Nanofitas e nanofilamentos auto-construídos

a partir do ácido metilfosfônico

Bráulio Soares Archanjo

Fevereiro de 2005
Nanofitas e nanofilamentos auto-construídos
a partir do
ácido metilfosfônico.

Bráulio Soares Archanjo

Orientador: Prof. Bernardo Ruegger Almeida Neves

Dissertação apresentada à UNIVERSIDADE FEDERAL DE

MINAS GERAIS, como requisito parcial para a obtenção do
grau de MESTRE EM FÍSICA

Fevereiro de 2005
Dedico este trabalho à minha
querida mãe, exemplo de
perseverança em meio
às tempestades.
 Agradecimentos
À Camila, por todo amor e carinho e compreensão. Obrigado por alegrar os meus dias e por
estar comigo sempre que eu preciso;

Aos meus pais e a minha irmã, pelo amor e constante apoio aos meus estudos;

Ao professor Bernardo Neves, pela orientação, disponibilidade e paciência;

Á Indhira pela amizade, cervejas e substratos metalizados com alumínio;

Ao professor Rogério Paniago, pelo auxílio nas medidas de raios X e pelo interesse;

Ao professor Roberto Moreira, pelo interesse e ajuda nas medidas de Infravermelho;

Ao Flavio Alexandre pelo interesse em realizar as medidas de Fotoluminescência;

Ao professor Juan Carlos, pela realização das medidas de Microscopia Eletrônica;

Aos demais professores do Departamento de Física, por estarem sempre disponíveis;

Ao meu ‘escravo’ (aluno de I.C.) Lino Augusto pelas colaborações científicas,

principalmente a parte chata do trabalho;

A Giselle Fontes e ao Ângelo Malachias pela amizade e pelas constantes orientações

acadêmicas e profissionais, e também ao pessoal do Laboratório: Elisângela, Ana Paula,
Letícia e Ivone.

Aos ‘maus elementos’ que moram lá em casa, Baiano e Pop Star, por me desviarem dos
estudos e/ou por explorarem minha paciência;

Ao amigos Marcelo Siqueira pela amizade, cervejas e sinuca;

Ao Gordinho, Custela, Jamaica, Smoke, Fumaça, Thiaguinho, Geórgia, Damião e toda
galera do D.A. Física pelos cafés, jogos e festas;

Aos amigos do Departamento de Física e todo o pessoal da pós;

A todo o pessoal das oficinas mecânica e eletrônica, ao pessoal da secretaria do

Departamento de Física e da pós-graduação. Esse apoio foi essencial;

Às instituições que forneceram apoio financeiro e infra-estrutura: UFMG, CNPq, LNLS e

Instituto de Nanociências.
 RESUMO
Neste trabalho foram estudadas os nanofilamentos e nanofitas formados a partir do
Ácido Metilfosfônico (“Methylphosphonic Acid” – MPA – CH3PO(OH)2). Essas
nanoestruturas crescem em substratos de silício ou vidro quando metalizados com alumínio
metálico e posteriormente imersos em solução etanólica. Os nanofilamentos e nanofitas são
estruturas ainda não relatadas na literatura e, portanto, uma caracterização destas através de
diferentes técnicas se fez necessário. As principais características apresentadas por estas
nanoestruturas foram a fotoluminescência no verde (∼2,3eV) e dimensões relativamente
interessantes (∼10nm x 100nm x 1µm para as nanofitas e ∼10nm x 1µm para os
nanofilamentos).
Foram realizados estudos da morfologia destas nanoestruturas quando variados os
tempos de imersão e a concentração de MPA na solução onde, a técnica de Microscopia de
Força Atômica foi utilizada. Foram feitas também imagens de Microscopia Eletrônica de
Varredura e Transmissão. Medidas de Infravermelho forneceram algumas informações a
respeito das ligações atômicas presentes. A Difração de Raios-X indicou certo grau de
cristalinidade das nanoestruturas. Por fim, serão apresentados estudos das propriedades
elétricas realizadas através da técnica de Microscopia de Força Atômica Condutiva onde
essas nanoestruturas apresentaram uma condutividade menor que metais e maior que
isolantes.
 ABSTRACT
In this work we have studied self-assembled nanowires and nanoribbons formed by
Methylphosphonic Acid – MPA (CH3PO(OH)2).These nanostructures are grown on a
silicon or glass substrate, covered with a metallic aluminum film, when immersed in an
ethanolic solution. The nanowires and nanoribbons were structures which have not been
reported in the literature yet. Therefore, we have performed their characterization by
different techniques. The main characteristics presented for these nanostructures had been
the photoluminescence in the green wavelength (~2,3eV) and interesting dimensions of
(~10nm x 100nm x 1mm for nanoribbons and ~10nm x 1mm for nanowires)
We have performed studies on morphology of these structures and the effects of
solution concentration and immersion time on their growth. We have also used other
images techniques: Scanning Electron Microscopy and Transmission Electron Microscopy.
To complete the characterization of the samples we have used Infrared, X-ray Diffraction
and Scanning Spreading Resistance Microscopy. The Infrared Spectroscopy gave us
information about atomic bonds and groups in the molecules of these nanostructures. The
X-Ray Diffraction indicated a certain degree of crystallization. We also know, by Scanning
Spreading Resistance Microscopy, that these nanostructures present a conductivity which is
in the range between conductor and insulators.
ÍNDICE

RESUMO

ABSTRACT

INTRODUÇÃO .........................................................................................................1

CAPÍTULO I – Técnicas Experimentais ................................................................3

1 – O Microscópio de Varredura por Sonda .................................................................4

A Família SPM ...............................................................................................5

a) Microscopia de Força Atômica ..................................................................5
b) Microscopia de Contraste de Fase ..............................................................7
c) AFM Condutivo e Curvas I(V) ...................................................................9
d) Outras Técnicas ..........................................................................................9

2 – Difração e de Raios X ...........................................................................................10

a) Lei de Bragg .............................................................................................10

b) Difração por Uma Rede Finita .................................................................11

3 – Espectroscopia de Infravermelho .........................................................................13

a) Moléculas Diatômicas ..............................................................................13

b) Regras de Seleção .....................................................................................14

c) Moléculas Poliatômicas ............................................................................15

4 – Fotoluminescência ................................................................................................18

a) Aplicações ................................................................................................19

5 – Microscopia Eletrônica .........................................................................................19

a) Interações do Elétron com a Matéria ........................................................19

b) Microscopia Eletrônica de Varredura ......................................................20
c) Microscopia Eletrônica de Transmissão ...................................................21
 6 – Conclusão .............................................................................................................22

Referências do Capítulo I ...........................................................................................23

CAPÍTULO II – Produção da Nanoestruturas ....................................................24

1 – O Ácido Metilfosfônico ........................................................................................25

2 – Resultados Obtidos Anteriormente com o MPA ..................................................26

3 – Preparação das Amostra deste Trabalho ...............................................................29

a) Estudo da Concentração de MPA na Solução ..........................................30

b) Estudo do Tempo de Imersão do Substrato ..............................................37

4 – Nanofitas e Nanofilamentos .................................................................................38

5 – Tentativa de Crescer Nanoestruturas Alinhadas ...................................................41

6 – Conclusão .............................................................................................................42

Referências do Capítulo II ..........................................................................................44

CAPÍTULO III – Caracterização das Nanoestruturas ........................................45

1 – Caracterização Estrutural ......................................................................................46

a) Difração de Raios X .................................................................................46

b) Espectroscopia de Infravermelho .............................................................55

2 – Caracterização Óptica ..........................................................................................58

3 – Caracterização Elétrica .........................................................................................59

4 – Conclusão .............................................................................................................61

Referências do Capítulo III ........................................................................................63

CONCLUSÕES......................................................................................................64
 INTRODUÇÃO

Encontram-se na literatura diversos estudos realizados com os ácidos fosfônicos,

fosfóricos e outros que, quando reagidos com metais, podem formar um grande número de
estruturas, tais como materiais cristalinos microporosos, formação de monocamadas auto-
contruídas e nanoestruturas. Desta forma, o desenvolvimento e estudo de novas estruturas
formadas a partir dessas moléculas são de grande interesse científico, além de apresentar
uma variedade de aplicações [1-3].
Materiais microporosos são amplamente utilizados como; catalisadores,
adsorbantes, detergentes e paredes de trocas de íons [1]. Já as monocamadas auto-
contruídas têm utilidade na formação de micropadrões, proteção contra corrosão,
lubrificação, funcionalização e sensores biológicos [2,3].
O objetivo deste trabalho e estudar um dentre estes diferentes ácidos, o Ácido
Metilfosfônico (“Methylphosphonic Acid” – MPA – CH3PO(OH)2), que juntamente com
etanol e alumínio levam a formação de nanoestruturas denominadas, originalmente,
nanofilamentos e nanofitas, que ainda não foram relatadas na literatura. No entanto alguns
compostos formados a partir de alumínio e MPA foram relatados na literatura [1,4-8]. Estas
estruturas e as nanoestruturas estudadas no presente trabalho foram obtidas através de
preparações diferentes, e comparando-se as difrações de raios X observa-se que estes
compostos são diferentes estruturalmente.
Serão apresentados estudos do processo de produção das nanoestruturas e técnicas
experimentais de caracterização estrutural, óptica e elétrica. Para o estudo do processo de
produção, a principal técnica será a microscopia de força atômica (“Atomic Force
Microscopy” –AFM), mas também serão utilizadas as técnicas de microscopia eletrônica de
varredura (“Scanning Electron Microscopy” – SEM) e microscopia eletrônica de
transmissão (“Transmission Electron Microscopy” – TEM). Na caracterização estrutural
será utilizada a técnica de difração de raios X juntamente com a espectroscopia de
infravermelho. Medidas de fotoluminescência serão utilizadas para a caracterização óptica.
e imagens de AFM condutivo (“Scanning Spreading Resistance Microscopy” – SSRM)
serão realizadas para a caracterização elétrica.

1
 No primeiro capítulo serão apresentadas as bases teóricas das técnicas
experimentais que serão utilizadas no presente trabalho. No capítulo 2 serão estudados os
processos de formação das nanoestruturas através das técnicas: AFM, SEM e TEM. A parte
de caracterização destas nanoestruturas será deixadas para o terceiro capitulo onde, as
propriedades estruturais, ópticas e elétricas serão apresentadas. No final será apresentada
uma conclusão consistindo de um sumário de todo o trabalho juntamente com as
perspectivas futuras.

Referências
[1] K. Maeda, Y. Kiyozumi e F. Mizukami; J. Phys. Chem. B 101, 4402 (1997) e
referências contidas

[2] J. G. Van Alsten; Langmuir 15, 7605 (1999) e referências contidas

[3] T. A. Lewington, M. R. Alexander, G. E. Thompson, E. McAlpine; Surface

Engineering 18, 228 (2002) e referências contidas

[4] K. Maeda, Y. Kiyozumi e F. Mizukami; Angewandte Chemie-International Edition in

English 33, 2335 (1994)

[5] K. Maeda, J. Akimoto, Y. Kiyozumi, e F. Mmizukami; J. Chem. Soc., Chem. Commun.

10, 1033 (1995)

[6] K. Maeda, Y. Kiyozumi e F. Mizukami; J. Phys. Chem. B 104, 9765 (2000)

[7] K. Maeda; Microporous and Mesoporous Materials 73, 47 (2004)

[8] M. Edgar, V. J. Carter, P. Grewal, L. J. Sawers, E. Sastre, D. P. Tunstall, P. A. Cox, P.

Lightfoot, P. A. Wright; Chem. Mater. 14, 3432 (2002)

2
 CAPÍTULO I
Técnicas Experimentais

Este capítulo apresenta as técnicas experimentais utilizadas neste trabalho:

• Descrevem-se algumas técnicas da Microscopia de Varredura por Sonda
(“Scanning Probe Microscopy” – SPM): Microscopia de Força Atômica (“Atomic
Force Microscopy” – AFM) nos modos contato, não contato e contato intermitente,
Microscopia de Contraste de Fase (“Phase Contrast Microscopy” – PCM), AFM
Condutivo (“Scanning Spreading Resistance Microscopy” – SSRM). Apresentam-
se tais técnicas de SPM como importantes ferramentas na investigação de
superfícies.
• A técnica de Difração de Raios X é apresentada de forma bastante simplificada, no
sentido de que serão abordados apenas as distâncias interplanares e tamanhos de
partículas.
• A Espectroscopia de Infravermelho (“InfraRed Spectroscopy” – IR) como uma
técnica que permite determinar as ligações químicas em um material.
• Descreve-se a técnica de Fotoluminescência também de forma bastante
simplificada.
• Apresentam-se as técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (“Scanning
Electron Microcopy” – SEM) e Microscopia Eletrônica de Transmissão
(“Transmission Electron Microcopy” – TEM) como ferramentas de investigação de
superfície e análise estrutural.
1 . O Microscópio de Varredura por Sonda1
No início dos anos 80, a SPM encantou o mundo com as primeiras imagens, no
espaço real, da superfície de um monocristal de silício com resolução atômica. Desde então,
a técnica de SPM vem sendo utilizada numa ampla variedade de disciplinas, incluindo
praticamente todas as áreas de Ciência dos Materiais e de Superfícies, produzindo imagens
tridimensionais impressionantes – de átomos de carbono a relevos nanométricos na
superfície de células vivas.
Apesar de fornecerem informações bastante diferentes entre si, tais como
morfologia, condutividade elétrica, dureza e propriedades magnéticas, todas a técnicas da
família SPM se baseiam num mesmo princípio de operação. Assim, todo microscópio que
opera as técnicas de SPM possui uma configuração com alguns elementos que são comuns
a todo e qualquer equipamento. A figura I-1 apresenta de modo esquematizado o que é um
Microscópio de Varredura por Sonda e quais são seus elementos principais: sonda
mecânica (A); posicionador piezoelétrico -“scanner”- (B); mecanismo de monitoração da
interação sonda-amostra (C); sistema de posicionamento preliminar da sonda sobre a
amostra (D) e computador que controla todo o sistema (E). Conforme mostra a figura I-1, o
princípio de funcionamento pode ser resumido da seguinte maneira: a sonda mecânica (A) é
colocada em contato, ou muito próxima, da superfície da amostra (F) que se quer
investigar, o que dá origem a uma interação altamente localizada entre a sonda e a amostra.
Quanto mais localizada for esta interação, maior será a resolução do microscópio. Logo,
para se atingir uma alta resolução, a distância sonda-amostra deve ser bastante reduzida e as
dimensões físicas da sonda serem as menores possíveis. O “scanner” piezoelétrico (B)
provê a movimentação lateral da amostra em relação à sonda, descrevendo um padrão de
varredura. Através do mecanismo de monitoração (C), detecta-se a variação da interação
sonda-amostra durante a varredura e esta informação é passada a um sistema de
realimentação que controla a posição vertical da sonda. A posição vertical da sonda sobre a
superfície da amostra também é definida pelo “scanner”, que, portanto, é responsável pela
movimentação relativa sonda-amostra nas três direções espaciais. Todo este processo é
controlado por um computador (E), que controla a movimentação do “scanner”, recebe os

1
A seção 1 é uma adaptação do texto do professor Bernardo R.A. Neves para a apostila da XI Escola de
Inverno (Departamento de Física, UFMG, 2000). A subsecção c)foi adaptada de Shafai et al [2].
4
dados da interação sonda-amostra e converte toda a informação obtida, formando a imagem
da amostra. Com o objetivo de se posicionar a sonda sobre uma determinada região da
amostra, o sistema possui ainda um mecanismo de aproximação (D) que coloca a sonda nas
proximidades da localização desejada. Para tanto, uma lupa ou um microscópio óptico
normalmente fazem parte deste mecanismo de aproximação.

Figura I-1 – Desenho esquemático dos componentes comuns a todos microscópios de varredura
por sonda mecânica. Adaptado de Howland e Benatar [1].

A Família SPM
Utilizando-se o sistema básico descrito na figura I-1, foram desenvolvidas as
diversas técnicas que compõem a família SPM. Descrevem-se a seguir as técnicas
utilizadas neste trabalho: AFM, PCM, SSRM e curvas I(V).

a) Microscopia de Força Atômica

Na Microscopia de Força Atômica - AFM, uma sonda extremamente fina (~ 100Å
de diâmetro na extremidade da sonda) varre a superfície da amostra em inspeção. A sonda é
montada sobre a extremidade livre de uma alavanca que mede cerca de 100 a 200µm de
comprimento. Quando a sonda se aproxima da superfície da amostra, forças de interação
sonda-amostra surgem e fazem a alavanca defletir. Esta deflexão é monitorada por um
5
detetor à medida que a sonda varre a superfície, conforme ilustra a figura I-2(a) Este sinal
de deflexão da alavanca pode ser utilizado pelo computador para gerar um mapa da
topografia da superfície da amostra, bastando fazer uma conversão de variação do sinal no
detetor para variação de altura na amostra. Entretanto, este processo de conversão é
complicado e o método mais utilizado na geração de imagens topográficas é o seguinte:
determina-se uma força que se quer aplicar constantemente sobre a amostra, ou seja,
determina-se um valor do sinal que deve ser permanentemente observado pelo detetor. O
computador, então, durante a varredura ajusta a posição vertical da amostra, através do
“scanner” piezoelétrico, de maneira a manter a força, ou o sinal, no valor previamente
determinado. A variação de altura no “scanner” corresponde exatamente à variação
topográfica na amostra, e assim a morfologia da amostra é revelada diretamente, sem a
necessidade de conversão do sinal do detetor. As forças de interação sonda-amostra podem
ser atrativas ou repulsivas, dependendo da distância sonda-amostra, conforme mostra a
figura I-2(b). A longas distâncias (d > 1µm), praticamente não há qualquer interação. A
medida que a sonda se aproxima da amostra ( d ≤ 50nm ), forças atrativas passam a atuar
entre a sonda e amostra – tipicamente, forças de Van der Waals. A força atrativa aumenta
com a aproximação da sonda, conforme mostra a figura I-2(b), até que a separação seja da
ordem da separação inter-atômica ( d ≈ 0.5nm ). A partir deste ponto, fortes forças
eletrostáticas repulsivas entre as nuvens eletrônicas das camadas de valência da sonda e da
amostra passam a atuar, e a força resultante total passa a ser repulsiva. Nesta região, diz-se
que a sonda está em contato físico com a superfície da amostra.
(a) (b)
Laser
Força

C Repulsão
Foto Alavanca
Detetor CI
Distância

NC
Atração
Amostra
Figura I-2 – (a) Desenho esquemático do princípio de funcionamento da técnica de AFM. O
fotodetector monitora a deflexão da alavanca durante a varredura através da mudança na reflexão de
um feixe de Laser incidente. (b) Curva esquemática mostrando a dependência da força de interação
sonda-amostra em função da separação entre elas.

6
 Conforme o caráter da interação, atrativo ou repulsivo, pode-se definir alguns
modos de operação na técnica de AFM. São eles: Não-Contato (NC), onde a interação
sonda-amostra é atrativa; Contato (C), com interação repulsiva; e Contato Intermitente (CI),
onde o regime ora é atrativo, ora é repulsivo. No Contato Intermitente, a sonda oscila sobre
a superfície da amostra, tocando-a periodicamente. O modo Contato permite obter imagens
com altíssima resolução, a nível atômico, mas o atrito entre a sonda e a amostra pode
danificar a superfície, caso ela seja macia, produzindo uma imagem distorcida. O modo
Não-Contato apresenta a vantagem de não danificar a amostra, pois a princípio não há
contato físico com a sonda, porém a resolução normalmente fica limitada a algumas
dezenas de nanômetros, que é a distância sonda-amostra. O modo de Contato Intermitente
reúne vantagens dos dois modos anteriores: como há contato físico entre a sonda e a
amostra, consegue-se altas resoluções (~ 1nm). Porém, como a movimentação é feita com a
sonda no ar, as forças de atrito entre a sonda e amostra são grandemente reduzidas,
eliminando os problemas de deformação da amostra presentes no modo Contato.

b) Microscopia de Contraste de Fase

∆ Atuador
↔

Detector
CI

Material
Diferente
Imagem

Figura I-3 – Desenho esquemático do modo de funcionamento da Microscopia de Contraste de

Fase

A Microscopia de Contraste de Fase – PCM está intimamente relacionada com o

AFM-contato intermitente. A técnica de PCM apresenta uma grande aplicabilidade a
7
diversos tipos de situações. A figura I-3 ilustra de maneira esquemática o modo de
funcionamento da Microscopia de Contraste de fase. A sonda operando no modo contato
intermitente é colocada para oscilar por meio de um atuador piezoelétrico colocado na base
da alavanca que contem a sonda. O aspecto senoidal da oscilação está esquematizado na
figura. A sonda, ao varrer a superfície da amostra, muda a fase da oscilação ao encontrar
condições diferentes de interação sonda-amostra na superfície. Assim, uma diferença de
fase ∆ entre o atuador e o sinal que o fotodetector mede é estabelecida. Esta só será anulada
quando a condição inicial de interação for restabelecida. Existe uma série de fatores que
podem modificar esta interação, tais como mudanças de material, de propriedades visco-
elásticas e até mesmo de propriedades topográficas. Portanto, a técnica de PCM é sensível a
todos estes tipos de características, podendo ser utilizada em situações bastante diversas.
Um exemplo de aplicação da técnica está presente na figura I-4 que mostra uma
imagem topográfica obtida por AFM-contato intermitente e a imagem de contraste de fase
da mesma região da superfície de uma nanofita de MPA. A imagem de PCM, figura I-4(b),
mostra detalhes da cristalização da nanofita que são imperceptíveis na imagem de
topografia.

(a) (b)

500nm

Figura I-4 – Imagem da superfície de uma nanofita auto-construída a partir do acido

metilfosfônico. (a) Imagem topográfica obtida no modo CI. (b) Imagem de PCM mostrando os
nanofilamentos formando as nanofitas.

8
C) AFM Condutivo e Curvas I(V)
No AFM Condutivo (“Scanning Spreading Resistance Microscopy” – SSRM), uma
sonda condutora é utilizada para medir a corrente local da amostra a ser inspecionada. Uma
forma esquemática de como funciona a técnica é mostrada na figura I-5. Uma sonda
condutora é colocada em contato com a amostra, uma tensão é aplicada e a corrente entre a
ponta e a amostra é monitorada, gerando um mapa 2D de corrente. Dividindo se a tensão
aplicada pela corrente, ponto a ponto na imagem, a resistência é obtida. Deste modo, na
técnica SSRM, uma imagem bidimensional da resistência é obtida.

Figura I-5 – Desenho esquemático da técnica de SSRM. Adaptado de Shafai et al [2].

Uma outra possibilidade é a obtenção de curvas I(V) ponto a ponto. Depois de

realizada a imagem topográfica, pontos dessa imagem podem ser selecionados para que a
sonda faça uma curva I(V) naqueles locais, isto permite obter a resistência local com uma
maior precisão além de fornecer características elétricas mais detalhadas da amostra.

d) Outras Técnicas
Várias outras técnicas ainda poderiam ser descritas aqui, tais como: Microscopia de
Varredura por Tunelamento (“Scanning Tunneling Microscopy” –STM), Microscopia de
Força Magnética (“Magnetic Force Microscopy” – MFM), Microscopia de Força Elétrica
(“Electric Force Microscopy” – EFM), Microscopia de Varredura Térmica (“Scanning
Thermal Microscopy” – SThM), Microscopia de Varredura de Campo Próximo (“Near-
field Scanning Optic Microscopy” – SNOM ou NSOM), entre outras. Porém, uma
descrição mais cuidadosa de cada uma dessas técnicas foge aos objetivos deste texto.

9
2 . Difração de Raios X
Diferentemente do AFM, a Difração de Raios X fornece informações a respeito da
estrutura interna dos materiais. Considerando um feixe de raios X incidente em um
material, tem-se que a interação da onda eletromagnética com os elétrons desse material
gera uma onda espalhada. Esta onda pode sofrer um espalhamento elástico e/ou um
espalhamento inelástico, sendo a primeira responsável pela difração. Quando as ondas
espalhadas por pontos diferentes do material estão em fase, a intensidade destas se soma.
Assim, se o material apresenta uma estrutura periódica – estrutura cristalina – observam-se
picos de intensidade.

a) Lei de Bragg
De uma forma bastante simplificada, a Difração de Raios X por cristais pode ser
vista como um conjunto de reflexões através de vários espelhos paralelos e igualmente
espaçados de uma distância d. Como mostra a figura I-6, cada plano da rede cristalina,
constituída por átomos ou moléculas com Z elétrons, reflete e transmite uma parte do feixe
incidente. O feixe transmitido sofre novas reflexões nos próximos planos. Se a diferença de
caminho entre duas reflexões for igual à nλ, tem-se uma interferência construtiva. Esta
diferença de caminho, linha tracejada ABC da figura I-6, é igual a 2dsenθ. Igualando os
dois termos acima obtém-se a Lei de Bragg:
2dsenθ = nλ (I-1)

Figura I-6 – Difração de Raios X por um conjunto de planos em uma rede cristalina.

10
b) Difração por Uma Rede Finita2
A Lei de Bragg, da maneira exposta anteriormente, nada diz a respeito das difrações
em ângulos um pouco diferentes daqueles onde ocorre a difração. Para um cristal infinito,
um pico de difração é extremamente fino, dependendo apenas da precisão do equipamento.
Para um cristal finito, os picos de difração apresentam uma largura que dependerá
principalmente do tamanho do cristal. Desta forma, esta largura pode ser explorada para
determinar o tamanho das estruturas que estão difratando. É interessante notar que o
tamanho obtido através da difração de raios X pode ser comparado com outras técnicas,
como por exemplo AFM, e assim concluir se as estruturas visualizadas através destas outras
técnicas são as que realmente estão difratando os raios X.
Considere um cristal de largura t em uma direção perpendicular a um determinado
conjunto de planos da rede cristalina. Conforme mostra a figura I-7, ao longo desta largura
t, existem (m+1) planos que satisfazem a equação (I-1) para um determinado θB, d e λ
específicos. São mostrados, também na figura I-7, os raios A, D e M que apresentam
exatamente este angulo θB, assim o raio D’ está um comprimento de onda atrasado em
relação a A’, já o raio M’ espalhado no m-ésimo plano está atrasado m comprimentos de
onda em relação ao raio A’. Deste modo, no ângulo de difração 2θB, estes raios estão em
fase e conseqüentemente se somando para formar um máximo de difração.

Figura I-7 – Difração de Raios X por uma rede cristalina finita de tamanho t.

2
A subseção 2b) é um resumo da seção 3-7 da referência [3].
11
 Considerando agora os raios incidentes que fazem um ângulo um pouco diferente de
θB, como por exemplo o raio B, que apresenta um ângulo θ1 um pouco maior que θB, de
forma que o raio L’ refletido no m-ésimo plano está (m+1) comprimentos de onda atrasado
em relação à B’. Isto significa que, para um plano no meio do cristal, existe uma reflexão
que está defasada de 180°, levando então a uma interferência destrutiva. Portanto, a
intensidade difratada no ângulo θ1 é nula. Analisando um ângulo θ2 um pouco menor que
θB, implica que para a reflexão do m-ésimo plano, N’, está (m-1) comprimentos de onda
atrasado. Do mesmo modo existe, um plano no meio do cristal onde a reflexão está
defasada 180° levando a uma intensidade de difração nula.
Um máximo de difração, comforme explicado acima, está esboçado na figura I-8. A
largura da linha ∆θ aumenta a medida que o tamanho do cristal diminui. De uma forma
aproximada, a largura ∆θ pode ser considerada como sendo metade da diferença entre os
extremos θ1 e θ2. Deste modo:
1
∆θ = ( 2θ1 − 2θ 2 ) = θ1 − θ 2 (I-2)
2
Escrevendo a Lei de Bragg para estes dois ângulos e levando em consideração o
tamanho t do cristal, tem-se:
2t sin θ 1 = ( m + 1)λ e 2t sin θ 2 = ( m − 1)λ (I-3)
Subtraindo: t (sin θ1 − sin θ 2 ) = λ (I-4)

(a) (b)

∆θ

Figura I-8 – Difratograma de um máximo de difração: (a) para um cristal finito, (b) para um cristal
infinito.

12
 Usando algumas relações trigonométricas:
⎛ θ + θ 2 ⎞ ⎛ θ1 − θ 2 ⎞
2t cos⎜ 1 ⎟ sin⎜ ⎟=λ (I-5)
⎜ 2 ⎟ ⎜ 2 ⎟
⎝ ⎠ ⎝ ⎠
Com aproximação θ1 + θ 2 ≈ 2θ b e lembrando da equação (I-1):

⎛ λ ⎞
t = ⎜⎜ ⎟⎟ (I-6)
⎝ ∆θ cos θ B ⎠
Está formula é conhecida como formula de Scherrer e é uma ótima aproximação
para estimar o tamanho das partículas que estão difratando.

3 . Espectroscopia de Infravermelho3
De uma forma geral, espectroscopia estuda a interação da radiação eletromagnética
com a matéria, sendo um dos principais objetivos determinar os níveis de energia de
átomos e ou moléculas. No caso da radiação infravermelha, as energias envolvidas estão
diretamente relacionadas com os estados vibracionais moleculares. Quando uma onda na
faixa do infravermelho tem uma energia igual à diferença de energia entre dois estados
vibracionais, há uma forte absorção da radiação pelo material. Medindo-se esta absorção,
tem-se o espectro de absorção no infravermelho e daí podem-se obter informações a
respeito das ligações químicas e grupos moleculares.

a) Moléculas Diatômicas
A força de interação entre dois átomos quando estes estão ligados, de modo a
formar uma molécula, pode ser repulsiva ou atrativa, dependendo da distância entre os dois.
Um modelo muito estudado e utilizado como primeira aproximação para estas interações é
o oscilador harmônico. Apesar de idealizado, este modelo apresenta os níveis de energia
quantizados representando os vários estados vibracionais, o que permite entender de forma
bastante simplificada a absorção ou emissão no infravermelho em moléculas reais.

3
A secção 3 é um resumo do capitulo 2 da referência [4] e referencia [6].
13
 O Hamiltoniano para um oscilador harmônico na representação de coordenadas é:

h 2 ∂ 2ψ kq 2
− + ⋅ψ = Eψ (I-7)
2 µ ∂q 2 2
onde µ é a massa reduzida do sistema e q é a distancia entre os dois átomos.
As soluções deste Hamiltoniano são [4]:

⎛ − αq 2 ⎞ 2µ
ψ n ( q) = N n ⋅ H n ( α ⋅ q) ⋅ exp⎜⎜ ⎟⎟ com α = 2 ⋅ E (I-8)
⎝ 2 ⎠ h

onde Nn é um fator de normalização e H n ( α ⋅ q ) são os polinômios de Hermite [5] de

grau n. Os auto-valores correspondentes são:

E= h k (1/2+n) = hν(1/2+n). (I-9)

µ

Para uma transição entre dois estados consecutivos deste sistema, poderá haver absorção ou
emissão de um fóton com energia hν.
O Hamiltoniano do sistema prevê apenas a existência dos níveis energéticos, não
dizendo nada a respeito das transições entre os níveis. Algumas considerações a respeito
das condições para que uma transição realmente ocorra devem ser feitas.

b) Regras de Seleção
Classicamente, a interação de uma onda eletromagnética com um meio material se
deve à distribuição de cargas nesse meio material. Para que ocorra absorção ou emissão de
uma onda eletromagnética em um meio material, é necessário que o momento de dipolo
elétrico µ devido à distribuição de cargas no material possa variar e que possua a mesma
freqüência natural de oscilação da onda eletromagnética.
O oscilador harmônico, descrito na seção anterior, apresenta uma única coordenada
generalizada. Desta forma, o momento de dipolo pode ser expandido na coordenada q:
⎛ dµ ⎞
µ = µ 0 + ⎜⎜ ⎟⎟ q + K (I-10)
⎝ dq ⎠ 0
Onde µ0 é o momento de dipolo permanente. Os próximos termos da expansão puderam ser
desprezados porque apenas pequenos deslocamentos são considerados. Para ocorrer a

14
absorção ou emissão é necessário que (dµ/dq)0 ≠ 0 para pelo menos uma das componentes
µxµ yµz.
De acordo com a mecânica quântica, a transição entre dois estados ψ m e ψ n é

descrita pelo momento de transição do dipolo (Regra de Ouro de Fermi).

µ mn = ∫ ψ m µψ n dτ (I-11)

Expandindo em série de Taylor:

⎛ dµ ⎞
µ mn = µ 0 ∫ψ mψ n dτ + ⎜⎜ ⎟⎟ ∫ψ m qψ n dτ (I-12)
⎝ dq ⎠ 0
Como m ≠ n na primeira integral da equação I-12, ψm e ψn são diferentes e como as
auto funções diferentes de um Halmitoniano são ortogonais, esta integral é igual a zero.
Para o segundo termo ser diferente de zero, devem ser satisfeitas as seguintes condições:

(dµ/dq)0 ≠ 0 e ∫ψ m qψ n dτ ≠ 0 (I-13)

A primeira condição é idêntica à condição clássica. Já a segunda condição é uma

propriedade derivada da mecânica quântica e para sua validade é necessário que
ψ m qψ n seja uma função par, ou seja, o produto ψ mψ n deve ser uma função ímpar, o que
implica em m-n=±1. Sendo m o estado inicial e n o estado final, o sinal “+” representa uma
emissão e o sinal “–” representa uma absorção.

c) Moléculas Poliatômicas
Para uma molécula com N átomos, são observados 3N graus de liberdade, pois cada
átomo pode se mover nas três direções (x, y, z). Como as vibrações são graus de liberdade
internos da molécula, deve-se então desprezar os graus de liberdade externos para obter o
número de modos normais de uma molécula. Sendo a molécula não-linear, seis são os graus
de liberdades externos, três para rotação e três para a translação. No caso de moléculas
lineares, existem apenas dois graus de liberdade para rotação. Portanto, uma molécula
linear com N átomos pode apresentar 3N -5 modos normais de vibração e uma molécula
não-linear pode apresentar 3N – 6 modos normais de vibração.

15
 Geralmente, não se podem observar todos os modos em espectros de infravermelho.
Apenas os modos que apresentam variações no momento de dipolo podem ser observados e
as outras vibrações são denominadas inativas. Há também a possibilidade de se observar os
harmônicos e as bandas de combinação das vibrações. Os harmônicos apresentam uma
freqüência igual a um número inteiro vezes a freqüência fundamental da vibração. As
combinações podem apresentar uma soma ou diferença das freqüências fundamentais e dos
harmônicos. Mas, em espectros de infravermelho, os harmônicos e as combinações
apresentam uma atividade menor.
Um exemplo de molécula linear é a molécula de CO2, onde o número de modos
normais será: 3N - 5 = 3 x 3 - 5 = 4, e estão representados por ν1, ν2, ν3 e ν4 na figura I-9.
O modo ν1 não apresenta variação no momento de dipolo elétrico, pois o centro de carga
negativa permanece inalterado devido à vibração simétrica dos oxigênios, assim este é um
modo inativo no infravermelho. Os modos ν3 e ν4 são idênticos por isso são degenerados,
ou seja, apresentam a mesma freqüência de vibração.

C C
ν1 = 1388 cm -1
ν3 = 667 cm-1
C + C- +
ν2 = 2349 cm-1 ν4 = 667 cm-1

Figura 1-9 – Vibrações da molécula de dióxido de carbono. ν1 e ν3 são estiramentos simétricos e

assimétricos respectivamente; ν3 e ν4 são deformações Os sinais + e – indicam, respectivamente,
deslocamentos para fora e dentro do plano do papel.

16
 Um exemplo de molécula não-linear é a água, H2O. O número de modos normais
será: 3N - 6 = 3 x 3 - 6 = 3, e estão representados por ν1, ν2, e ν3 na figura I-10. As três
vibrações da molécula de água apresentam variação no momento de dipolo, então as três
vibrações são ativas.

H H H H H H
ν1 = 3657 cm -1
ν2 = 1595 cm -1
ν3 = 3756 cm -1

Figura 1-10 – Vibrações da molécula de água. ν1 e ν3 são estiramentos simétricos e assimétricos

respectivamente; ν2 é uma deformação.

Para moléculas maiores não apenas o número de modos aumenta, mas também a
dificuldade de se determinar estes modos. A solução é então comparar espectros complexos
com espectros de moléculas mais simples e, como primeira aproximação, consideram-se as
ligações entre vizinhos e/ou grupos funcionais. Na maioria das vezes, grupos funcionais e
ligações químicas originam bandas características, podendo assim ser identificados dentro
de espectros mais complexos. Exceções são observadas quando a configuração eletrônica e,
conseqüentemente, a constante de força da ligação são alteradas pela presença de outros
vizinhos.

Figura 1-11 – Vibrações em uma molécula poliatômica.

17
 Para identificar os modos normais aos quais as bandas características estão
associadas, normalmente é usada a simbologia mostrada na figura I-11. Pode se dividir os
modos normais em modos onde variam o comprimento da ligação, estiramentos
(“stretching”); e modos onde os ângulos das ligações variam, deformações (“bending”). Os
estiramentos se dividem em simétrico νs e assimétrico νas. As deformações se dividem em
“rocking” ρ, “scissoring” σ, “wagging” ϖ, “twisting” τ [7].

4 . Fotoluminescência
A Fotoluminescência é um importante fenômeno físico utilizado na caracterização
de materiais fornecendo informações a respeito dos níveis energéticos que, de certa forma,
podem revelar outras importantes características. Resumidamente, a fotoluminescência
ocorre quando um material absorve luz em uma determinada freqüência e a reemite em uma
outra freqüência característica do material, correspondendo à sua composição, estrutura e
qualidade [8].
Quando se incide luz em um material, elétrons são levados a estados excitados.
Durante o processo de decaimento dos elétrons, podem ser observados tanto processos não-
radiativos quanto processos radiativos. No primeiro caso, os elétrons decaem liberando
calor para o material, e se este possui uma rede cristalina, observa-se a criação de fônons.
No segundo caso, ocorre a fotoluminescência, pois um fóton foi emitido a partir da
absorção de um outro pelo material. Estes processos estão mostrados na figura I-12 [8].

Estados
Contínuos

Estados
Processos Excitados
Figura 1-12 – Diagrama simplificado da
Não-Radiativos
fotoluminescência. O diagrama mostra os
níveis de um sistema no qual a energia
Fotoexcitação Luminescência cresce na vertical.

Estado
Fundamental

18
a) Aplicações4
• Determinação de gaps em semicondutores. Nestes materiais podem ser observadas,
a partir da técnica de fotoluminescência, transições entre a banda de condução e a banda de
valência. Aqui a fotoluminescência é extremamente importante na caracterização de novos
semicondutores.
• Níveis de impurezas e defeitos. Transições radiativas em semicondutores podem
envolver níveis de defeitos localizados. A fotoluminescência associada a estes defeitos
pode ser utilizada para estudar defeitos específicos.
• Mecanismos de recombinação. Como discutido acima, durante o processo de
relaxação podem ocorrer tanto processos radiativos quanto processos não-radiativos. A
eficiência da fotoluminescência, e sua dependência nos níveis de foto-excitação e
temperatura estão diretamente relacionados aos mecanismos de recombinação. A análise da
fotoluminescência ajuda a entender e fundamentar a física dos processos de recombinação.
• Qualidade do material. Geralmente processos não-radiativos estão associados a
defeitos, os quais diminuem a qualidade do material e, conseqüentemente, a performance
em dispositivos. Assim, a qualidade do material pode ser medida através dos processos de
recombinação.

5 . Microscopia Eletrônica5
Microscopia eletrônica é uma técnica de caracterização com diversas aplicações na
área de ciência dos materiais. A interação de um feixe de elétrons focalizado em uma
pequena área da amostra gera uma série de sinais que são utilizados para caracterizar
propriedades, tais como, imagem topográfica, composição e informações cristalográficas.

a) Interações do Elétron com a Matéria

• Espalhamento elástico. Este é um processo no qual a direção de propagação do
elétron é alterada mantendo quantidade de energia cinética. Este tipo de espalhamento é
conhecido como espalhamento de Rutheford e é devido à interação coulombiana entre o

4
As aplicações foram retiradas da referência nove.
5
Nesta secção foram utilizadas as referências dez e onze.
19
feixe eletrônico e os elétrons e núcleos atômicos do material. Estes elétrons são
extremamente importantes na microscopia eletrônica, pois estes são os maiores
responsáveis pelos elétrons defletidos e quando transmitidos, em amostras extremamente
finas, estes são os responsáveis pela formação do padrão de difração.
• Espalhamento inelástico. Este é um termo geral que se refere a qualquer processo
no qual o feixe de elétrons incidente perde uma parte de sua energia. Dentre estes
processos, os mais importantes são: espalhamento por fônons, espalhamento por plásmons
e excitação de camadas atômicas.
• Efeitos secundários. São sinais que deixam a amostra após a interação do feixe
eletrônico com a mesma. Estes são constituídos por elétrons e radiações eletromagnéticas.
Os elétrons provenientes destes efeitos podem ser classificados em: secundários,
retroespalhados e Auger. Os primeiros são de baixa energia e são provenientes da interação
do feixe altamente energético com os elétrons de condução ou das camadas atômicas
externas que estão fracamente ligadas. Os retroespalhados são os elétrons que sofrem uma
ou mais colisões elásticas e deixam a amostra pela face de incidência do feixe. Os elétrons
Auger são oriundos de processos de relaxação do átomo, onde um elétron característico do
material é emitido devido ao decaimento de um elétron de maior energia.
As radiações eletromagnéticas se dividem em catodoluminescência e emissão de
raios X. A catodoluminescência ocorre quando um elétron decai para uma vacância
existente em camadas mais externas. Para os raios X, a vacância se localiza em camadas
internas, gerando um fóton de maior energia.

b) Microscopia Eletrônica de Varredura

Nesta técnica, os elétrons responsáveis pelos sinais são tanto os retroespalhados
quanto os secundários. A imagem é montada a partir da varredura da amostra e, deste
modo, o feixe incide em uma pequena área, o sinal coletado é relacionado a um ponto da
imagem e, assim, a imagem é construída ponto a ponto. Dependo dos elétrons utilizados
para formar a imagem, o contraste pode fornecer tanto a topografia quanto a distribuição de
número atômico dos átomos na amostra.

20
 Além da diferença de energia entre os elétrons retroespalhados e secundários, há
também uma dependência diferente em relação ao número atômico dos elementos do
material. O número de elétrons retroespalhados, em relação aos secundários, aumenta muito
mais rapidamente com o numero atômico. Daí, utilizando-se os elétrons retroespalhados,
pode-se obter um contraste químico na imagem. Deve ser ressaltada também a forma pela
qual a detecção é realizada. Os retroespalhados são coletados e têm a sua energia cinética
aumentada de forma a ionizar um cintilador direcionado a uma fotomultiplicadora. Para os
secundários podem ser utilizados tanto cintiladores e fotomultiplicadoras quanto detectores
de estado sólido, que detectam uma corrente devido à criação de pares elétron-buraco em
conseqüência da interação do elétron com o semicondutor do detector.

c) Microscopia eletrônica de Transmissão

Em todos os mecanismos de contrate desta técnica, o sinal coletado é proveniente
dos elétrons transmitidos. É importante destacar que os elétrons que passam pela abertura
da objetiva é que contribuem para a formação da imagem. Tal processo está mostrado na
figura I-13. No modo imagem, a lente intermediária está focalizada na imagem do objeto.
Já para observar o padrão de difração, a lente intermediária é focalizada no plano de
difração.
Amostra

Lentes
Objetivas

Plano de Difração Direção de

propagação dos
elétrons

Lentes
Intermediárias

(a) (b)
Figura 1-13 – Objetiva e a primeira lente intermediária. (a) Modo imagem: as lentes intermediárias
aumentam o tamanho da imagem. (b) Modo difração: as lentes intermediárias são refocalizadas no
plano de difração.
21
 Um importante mecanismo de contraste é o que fornece como informação a massa
e/ou a espessura para a formação da imagem. Aqui é fundamental o controle da abertura no
plano de difração, pois parte dos elétrons são barrados e apenas os elétrons defletidos por
um ângulo menor que α são utilizados na construção da imagem. Quanto maior for a massa
e/ou a espessura, mais escuro ficará o ponto correspondente. Tal método está mostrado na
figura I-14.

(a) (b)
Amostra

Lente
Objetiva

Abertura

Figura 1-14 – (a) A abertura da objetiva impede a passagem de elétrons que foram espalhados com
um ângulo maior que α. (b) Elétrons espalhados em diferentes pontos da amostra. Quanto maior a
espessura e\ou a massa menor é o número de elétrons que passam pela abertura.

6 . Conclusão
Neste capitulo foram feitas revisões, através da consulta em textos especializados,
da teoria das técnicas experimentais utilizadas no presente trabalho. As principais técnicas
de caracterização usadas neste trabalho foram as pertencentes à família SPM: AFM, PCM,
SSRM. Mas, também foram abordadas as técnicas de MEV, TEM, Difração de Raios X,
Espectroscopia Infravermelha e Espectroscopia de Fotoluminescência.

22
Referências do Capítulo I
[1] R. Howland e L. Benatar, A Practical Guide to Scanning Probe Microscopy, Park
Scientific Instruments (1996).

[2] C. Shafai, D. J. Thomson, M. Simardnormandin, G. Mattiussi, P. J. Scanlon; Appl.

Phys. Lett. 64, 342 (1994)

[3] B. D. Cullity, Elements of X-Ray Diffraction 2o ed, Addison-Wesley (1978)

[4] O. Sala, Fundamentos de Espectroscopia Raman e no Infravermelho, UNESP (1996)

[5] M. L. Boas, Mathematical Methods in the Physical Sciences, John Wiley &Sons (1966)

[6] J. R. Freitas, Modelo para a sorção de cobre em biomassa vegetal usando

espectroscopia de infravermelho, Depto. de Física - UFMG (2002)

[7] M. Tsuboi, J. Am. Chem. Soc. 79, 1351 (1957)

[8] R. Riebau, Photoluminescence Spectroscopy of Strained InGaAs/GaAs Structures,

Physics Department – UMBC (2002)

[9] http://www.nrel.gov/measurements/photo.html

[10] P. J. Goodhew, F. J. Humphreys, R. Beanland; Electron Microscopy and Analysis,

Taylor & Francis (1988)

[11] J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, A. D. Romig Jr., C. E. Lyman, C.

Fiori, E. Lifshin; Scanning electron Microscopy and X-ray Microanalyses, Plenum Press
(1994)

23
 CAPÍTULO II
Produção das Nanoestruturas

Este capítulo trata do processo de produção dos nanofilamentos e nanofitas. Essas

nanoestruturas foram observadas após uma placa de alumínio ter ficado imersa, em solução
de Ácido Metilfosfônico (“MethylPhosphonic Acid” – MPA) em etanol, por um
determinado tempo. O objetivo aqui é estudar como a quantidade e a qualidade das
nanoestruturas variam em função da concentração do ácido e do tempo de imersão da placa
de alumínio na solução. A principal técnica utilizada para a caracterização das amostras foi
a Microscopia de Força Atômica (AFM), mas também foram realizadas imagens de
Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM), de Microscopia Eletrônica de Transmissão
(TEM) e de Microscopia Óptica.
1 . O Ácido Metilfosfônico
O MPA (CH3PO(OH)2) é apenas um dentre os muitos ácidos fosfônicos
conhecidos. O interesse em estudá-lo surgiu a partir de um trabalho realizado com essas
substâncias, onde, naquele momento, o interesse era a formação de Monocamadas Auto-
Construídas (“Self-Assembled Monolayers” – SAMs) para diversas aplicações [1]. Porém,
diferentemente dos outros ácidos, o MPA não apresentou a formação de SAMs e sim de
nanofilamentos. Por isso, naquela ocasião os estudos sobre o MPA foram abandonados e
somente retomados há 3 anos em um projeto de iniciação cientifica.
A diferença entre o MPA, mostrado na figura II-1, e os outros ácidos fosfônicos é o
tamanho da cadeia carbônica. Em particular, o Ácido Octadecilfosfônico (OPA -
CH3(CH2)17H2PO3) possui uma cadeia carbônica bem maior (17 átomos de carbono a
mais). O longo comprimento que estas moléculas possuem e uma separação bastante
definida entre as partes polares (cabeças fosfônicas) e as partes apolares (cadeias
carbônicas) permitem que as mesmas formem monocamadas e/ou bicamadas. Estas são
estruturas bastante organizadas ao longo do maior eixo dessas moléculas [2]. A ausência de
uma grande cadeia carbônica no MPA explica o fato deste não apresentar monocamadas
e/ou bicamadas. Também devido à falta da cadeia carbônica, o MPA apresenta um caráter
polar bem mais acentuado e, conseqüentemente, propriedade higroscópica que lhe
possibilita absorver grandes quantidades de água quando exposto ao ar.

CH3
Cabeça Cadeia Carbônica
OH Fosfônica do OPA
P
O
OH Cabeça
Fosfônica

Figura II-1 – Molécula de MPA, à esquerda e, OPA, à direita, duas substâncias da família dos
ácidos fosfônicos.
25
2 . Resultados Obtidos Anteriormente com o MPA
J. F. Richards [1] foi o primeiro a observar a formação de nanoestruturas de MPA
em alumínio. Para aquele trabalho, o MPA foi obtido da Aldrich Corporation (Greenwood,
SC) e o alumínio era evaporado termicamente em substratos de vidro. A reação era
realizada através da imersão do alumínio em uma solução 8mM de MPA em etanol. O
resultado obtido, para um tempo de imersão de 7 semanas, está mostrado na figura II-2.

Figura II-2 – Imagens de AFM, contato intermitente, obtidas por J. F. Richards [1]. À esquerda, a
topografia e, à direita, a imagem de fase, podem ser, respectivamente, visualizadas.

As nanoestruturas apresentadas na figura II-2 apresentam diâmetros que podem

variar de alguns nanômetros até aproximadamente 200nm. Para as nanoestruturas de
maiores diâmetros, podem ser observados comprimentos de alguns micra e, nos terminais
destas, podem ser vistas ramificações de diâmetros menores, sugerindo que os
nanofilamentos maiores são formados pelos menores.
No trabalho de iniciação cientifica iniciado há 3 anos por Monade Rassa [3], os
procedimentos realizados por J. F. Richards [1] foram repetidos. O etanol utilizado era
obtido através da Synth (99,5%) e o MPA (98+%) através da Alfa Aesar (Ward Hill, MA).
Alguns dos resultados obtidos por Monade Rassa [3] estão mostrados na figura II-3
a seguir.
26
(a)
(b)

30µm

(c) 1µm

(d)

1µm
1µm

(e)

Figura II-3 – Nanoestruturas obtidas por Monade Rassa [3]. (a) Imagens ópticas de uma amostra
crescida sobre vidro. (b) Imagem de SEM de um conjunto de nanoestruturas. (c) imagem de SEM de
uma parte mais plana em um conjunto. (d) Imagem de AFM tridimensional realizada entre os
aglomerados. (e) Imagens de AFM da extremidade de um aglomerado sendo, topográfica, à
esquerda, e fase, à direita.

27
 Apesar dos procedimentos de produção terem sido os mesmos, e as imagens na
figuras II-2 e II-3e estarem na mesma escala, as nanoestruturas, aparentemente, apresentam
formas diferentes. As nanoestruturas presentes na figura II-3 estão mais para nanofitas do
que para nanofilamentos, pois suas dimensões estão próximas de 100nm de largura 30nm
de altura e alguns micra de comprimento. No entanto, analisado-se a imagem de fase das
nanofitas (figura II-3e à direita), percebem-se variações de fase na superfície destas
estruturas, que são aparentemente planas na imagem topográfica, indicando uma certa
organização interna. Uma ampliação da região indicada na figura II-3d à direita está
mostrada na figura II-4, onde também está mostrado um esboço do perfil, identificando
estruturas de até 20nm de largura. Logo estas imagens sugerem que as nanofitas seriam
formadas por nanofilamentos.

Figura II-4 – Imagem de fase das nanoestruturas obtidas por Monade Rassa [3]. A parte indicada,
tanto na imagem de fase quanto no perfil desta, exibe um nanofilamento de 20nm de largura.

28
 Nestes dois trabalhos citados acima [1,3], foram estudados apenas os processos de
produção dessas nanoestruturas. Portanto, uma caracterização destas se fez necessária, uma
vez que estas nanoestruturas poderiam apresentar, além de suas admiráveis morfologias,
propriedades bastante interessantes. Deste modo, no presente trabalho, além de uma
caracterização morfológica mais precisa, também foram realizadas caracterizações ópticas,
estruturais e elétricas.

3 . Preparação das Amostras deste Trabalho

Primeiramente, metaliza-se um substrato de silício ou vidro, por evaporação
térmica, usando alumínio metálico com uma camada de aproximadamente 100nm. O
processo de metalização é realizado em uma metalizadora Coating System Balzers BAE250
que opera em um vácuo de 10-5torr. Uma corrente é aplicada aquecendo um suporte com
alumínio. O alumínio é então fundido e começa a evaporar para o substrato. O substrato é
colocado em um prato giratório de modo a homogeneizar a cobertura. O esquema de
funcionamento da evaporação está mostrado na figura II-5. Após o processo de metalização
os substratos são guardados em placas de Petri devidamente tampadas, mas sob as
condições do ambiente.

Substrato

Al
i

Figura II-5 – Esquema de funcionamento da evaporadora.

29
 O próximo passo é preparar uma solução de MPA em etanol. O substrato
metalizado é imerso nesta solução por um período que pode variar de dois a trinta dias
dependendo da quantidade de nanoestruturas desejadas.
Nas primeiras tentativas de se obter as nanoestruturas, o material utilizado era o
mesmo usado por Monade Rassa [3]. Muitas foram essas tentativas: foram variados a
concentração de MPA e também o tempo de imersão das placas e nenhuma nanoestrutrura
foi formada. Desconfiava-se de um envelhecimento do MPA devido principalmente à
absorção de água do ar. Logo, um novo MPA foi adquirido, do mesmo fornecedor (Alfa
Aesar), e novamente nenhuma nanoestrutura foi observada. Quando o etanol também foi
mudado para Vetec (99,8%), foram obtidas nanoestruturas muito parecidas com os
nanofilamentos de J. F. Richards [1]. Daí uma série de estudos variando-se a concentração
e o tempo de imersão foram realizados. Para estas análises foram utilizadas imagens de
AFM realizadas em um equipamento Veeco Nanoscope IV Multimode SPM.

a) Estudo da Concentração de MPA na Solução

Como nanoestruturas foram obtidas com uma concentração de 8mM de MPA em
etanol; um estudo da concentração em torno deste valor foi realizado. Foram empregadas as
seguintes quantidades de MPA por 20ml de etanol:

• Preparação – 1 (7mM) ⇒ 13,7mg de MPA.

• Preparação – 2 (8mM) ⇒ 15,4mg de MPA.
• Preparação – 3 (9mM) ⇒ 16,9mg de MPA
• Preparação – 4 (10mM) ⇒ 18,9mg de MPA
• Preparação – 5 (12mM) ⇒ 23,9mg de MPA

Os substratos metalizados foram mergulhados nas soluções. Os recipientes, onde as

soluções juntamente com os substratos foram armazenados, eram de vidro e não permitiam
a troca de partículas com o ambiente, mas, no entanto, estavam sob as condições de

30
temperatura do ambiente. Aguardou-se por um período de 13 dias para que estas fossem
retiradas. Feito isto, as amostras eram secadas com nitrogênio pressurizado. Os resultados
foram analisados utilizando-se principalmente a técnica de AFM contanto intermitente, mas
algumas imagens também foram obtidas através da técnica de SEM.
O resultado da primeira preparação está mostrado na figura II-6 da próxima página.
Observa-se na imagem a presença de nanofilamentos com diâmetros que variam de 10 a
50nm e que possuem até alguns micra de comprimento. Nota-se também que os filamentos
não crescem retilineamente e se enrolam uns aos outros formando filamentos de diâmetro
maior.

1µm

Figura II-6 – Nanofilamentos formados a partir da preparação – 1.

A imagem mostrada na figura II-7 exibida na próxima página se refere à

preparação – 2. Analisando estas imagens nota-se que, estruturas um pouco maiores foram
obtidas e estas chegam a ter aproximadamente 200nm de largura.

31
 1µm

Figura II-7 – Nanofilamentos formados a partir da preparação – 2.

Fazendo-se uma ampliação da região indicada pelo quadrado pontilhado da figura

acima (mostrada na figura II-8), nota-se claramente, principalmente na imagem de fase, que
estas estruturas são formadas por filamentos menores.

(a) 500nm (b) 500nm

Figura II-8 – Ampliação da figura II-4. (a) Imagem topográfica. (b) Imagem de fase

32
 O resultado da terceira preparação está mostrado na figura II-9. As imagens das
nanonoestruturas são muito parecidas com as imagens obtidas na segunda preparação. Uma
diferença que pode ser ressaltada é que, no final de cada nanoestrutura, observa-se um
número menor de ramificações de nanofilamentos

1µm

Figura II-9 – Nanofilamentos formados a partir da preparação – 3.

Na quarta preparação, figura II-10a exibida na página sequinte, a concentração de

nanofilamentos com diâmetro de aproximadamente 50nm é muito grande e os
agrupamentos dos mesmos em estruturas maiores ocorrem de uma forma um pouco mais
desorganizada, no sentido de que estas nanoestruturas são bem maiores e bastantes
disformes.
Foi observado também que para uma concentração maior ou igual à quarta
preparação, começam a aparecer regiões escuras na amostra, visíveis quando utilizado um
microscópio óptico (neste caso o acoplado ao equipamento de AFM). Fazendo-se uma
imagem de AFM nestas regiões observa-se a formação de agregados de nanofilamentos que
também crescem de forma bastante desorganizada. Um exemplo de imagem realizada nesta
região está mostrado na figura II-10b.

33
 (a) (b)

1µm 1µm

Figura II-10 – Nanofilamentos formados a partir da preparação – 4. (a) Regiões normais da

amostra. (b) Regiões com grande concentração de nanofilamentos e diferenças topográficas muito
maiores.

Para a quinta preparação utilizou-se uma concentração muito alta de MPA, e

surpreendentemente, a quantidade de nanofilamentos observada foi pequena. Em
contrapartida, observa-se uma enorme quantidade de aglomerados de composição
desconhecida. O resultado está na figura II-11 mostrada abaixo.

1µm

Figura II-11 – Nanofilamentos formados a partir da preparação – 5. Um dos grandes aglomerados

está indicado.

34
 Na amostra desta preparação também foram realizadas imagens de SEM, expostas
nas figuras II-12 mostradas na pagina seguinte. Estas imagens concordam com a obtida por
AFM (figura II-11) de uma amostra proveniente da mesma preparação. Nestas imagens,
podem ser observadas que pequenas quantidades de nanofilamentos e uma grande
quantidade de outras estruturas estão presentes. Na imagem de AFM, estas estruturas são
apenas manchas claras, mas, utilizando-se a técnica de SEM, pode-se facilmente observar
suas formas. Para a aquisição das imagens de SEM foi utilizado um microscópio eletrônico
de varredura de alta resolução FEG-SEM JSM 6330F que pode operar entre 0,1KV a
25KV.
A preparação – 5, ou seja, uma solução 12mM de MPA em etanol, fornece um
limite de concentração para o qual o equilíbrio da reação já está quase que totalmente
deslocado para a formação de outras estruturas.
Foram também utilizadas soluções com concentrações abaixo de 4mM e acima de
16mM de MPA. Na primeira, em um período de 13 dias, nenhuma modificação na
superfície de alumínio foi observada. Para a segunda, durante o mesmo período, o alumínio
depositado no substrato foi totalmente removido e nenhuma nanoestrutura foi observada.
De uma forma geral, no período de 13 dias, um intervalo com concentrações de
MPA em etanol variando entre 7 e 9mM, fornece uma quantidade razoável de
nanofilamentos. Quando um valor de 10mM é utilizado, ainda pode-se observar a formação
de nanofilamentos, mas, outras estruturas um tanto disformes começam a ser observadas.
Quando uma solução de 12mM é preparada, uma pequena quantidade de nanofilamentos é
observada, e outras estruturas disformes passam a ser mais freqüentes. Baseando-se nestes
resultados, quanto maior a concentração de MPA, dentro do intervalo de 7 a 12mM, mais
aglomeradas são as nanoestruturas formadas, chegando a apresentar aglomerados um tanto
disformes para as concentrações próximas a 12mM. Provavelmente isto está relacionado
com a velocidade da reação, no sentido que a formação de nanofilamentos individuais é
favorecida por uma menor concentração. Quando maiores concentrações são utilizadas, os
nanofilamentos não se tornam estáveis sozinhos e vários destes crescem em conjunto
formando os agregados que podem apresentar ramificações de nanofilamentos individuais
ou até, como na quinta preparação, formar aglomerados disformes.

35
(a) (b)

10µm 1µm

(c) (d)

100nm
100nm

(e) (f)

100nm 100nm

Figura II-12 – Imagem de SEM de nanofilamentos formados a partir da preparação – 5. (a) Esta
imagem mostra a pequena quantidade de nanofilamentos e presença de outras estruturas.
(b) Aumento da região ressaltada em ‘a’. (c) Aumento de ‘b’ mostrando um conjunto de
nanofilamentos e outras estruturas um tanto disformes, indicado pela seta. (d) Imagem mostrando um
nanofilamento retilíneo. (e) Acumulado de nanofilamentos formando um feixe. (f) Aumento da
imagem de um feixe de nanofilamentos

36
b) Estudo do Tempo de Imersão do Substrato
Da seção anterior obtém-se que a solução 8mM apresentou uma boa produção de
nanofilamentos. Logo, utilizando-se uma solução com esta concentração de MPA em
etanol, foi estudado como os nanofilamentos evoluem com o passar do tempo. As soluções
foram armazenadas da forma descrita na subseção anterior. Com 12 dias de mergulho, a
amostra apresentou regiões com imagens parecidas com as preparações 1 e 2, que foram
mostradas, na seção anterior, nas figuras II-6 e II-7.
Com 23 dias de imersão, podem ser encontradas várias regiões distintas. O tamanho
médio e quantidade nas nanoestruturas variam de região para região da amostra, conforme
mostram as imagens de AFM na figura II-13 apresentada na próxima página.
Visualmente, pode-se observar, nas coberturas de alumínio, que manchas bastante
escuras começam a surgir. Nessas regiões, as nanoestruturas apresentam uma forma um
pouco diferente, onde se pode ver um grande número de pequenas esferas sobre os
nanofilamentos (figura II-13c).

(a) (b) (c)

1µm 1µm 400nm

Figura II-13 – Nanofilamentos observados em diferentes regiões de uma amostra imersa por vinte
e três dias. (a) Apresenta muitos filamentos de pequeno diâmetro. (b) Apresenta um número menor
de filamentos e estes se agruparam formando filamentos maiores. (c) Os nanofilamentos apresentam
pequenas esferas em suas superfícies.

Para um período maior ou igual a trinta dias de imersão, observa-se que a superfície
da amostra fica quase que totalmente coberta por nanofilamentos como mostra a
figura II-13a. Em certas regiões aparecem enormes quantidades de nanofilamentos
crescidos uns sobre os outros e as imagens destas regiões são semelhantes à mostrada na
37
figura II-10b. Pode ser observado também que as manchas escuras que podem ser vistas a
olho nu e, onde muitas esferas estão presentes sobre os nanofilamentos (figura II-13c),
passam a ocupar áreas maiores do alumino metalizado. Assim esta parece ser a última etapa
do processo de formação, caracterizando o envelhecimento da reação.

4 . Nanofitas e Nanofilamentos
Esta seção trata das semelhanças morfológicas das nanofitas e dos nanofilamentos.
Como visto anteriormente, os nanofilamentos apresentam dimensões bem menores
que as nanofitas e a imagem mostrada na figura II-4 fornece fortes evidências de que as
nanofitas são formadas de nanofilamentos. Comparando os trabalhos realizados por
Monade Rassa [3], J. F. Richards [1] e, posteriormente, no presente trabalho, nenhuma
diferença pôde ser observada nos processos de preparação. Percebe-se então que as
diferenças nas condições da solução, para que cresçam nanofitas, devem ser muito sutis.
Para confirmar esta idéia, em duas das soluções preparadas no presente estudo, foram
coletadas imagens muito interessantes. Na primeira, figura II-14, foram observadas tanto
nanofitas quanto nanofilamentos em uma mesma região.

1µm

Figura II-14 – Imagem de AFM de nanofilamentos e nanofitas crescidos, em 12 dias, em uma

solução 9mM de MPA em etanol.

38
Em outra preparação, onde foi utilizada uma concentração de 10mM de MPA em etanol
foram imersos substratos de silício com alumínio e foram esperados 7 dias. O resultado
obtido é apresentado na figura II-15a.

(b)
(a)

1µm 1µm

Figura II-15 – Imagem de AFM de nanofilamentos (a) e nanofitas (b) crescidos em uma mesma
solução.

Após estes 7 dias novos substratos foram adicionados a solução. Depois de dois dias
de imersão os resultados obtidos, mostrados na figura II-15b, assemelham aos observados
por Monade Rassa [3]. Ou seja, em 7 dias de envelhecimento de uma mesma solução,
mudou o tipo de nanoestrutura crescida sobre o alumínio.
Na solução (9mM) responsável pela produção das nanoestruturas mostradas na
figura II-14, foi adicionado um porta-amostra de TEM coberto por alumínio evaporado.
Este porta amostra consistia de uma tela de cobre com cerca de 3mm de diâmetro.O
equipamento para a obtenção da imagem de TEM foi um microscópio eletrônico de
transmissão de alta resolução HRTEM-JEM 3010 URP operando em 300KV com resolução
pontual de 0,17 nm. Uma das imagens coletadas está mostrada na figura II-16 a seguir.

39
 (a)
(b)
240nm
100nm

50nm

Figura II-16 – Imagens de TEM de nanofilamentos e nanofitas crescidos, em 12 dias, em uma

solução 9mM de MPA em etanol. (a) Nanofita de 240nm de largura apresentando listas de 10nm. (b)
Esboço do perfil da região indicada em ‘a’.

Depois de esperados 12 dias, algumas nanofitas cresceram estendendo-se para os

furos desta tela. Como esta fita deveria apresentar uma altura de cerca de 50nm, o feixe
eletrônico do microscópio de transmissão atravessou facilmente a amostra.
O contraste nesta imagem de TEM está relacionado com a massa. Quanto maior a
densidade e/ou número atômico em uma região, mais escura esta será. Esta imagem se
assemelha muito com a imagem de fase mostrada na figura II-4. Novamente, o contraste
fornecido indica que uma nanofita é formada por uma porção de outras estruturas menores,
agrupadas de uma forma bastante organizada. Estas estruturas menores certamente podem
ser chamadas por nanofilamentos. Além das características morfológicas, das nanofitas e
nanofilamentos tratadas aqui, serão averiguadas no capítulo III outras propriedades fisicas,
tais como: difração de raios X, espectro de infravermelho e fotoluminescência.

40
5 . Tentativa de Crescer Nanoestruturas Alinhadas
A obtenção de nanoestruturas crescidas de uma forma alinhada pode facilitar tanto a
realização quanto as análises de experimentos, e assim, chegar a uma melhor caracterização
das mesmas. Por exemplo, com nanofilamentos alinhados fica muito mais fácil a obtenção
de contatos elétricos, em seus terminais, para realização de medidas elétricas. No presente
trabalho, pretendia-se obter nanoestruturas alinhadas para uma posterior difração de raios
X. Caso fossem obtidas nanoestruturas alinhadas, seria possível estudar as reflexões de
raios X, conhecendo-se a conformação dos planos responsáveis por tais reflexões ao longo
das nanoestruturas.
Com o intuito de obter nanoestruturas crescidas de forma alinhada, trilhas de
alumínio foram fabricadas sob um substrato de silício através da técnica de litografia por
feixe eletrônico. Depois de retirada da solução, a amostra apresentou uma grande
quantidade de nanofilamentos, crescidos principalmente sobre as trilhas de alumínio. Mas
partes destes nanofilamentos apresentaram um crescimento muito interessante.
Na figura II-17, mostrada na próxima página, podem ser vistas as imagens de topografia e
uma ampliação da imagem de fase.
Apesar dos nanofilamentos não terem crescidos de uma forma um pouco mais
organizada, pôde-se observar que estas nanoestruturas crescem principalmente sobre o
alumínio e algumas delas se estendem para fora das regiões cobertas pelo alumínio.
Outra observação que pôde ser feita é que a aderência destas nanoestruturas à trilha
de alumínio é muito maior que a aderência com o substrato de silício. Isto pode ser notado
ao se tentar fazer uma imagem de AFM no modo contato. Como resultado, nenhuma
nanoestrutura foi observada fora das trilhas de alumínio. O que pode ser explicado da
seguinte maneira: quando a sonda varre a amostra no modo contanto, a força lateral entre a
superfície e a ponta é bem maior quando comparada com a essa mesma força no AFM-
contato intermitente. Assim, a sonda varre os nanofilamentos pouco aderidos ao substrato
quando passa pelos mesmos.

41
 1µm
250nm

Figura II-17 – Imagens de AFM de nanofilamentos crescido sob trilhas.

6 . Conclusão
Neste capítulo foram apresentados os estudos realizados a respeito dos processos de
produção das nanoestruturas. A principal observação está relacionada com a quantidade de
nanoestruturas obtidas. Claramente, esta quantidade de nanoestruturas tem uma
dependência forte com a concentração de MPA em etanol, e em função do tempo de
imersão do alumínio. Observou-se que existe uma janela estreita de condições ótimas para
o crescimento das nanoestruturas (concentração ‘C’: 7<C<9mM, tempo ‘t’: 5<t<30 dias).
Portanto, não é possível produzir uma grande quantidade deste material. Muitas das
técnicas experimentais necessárias para se estudar novas estruturas, precisam de uma
quantidade mínima de material que não pôde ser obtida. Como exemplo, de tais técnicas,
temos espectroscopia de ressonância magnética nuclear, e espectroscopia de massa e a
própria difração de raios X.
Uma outra observação igualmente importante é a dificuldade de se obter nanofitas
ou nanofilamentos de uma forma facilmente reprodutível. Esta dificuldade surge da
pequena diferença nas condições da solução para se obter uma ou outra nanoestruturas.

42
Aqui deve ser ressaltado que, nas preparações onde foram obtidas nanofitas, a solução já
haviam sido utilizadas, no mínimo por 7 dias, na produção de nanofilamentos.

43
Referências do Capítulo II
[1] J. F. Richards, Atomic Force Microscopy Studies of Microstructure and Properties of
Self-Assembled Monolayers, Department of Materials Science and Engineering – North
Caroline State University (1997).

[2] G. N. Fontes, A. Malachias, R. Magalhaes-Paniago, B. R. A. Neves, Langmuir 19, 3345

(2003).

[3] M. Rassa, Relatório de iniciação científica – Depto. de Física – UFMG (2002).

44
 Capitulo III
Caracterização das Nanoestruturas

Este capítulo tratará da caracterização óptica, estrutural e elétrica das

nanoestruturas. A caracterizarão óptica foi realizada utilizando-se a técnica de
Fotoluminescência. Para a caracterização estrutural foram utilizadas as técnicas de Difração
de Raios X e Espectroscopia de Infravermelho. O AFM Condutivo (“Scanning Spreading
Resistance Microscopy” – SSRM) foi usado como ferramenta para a caracterização elétrica.
 As nanofitas e nanofilamentos apresentam uma morfologia bastante interessante,
lembrando que, tanto os nanofilamentos quanto as nanofitas apresentam comprimentos na
escala de micra e, diâmetros que variam de 10 a 50nm (nanofilamentos) e ainda, larguras de
100 a 300nm com alturas de 10 a 30nm (nanofitas). Desta forma, estas são nanoestruturas
muito curiosas que conectam dimensões de nanômetros com dimensões na escala de micra
e podem apresentar inúmeras aplicações dependendo de suas propriedades físicas. Nesse
sentido, foram realizados alguns experimentos com o intuito de averiguar quais
propriedades essas nanoestruturas poderiam apresentar e realizar uma melhor
caracterização das mesmas.

1 . Caracterização Estrutural
Depois de produzidas as nanoestruturas, um primeiro objetivo era poder determinar
qual seriam suas estruturas cristalinas. Com a estrutura cristalina em mãos, a caracterização
seria obtida de forma bastante satisfatória, pois uma vez que se conhece a estrutura
cristalina de um material através de cálculos e medidas experimentais, é possível explicar
de uma forma bem fundamentada qualquer propriedade do material. Uma das primeiras
questões a ser resolvida, a partir das estruturas cristalinas, seria a constituição das nanofitas
que, como ressaltado do capitulo anterior, poderiam ser formadas a partir de um
crescimento altamente organizado dos nanofilamentos. Para a caracterização estrutural
foram usadas as técnicas de difração de raios X e espectroscopia de infravermelho.

a) Difração de Raios X
As medidas de raios X foram realizadas no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron
– LNLS. A linha utilizada foi a XRD2 capaz de operar entre 4 e 12KeV equipada com um
espelho de Al, um monocromador duplo Si(111) e um difratômetro 4 círculos Hubber. A
precisão na varredura é de 0,01º em 2θ. A geometria utilizada foi a varredura θ-2θ, onde o
feixe incidente e o difratado estão no mesmo plano e ambos fazem um ângulo θ com a
normal da superfície da amostra. O experimento foi realizado em duas etapas. Na primeira
foram usadas duas amostras produzidas por Monade Rassa [1]. Portanto, estas amostras,
quando verificadas com AFM, apresentavam apenas nanofitas dentre as nanoestruturas. Na
segunda, foram utilizadas amostras produzidas no presente trabalho, que portanto

46
apresentavam, principalmente, nanofilamentos. Uma das amostras foi preparada em forma
pulverizada e outra da maneira como foi retirada da solução, isto é, nanofilamentos
crescidos sobre alumínio metalizado.
• Difração de raios X das nanofitas
Duas amostras diferentes, ambas produzidas por Monade Rassa [1], foram utilizadas
nesta etapa: uma apresentava uma quantidade enorme de nanofitas e a outra uma
quantidade razoável. As amostras foram chamadas respectivamente de nanofitas+ e
nanofitas-.
Nas nanofitas+, muitos agregados podiam ser vistos utilizando-se um microscópio
óptico. As imagens desta amostra foram mostradas na figura II-3 do capítulo anterior. A
difração de raios X desta amostra está mostrada na figura III-1. Neste difratograma pode-se
observar uma região do espectro correspondente a uma parte amorfa (elevação entre 18 e
50 graus), que provém do substrato de vidro.

1
2 3 8
3 2
9
1

7
56
4
6 7
5 8
4 9
10
+
11

Figura III-1 – Difração de raios X da amostra nanofitas+. λ=1.895Å.

47
 Ajustando os picos de raios X, da amostra nanofitas+, com Gaussianas e utilizando
a equação I-6, do capítulo I, que relaciona a largura dos picos com o tamanho das estruturas
que estão espalhando os raios X, e a lei de Bragg (equação I-1) para as distâncias
interplanares, foi construída tabela III-1.

N° 2θ Distância (Å) Tamanho(nm)

1 12,15 8,953 250
2 12,35 8,811 12
3 12,95 8,399 210
4 25,99 4,214 600
5 26,06 4,203 600
6 26,10 4,197 600
7 26,62 4,116 310
8 26,65 4,110 600
9 26,67 4,107 600
10 39,51 2,803 160
11 53,57 2,103 210

Tabela III-1 – Picos de difração da nanofitas+. Distância entre planos em Angstrons, Tamanho de
cristalitos que estão espalhando em nanômetros.

Observando a quarta coluna da tabela III-1, que fornece uma aproximação do

tamanho de cristalitos que estão espalhando os raios X, percebe-se que as estruturas têm
dimensões condizentes com as dimensões das nanofitas (da tabela III-1: ∼220nm, ∼600nm
e ∼12nm). O menor tamanho (12nm) corresponde à altura das nanofitas, enquanto que os
outros tamanhos (220 e 600nm) correspondem à largura e/ou comprimento. Mas, também,
não podem ser descartadas as possibilidades de existência de uma outra fase cristalina que
pode estar presente principalmente nos agregados de nanofitas. A imagem de SEM a seguir
(figura III-2) mostra algumas destas estruturas.

48
 10µm 1µm

Figura III-2 –Imagem de SEM de estruturas que apresentam agregados de nanofitas crescidos de
forma menos comportada

Nas nanofitas-, como a quantidade de material é bem menor, nenhum agregado

pode ser visualizado no microscópio óptico. No entanto, como mostrado na tabela III-2 e na
figura III-3, exibida na próxima página, a quantidade de picos no difratograma é bem maior
que o observado nas nanofitas+.

N° 2θ Distância (Å) Tamanho(nm)

1 2,23 48,694 140
2 3,21 33,841 200
3 6,41 16,941 220
4 9,63 11,293 190
5 10,35 10,506 28
6 12,25 8,877 200
7 12,35 8,804 38
8 12,92 8,420 30
9 12,99 8,377 270
10 15,59 6,986 200
11 19,46 5,606 160
12 31,42 3,499 220
13 39,56 2,802 23
14 48,46 1,275 210

Tabela III-2 – Picos de difração da nanofitas-. Distância entre planos em Angstrons, Tamanho de
cristalitos que estão espalhando em nanômetros.

49
 9
8
1 6 7
2

5
4

1
2 8 12

7
9
6
- 13
10
5 11 14
3
4

Figura III-3 – Difração de raios X da amostra nanofitas-. λ=1.895Å.

O pico em 47,94° não foi ajustado, pois este é proveniente do alumínio que não foi
totalmente consumido nesta amostra. Novamente aqui, o tamanho de cristalitos que
difratam os raios X, exibidos na quarta coluna da tabela III-2, condizem com as dimensões
das nanofitas. O maior tamanho de cristalitos (∼200nm) corresponde à largura das nanofitas
e o menor tamanho de cristalitos (∼30nm) corresponde à altura. Deve ser ressaltado
também o grande tamanho da célula unitária das estruturas que espalham os raios X. O
primeiro pico mostrado na tabela III-2 fornece uma distância interplanar de 48,694Å.

50
 Para explicar a quantidade de picos no difratograma das nanofitas-, apesar da menor
quantidade de material, pode-se lançar mão de duas hipóteses. Uma delas é a de que outras
estruturas cresceram, apesar destas não terem sido observadas no AFM, o que pode ocorrer,
pois, em uma imagem de AFM apenas 10-6 da área total da amostra é observada. Outra
explicação, mais adequada, é que o equilíbrio da reação é facilmente modificado e, então,
alguns agregados cresceram de uma forma menos comportada, como pode ser visto na
figura III-4, e, uma maior quantidade de planos satisfaz a condição de difração (amostra
mais policristalina) e estas estruturas podem, também, apresentar mais de uma fase
cristalina.

(a)
(b)

(c) (d)

Figura III-4 – imagens de AFM da amostra nanofitas-.As barras equivalem a 1µm. (a) Imagem 3D
de um agregado de nanofitas com cerca de 1200nm de altura. (b) Imagem de fase do agregado
mostrado em ‘a’. (c) Imagem de uma região mais plana do agregado. (d) Imagem de fase de ‘c’.

Fazendo-se uma comparação entre os difratogramas mostrados nas figuras III-1 e

III-3, que pode ser visualizada na figura III-5 mostrada na próxima página, observa-se que,
os picos de difração, na região entre 26 e 27° e em 53,57º, presentes nas nanofitas+ estão
ausentes nas nanofitas-. Esta observação sugere fortemente a existência de diferentes fases
51
cristalinas, que podem estar presentes tanto nas nanofitas quanto em outra estrutura não
observadas no AFM. Se um maior caráter policristalino das nanofitas- fosse a única
diferença entre as amostras, os picos citados acima (das nanofitas+) deveriam aparecer nas
nanofitas-. Portanto é clara a existência de diferentes fases cristalinas entre as duas
amostras.

Figura III-5 – Difração de raios X das nanofitas+ e nanofitas-. λ=1.895Å.

• Difração de raios X dos nanofilamentos

As amostras utilizadas aqui foram produzidas no presente trabalho. Uma das
amostras foi preparada em forma pulverizada, onde raspou-se várias amostras com
nanofilamentos crescidos sobre alumínio metalizado em vidro (nanofilamentos I). A outra
amostra foi usada da maneira como foi retirada da solução, isto é, nanofilamentos crescidos
sobre alumínio metalizado, neste caso, em um substrato de silício (nanofilamentos II). Os
difratogramas estão mostrados na próxima página na figura III-6. Como para o caso das
nanofitas, utilizando-se as equações I-1 e I-6, uma tabela também foi construída. Esta tabela
pode ser visualizada na página seguinte e mostra as posições dos picos, as distâncias

52
interplanares correspondentes e o tamanho médio dos cristalitos que estão espalhando os
raios X.
Nos nanofilamentos I, nota-se claramente duas escalas para o tamanho das
estruturas, uma com uma dezena de nanômetros e outra com uma centena de nanômetros.

3
4
1 2 5 6
7
3
4 5
2 6
9
7
8 10

Figura III-6 – Difração de raios X dos nanofilamentos. Nanofilamentos I, amostra pulverizada.

Nanofilamentos II, nanoestruturas crescidas sob alumínio. Os picos do alumínio estão indicados pelas
setas. λ=1.909Å.

Nanofilamentos II Nanofilamentos I
N° 2θ Distância (Å) Tamanho(nm) 2θ Distância (Å) Tamanho(nm)
1 14,42 7,605 130 17,57 6,250 22
2 29,06 3,805 120 21,04 5,228 21
3 31,63 3,502 130 31,95 3,468 7
4 32,15 3,447 10 36,71 3,031 4
5 34,00 3,265 110 45,29 2,479 60
6 37,08 3,002 13 53,43 2,123 7
7 41,10 2,719 180 63,45 1,815 7
8 53,49 2,121 9
9 63,47 1,815 9
10 66,01 1,752 110

Tabela III-3 – Picos de difração da nanofitas-. Distância entre planos em Angstrons. Tamanho de
cristalitos que estão espalhando em nanômetros.

53
 Os picos que correspondem aos cristalitos com cerca de uma dezena de nanômetros
são certamente provenientes dos nanofilamentos. Já os picos que correspondem a partículas
maiores são provenientes de fases cristalinas presentes nos agregados de nanofilamentos.
Tais agregados apresentam umas poucas centenas de nanômetros na altura e foram
as únicas estruturas, nesta escala de tamanho, observadas por AFM nas amostras. A
ausência destes picos na amostra pulverizada pode ser devida a destruição destas fases
durante o processo de raspagem, indicando que estas estruturas seriam estáveis somente nos
agregados quando estes estão sobre o substrato. Esta hipótese, que se baseia no
envelhecimento precoce da amostra, deve ainda ser verificada: quando pulverizadas, os
agregados ficaram em contato com o ar ambiente, o que poderia acelerar o processo de
envelhecimento, por exemplo, por uma absorção de água e/ou por oxidação. Este processo
poderia ser particularmente provável se as moléculas dessas estruturas apresentarem
propriedades próximas das propriedades das moléculas de MPA.
• Nanofilamentos e nanofitas
Chegar a estruturas de compostos através da difração de raios X em policristais é
uma tarefa relativamente difícil, até mesmo quando se têm compostos relativamente puros e
com pequenas orientações preferenciais. Nas últimas décadas, com o crescente uso de
programas especializados, a tarefa de determinação de estruturas pela difração de raios X
de policristais tem se tornado menos árdua e cada vez mais utilizada [2].
No entanto, determinar as estruturas cristalinas dessas nanoestruturas através da
técnica de difração de raios X de policristais até agora tem se revelado impraticável. Os
principais fatores responsáveis por isso são: a difícil obtenção de uma quantidade suficiente
de material, para preparar as amostras de uma forma pulverizada satisfatória e a fácil
alteração do equilíbrio da reação gerando outras fases estruturais, que além de tudo,
parecem não ser estáveis ao processo de pulverização. Deste modo, não foi possível realizar
nem o primeiro passo nesse processo de determinação de estrutura, que é a obtenção da
célula unitária.
A titulo de comparação, estão mostrados em conjunto na figura III-8 os quatro
espectros de difração, nanofitas+, nanofitas-, nanofilamentos I e nanofilamentos II. Nota-se,
claramente, que não há muita semelhança entre os difratogramas das nanofitas e
nanofilamentos. Excluindo o pico do alumínio, por volta dos 48º, que aparece em três das

54
amostras, as únicas semelhanças são a existência de nanoestruturas em duas escalas de
tamanho (~10nm e ~100nm), e o pico estreito com d≈3,50Å em coincidência nas nanofitas-
e nanofilamentos II.

Figura III-8 – Difração de raios X dos nanofilamentos (λ=1.909Å) e nanofitas (λ=1.895Å).

No capitulo II, apresentou-se a hipótese de que as nanofitas seriam formadas por

nanofilamentos. Hipótese esta levantada devida principalmente às imagens de fase obtidas
por AFM e pelas imagens de microscopia eletrônica de transmissão. A difração de raios X
mostrou que nanofitas e nanofilamentos não apresentam a mesma estrutura. Mas ainda sim,
isso não exclui a possibilidade de nanofitas serem formadas a partir de nanofilamentos. O
que poderia ocorrer é uma transição de fase quando filamentos crescem juntos para formar
uma fita.

b) Espectroscopia de Infravermelho
Para a realização das medidas de infravermelho, utilizou-se um espectrômetro FTIR
Nicolet Nexws470 com um detector de HgCdTe acoplado a um microscópio de reflexão
Centaurus com um aumento de 10X, uma fonte de SiC, um ‘beam splitter’ de KBr. As
amostras eram raspadas sob uma lâmina de vidro. Desta forma, com o aumento do
microscópio, era possível focalizar o feixe de infravermelho em um único grão produzido
pelo processo de raspagem. O sinal era coletado por reflexão do feixe incidente na amostra.
Anteriormente à coleta dos dados, era realizada uma medida de referência. Assim, todas as

55
medidas de infravermelho apresentadas aqui já tiveram a referência subtraída. Desta forma,
o sinal é proveniente apenas da amostra e das eventuais alterações do ar do laboratório, o
que é facilmente identificável, pois o principal responsável é o gás carbônico, proveniente
da respiração.
Foram coletados espectros de infravermelho das nanofitas e nanofilamentos e
também foram obtidos, da referência [3], outros espectros utilizados para a comparação.
Todos estes espectros estão mostrados na figura III-9.
A qualidade do espectro dos nanofilamentos relativamente às nanofitas é muito pior,
mas a quantidade de material em um agregado de nanofilamentos chega a ser da ordem de
1000 vezes menor que nas nanofitas.

Figura III-9 –Infravermelho das nanofitas, nanofilamentos, dietil metilfosfonato (DEMP)[3],

MPA[3] e etanol[3].

56
 Ao se comparar os espectros das nanofitas e nanofilamentos observa-se,
primeiramente, a presença de água e etanol nas nanofitas e não nos nanofilamentos. Esta
presença é justificada pelas bandas em torno de 1620 e 3350 cm-1 características da água,
da banda em 3690cm-1 característica do etanol e das bandas entre 2800 e 3000Cm-1 que são
derivadas principalmente do etanol. Pode-se também excluir a possibilidade de MPA em
ambas as nanoestruturas, pois, não se observa a presença da banda larga característica do
MPA em torno de 2700cm-1.
O dietil metilfosfonato (DEMP) é um composto com uma molécula muito parecida
com o MPA onde a única diferença é a substituição dos átomos de hidrogênio ligados aos
átomos de oxigênio, por radicais etil (CH3PO(CH3CH2O)2 – DEMP). Essa diferença causa
um deslocamento do modo νP=O (1250cm-1no MPA) de cerca 21cm-1, para mais altas
freqüências no DEMP em relação ao MPA. Isso pode ser explicado pelo movimento de
carga para a ligação P=O, tornando essa ligação mais forte e causando uma maior
estabilidade do grupo PO3. Esse deslocamento também ocorre com os nanofitas em relação
ao MPA e fornece fortes evidências de que uma reação ocorre com o MPA substituindo
seus átomos de hidrogênio por outros grupos que também estabilizam o grupo PO3. Além
disso, os modos entre 1070 e 1200cm-1, devido a vibrações do grupo PO3, são ativos no
MPA, provavelmente devido ao seu grande caráter polar, e não aparecem nas nanofitas e
nem no DEMP. Nas nanofitas também se observa uma banda em 1320cm-1 proveniente do
modo νP-CH3. Com essas observações pode-se concluir que a única modificação na
molécula de MPA, para a formação das fitas, é a substituição dos átomos de hidrogênio,
ligados aos átomos de oxigênio, por outros átomos.
Nos nanofilamentos, o modo νP=O é bastante largo cobrindo tanto as freqüências
de um grupo PO3 menos polar (como no DEMP) quanto de um ainda muito polar. A parte
polar pode estar vindo das estruturas presentes nos agregados. O que concordaria com a
questão da absorção de águas das estruturas destes agregados quando raspados para a
difração de raios X, como discutido na seção anterior. Também corroborando com a
observação de que estruturas mais polares estariam presentes nos agregados de
nanofilamentos, os modos PO3 entre1070 e 1200cm-1presente no MPA (caráter polar)
apesar de não estarem bem definidos nos nanofilamentos, poderiam estar gerando um
ombro em torno 1150cm-1 na banda à esquerda desta região. Vale ressaltar que este ombro

57
não está presente nas nanofitas e nem no DEMP. No espectro de infravermelho dos
nanofilamentos observa-se, apesar de ser pouco intensa, uma banda em 1320cm-1,
proveniente do modo νP-CH3.
A semelhança nos espectros de infravermelho dos nanofilamentos e nanofitas está
principalmente na larga banda entre 630 e 1100cm-1, que corresponde a modos νPO2, νPO3,
νC-C e νC-O, havendo uma dificuldade muito grande em separar a contribuição de cada
um destes modos para a formação da banda. Pode-se observar também que, a banda
νP-CH3 está presente tanto nas nanofitas quanto nos nanofilamentos, mesmo que nestes,
esta banda seja muito pequena, devido a pior qualidade do espectro. Com estas
semelhanças, pode-se concluir que as nanofitas têm um uma natureza muito parecida com a
dos nanofilamentos, pelo menos do ponto de vista das moléculas presentes, e não das
estruturas cristalinas como foi visto na difração de raios X.

2 . Caracterização óptica.
Para a caracterização óptica foi utilizada a técnica de fotoluminescência. Foi usado
um Laser Coherente de argônio λ=488nm, um filtro passa-baixa de 515nm impedindo que
o comprimento de onda do laser atingisse o fotodetector. O monocromador e controlador
utilizados foram Apex-CD2A. Foram realizados experimentos com o MPA, nanofitas e
nanofilamentos. Os resultados estão mostrados na figura III-11.

Figura III-11 – Fotoluminescência das nanofitas, nanofilamentos e MPA.

58
 Na fotoluminescência, das nanoestruturas produzidas no presente trabalho, foram
observados picos característicos, o que é um resultado muito interessante segundo dois
aspectos. Primeiramente, do ponto de vista físico, esta fotoluminescência implica em uma
recombinação radiativa e não uma relaxação, dos elétrons excitados, apenas por fônons
criados na rede. E do ponto de vista tecnológico, estas nanoestruturas poderiam ser
utilizadas na fabricação de dispositivos e sensores ópticos. Principalmente com as
dimensões apresentadas por estas nanoestruturas.
O pico de fotoluminescência das três estruturas (figura III-11) é praticamente o
mesmo, apenas uma pequena diferença é observada nas nanofitas. O pico de emissão dos
nanofilamentos e do MPA está em torno 553nm o que equivale a 2,24eV. Já o pico das
nanofitas está 530nm ou 2,34eV. Como se pode ver, a auto-construção dessas
nanoestruturas praticamente não altera a largura da banda proibida do MPA. Este resultado
sugere que estas nanoestruturas são péssimas condutoras a temperatura ambiente.
É interessante ressaltar aqui a grande eficiência da emissão óptica dessa
nanoestruturas. Muitas das técnicas de caracterização de novos materiais não puderam ser
utilizadas devido à pequena quantidade de material, no entanto a fotoluminescência destas
nanoestruturas foi facilmente obtida. Para o caso das nanofitas, onde a quantidade de
material é maior e, utilizando-se um óculos que corta o comprimento de onda do feixe, a
fotoluminescência pode ser vista a alho nu.
Também foi observado que a fotoluminescência dessas nanoestruturas vai ficando
menos eficientes com o passar do tempo (meses). Este efeito está diretamente relacionado
com algum processo de envelhecimento.

3 . Caracterização Elétrica.
Para realizar a caracterização elétrica foi utilizada a técnica de AFM condutivo
(“Scanning Spreading Resistance Microscopy” – SSRM), usando um equipamento
NT-MDT Solver Pro SPM As varreduras são realizadas utilizando-se o modo contato com
uma tensão constante aplicada entre a sonda e a amostra. Para que se possa medir alguma
corrente, uma sonda recoberta com um metal é usada. Esta é uma técnica com resultados
dificilmente reprodutivos, pois, soma-se ao difícil contato elétrico entre a sonda e a amostra
(devido à escala de tamanho da ponta), a facilidade da cobertura metálica ser removida

59
durante a varredura. Desta forma, sondas com constante de mola baixo (∼0,1N/m) têm uma
melhor performance.
Para a realização das varreduras de SSRM foram utilizados substratos de vidro
cobertos com alumínio onde se observavam alguns defeitos na cobertura. Assim, haviam
degraus na interface alumínio-vidro e algumas nanoestruturas cresceram para o vidro a
partir do alumínio. Utilizando tinta prata, foram feitos contatos elétricos macroscópicos no
alumínio. Deste modo, se obteve a condição ideal para as medidas de SSRM. Os resultados
estão mostrados na figura III-12 da pagina seguinte.
A tensão aplicada entre a sonda e a amostra foi de 10V e, apesar disso, a corrente
medida no alumínio foi de 70pA. Assim o contato entre a sonda e amostra apresenta uma
resistência da ordem de 102GΩ. Ainda assim, é possível observar que as nanoestruturas
apresentaram uma condutividade maior que o vidro e menor que o alumínio. Deste modo
esta nanoestruturas apresentam um caráter intermediário entre isolante e condutor. A região
que mais chamou a atenção foi à indicada pela seta na imagem de SSRM, onde, as
nanoestruturas não estão sob o alumínio e, é observada uma condutividade diferente da do
vidro.

Figura III-12 – SSRM de uma nanoestrutura. À esquerda, imagem topográfica, e, à direita,

imagem de SSRM. O contraste da imagem topográfica é de 0 a 300nm. Na imagem de SSRM, o
branco e o vermelho correspondem ao Al, o verde às nas nanoestruturas e o azul ao vidro. O branco
indica uma corrente de 70pA e o azul 0pA. As barras equivalem a 1µm.

60
 Para calcular a resistência de uma nanoestrutura, como as resistências estão em
serie, basta calcular a resistência R2 em um ponto da nanoestrutura e subtrai-la da
resistência R1 da região do alumínio exatamente ao lado da nanoestrutura. Na figura III-13
está mostrando o perfil indicado na imagem de SSRM na figura III-12 acima.

Figura III-13 – Perfil da imagem de SSRM da figura II-11. R1 indica a resistência em ponto do
alumínio. R2 indica a resistência em um ponto da nanoestrutura.

Calculando-se, então, a resistência da nanoestrutura R2-R1, um valor de 102GΩ foi

obtido, mostrando que essas nanoestruturas apresentam, realmente, uma condutividade
muito baixa, pelo menos à temperatura ambiente.

4 . Conclusão
Neste capitulo foram apresentadas as caracterizações estruturais, ópticas e elétricas
das nanoestruturas abordadas no presente trabalho.
Na caracterização estrutural foram utilizadas as técnicas de difração de raios X e
espectroscopia de infravermelho. Nesta etapa, foi obtido que essas amostras apresentam um
certo caráter cristalino e que pelo menos por enquanto, não foi possível a resolução da
estrutura pela difração de policristais, devido a fatores como: pouca quantidade de material
e a forte orientação preferencial. As nanofitas apresentam uma estrutura diferente dos
nanofilamentos, mas segundo o infravermelho, ou seja, do ponto de vista das moléculas,
estas nanoestruturas são relativamente parecidas. Os resultados de espectroscopia de
infravermelho sugerem que a única modificação observada nas ligações da molécula de

61
MPA depois de formadas ambas as nanoestruturas, foi à substituição dos átomos de
hidrogênio nos grupos OH por outros radicais.
A caracterização óptica foi realizada através da técnica de fotoluminescência, que
revelou uma emissão das nanoestruturas muito próxima da emissão do MPA. Fornecendo
uma distância entre bandas de aproximadamente 2,3eV. Aqui, mais uma vez, os
nanofilamentos apresentaram propriedades muito próximas das nanofitas.
Foi abordado também o envelhecimento das nanofitas, observado através de uma
redução da fotoluminescência.
Na caracterização elétrica, onde se utilizou a recente técnica de AFM condutivo, e
foi observado que estas nanoestruturas apresentaram uma baixa condutividade, pelo menos
a temperatura ambiente, intermediária entre um metal e um isolante.
Umas das questões altamente pertinentes, que não pôde ser respondida no presente
trabalho, é de como ocorre a participação do alumínio na formação das nanoestruturas. Será
que este é apenas um catalisador ou entra na estrutura das nanofitas e /ou nanofilamentos?
Essa pergunta poderia ser respondida estudando-se a coordenação no alumínio presente na
amostra, o que pode ser feito, através da técnica de ressonância nuclear magnética.
A espectroscopia de massa atômica é outra técnica que poderia ser utilizada para
fornecer mais informações a respeito das partes moleculares que formam estas
nanoestruturas, mas nesse casso, a pequena quantidade de material produzida pode ser um
grande obstáculo.

62
Referências do Capítulo III
[3] M. Rassa; Relatório de iniciação científica – Depto. de Física – UFMG (2002).

[2] W.I.F. David, K. Shankland, L.B. McCusker, C. Baerlocher; Structure Determination

from Powder Diffraction Data, Oxford University Press (2002)

[3] http://webbook.nist.gov/chemistry

[4] F. Berger, E. Brunol, R. Planade, A. Chambaudet; Thin Solids Films 436, 1 (2003)

[5] J. M. Bowen, C. R. Powers, A. E. Ratcliffe, M. G. Rockley, A. W. Hounslow; Environ.

Sci. Technol. 22, 1178 (1988)

[6] B. Aurian-Blajeni, M. M. Boucher; Langmuir 5, 170 (1989)

[7] R. D. Ramsier, P. N. Henriksen, A. N. Gent; Surface Science 203, 72 (1988)

63
 CONCLUSÕES

Com os estudos realizados a respeito dos processos de produção das nanoestruturas,

conclui-se que a quantidade de nanoestruturas obtidas depende fortemente da concentração
de MPA em etanol e do tempo de imersão do substrato com alumínio. Observou-se que
existe uma janela estreita de condições ótimas para o crescimento das nanoestruturas.
Portanto, não foi possível, até agora, produzir uma grande quantidade deste material, o que
inviabiliza a utilização de algumas técnicas experimentais necessárias para se estudar novas
estruturas. Como exemplo de tais técnicas, temos a espectroscopia de Ressonância Nuclear
Magnética, a Espectroscopia de Massa e o próprio Raio X.
Foi observada também uma grande dificuldade de se obter nanofitas ou
nanofilamentos de uma forma facilmente reprodutível. Esta dificuldade surge da pequena
diferença nas condições da solução para se obter uma ou outra nanoestrutura. No presente
trabalho, as preparações onde foram obtidas nanofitas, as soluções já haviam sido
utilizadas, no mínimo por 7 dias, na produção de nanofilamentos.
Na caracterização estrutural foram utilizadas as técnicas de difração de raios X e
espectroscopia de infravermelho. Nesta etapa, foi obtido que essas amostras apresentam um
certo caráter cristalino e que, pelo menos por enquanto, não foi possível a resolução da
estrutura pela técnica de difração de policristais, devido a fatores como: pouca quantidade
de material e a forte orientação preferencial. As nanofitas apresentam uma estrutura
diferente dos nanofilamentos, mas segundo o infravermelho, ou seja, do ponto de vista das
moléculas, estas nanoestruturas são relativamente parecidas. Os resultados de
espectroscopia de infravermelho sugerem que a única modificação observada nas ligações
da molécula de MPA depois de formadas ambas as nanoestruturas, foi à substituição dos
átomos de hidrogênio nos grupos OH por outros radicais.
A caracterização óptica foi realizada através da técnica de fotoluminescência, que
revelou uma emissão das nanoestruturas muito próxima da emissão do MPA. Fornecendo
uma distância entre bandas de aproximadamente 2,3eV. Aqui, mais uma vez, os
nanofilamentos apresentaram propriedades muito próximas das nanofitas.
Foi abordado também o envelhecimento das nanofitas, observado principalmente
através de uma redução da eficiência da fotoluminescência.

64
 Durante a caracterização elétrica, onde se utilizou a recente técnica de AFM
condutivo, foi observado que estas nanoestruturas apresentaram uma baixa condutividade,
pelo menos à temperatura ambiente, intermediária entre um metal e um isolante.
Umas das questões altamente pertinentes, que não pôde ser respondida no presente
trabalho, é de como ocorre a participação do alumínio na formação das nanoestruturas. Será
que este é apenas um catalisador ou entra na estrutura das nanofitas e /ou nanofilamentos?
Essa pergunta poderia ser respondida estudando-se a coordenação no alumínio presente na
amostra, o que poderia ser feito através da técnica de ressonância nuclear magnética. Outra
técnica que poderia resolver este problema é a espectroscopia de fotoelétrons. Apesar de
não apresentadas no presente trabalho, foram realizadas algumas medidas, mas não se pôde
chegar a um resultado conclusivo.
A espectroscopia de massa atômica é outra técnica que poderia ser utilizada para
fornecer mais informações a respeito das partes moleculares que formam estas
nanoestruturas, mas nesse caso, a pequena quantidade de material produzida pode ser um
grande obstáculo.
Para a continuação do trabalho é necessária uma melhor caracterização elétrica,
principalmente com a realização de curvas I(v) destas nanoestruturas. Estudos da
preparação, controlando outros parâmetros, tais como temperatura e pureza do etanol e
MPA, com o objetivo de se obter de forma reprodutiva nanofitas ou nanofitas. Um outro
desafio é a obtenção de quantidades suficientes de material para realização de experimentos
que possibilitem a uma melhor caracterização estrutural. Por exemplo, trocando o alumínio
metalizado por pó de alumínio nas soluções de etanol e MPA.

65