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Nicols de Hidalgo
Facultad de Ingeniera Qumica
Anlisis Instrumental
Microscopia electrnica de barrido
Profesora: Dra. Ma. Elena Nez Gaytn
Mdulo 3
Seccin 2
Alumnos:
Benjamn Reyes Alfaro; 1129364E
Kevin Fernando Barrera Tinoco; 1423897X
Microscopia electrnica de barrido
La microscopia electrnica de barrido (MEB o SEM, por sus siglas en ingls) es un
tipo de microscopia electrnica que produce imgenes de una muestra
escaneando la superficie al enfocar un haz de electrones. Los electrones
interactan con los tomos de la muestra, generando varias seales que
contienen informacin acerca de la composicin y topografa superficial de la
muestra. Este tipo de microscopio puede lograr una resolucin mejor que 1
nanmetro. Los especmenes pueden ser observados en alto vaco utilizando un
SEM convencional, as como tambin en un amplio rango de temperaturas con
instrumentos especializados.
El modo ms comn de un SEM es la deteccin de electrones secundarios
emitidos por los tomos excitados por el haz de electrones. El nmero de
electrones secundarios que pueden ser detectados vara, entre otras cosas, de la
topografa de la muestra a examinar.
Como se sabe, la utilidad del microscopio ptico se ve limitada cuando queremos
observar detalles de tamao inferior al rango de longitudes de onda que abarca la
luz visible en el espectro electromagntico. Es entonces cuando entra en juego el
microscopio electrnico, cuya fabulosa capacidad de resolucin es debida a que
utiliza como fuente de luz una emisin lineal de electrones. Los electrones
acelerados, como toda carga elctrica en movimiento, producen una radiacin
electromagntica cuya longitud de onda es proporcionalmente inversa a la
velocidad, resultando varios rdenes de magnitud inferior a la luz visible.
El microscopio electrnico de barrido proporciona imgenes y datos fisicoqumicos
de la superficie de cuerpos generalmente opacos a los electrones, por medio de
un delgado haz de electrones que recorre dicha superficie y de detectores que
transducen las seales que de ella emanan, transformndolas en corrientes
elctricas que se emplean en formar una imagen en un monitor de televisin.
Imagen de clulas sanguneas Imagen de granos de polen tomada por
tomada por un MEB. un MEB.
Antecedentes
La posibilidad de observar muestras ntegras y en sus tres dimensiones mediante
la microscopa electrnica, fue hecha realidad con la aparicin del microscopio
electrnico de barrido, en el ao 1965. Sin embargo, los conceptos bsicos para
este tipo de microscopa fueron propuestos alrededor de 1935, unos aos despus
de que Ruska y Knoll lo hicieran para el microscopio electrnico de transmisin
(MET). Mientras que en el desarrollo de este ltimo se hicieron grandes y rpidos
progresos hasta el punto de que en 1939 Siemens y Halske comercializaron el
primer MET, la microscopa de barrido tendra que esperar mucho ms tiempo
para ver mejorado su funcionamiento.
En medio de un ambiente de investigacin y
desarrollo, Manfred von Ardenne demostr en 1933
que se podan recoger electrones secundarios
emitidos por la superficie de una muestra
bombardeada por un haz de electrones acelerados
por una diferencia de potencial de 1200 volts.
Construy ese ao un aparato en que el haz
electrnico recorra la superficie de la muestra,
mientras los detectores de electrones emitidos por
dicha superficie suministraban a un tubo de rayos
catdicos una seal elctrica proporcional a la
intensidad de la emisin en cada instante. De esta
manera obtuvo e inaugur un mtodo que
posteriormente se convertira en la microscopia
electrnica de barrido.
El avance tal vez ms significativo, previo a la produccin industrial del SEM, fue
el perfeccionamiento de un detector eficiente de electrones secundarios realizado
por Everhart y Thornley en 1960, utilizando un centellador y una gua de luz. El
centellador es un dispositivo que emite un fotn de luz al recibir el impacto de un
electrn; parte de esta luz entra en un cilindro de acrlico de muy alto ndice de
refraccin (gua de luz), que conduce la luz sin mayores prdidas de seal
luminosa hasta un bulbo fotomultiplicador, que transduce la seal luminosa en una
seal elctrica y amplificada
Hacia 1965, la Cambridge Instrument Co. lanz el primer microscopio electrnico
de barrido con una resolucin de 20 nm y con un resonante xito comercial. As
mismo, en 1970, tuvo su aparicin el ctodo de emisin de campo, el cual produce
una emisin de electrones por medio de una punta metlica delegada que
aument la resolucin hasta 0.5 nm. Desde entonces hasta la fecha, este tipo de
microscopa ha avanzado rpidamente constituyndose en una tcnica
imprescindible en distintos tipos de estudio, tanto sobre material biolgico como en
el campo inorgnico.
Fundamento terico
Un microscopio electrnico usa electrones en lugar de fotones o luz visible para
formar imgenes de objetos diminutos. Los microscopios electrnicos permiten
alcanzar amplificaciones mayores antes que los mejores microscopios pticos,
debido a que la longitud de onda de los electrones es bastante menor que la de
los fotones "visibles". Con esto conseguimos hasta los 100 , resolucin muy
superior a cualquier instrumento ptico.
Aplicaciones
La microscopa de barrido tiene en la actualidad diversas aplicaciones que
resultan de gran inters principalmente en el campo biolgico, as como en el de
los materiales. La primera aplicacin en importancia consiste en la posibilidad de
hacer anlisis cuantitativos de los componentes de la muestra, lo que se realiza
mediante el anlisis de los rayos X emitidos por la muestra tras su irradiacin con
el haz electrnico. Una segunda aplicacin en el campo biolgico es el anlisis
inmunocitoqumico de los componentes de la superficie de una muestra.
Por otro lado, en el campo de los materiales es comn hacer uso de esta tcnica
al congelar la muestra, fracturarla mecnicamente y, tras los procesos de
preparacin habituales, examinar el interior de las clulas. Esta tcnica, aunque
difcil, permite el examen tridimensional de los componentes intracelulares.
El campo de aplicacin de la microscopia electrnica de barrido se ha ido
extendiendo. A continuacin, se detallan de forma general algunas aplicaciones
del microscopio electrnico de barrido segn el campo de estudio:
Geologa: Investigaciones geomineras, cristalogrficas, mineralgicas y
petrolgicas. Estudio morfolgico y estructural de las muestras.
Estudio de materiales: Caracterizacin microestructural de materiales.
Identificacin, anlisis de fases cristalinas y transiciones de fases en
diversos materiales tales como metales, cermicos, materiales compuestos,
semiconductores, polmeros y minerales. Composicin de superficies y
tamao de grano. Valoracin del deterioro de materiales, determinacin del
grado de cristalinidad y presencia de defectos. Identificacin del tipo de
degradacin: fatiga, corrosin, fragilizacin, etc.
Metalurgia: Control de calidad y estudio de fatiga de materiales,
caractersticas texturales. Anlisis de fractura (fractomecnica) en
materiales, un ejemplo concreto de este tipo de aplicacin se expone en la
parte de trabajo prctico.
Odontologa: En este campo son muchas las aplicaciones de las
caracterizaciones morfolgicas que se pueden realizar con el microscopio
electrnico de barrido.
Paleontologa y Arqueologa: Caracterizacin de aspectos morfolgicos.
Control de Calidad: En este campo, el microscopio electrnico de barrido es
de gran utilidad para el seguimiento morfolgico de procesos y su
aplicacin en el control de calidad de productos de uso y consumo.
Peritajes: Estudios de muestras de cualquiera de las reas antes
mencionadas.
Medicina Forense: Anlisis morfolgico de pruebas.
Botnica, Biomedicina y Medicina: Estudio morfolgico.
Estudio qumico y estructural de obras de arte, alteracin de monumentos,
control de calidad, identificacin de pigmentos.
Peritaciones Caligrficas: Estudio de trazos.
Electrnica: Control y calidad de partes electrnicas.
Ventajas y desventajas
Este tema puede ser analizado desde dos puntos de vista, uno de ellos son las
ventajas y desventajas generales que presenta utilizar esta tcnica y el otro son
las diferencias que tiene este equipo en comparacin con el microscopio
electrnico de transmisin, dada la similitud que existe entre el funcionamiento de
ambos.
Ventajas Desventajas
Excelente resolucin. Es una tcnica costosa.
Detalles ms profundos. Se requiere de personal especializado.
Permite conocer a fondo la estructura Destruccin de las muestras.
morfolgica de las muestras.
Es un mtodo utilizado en mltiples
disciplinas.
SEM TEM
Haz electrnico mvil. Haz electrnico esttico.
Muestras ntegras. Necesidad de secciones ultrafinas.
Imagen tridimensional. Imagen en dos dimensiones.
Electrones secundarios. Electrones transmitidos.
Aumentos hasta 140,000. Aumentos hasta 500,000.
Bibliografa y referencias
Vzquez, G. & Echeverra, O. (2000). Introduccin a la microscopia
electrnica aplicada a las ciencias biolgicas. Mxico: Fondo de Cultura
Econmica.
De Lozano, V., Yaez, M. & Morales, A. (2014). Principios y prctica de la
microscopa electrnica. Argentina: Editorial independiente.
Poblete, V. & Pilleux, M. (2001|). Microscopia electrnica de barrido. Abril,
2017, de Universidad de Chile. Sitio web:
www.cec.uchile.cl/~mpilleux/id42a/Trabajos/15SEM/15SEM.doc
Annimo. (2010). Microscopio Electrnico de Barrido (SEM). Abril, 2017, de
Instituto Tecnolgico y de Estudios Superiores de Monterrey. Sitio web:
http://www.mty.itesm.mx/dia/deptos/im/m00-862/Lecturas/SEM_ICP.pdf
Annimo. (2007). Microscopia electrnica. Abril, 2017, de UNED. Sitio web:
http://www2.uned.es/cristamine/mineral/metodos/sem.htm
Renau-Piqueras, J. & Faura, M. (2011). Principios bsicos del Microscopio
Electrnico de Barrido. Abril, 2017, de Centro de investigacin del Hospital
"La Fe" de Valencia. Sitio web:
http://ruc.udc.es/dspace/bitstream/handle/2183/9313/CC-
011_art_5.pdf;sequence=1