo
utilizado en un sistema Cassegrain nos permiti caracterizar las aberraciones presentes y re-
construir en el computador su forma a partir del clculo de la fase. La resolucin en el avance
(transversal) del patrn de rayas se estima en 1/25 del perodo espacial, de modo que los posi-
bles errores en la fase son de ese orden de magnitud.
El resultado numrico del ajuste de polinomios de Zernike muestra que las principales
contribuciones a la aberracin de la onda reflejada por el espejo bajo prueba son los trminos de
inclinacin y coma. El factor de inclinacin presente puede asociarse al montaje experimental,
puesto que la luz no incide perpendicularmente, sino bajo un cierto ngulo como muestra la
figura 1.

Referencias
[1] A. Mackintosh (Ed.) Advanced Telescope Making Techniques, V.1 Willman Bell Inc., Rochmond, 1986, Cap.2.
[2] A. Cornejo-Rodrguez.En D. Malacara (Ed.) Optical Shop Testing, Wiley, New cork, 1992, pp 321-365
[3] M. Mora-Gonzlez, N.Alcal-Ochoa, The Ronchi Test with an LCD grating, Optics Commun. 191 (2001) 203-207.
[4] G. Arenas, O. Doria, A. Hernndez, M. Nez, C. Sanabria La prueba de Ronchi con anlisis de fase. IX Encuentro
Nacional de ptica, Medelln, Colombia. Junio de 2005.
[5] J.Y Wang, D.E. Silva Wave-front interpretations with Zernike polynomials. Applied Optics. vol 19, No 9. Mayo de
1980
[6] J. Wyant, K. Creath Basic Wavefront Aberration Theory for Optical Metrology. Applied Optics and Optical engi-
neering, vol. XI, Cap 1
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