You are on page 1of 3

FORM ANALISIS JURNAL

Program Studi Pendidikan Fisika


FITK-UIN Syarif Hidayatullah Jakarta 2
Identitas Jurnal yang di analisis Dosen :

Judul : Structural analysis by X-ray Diffraction


Taufiq Al Farisi, M.Pfis
Sumber online/offline : www.researchpublish.com / online
Penulis / peneliti : M.P. Sharma, Parijat Thakur, R. K. Pandey Penganalisis:
Tahun penerbitan jurnal : 2015
Maulina Nurhikmah
Penerbit Jurnal : International Journal of Mathematics and
NIM : 1113016300004
Physical Sciences Research

A. Latar belakang

Difraksi sinar-X merupakan salah satu metode yang digunakan untuk mengetahui struktur atom
kristal, dan metode yang paling umum digunakan yaitu difraksi sinar-X dengan sampel bubuk.
Mengidentifikasi bahan yang tidak diketahui menggunakan difraksi sinar-X tidak sepenuhnya diperlukan,
karena biasanya sudah memiliki informasi awal mengenai elemen konstituen dan volume dari sampel.

Identifikasi masalah:
Meskipun banyak buku yang membahas mengenai kristalografi, tetapi banyak mahasiswa, peneliti muda,
dan insinyur yang ingin memahami lebih dalam karena sering menemukan hal yang luar biasa. Mereka
kesulitan untuk mengidentifikasi dan memahami poin-poin penting dalam waktu yang terbatas, terutama
dalam memperkirakan informasi struktural dari data difraksi sinar-X.

B. Fokus Penilitian

Pada jurnal ini penulis menitik beratkan pembahasan pada titik kunci dari analisis struktural yang
diperlukan untuk memperoleh informasi struktural sampel bubuk pada sampel bahan yang tidak diketahui

C. Kajian Teori

Ada berbagai metode yang digunakan untuk mengukur intensitas hamburan berkas sinar-X dari bahan
kristal, dan masing-masing metode meliliki keuntungannya masing-masing. Metode yang paling sering
digunakan yaitu mengukur intensitas difraksi sinar-X dari sampel bubuk sebagai fungsi dari sudut hamburan
(sudut difraksi) menggunakan difraktometer.
Difraksi sinar-X kristalografi dengan sampel bubuk merupakan metode yang baik dan banyak digunakan
untuk mengetahui struktur atom dari berbagai material dalam berbagai negara. Sejak penemuan difraksi
sinar-X pada bahan kristal tahun 1912 oleh Max von Laue dan pada tahun 1913 oleh WL Bragg dan WH
Bragg, metode ini sudah banyak mengalami kemajuan. Awalnya kristalografi digunakan sebagai studi untuk
penampilan eksternal dari mineral alami. Kemudian, kristalografi menjadi sebuah metode berharga sebagai
pertimbangan tentang bagaimana kristal dapat dibangun dari unit-unit kecil, dengan pengulangan yang tak
terbatas dari unit struktural yang identik dalam ruang. Terdapat tujuh macam sistem kristal yang diketahui.
Jenis sistem kristal itu meliputi kubik, tetragonal, orthorhombik, hexagonal, trigonal, monoklinik, triklinik.

D. Hasil Penelitian / Temuan dan Pembahasan


 Kristal kubik
Untuk penentuan suatu hasil struktur yang tidak diketahui, perlu dilakukan dalam tiga langkah utama:
(1) bentuk dan ukuran sel satuan yang disimpulkan dari posisi sudut dari garis difraksi.
(2) Jumlah atom per unit sel ini kemudian dihitung dari bentuk dan ukuran sel satuan, komposisi kimia dari
spesimen, dan kepadatan diukur nya.
(3) Terakhir, posisi atom dalam sel satuan yang disimpulkan dari intensitas relatif dari garis difraksi.
Sebuah kristal kubik memberikan garis difraksi yang nilainya memenuhi persamaan berikut, yang diperoleh dengan
menggabungkan hukum Bragg dengan persamaan bidang-spasi untuk sistem kubik.

Besarnya nilai s selalu: dan integralnya yaitu


Berikut ini merupakan sampel dalam perhitungan XRD dalam beberapa besar sudut:

 Kristal non kubik


Masalah pola pengindeksan bubuk menjadi lebih sulit karena jumlah parameter yang tidak diketahui
meningkat. Hanya ada satu parameter yang tidak diketahui untuk kristal kubik, yaitu sel tepi, tapi kristal
nonkubik memiliki dua atau lebih, dan teknik grafis dan analitis khusus harus dirancang untuk indeks pola
kristal tersebut.
Metode analisis dari pengindeksan melibatkan manipulasi ilmu hitung dari nilai-nilai yang diamati dalam
upaya untuk menemukan hubungan tertentu antara mereka. Karena setiap sistem kristal ditandai dengan
hubungan khusus antara nilai-nilai, pengakuan dari hubungan ini mengidentifikasi sistem kristal dan mengarah
ke solusi dari indeks line.
Contoh perhitungan pada percobaan
Untuk perhitungan tiap kolom dapat dicari dengan:
Kolom 1: - Cari posisi puncak. Ada program Temuan puncak (misalnya, Xfit, powderX, dll) yang dapat
membantu Anda menentukan apakah puncak luas terdiri dari dua atau lebih puncak.
Kolom 2: - Hitung jarak d (menggunakan Bragg hukum nλ = 2d sinθ)
Kolom 3: - ubah menjadi 1 / d2.
Kolom 4: - Cari setiap kelipatan umum dan bagi dengan yang pembagi umum. (dibagi dengan 0,0948 dan
kemudian kalikan dengan 2)
Kolom 5: - Cari kelipatan umum lainnya atau perbedaan serupa antara angka.
Kolom 6: - Cari hkl sesuai untuk
kolom 7: - Perkirakan parameter kisi = berdasarkan tabel sistem kristal

E. Kesimpulan
Analisis difraksi sinar-X tidak hanya digunakan untuk mengidentifikasi fase dan estimasi parameter kisi dari zat yang
tidak diketahui, tetapi juga untuk menentukan konsentrasi fase dalam campuran. Profil puncak juga digunakan untuk
memperkirakan ukuran partikel kristal yang sangat kecil yang disebut "kristalis" dalam sampel bubuk.