K6262:2006

まえがき

この規格は，工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき，日本ゴム工業会

(JRMA)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出が
あり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS K 6262:1997 は改正され，この規格に置き換えられる。
改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO 815:1991， Rubber，vulcanized or
thermoplastic−Determination of compression set at ambient，elevated or low temperatures を基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS K 6262 には，次に示す附属書がある。
附属書（参考）JIS と対応する国際規格との対比表

（1）
K 6262：2006 目次

目 次

ページ
序文 ························································································································································································1
1. 適用範囲·········································································································································································1
2. 引用規格·········································································································································································1
3. 定義·················································································································································································2
4. 試験の目的 ····································································································································································2
5. 試験装置·········································································································································································2
5.1 試験装置の概要··························································································································································2
5.2 圧縮装置 ······································································································································································2
5.3 恒温槽···········································································································································································3
5.4 試験片つかみ具··························································································································································4
6. 試験片·············································································································································································4
6.1 試験片の形状及び寸法 ·············································································································································4
6.2 試験片の採取・作製··················································································································································4
6.3 試験片の数 ··································································································································································4
6.4 試験片の厚さの測定··················································································································································4
6.5 試験片の選別 ······························································································································································4
7. 試験条件·········································································································································································4
7.1 試験室の標準温度······················································································································································4
7.2 試料及び試験片の保管 ·············································································································································5
7.3 試験片の状態調節······················································································································································5
7.4 試験温度 ······································································································································································5
7.5 試験時間 ······································································································································································5
7.6 試験片を圧縮する割合 ·············································································································································5
8. 操作方法·········································································································································································5
8.1 試験片の厚さの測定··················································································································································5
8.2 圧縮板の前処理··························································································································································5
8.3 ひずみの与え方··························································································································································5
8.4 試験温度における処理 ·············································································································································5
8.5 規定処理後の厚さの測定 ·········································································································································5
8.6 試験後の試験片の確認 ·············································································································································6
9. 計算·················································································································································································6
9.1 常温及び高温試験······················································································································································6
9.2 低温試験 ······································································································································································6
9.3 試験結果のまとめ方··················································································································································6
10. 記録···············································································································································································6
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ページ
10.1 常温及び高温試験····················································································································································6
10.2 低温試験 ····································································································································································7
附属書（参考）JIS と対応する国際規格との対比表··································································································8

（3）
 日本工業規格（案） JIS
K 6262：2006

加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−常温，高温及び
低温における圧縮永久ひずみの求め方
Rubber, vulcanized or thermoplastic
Determination of compression set at ambient, elevated or low temperatures

序文 この規格は，1991 年に第 2 版として発行された ISO 815，Rubber，vulcanized or thermoplastic−

Determination of compression set at ambient，elevated or low temperatures を翻訳し，技術的内容を変更して作
成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて，附属書（参考）に示す。

警告 この規格の利用者は，通常の実験室での作業に精通しているものとする。この規格は，その使用に
関連して起こるすべての安全上の問題を取り扱おうとするものではない。この規格の利用者は，各
自の責任において安全及び健康に対する適切な措置を取らなければならない。

1. 適用範囲 この規格は，加硫ゴム及び熱可塑性ゴム（以下，加硫ゴムという。）の，常温，高温及び低
温における圧縮永久ひずみを求める方法について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21 に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している）
，NEQ（同等でない）とする。
ISO 815:1991，Rubber，vulcanized or thermoplastic−Determination of compression set at ambient，
elevated or low temperatures (MOD)

2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0601 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−用語，定義及び表面性状パラメ
ータ
備考 ISO 4287:1997，Geometrical Product Specifications(GPS)−Surface texture :Profile method−Terms，
definitions and surface texture parameters からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS K 6200 ゴム用語
JIS K 6250 ゴム−物理試験方法通則
備考 ISO 23529:2004， Rubber − General procedures for preparing and conditioning test pieces for
physical test methods からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
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K 6262：2006

JIS K 6257 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−熱老化特性の求め方

備考 ISO 188:1998，Rubber，vulcanized or thermoplastic−Accelerated ageing and heat resistance tests か
らの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 8401 数値の丸め方
ISO 6471 Rubber vulcanized−Determination of crystallization effects under compression

3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS K 6200 及び JIS K 6250 による。

4. 試験の目的 各温度における試験の目的は，次による。
a) 常温及び高温試験 常温及び高温試験は，加硫ゴムの圧縮による永久ひずみを測定することによって，
そのへたり性を求めるために行う。
b) 低温試験 低温試験は，低温下で圧縮静置された加硫ゴムが，負荷を除かれた場合に変形から回復す
る能力を測定することによって，低温におけるへたり性を求めるために行う。この結果は，加硫ゴム
の耐寒性の指標となる。
備考 低温では，加硫ゴムのガラス化又は結晶化の影響が支配的であり，温度が上昇することによっ
て，これらの影響は，可逆的に変化するため，低温試験におけるすべての測定は，その試験温
度で行う必要がある（ISO 6471 参照）
。

5. 試験装置
5.1 試験装置の概要 試験装置は，試験片を規定の圧縮の割合に圧縮し保持するための圧縮装置，試験
片を規定の温度に保つための恒温槽及び試験中に試験片を操作するための試験片つかみ具などからなる。
5.2 圧縮装置 圧縮装置は，試験片を圧縮するための 2 枚又はそれ以上の圧縮板，試験片に規定のひず
みを与えるためのスペーサ及び圧縮板を固定する保持具などからなる。圧縮装置の例を，図 1 に示す。
a) 圧縮板 圧縮板は，平行で平滑に仕上げたクロムめっき鋼板又は研磨したステンレス鋼板で，その表
面仕上げは，0.4 µm Ra(1)以下で，かつ，次に適合するものを用いる。
1) 十分な剛性をもち，試験片による力を受けても変形しないもの。
2) 圧縮された試験片が，確実に圧縮板の面内に収まる大きさのもの。
3) 試験片を圧縮するときに，平行状態を保つことができるもの。
注(1) 算術平均粗さ（JIS B 0601 参照）。
b) スペーサ スペーサは，鋼製で，試験片圧縮時に試験片に触れない大きさとする。スペーサの厚さは，
試験の目的及び試験片を圧縮する割合によって異なり，詳細の寸法は，次による。
1) 一般的な圧縮永久ひずみ試験に用いるスペーサの厚さを，表 1 に示す。1 回の試験に用いる一組の
スペーサの個々の厚さは，その一組のスペーサの厚さの平均値の±0.01 mm とする。
なお，これらのスペーサの範囲から外れる領域で， 補正された圧縮高さを得るためには，補助ス
ペーサを重ねて用いる。この場合，試験片を圧縮したときに，圧縮板が平行に保たれるよう，スペ
ーサを選定する。
2) 結晶化を研究する場合は，圧縮の割合が試験結果に大きな影響を及ぼすため，試験片の厚さの公差
を考慮し，圧縮する割合をできるだけ正確に設定する必要がある。このため，表 1 に規定する厚さ
と異なったスペーサを用いる。例えば，試験片の(25±1) ％圧縮を得るため，大形試験片では，9.12
mm，9.38 mm 及び 9.62 mm の 3 種類のスペーサを，また，小形試験片では，4.56 mm，4.67 mm，
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K 6262：2006

4.78 mm 及び 4.89 mm の 4 種類のスペーサを用意する。

単位 mm

a) b)
図 1 圧縮装置の例

表 1 スペーサの厚さ
試験片を圧縮 スペーサの厚さ
する割合 mm
％ 大形試験片 小形試験片
25 9.3 ∼ 9.4 4.7 ∼ 4.8
15 10.6 ∼ 10.7 5.3 ∼ 5.4
10 11.25 ∼ 11.30 5.65 ∼ 5.70

c) 保持具 保持具は，試験片を規定の厚さに保持するために用いる圧縮板を固定するための器具で，機
械式又は空気圧式のどちらでもよく，図 1 に示すように，ボルト及びナットの組合せを用いてもよい。
また，ハンドプレス，バイスプライヤのような容易に着脱できる器具を用いてもよい。
5.3 恒温槽 恒温槽は，次による。
a) 高温試験では，JIS K 6257 の 6.2（試験装置）
，7.2（試験装置）に規定する空気加熱老化試験機又はこ
れらと同等の空気循環式の恒温槽を用いる。
備考 常温試験は，試験室の標準温度で行う。
b) 低温試験では，JIS K 6250 の 5.4（恒温槽）に規定する冷凍機形又はドライアイス，液体窒素などによ
る冷却方式のいずれでもよいが，槽内温度を 7.4 b)に規定する試験温度に設定することができ，試験
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K 6262：2006

片内部の温度を 3 時間以内に試験の平衡状態の温度にすることができるものとする。恒温槽は，圧縮
された試験片の開放，その後の試験片の厚さの測定などの操作が，直接手で触れることなく，操作孔
及び手袋又は遠隔操作によって行うことのできる装置（低温槽付グローブボックス）を備えており，
かつ，これらの操作が，試験温度の許容範囲内でできるものとする。
5.4 試験片つかみ具 低温試験の場合，試験操作中に試験片に直接手を触れてはならないため，試験片
の取扱いを容易にするための試験片つかみ具を用いる。試験片つかみ具は，試験片を損傷することなく，
容易に操作できるものを用いる。

6. 試験片
6.1 試験片の形状及び寸法 試験片の形状及び寸法は，表 2 による。
表 2 試験片の形状及び寸法
単位 mm
主要部分の寸法
形 状
直径 厚さ
大形試験片 29.0±0.5 12.5±0.5
小形試験片 13.0±0.5 6.3±0.3
備考1. 大形試験片を標準とする。
2. 大形試験片と小形試験片とでは，必ずしも同じ値の圧縮永久ひずみが得られるとは限らない
ため，試験片の形状が異なるときの結果を直接比較するのは，避けた方がよい。
6.2 試験片の採取・作製 試験片の採取・作製は，JIS K 6250 の 8.5（試験片の採取・作製）による。
備考1. 試験片は，型加硫で作製することが望ましい。製品から切り出す場合には，小形試験片を用
いる。また，6.1 に規定する寸法にシートから円盤を打ち抜き，積層してもよい。この場合，
積層枚数は，3 枚以内とする。
2. 積層する試験片では，接着剤を用いてはならない。円盤を積み重ね，数％の圧縮を 1 分間加
え，密着させる。その後，積層した全体の厚さを測定する。
3. 積層した試験片と一体の試験片とでは，同じ結果が得られるとは限らないため，結果を直接
比較するのは，避けた方がよい。
6.3 試験片の数 試験片の数は，3 個とする。
6.4 試験片の厚さの測定 試験片の厚さの測定は，JIS K 6250 の 9.（寸法測定方法）の A 法によって，
試験室の標準温度で行う。測定子は直径 4∼10 mm とする。試験片の厚さは，0.01 mm まで測定する。
6.5 試験片の選別 それぞれの試験片は，厚さ及び幅の寸法の不均一さが 0.1 mm を超えるもの，異物の
混入したもの，気泡のあるもの及び／又はきずのあるものを，試験に用いてはならない。

7. 試験条件
7.1 試験室の標準温度 試験室の標準温度は，JIS K 6250 の 5.1（試験室の標準温度）による。
7.2 試料及び試験片の保管 試料及び試験片の保管は，JIS K 6250 の 8.2（試料及び試験片の保管）によ
る。
7.3 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，JIS K 6250 の 8.3（試験片の状態調節）による(2)。
注(2) 低温試験においては，試験片によっては一部結晶化する場合がある。この場合には，あらかじ
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K 6262：2006

め試験片の結晶化状態を除去しておく。このため，試験直前に 70 ℃，45 分間の加熱処理を行

い，その後 JIS K 6250 の 8.3 による状態調節を行う。
7.4 試験温度 試験温度は，次の中から選択する。
a) 常温及び高温試験 23±2 ℃，40±1 ℃，55±1 ℃，70±1 ℃，85±1 ℃，100±1 ℃，125±2 ℃，
150±2 ℃，175±2 ℃，200±2 ℃，225±2 ℃ 又は 250±2 ℃
b) 低温試験 0±1 ℃，−10±1 ℃，−25±1 ℃，−40±1 ℃，−55±1 ℃，−70±1 ℃，−80±1 ℃ 又
は −100±2 ℃
備考 その他の試験温度で行う場合は，受渡当事者間の協定による。
7.5 試験時間 試験時間は，次の中から選択する。
a) 常温及び高温試験 24 − 20 時間，72 − 20 時間，168 − 20 時間又は 168 時間の整数倍のいずれかとする。
b) 低温試験 圧縮装置を恒温槽に入れた時から 24 − 20 時間，又は 72 − 20 時間のいずれかとする。
7.6 試験片を圧縮する割合 試験片を圧縮する割合は，試験片の硬さによって，表 3 から選択する。表 3
以外の圧縮する割合で行う場合は，受渡当事者間の協定による。ただし，結晶化の研究を行う場合には，
圧縮する割合が (25±1) ％となるよう，スペーサを選定して圧縮を行う。
表 3 試験片の硬さ及び圧縮する割合

試験片の硬さ 試験片を圧縮する割合
IRHD ％
10 ∼ 79 25
80 ∼ 89 15
90 ∼ 95 10

8. 操作方法
8.1 試験片の厚さの測定 試験片の厚さの測定は，6.4 による。
8.2 圧縮板の前処理 圧縮板は，試験片との接触面をあらかじめきれいに清掃し，試験片に影響を及ぼ
さない潤滑剤( )の薄い被膜で覆っておく(4)。
3

注(3) 潤滑剤は，試験室の標準温度における動粘度が 0.01 m2/s のシリコーン，ふっ化シリコーンなど

がよい。
4
( ) 何らかの理由で潤滑剤を使用しない場合は，記録する。
8.3 ひずみの与え方 試験室の標準温度において，試験片を圧縮板の間の中央部に，規定のスペーサを
試験片の外側に，それぞれ挿入する。このとき，圧縮時に試験片の側面がスペーサに触れないように注意
する。試験片及びスペーサを挿入した後，圧縮板がスペーサに密着するまで圧縮し，保持具を締め付けて
その状態に固定する。
8.4 試験温度における処理 試験片を圧縮した後，あらかじめ試験温度に調節した槽内に，直ちに圧縮
装置を入れる。この時を試験開始時刻とする。試験温度で規定時間の処理を行う。
8.5 規定処理後の厚さの測定 規定処理後の厚さの測定は，次による。
a) 常温及び高温試験 加熱処理が終了した後，圧縮装置を恒温槽から取り出し，試験片を素早く圧縮装
置から取り外し，木製の台の上に置き，試験室の標準温度で 30±3 分間静置した後，試験片の中央部
の厚さの測定を行う(5)。
注(5) 別の冷却方法として，加熱処理を終了後に圧縮装置を恒温槽から取り出し，圧縮装置全体を 30
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∼120 分間で標準温度まで冷却した後，試験片を取り出し，試験室の標準温度に 30±3 分間静

置後，試験片の中央部の厚さの測定を行うこともできる。冷却方法によって，得られる結果は
異なるため，この方法を用いた場合には，冷却方法を記録する。
b) 低温試験 低温処理が終了した後，直ちに圧縮板を外し，同時にストップウォッチを作動させる。6.4
によって，試験片の中央部の厚さを槽内で測定する。測定時間は，対数時間軸に対して厚さ変化のグ
ラフが描けるような時間間隔で測定を行う（例えば，10 秒後，30 秒後，1 分後，3 分後，10 分後，30
分後，2 時間後）。このとき，槽内温度を許容温度範囲内に保持する。この操作中に試験片に手を触れ
てはならない。試験片の取扱いは，試験片つかみ具で行う。
8.6 試験後の試験片の確認 試験に用いた試験片を直径に沿って二分し，もし気泡のような内部欠陥が
認められたときは，その試験結果を採用してはならない。

9. 計算 圧縮永久ひずみの計算は，次による。
9.1 常温及び高温試験 常温及び高温における圧縮永久ひずみは，式(1)によって算出する。
t0 − t2
CS = × 100 ·································································································· (1)
t0 − t1

ここに， CS： 圧縮永久ひずみ (％)

t0： 試験片の元の厚さ (mm)
t1： スペーサの厚さ (mm)
t2： 圧縮装置から取り外し，30 分後の試験片の厚さ (mm)
9.2 低温試験 低温圧縮永久ひずみは，式(2)によって算出する。
t0 − tX
CSＬＸ = × 100 ························································································ (2)
t 0 − t1
ここに， CSLX： 低温圧縮永久ひずみ (％)
t0： 試験片の元の厚さ (mm)
t1： スペーサの厚さ (mm)
tX： 圧縮装置から取り外し，X 秒後の試験片の厚さ (mm)
試験結果は，片対数グラフによって縦軸に厚さをとり，横軸（対数目盛）に時間をとって，測定結果を
プロットする。多くの場合，試験片の復元過程において，ほぼ直線の結果になるので，外挿法（時間軸で
20 単位以上），又は内挿法によって，任意の復元時間後の試験片の厚さを計算することができる。
通常，低温圧縮永久ひずみは，10 秒後(CSL10)及び 1 800 秒後(CSL1 800)の復元時間で算出する。
9.3 試験結果のまとめ方 試験結果は，3 個の試験片によって得られた値の平均値を，JIS Z 8401 によっ
て，丸めの幅 1 で表す。

10. 記録 試験成績には，次の事項を記録する。
10.1 常温及び高温試験
a) 適用規格番号
b) 試験片の詳細
1) 試験片の形状及び寸法
2) 試験片の採取・作製方法（積層した場合は，その枚数）
3) 試験片の数
c) 試験の詳細
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1) 試験片を圧縮した割合
2) 試験時間及び試験温度
3) 潤滑剤使用の有無
4) 別の冷却方法を用いた場合，その条件
d) 試験結果
e) 試験年月日
f) その他の必要事項
10.2 低温試験
a) 適用規格番号
b) 試験片の詳細
1) 試験片の形状及び寸法
2) 試験片の採取・作製方法（積層した場合は，その枚数）
3) 試験片の数
c) 試験の詳細
1) 試験片を圧縮した割合
2) 試験時間及び試験温度
3) 潤滑剤使用の有無
d) 試験結果
1) 規定復元時間後の低温圧縮永久ひずみ（例えば，CSL10，CSL1 800 など）
2) 片対数目盛のグラフから算出した規定時間後（例えば，10 秒後，30 分後など）の試験片の厚さ
e) 試験年月日
f) その他の必要事項
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K 6262：2006

K 6262：2005
8
附属書（参考）JIS と対応する国際規格との対比表

JIS K 6262：0000 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−常温，高温及び低温における圧縮永久ひずみの求 ISO 815：1991，加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−常温，高温及び低温

め方 における圧縮永久ひずみの求め方
(Ⅰ) JIS の規定 (Ⅱ) 国 (Ⅲ) 国際規格の規定 (Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ごと (Ⅴ) JIS と国際規格
際規格 の評価及びその内容 との技術的差異の
番号 表示箇所：本体 理由及び今後の対
表示方法：点線の下線又は実線の側線 策
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
1.適用範囲 加硫ゴム及び熱可塑性 ISO 815 1 ISO 規格では，JIS の適用範囲に加 MOD/変更 JIS では 7.6（試験片を圧縮する 技術的な差異は
ゴムの常温，高温及び え，硬さによる圧縮率規定も表記し 割合）の項目で，硬さによる圧 ない。
低温での圧縮永久ひず ている。 縮率を規定している。
みを求める方法につい ISO の適用範囲の注記として、
て規定 低温試験注意事項の記載があ
るが、JIS では、4.試験の目的
の項目に移動した。
2.引用規格 JIS B 0601 2 − MOD/追加 JIS では用語の定義をしてお 技術的な差異は
JIS K 6200 − MOD/追加 り，これを引用した。 ない。
JIS K 6250 ISO 23529 IDT
ISO 471, ISO 3383, ISO 4648, ISO
4661-1 は、ISO 23529 で統一された
ISO 1826 は，1993 年に廃止 MOD/削除

JIS K 6257 − MOD/追加

JIS Z 8401 MOD/追加 JIS で規定されている数値の丸
ISO 6471 め方を引用した。
ISO 6471 ISO/TR 9272 IDT
− MOD/削除 JIS では 9.（精度）の項目を削 次回に記載予定。
除。

3.定義 JIS K 6200 及び − − MOD/追加 JIS では，分かりやすくするた 技術的な差異は

JIS K 6250 による め，定義を追加した。 ない。
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(Ⅰ) JIS の規定 (Ⅱ) 国 (Ⅲ) 国際規格の規定 (Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ごと (Ⅴ) JIS と国際規格
際規格 の評価及びその内容 との技術的差異の
番号 表示箇所：本体 理由及び今後の対
表示方法：点線の下線又は実線の側線 策
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
4.試験の目的 a) 常 温 及 び 高 3 − IDT − −
温試験 3.1
b) 低温試験 3.2
5.試験装置 4
5.1 試験装置の概要 4.1 IDT − −
5.2 圧縮装置 4.2 MOD/追加 JIS では，複数個の試験片を同 ISO に提案中。
時に測定できるジグについて
も図 1b)として追加した。
5.3 恒温槽 4.3 IDT − −
5.4 試験片つかみ具 4.4 IDT − −
6.試験片 5
6.1 試験片の 形状 及 び 5.1 IDT − −
寸法
6.2 試験片の採取・作製 5.2 IDT − −
6.3 試験片の数
6.4 試験片の 厚さ の 測 5.3 IDT − −
定 5.4 MOD/追加 JIS では，6.5 で試験片の選別基 ISO に提案予定。
6.5 試験片の選別 準を明記した。

7.試験条件 IDT − −
7.1 試験室の標準温度 6.2
7.2 試料及び 試験 片 の 5.6
保管
7.3 試験片の状態調節 5.6
7.4 試験温度 6.2
7.5 試験時間 6.1

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7.6 試験片を 圧縮 す る 1
割合

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(Ⅰ) JIS の規定 (Ⅱ) 国 (Ⅲ) 国際規格の規定 (Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ごと (Ⅴ) JIS と国際規格

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際規格 の評価及びその内容 との技術的差異の
番号 表示箇所：本体 理由及び今後の対
表示方法：点線の下線又は実線の側線 策
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
8.操作方法 7 IDT − −
8.1 試験片の 厚さ の 測 7.2
定
8.2 圧縮板の前処理 7.1
8.3 ひずみの与え方 7.3
8.4 試験温度 にお け る 7.4
処理
8.5 規定処理 後の 厚 さ 7.5
の測定 7.6
8.6 試験後の 試験 片 の 7.7
確認
9.計算 8 MOD/追加 計算の項を設け，式の記号を変 計算方法を式で
更した。 明確にするため
に，計算の項を設
け，式の記号を変
更した。技術的差
異はない。
9.1 常温及び高温試験 8.1 IDT − −
9.2 低温試験 8.2 IDT − −
9.3 試験結果 のま と め 8.3 MOD/追加 JIS では，数値の丸め方に JIS 技術的差異はな
方 を引用。 い。
− − 9 精度 MOD/削除 国際規格では，ISO/TR 9272 に 次回 ITP に 参 加
従って実施した ITP の説明を し，次の JIS 改正
記載しているが，日本はこの 時には記載する。
ITP に参加しておらず，また，
結果に基く規定項目の記載な
どもないため，JIS では削除し
た。
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(Ⅰ) JIS の規定 (Ⅱ) 国 (Ⅲ) 国際規格の規定 (Ⅳ) JIS と国際規格との技術的差異の項目ごと (Ⅴ) JIS と国際規格
際規格 の評価及びその内容 との技術的差異の
番号 表示箇所：本体 理由及び今後の対
表示方法：点線の下線又は実線の側線 策
項目番号 内容 項目番号 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
評価
10.記録 10 − IDT − −
10.1 常温及び高温試験
10.2 低温試験

− − Annex A 精度の結果の求め方 MOD/削除 JIS として不要のため削除 −

− − Annex B 潤滑剤なし，−25℃及び 100℃ MOD/削除 JIS として不要のため削除 −

における圧縮永久ひずみのタイ
プ 1 精度の結果

JIS と国際規格との対応の程度の全体評価：MOD

備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― IDT……………… 技術的差異がない。
― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
― MOD/変更……… 国際規格の規定内容を変更している。
2. JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― MOD…………… 国際規格を修正している。

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