Escuela Politcnica Nacional

Facultad de Geologa y Petrleos

Geoqumica fsica
Nombre: Cristhian Chamba.
Tema: MTODOS DE ANLISIS MINERAL

Ha medida como avanza la tecnologa tambin ha mejorado el anlisis de los minerales,

que han causado una gran curiosidad por el ser humano ya sea por sus propiedades
pticas como tambin por la dureza entre otras cosas. El mtodo que inicio con el
estudio de los minerales fue los rayos X, que permiti observar de una manera ms
detallada la estructura interna de estos de tal manera se consigui lograr una
clasificacin de los minerales.
De igual maneral se realizaron estudios que permitieron dar una clasificacin de los
minerales por su dureza o sus propiedades pticas entre otras propiedades, ahora
vamos a explicar de manera resumida el funcionamiento y aplicacin de algunos
mtodos de anlisis mineral, como son el microscopio electrnico de barrido,
microsonda electrnica, etc.

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO (SEM)

El funcionamiento del SEM es hacer incidir un haz de electrones acelerados siguiendo
una trayectoria de forma paralela en la muestra, resultado de esta interaccin se
generan electrones retro dispersados y electrones secundarios, siendo el primer
resultado de la colisin y reflexin de los electrones incididos con los tomos de la
muestra. El detector recoge la seal, la amplifica en cada posicin que se ubica la sonda,
la intensidad es controlada por un tubo de rayos catdicos, generando una imagen
topogrfica de la muestra.
Para obtener una imagen en 3D se utilizan los electrones secundarios, mientras que para
obtener una diferencia entre la composicin qumica se emplean los electrones retro
dispersados generando una imagen de diferente contraste. La imagen depende del
aumento que posea el microscopio, como un ejemplo se puede incidir el haz de
electrones en un rea de 3 mm2, la imagen resultante tendr un rea de 300 mm2, es
decir fue ampliada 100 veces su rea original. Tambin es mayormente usado en la
mineraloga y en micropaleontologa.

MICROSONDA ELECTRONICA.
Est enfocado en rea muy pequea que va a ser caoneada por electrones, resultado
de esta interaccin obtenemos Rayos X, estos sern estudiados en su intensidad y
longitud de onda, para identificar los elementos que estn en nuestra muestra se hace
un anlisis cualitativo, en cuanto a la composicin se realizara un anlisis cuantitativo,
la composicin se calcula a partir de las intensidades y corregida por la matriz de
correcciones que toma en cuenta la intensidad y la composicin.
Para grabar el espectro de Rayos X se utiliza el espectrmetro de dispersin de
longitudes de onda, que como su nombre lo indica toma en cuenta la longitud de onda,
pero seleccionando una a la vez. Tambin se utiliza el espectrmetro de dispersin de
energa, que analiza la altura del pulso electrnico determinando as la energa de los
Rayos X. Para este mtodo se necesita que nuestra muestra este pulida y tenga cierto
grosor, se ubica en la platina con unas coordenadas, de esta manera se asegura que el
flujo de Rayos X sea constante.
Se diferencia del SEM ya que este se enfoca en que el anlisis cuantitativo sea ms
preciso mientras que el microscopio electrnico de barrido su prioridad es crear
imgenes topogrficas con buena resolucin.

ESPECTROMETRA DE MASAS DE IONES SECUNDARIOS (SIMS)

Es una tcnica de anlisis bien sensible y completa para caracterizar muestras solidas
tiene varias ventajas por hablar de algunas serian: no requiere de preparacin la
muestra, analiza todo tipo de muestras slidas, tcnica no destructiva, etc. El SIMS es
mayormente aplicado en la caracterizacin de materiales estructurados, geocronologa,
etc.
Su funcionamiento se basa en usar iones primarios que se aceleran y colisionan con la
superficie de la muestra, al ser acelerados estos iones poseen una energa cintica que
afecta a las capas externas del material, esta interaccin genera los iones secundarios y
estos generas informacin cualitativa y cuantitativa referente a la composicin
isotpica, atmica, molecular.
El SIMS es el mtodo que permite explotar el potencial del espectrmetro de masa,
teniendo varias aplicaciones como es la obtencin de perfiles de concentracin en
profundidades y tambin la generacin de imgenes qumicas, tomando seal de inters
del espectro de masas en funcin de las coordenadas espaciales.

ESPECTROMETRIA DE MASAS CON PLASA ACOPLADO INDUCTIVAMENTE (ICP-MS)

Es una variedad del espectrmetro de masas cuya ventaja reside en una alta precisin,
costo econmico bajo y bajo lmite de deteccin, su funcionamiento es analizar los
elementos e isotopos de la tabla peridica en lixiviados de roca o minerales, permitiendo
analizar tierras raras, metales, semimetales, fsiles, etc.
Su alta precisin se debe a que cuenta con dos tcnicas de anlisis: obtiene una matriz
libre de interferencias debido al ionizacin del plasma y tambin la relacin entre la
seal intensidad debido al espectrmetro de masas.
La preparacin de las muestras cuando se trata de rocas se utilizan cidos minerales que
se combinan para disolver totalmente la muestra, hay que tomar en cuenta que la
solucin puede contaminarse y esta puede ser: al ser molida o con los cidos usados.

ABLACIN LSER ACOPLADA A LA ESPECTROMETRA DE MASAS CON FUENTE DE PLASMA DE

ACOPLAMIENTO INDUCTIVO
Este mtodo nos ayuda a conocer como estn distribuidos los elementos espacialmente ya sea
lateral o en profundidad. Comparando con otros mtodos de analticos con buena resolucin
espacial el LA-ICP-MS presenta algunas ventajas como es su rapidez, no hay restricciones en
cuanto a la geometra de la muestra y la posibilidad de medir en grandes reas de la muestra,
debido a que se combina la espectrometra de masas con fuente de plasma y la resolucin
espacial de un haz laser.
La resolucin vertical est condicionada por el dimetro del impacto del lser, la velocidad de
rastreo, ya que las seales pueden ser mezcladas y no se puede establecer las partes que se dan
por difusin o fenmenos de fragmentacin.
En cuanto a la resolucin de profundidad o vertical se hace incidir el lser repetidamente en una
misma posicin, esto nos dar una mejor imagen en cuanto a la profundidad de la muestra.
Tambin se debe tomar en cuenta los isotopos que se tom en el ICP-MS.

Fluorescencia de los Rayos X

Es un mtodo utilizado para analizar qumica o analticamente los elementos, es independiente
al analizar polvos, slidos o lquidos, tiene una precisin y una exactitud muy buena para el
anlisis, es utilizado en la geoqumica, arqueologa, etc.
Su funcionamiento consiste en inducir Rayos X de longitud de onda corta en un material, esto
produce que los electrones que estn en un orbital interno salgan haciendo que los electrones
que estn en un orbital superior desciendan, generando energa y el valor de esta energa es la
diferencia entre los orbitales involucrados, la fluorescencia es la absorcin de esta energa.
la radiacin que se produce se hace incidir en un cristal analizador que difracta en un ngulo y
se aplica la ley de Bragg. Con este mtodo detectamos la intensidad de radiacin y la longitud
de onda especifica.

Bibliografa
http://www.scai.uma.es/servicios/aqcm/aml/files/stacks_image_ABBBD19C-E54C-4C6C-8E4B-
7D715B29C514_77_5.pdf

http://www2.uned.es/cristamine/mineral/metodos/sem.htm
https://www.uam.es/personal_pas/txrf/icpms.html

https://www.google.com.ec/url?sa=t&rct=j&q=&esrc=s&source=web&cd=1&cad=rja&uact=8&
ved=0ahUKEwi4_8C75PrXAhXCWRQKHWLhDZ4QFggmMAA&url=http%3A%2F%2Frevistademe
talurgia.revistas.csic.es%2Findex.php%2Frevistademetalurgia%2Farticle%2Fdownload%2F542
%2F548&usg=AOvVaw1KQff5-cAKRJi31uB-vxJE