Pasir merupakan bahan alam yang tersedia sangat melimpah di Indonesia.

Pasir biasa
dimanfaatkan untuk bahan bangunan sebagai campuran semen dalam pembuatan tembok sebagai
pelapis batu bata. Pasir besi pada umumnya mempunyai komposisi utama besi oksida (Fe2O3
dan Fe2O3), silikon oksida (SiO2), serta senyawa-senyawa lain dengan kadar yang lebih rendah.
Komposisi kandungan pasir dapat diketahui setelah dilakukan pengujian, misalnya dengan
menggunakan XRD (X-Ray Difraction) atau XRF (X-Ray Flouresence), sehingga dapat
digunakan dalam penelitian ini. Hal ini dapat menambah nilai jual pasir, misalnya dengan
memperkecil ukuran partikelnya menjadi partikel nano.

Pasir besi (Fe3O4) berukuran nano memiliki sifat ferimagnetik memiliki peluang aplikasi yang
luas. pengaplikasian pasir besi (Fe3O4) yang berukuran partikel nano merupakan alternative
yang diperlukan untuk memenuhi kebutuhan bahan baku industri di bidang elektronik yang
dalam perkembangan dan kebutuhannya kian meningkat. Fe3O4 berukuran nano memiliki
aplikasi pada bidang industri seperti; keramik, katalis, energy storage, magnetic data storage,
ferofluida, maupun dalam diagnosis medis.

Aluminosilikat anorganik polimer juga dikenal sebagai geopolimer. Aluminosilikat anorganik

polimer idealnya terdiri dari struktur amorf, tiga-dimensi akibat polimerisasi
aluminosilikat monomer dalam larutan basa. Alumina (Al2O3) dan silika (SiO2) adalah dua
mineral yang paling banyak dari kerak bumi. Kelas mineral yang mengandung aluminium oksida
dan oksida silikon dikenal dengan sebutan aluminosilikat. Mineral aluminosilikat terbentuk dari
penggantian beberapa ion Si4+ dalam silikat oleh ion Al3+. Atom aluminium menggantikan
atom silikon dalam tetrahedral atau menempati lubang oktahedral atom oksigen, membuat
struktur yang lebih kompleks. Substitusi silikon tetravalen dengan aluminium trivalen
menyebabkan kekurangan muatan yang harus dikompensasi dengan kation lain seperti H+, Na+,
Ca2+, dan sebagainya.

Nanoteknologi atau teknologi rekayasa zat adalah pembuatan / penggunaan materi / devais pada
ukuransangat kecil, yakni 1-100 nm . devinisi kedua adalah memahami dan mengontrol sesuatu
pada dimensi 1-100 nm, dimana fenomena2 unik menghasilkan aplikasi baru. Teknologi nano
meliputi pencitraan ,pemodelaan , pengukuran, fabrikasi dan memanipulasi sesuatu pada skala
nano. Fenomena2 unik yangdapat diamati pada sifat2 magnetik , mekanik , listrik, termal , optik ,
kimia dan biologi . ketika ukuran butir bahan magnetik diperkecil hingga skala nano , bahan
feromagnetik berubah menjadi bahansuperparamagnetik . salah satu sifat mekanik bahan
adalah kekuatan luluh yaitu batas maksimumkekuatan suatu bahan sebelum mengalami
deformasi plastis (berubah bentuk). Jika ukuran butir suatulogam atau keramik lebih kecil
dari ukuran butir kritis (<100 nm) , sifat mekanik bahan berubah darikeras menjadi lunak.efek
termoelektrik adalah konversi langsung perbedaan temperatur menjadi bedategangan atau
sebaliknya. Efisiensi efek termoelektrik akan meningkat pada bahan beskala nano.
Partikellogam/semikonduktor berukuran nano memiliki warna emisi berbeda dibandingkan
partikel tersebutdengan ukuran skla mikro.Jadi intinya dengan nanoteknolgi maka setiap bahan /
material akan memungkinkan pengurangan beratdisertai dengan peningkatan stabilitas
dan meningkatkan fungsionalitas.

Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan salah satu

metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang.
Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara
menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Sinar X
merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV.
Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit
atom. Spektrum sinar X memilki panjang gelombang 10-10 s/d 5-10 nm, berfrekuensi 1017-
1020 Hz dan memiliki energi 103-106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama
dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal. SinarX
dihasilkan dari tumbukan elektron berkecepatan tinggi dengan logam sasaran. Olehk arena itu,
suatu tabung sinar X harus mempunyai suatu sumber elektron, voltase tinggi, dan logam sasaran.
Selanjutnya elektron elektron yang ditumbukan ini mengalami pengurangan kecepatan dengan
cepat dan energinya diubah menjadi foton.

Difraksi Sinar X merupakan teknik yang digunakan dalam karakteristik material untuk
mendapatkan informasi tentang ukuran atom dari material kristal maupun nonkristal. Difraksi
tergantung pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang gelombang jauh lebih
dari pada ukuran atom atau konstanta kisi kristal maka tidak akan terjadi peristiwa difraksi
karena sinar akan dipantulkan sedangkan jika panjang gelombangnya mendekati atau lebih kecil
dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi peristiwa difraksi. Ukuran atom dalam orde
angstrom (Å) maka supaya terjadi peristiwa difraksi maka panjang gelombang dari sinar yang
melalui kristal harus dalam orde angstrom (Å). Prinsip dari alat XRD (X-ray powder
diffraction) adalah sinar X yang dihasilkan dari suatu logam tertentu memiliki panjang
gelombang tertentu, sehingga dengan memfariasi besar sudut pantulan sehingga terjadi pantulan
elastis yang dapat dideteksi. Maka menurut Hukum Bragg jarak antar bidang atom dapat dihitung
dengan data difraksi yang dihasilkan pada besar sudut – sudut tertentu. Prinsip ini di gambarkan
dengan diagram dibawah ini.

Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal, maka
bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan
jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor
kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang
terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya. Tiap puncak yang
muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam
sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian
dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis material. Standar ini
disebut JCPDS.