METROLOGIA-2003 – Metrologia para a Vida

Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM)

Setembro 01−05, 2003, Recife, Pernambuco - BRASIL

METODOLOGIA PARA MINIMIZAÇÃO DO ERRO NA DETERMINAÇÃO DE ÍNDICE DE

REFRAÇÃO DE SUPERFÍCIES POR POLARIMETRIA DE REFLEXÃO

Oswaldo Luiz Bueno Martins1 , Bruno Antunes Mota1 , Antonio Francisco Gentil Ferreira Junior1
1
Instituto de Pesquisas Tecnológicas do Estado de São Paulo – IPT, Laboratório de Óptica, São Paulo, Brasil

Resumo: O Laboratório de Óptica do IPT está absorvedores relacionam as componentes de reflexão

desenvolvendo medições de índice de refração superficial polarizada (Rs e Rp) de um feixe de luz refletido na
por meio de reflexão especular polarizada, utilizando um superfície do material com o ângulo de incidência do feixe
espectrogoniômetro para determinação do ângulo de (θ ) e com o índice de refração da superfície do material (n).
Brewster. O objetivo indireto deste desenvolvimento é A componente de reflexão Rp possui polarização paralela ao
aprimorar a medição de brilho de materiais, uma plano de incidência do feixe, ao passo que a polarização da
propriedade das superfícies que está relacionada à componente Rs é perpendicular. Essas componentes, para
capacidade de refletir luz em certas direções, originando reflexão no ar (n ar = 1), são então refletâncias descritas
uma aparência visual de destaque. Neste trabalho, conforme equações a seguir :
apresentam-se dois estudos para a minimização do erro de
2
determinação do ângulo de Brewster – aprimoramentos  cos θ − n 2 − sen 2 θ 
experimentais e simulações numéricas – com enfoque na Rs =   (1)
 cos θ + n 2 − sen 2 θ 
análise da aderência fenomenológica conseguida por
 
diferentes ajustes para a curva de reflexão polarizada. Serão
apresentados resultados sobre: 1) comparação das
determinações de índice de refração pela razão das 2
 n 2 cos θ − n 2 − sen 2 θ 
Rp =  
polarizações S e P por duas abordagens diferentes para o
(2)
tratamento dos dados ; 2) a qualidade fenomenológica do  n 2 cos θ + n 2 − sen 2 θ 
ajuste da curva de polarização para diferentes polinômios e  
3) o efeito de distribuições simétricas e assimétricas de
e, a razão Rp/Rs, chamada razão de extinção (R) é :
pontos angulares da curva de polarização na determinação
do índice de refração. 2
 [n 2 cosθ − n 2 − sen2 θ ][cosθ + n 2 − sen 2 θ ] 
R=  (3)
Os experimentos mostraram que o erro de alinhamento entre  [n 2 cosθ + n 2 − sen 2 θ ][cosθ − n 2 − sen 2 θ ] 
colimador, amostra e telescópio detetor é crítico e requer  
aprimoramentos para a redução de incerteza das refletâncias
polarizadas. Além disso, a determinação do ângulo de
Brewster requer curvas de reflexão polarizada muito Ao analisar a variação da reflexão Rp com o ângulo de
ajustadas fenomenologicamente para garantir a incidência do feixe, observa-se um ângulo no qual aquela
determinação de índices de refração com incerteza na quarta reflexão se anula. Este ângulo é denominado ângulo de
casa decimal. Brewster (θB ) e sua tangente é dada por:
Palavras chave : índice de refração superficial, refratometria
n2
por polarização, ângulo de Brewster. tan(θ B ) = (4)
n1

1. INTRODUÇÃO
na qual n 1 e n 2 são os índices de refração do meio 1 e do
A determinação do índice de refração de materiais pode ser meio 2, conforme ilustrado na figura 1. Para o caso em que
feita por meio de métodos de desvio angular [1-3] e por o meio 1 é o ar, a tangente do ângulo de Brewster
métodos interferométricos [1,2], os quais determinam o corresponde ao valor do índice de refração do meio 2.
índice de refração interno de um material (bulk ).
Adicionalmente a estas técnicas, o método
goniorefletométrico [4] permite a determinação do índice de
refração da superfície do material, utilizando a equação de
Fresnel. As equações de Fresnel para materiais não

Fig. 1. Condição de extinção da polarização p -ângulo de Brewster.
Para se medir a distribuição angular da reflexão é necessário
o uso de um goniorefletômetro, o qual é composto
basicamente de um goniômetro acoplado a um sistema
fotométrico de dois braços articulados para iluminação e
detecção. Um dos braços é fixo ao corpo do instrumento e
suporta um colimador e o outro possui a liberdade de girar
em torno do eixo do goniômetro e suporta um telescópio e
detetor. Ao telescópio é acoplado um polarizador o qual
seleciona a componente de polarização (Rs ou Rp) que
atinge o detetor. O deslocamento angular do braço que
contém o telescópio é medido pela escala do goniômetro.
O alinhamento do goniorefletômetro, sua resolução angular,
o alinhamento do ângulo de polarização e a razão de
extinção do polarizador são parâmetros que influenciam a
determinação do índice de refração da superfície e foram
analisados por Andor [4]. Andor constatou que para obter
uma incerteza de ± 0,1% na medição do brilho (uma
incerteza de aproximadamente ± 0,1% no índice de refração)
a incerteza da medição angular deve ser menor que 0,01°, a
amostra deve ser centralizada no goniorefletômetro dentro
de ± 0,1 mm e o alinhamento do ângulo de polarização da
luz deve possuir uma incerteza menor que 0,05° e a
radiação espúria (stray light) nas medidas de reflexão deve
ser menor que 0,00002 unidades de reflexão. Este conjunto
de condições é bastante restritivo e, por isso, a medição
goniorefletométrica requer aprimoramentos específicos tanto
no aparato experimental quanto no tratamento dos dados de
reflexão, motivação deste trabalho.
Uma aplicação da medida do índice de refração de
superfícies é a determinação do brilho. O brilho é uma
propriedade fotométrica relacionada à aparência das
superfícies e está ligada à sua capacidade de refletir luz em
certas direções mais do que em outras, originando assim
uma aparência visual de destaque. A caracterização dessa
propriedade é feita, então, através da reflexão especular
direcional, sendo que a escala de brilho, para certas classes
de materiais (tintas e vernizes, plástico, papel) é definida de
forma convencionada em normas internacionais [5,6] a
partir da comparação, para determinados ângulos de
incidência (20°, 45°, 60°, 85°), com a reflexão luminosa
especular de uma superfície plana e polida de índice de
refração determinado, para o qual define-se o valor de
referência (brilho 100 ou 1000).
Dessa forma, a medição do índice de refração da superfície
permite a determinação direta do brilho. Budde e Dodd [8]
relataram uma diferença entre o índice de refração interno e
o índice de refração da superfície de um vidro tipo crown de
borosilicato que foi exposto ao ambiente no intervalo de 20
anos. Os autores constataram uma variação de 0,013 entre os
valores daqueles índices de refração. Este resultado mostra
que o índice de refração da superfície varia
consideravelmente quando exposto ao ambiente,
provocando alterações no valor do brilho, também
observadas em placas padrões.
Zwinkels e Nöel [9] apresentam um padrão de brilho
utilizado para calibração de um sistema fotométrico de
medição de brilho. Este padrão foi constituído a partir da
determinação do índice de refração de uma placa de quartzo
em forma de uma cunha. O quartzo foi escolhido por ser
mais resistente aos efeitos de degradação do índice de
refração da superfície e seu índice foi determinado
utilizando um refratômetro tipo Abbe. O formato em cunha
contribuiu para reduzir os efeitos da reflexão da segunda
face.
A determinação do brilho pelo método goniorefletométrico
[4] permite o acompanhamento das variações causadas pela
degradação do índice de refração da superfície; porém, essa
metodologia necessita de uma montagem experimental e de
tratamentos mais elaborados.
2. MÉTODOS
A metodologia empregada para a minimização do erro na
determinação de índice de refração de superfícies consiste
na investigação de um tratamento de dados específico e
adequado para a fenomenologia de reflexão polarizada
baseada nas equações de Fresnel, aliada a aprimoramentos
no arranjo experimental, utilizado para testar e validar o
método. A implementação dessas duas componentes da
metodologia estão detalhadas nos itens a seguir.
2.1. Duas abordagens para o tratamento do ajuste de dados
O comportamento fenomenológico da reflexão polarizada
pode ser aproveitado para a determinação do índice de
refração. Para isso, duas abordagens de ajuste aos dados
experimentais foram desenvolvidas (método 1 e método 2).
A efetividade dos ajustes estudados foi testada com a
aplicação de dados experimentais de um material com índice
de refração superficial conhecido. Os resultados obtidos
pelos dois métodos serão comparados.
A primeira abordagem (método 1) - principal investigação
deste trabalho - consiste em ajustar os dados experimentais
de reflexão angular por um polinômio representativo da
reflexão de Fresnel, conforme equação a seguir :
RP
= ∑ c iθ i , i = {0,1, 2,3, 4,5,6}
R(θ ) = (5)
RS

e, então, obter o ângulo de Brewster (θB ) através do ponto
de mínimo da função ajustada e, conseqüentemente, o índice
de refração.
Investiga-se a determinação do ângulo de Brewster com
enfoque na análise da aderência fenomenológica conseguida
por diferentes ajustes polinomiais para a curva de reflexã o
polarizada. Estes ajustes são obtidos com a seleção de
diferentes conjuntos de regiões angulares de reflexão,
distribuídos simetricamente e assimetricamente em torno do
ângulo de Brewster. A aderência fenomenológica é avaliada
por três pontos de vista : 1) qualitativamente, pela
coincidência do ajuste com a curva de reflexão de Fresnel
teórica ; 2) por um indicador quantitativo da qualidade do
ajuste - χ2 reduzido e 3) pelo erro do ângulo de reflexão
mínima interpolado em relação ao ângulo de Brewster
obtido pela reflexão de Fresnel.
A segunda abordagem (método 2) consiste em ajustar os
dados experimentais de reflexão angular pela equação de
Fresnel que melhor representa a reflexão polarizada obtida
experimentalmente para uma superfície cujo índice de
refração será determinado. A melhor representação é
conseguida por um processo de comparação, para N
ângulos, entre a razão de extinção experimental (R(θ)) e a
razão de extinção teórica RF (n,θ) (equação (3)),
parametrizada pelo índice de refração coincidente com o da
superfície. A coincidência ocorre somente quando a
variância relativa entre a razão de extinção R(θ) e RF (n,θ) é
minimizada, conforme equações a seguir :
 1  R(θ ) − R (n, θ )  
2 B
∑  R(θF) 
σ (n ) = 
2

R (6a)
 N   
 1  R(θ ) − R (n,θ ) 
2
σ ( n) = 
2
RF ∑  R (n,Fθ)   (6b)
 N  F  
A equação (6a), utilizada por Andor [4], define uma função
de mérito para a minimização, na qual a convergência se dá
pela comparação do erro (numerador) com o próprio
resultado experimental (R(θ)). Por outro lado, a função de
mérito proposta na equação (6b) possui uma convergência
definida pela comparação do erro com o resultado alvo
(RF (n,θ)).
2.2. Seleção de regiões angulares para obtenção de dados
A análise da propagação de erros na medição de refletância
angular a partir das equações de Fresnel envolve três
variáveis de influência : 1) incerteza angular inerente à
medição goniométrica, decorrente da exatidão angular do
goniômetro e de erros de alinhamento; 2) incerteza no
índice de refração que pode ser causada por
inomogeneidades do próprio material e 3) incerteza na
polarização, causada pela contaminação de sinais de
polarização s na medição da polarização p e vice-versa e
pela presença de radiação espúria. O controle da
contaminação de sinais de polarização depende da exatidão
angular da polarização e do grau de polarização do
polarizador empregado.
Andor [4] analisou o impacto dessas componentes de
incerteza na medição da refletância média Rm - (Rp + Rs ) / 2 -
em função do ângulo de incidência (θ ), aparentemente para
um material com índice de refração em torno de 1.53. A
análise revela que o erro total tem uma distribuição centrada
nas proximidades do ângulo de Brewster, porém
assimetricamente. Por este motivo, admitindo-se que o
conjunto de dados experimentais é limitado, a seleção do
número de pontos por região angular pode influenciar o
ajuste polinomial e ser determinante na obtenção do ângulo
de Brewster com baixa incerteza.
Neste trabalho são estudados ajustes polinomiais obtidos
com pontos distribuídos simetricamente e assimetricamente
em torno do ângulo de Brewster.
2.3. Correção do offset angular devido a desalinhamento
Diferenças de refletância entre dados medidos e dados
ajustados decorrentes da descentralização do plano da
superfície de medição com o eixo do goniômetro foram
apontados [4]. A figura 2 demonstra o erro angular causado.
d
A
δ
r
θ
β
Fig. 2. Erro angular causado pela descentralização do plano da
superfície.
A descentralização do plano da superfície acarreta um offset
(δ ) na escala angular (θ ) indicada pelo goniômetro, de tal
forma que a reflexão ocorre realmente em outro ângulo (β ).
O raio r é definido experimentalmente pela distância entre o
o eixo do goniômetro e o telescópio. A correção (δ )
indicada por Andor [4] é dada por :
d sen θ
δ= (7)
r
Entretanto, considera-se melhor a seguinte correção, adotada
neste trabalho :
 d 
 
δ = θ r  (8)
 d 
1+ 
 r 
2.4. Aprimoramentos experimentais
A incerteza do resultado de índice de refração está
diretamente relacionada à incerteza de medição do ângulo de
Brewster. A análise da propagação de erro usando a equação
de Brewster revela que para a obtenção de incerteza em
índice de refração na quarta casa decimal é necessário a
determinação de ângulos com incerteza próxima a 1 segundo
de arco. Para isso foram realizadas medidas com um
espectrogoniômetro de precisão com resolução menor que 1
segundo de arco. Os espectrogoniômetros são instrumentos
baseados na medição de desvios angulares de feixes
luminosos emitidos por um colimador e captados por um
telescópio. Por causa do caráter telescópico da captação os
espectrogoniômetros são insensíveis a desalinhamentos
(translações) entre o colimador e o telescópio, o que é muito
vantajoso no caso de desvios provocados por refração mas,
menos suscetível a erro na determinação do ângulo de
Brewster e, por isso, foi adotada como a melhor função para
o ajuste polinomial de dados de reflexão polarizada.
3.1. Ajuste polinomial para a razão de extinção - Método 1
As figuras 4a e 4b mostram a razão de extinção para o
material modelo e o ajuste conseguido por cinco polinômios
para uma distribuição simétrica de 91 pontos entre 0° e 90°,
espaçados de 1°.
Refletância e Ajustes de Polinômios O(6) , O(3) e O(2)
1,0
0,9
0,8
0,7
0,6

Refletância
extremamente crítico para desvios provocados por reflexão.
0,5
Neste caso, o alinhamento entre colimador e telescópio com
0,4
o eixo do goniômetro e a centralização do plano da
0,3
superfície de medição com aquele eixo são críticos para
0,2
evitar a correção de offset na escala angular do goniômetro.
Por causa disso, foi construído um dispositivo porta amostra 0,1

para posicionar o plano da superfície de medição com erro 0,0

0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
de centralização de ± 0,05 mm. Para minimizar o erro de Ângulo de Incidência [Graus]
alinhamento do conjunto colimador/telescópio/eixo do RF O(6) O(3) O(2)
goniômetro foi utilizado alinhamento a laser por orifícios
colineares posicionados em cada elemento.
Fig. 4a. Razão de extinção e ajustes polinomiais de ordem 6, 3 e 2,
com distribuição simétrica de pontos angulares.

3. RESULTADOS
A figura 3 mostra a refletância angular das polarizações s, p Refletância e Ajustes de Polinônios O(6), O(5) e O(4)

e a razão de extinção, simuladas para um material não

absorvedor de índice de refração 1,5168 (vidro Schott -
BK7). Este material será tomado como modelo de 1,00
0,90

refletância para a análise dos ajustes polinomiais. 0,80

0,70
Refletância

0,60
0,50
0,40
0,30
Polarizações s, p e Razão de Extinção 0,20
0,10
1,0
0,00
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
0,9

0,8
Ângulo de Incidência [ Graus]

0,7
Rp/Rs O(6) O(5) O(4)
Refletância

0,6

0,5

0,4

0,3
Fig. 4b. Razão de extinção e ajustes polinomiais de ordem 6, 5 e 4,
0,2 com distribuição simétrica de pontos angulares.
0,1

0,0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 A observação dos gráficos 4a e 4b permite uma análise
Ângulo de Incidência [ Graus] qualitativa dos ajustes. Verifica-se que são necessários pelo
Rp Rs Rp/ Rs menos polinômios de ordem 4 para que a aderência
Fig. 3. Comparação das refletâncias para as polarizações s e p com fenomenológica se dê em toda a faixa de reflexão. O grau de
a respectiva razão de extinção. correlação dos três melhores ajustes, avaliado por χ2
reduzido, é muito alto, sendo de 0,99944 para ordem 4 ;
Na figura 3 é possível verificar que somente a polarização p 0,99970 para ordem 5 e 0,99999 para ordem 6.
e a razão de extinção tem um mínimo no ângulo de A figuras 5a e 5b permitem avaliar o grau de acerto do valor
Brewster. Além disso, a polarização p tem uma do ângulo de reflexão mínima obtido nos ajustes,
convergência muito suave em direção ao ângulo de comparativamente ao ângulo de Brewster correto.
Brewster, enquanto a razão de extinção converge bem mais
abruptamente. Por esse motivo a razão de extinção é muito
 Refletância e Erro do Ângulo de Brewster O(6), O(3) e O(2) Refletância e Ajustes de Polinômios O(6), O(3) e O(2)

1,00

0,90
0,20
0,80

0,70

Refletância
0,60
Refletância

0,50

0,10 0,40

0,30
cc
0,20

0,10

0,00
0,00 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
40 50 60 70 Ângulo de Incidência [Graus]
Ângulo de Incidência [Graus]
Rp/Rs
Rs/Rp O(6) O(3) O(2)
Rp/Rs
Rs/Rp O(6) O(3) O(2)

Fig. 5a. Erro do ângulo de Brewster para os ajustes polinomiais de Fig. 6a. Razão de extinção e ajustes polinomiais de ordem 6, 3 e 2,
ordem 6, 3 e 2 e distribuição simétrica. com distribuição assimétrica de pontos angulares.

Refletância e Ajustes de Polinômios O(6), O(5) e O(4)

Refletância e Erro do Ângulo de Brewster O(6), O(5) e O(4)

1,00

0,90
0,03
0,80

0,70
Refletância

0,02 0,60

0,50
Refletância

0,40
0,01
0,30

0,20

0,00 0,10
50 60
0,00
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
-0,01

Ângulo de Incidência [Graus] Ângulo de Incidência [Graus]

Rp/Rs
Rs/Rp O(6) O(5) O(4)
Rp/Rs
Rs/Rp O(6) O(5) O(4)

Fig. 6b. Razão de extinção e ajustes polinomiais de ordem 6, 5 e 4,

Fig. 5b. Erro do ângulo de Brewster para os ajustes polinomiais de com distribuição assimétrica de pontos angulares.
ordem 6, 5 e 4 e distribuição simétrica.
A figuras 7a e 7b permitem avaliar o grau de acerto do valor
A observação do gráfico 5a permite verificar que o ajuste do ângulo de reflexã o mínima obtido nos ajustes,
polinomial de ordem 2 apresenta o ângulo de reflexão comparativamente ao ângulo de Brewster correto.
mínima significativamente deslocado para a esquerda (valor
aproximadamente seis graus menor que θB ) e o de ordem 3 Refletância e Erro do Ângulo de Brewster O(6), O(3) e O(2)
deslocado para a direita (valor aproximadamente 3 graus
maior que θB ). O gráfico 5b permite verificar
deslocamentos significativamente menores, porém, os 0,20

ajustes de ordem 4 e 5 ainda apresentam valores maiores que

Refletância

o ângulo de Brewster. O ajuste de ordem 4 apresenta uma

anomalia, indicando refletâncias negativas. 0,10

As figuras 6a e 6b mostram a razão de extinção para o

material modelo e o ajuste conseguido por cinco polinômios 0,00
40 50 60 70

para uma distribuição assimétrica de pontos entre 0° e 90° ; Ângulo de Incidência [Graus]
espaçados de 10° até 40°, de 1° entre 40° e 60° e de 5° entre Rp/Rs
Rs/Rp O(6) O(3) O(2)
60° e 90°, totalizando 30 pontos angulares.

Fig. 7a. Erro do ângulo de Brewster para os ajustes polinomiais de

ordem 6, 3 e 2 e distribuição assimétrica.
 causado pelo uso de um polarizador com grau de
polarização de 99,2%.
Refletância e Erro do Ângulo de Brewster O(6), O(5) e O(4)

0,03
3.3. Resultados de índice de refração pelo Método 2
A seguir são apresentados os resultados da aplicação do
0,02

Método 2 , para as duas funções de mérito apresentadas

Refletância

0,01
(equações 6a e 6b).

0,00

Obtenção do Índice de Refração Método 2/R( θθ)

50 60

-0,01
Ângulo de Incidência [Graus] σ R
0,5718

Rp/Rs
Rs/Rp O(6) O(5) O(4) 0,5716
n = 1,5881
0,5714

0,5712

Fig. 7b. Erro do ângulo de Brewster para os ajustes polinomiais de 0,5710

ordem 6, 3 e 2 e distribuição assimétrica. 0,5708

0,5706

A observação da figura 7a permite verificar que mesmo para 0,5704

1,5780 1,5800 1,5820 1,5840 1,5860 1,5880 1,5900 1,5920 1,5940 1,5960
uma distribuição de pontos mais concentrada em torno do Índice de Refração
ângulo de Brewster não reduziu o erro dos ajustes
polinomiais de ordem mais baixa (2 e 3). A figura 7b mostra
que os erros angulares para os três ajustes polinomiais de Fig. 9a. Resultado de índice de refração pelo Método 2 / R(θ )
ordem mais alta (4,5,6) praticamente não se alteraram em
relação ao obtido para a distribuição simétrica. Isto indica
que a aderência fenomenológica conseguida pela Obtenção do Índice de Refração Método 2/RF (θθ)
distribuição assimétrica é praticamente igual à simétrica e,
assim, viabiliza a obtenção dos mesmos resultados com um
número significativamente menor de pontos de medição. σ RF
28,60

28,40
3.2. Resultados de índice de refração pelo Método 1 n = 1,5252
28,20

A seguir é apresentado o resultado da aplicação do Método 28,00

1 , para um polinômio de ordem 6, com dados experimentais 27,80

de refletância polarizada, obtidos para uma placa de vidro 27,60

óptico Schott - BK7 cujo índice de refração da superfície é 27,40

1,5235 1,5240 1,5245 1,5250 1,5255 1,5260 1,5265
conhecido (1,51676 ). Índice de Refração

Obtenção do Índice de Refração Método 1

0,010 Fig. 9b. Resultado de ín dice de refração pelo Método 2 / R F(θ )
Refletância, Razão de Extinção e Primeira

0,005 Os resultados mostram que a função de mérito com

Derivada da Razão

referência na razão de extinção alvo (RF (θ )) tem uma

0,000 convergência melhor que a da função de mérito baseada na
razão de extinção medida (R(θ )). De fato o resultado da
-0,005
n=1,5198 primeira é n = 1,5252 e o resultado da segunda é n = 1,5881.
Por outro lado, o resultado também mostra que a função de
-0,010 mérito referenciada na medição é apropriada para a
53,5 54,5 55,5 56,5 57,5 58,5 59,5

Ângulo de Incidência [Graus] estimativa do erro experimental, enquanto a função

R R' O(6) referenciada no valor alvo é mais apropriada para
convergência do resultado.
Fig. 8. Resultado de índice de refração pelo Método 1.

4. CONCLUSÃO
O resultado mostra que o tratamento dos dados
experimentais pelo Método 1 leva a boa concordância com o O estudo da adequação dos ajustes polinomiais mostrou que,
valor conhecido do índice de refração, com erro na terceira embora a razão de extinção tenha um comportamento
casa decimal. O Método 1 também apresenta o menor erro abruptamente convergente próximo ao ângulo de Brewster, a
quando comparado com os resultados obtidos pelo Método 2 utilização de polinômios com baixo grau de aderência
(Figuras 9a e 9b). fenomenológica em toda a faixa de refletância pode levar a
A refletância mínima encontrada não é nula (0,005). Esse erros significativos na determinação do ângulo de Brewster.
efeito é associado principalmente ao erro de polarização
O ajuste realizado com polinômios de alta aderência
fenomenológica e com distribuição assimétrica dos pontos
angulares apresentou a mesma aderência que a da
distribuição simétrica, mesmo utilizando um número
reduzido de pontos de medição.
Os resultados de índice de refração obtidos pelo Método 1
apresenta os menores erros quando comparado aos
resultados do Método 2. No caso do Método 2, a função de
mérito na qual a referência é a razão de extinção alvo tem
convergência melhor que a função de mérito referenciada na
razão de extinção medida.
A utilização da razão de extinção de reflexão polarizada
mostrou-se como uma alternativa adequada para a
determinação do ângulo de Brewster no lugar da refletância
média.
Físico, Mestre Antonio Francisco Gentil Ferreira Junior, Instituto
de Pesquisas Tecnológicas do Estado de São Paulo - IPT – Divisão
de Mecânica e Eletricidade – Laboratório de Óptica, Av. Prof.
Almeida Prado, 532 – Cidade Universitária – São Paulo – S.P. –
Brasil – CEP 05508-901. Fone (11) 3767-4523, Fax (11) 3767-
4053, e-mail agentil@ipt.br .
Técnico, Bruno Antunes Mota, Instituto de Pesquisas Tecnológicas
do Estado de São Paulo - IPT – Divisão de Mecânica e Eletricidade
– Laboratório de Óptica, Av. Prof. Almeida Prado, 532 – Cidade
Universitária – São Paulo – S.P. – Brasil – CEP 05508-901. Fone
(11) 3767-4523, Fax (11) 3767-4053, e-mail brumota@ipt.br .

REFERÊNCIAS
[1] D. Malacara, “Geometrical and Instrumental Optics”,
Academic Press,Inc., New York, pp. 182-190, 1988.
[2] A. J. Werner, “Methods in High Precision
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[3] D. Tentori, J.R. Lerma, “Refractometry by minimum
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[4] G. Andor, “Gonioreflectometer-based gloss standard
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[5] ISO 1994 “Paints and varnishes – Determination of
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and 85º”, International Standard ISO 2813 (Geneva:
International Organization for Standardization).
[6] ASTM 1999 “Standard Test Method for Specular
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[7] ASTM 1998 “Specular Gloss of Paper and Paperboard
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American Society for Testing and Materials).
[8] W. Budde, C.X. Dodd, “Stability problems in gloss
measurements”, J. Coating Technology, vol. 52, pp.
44-48, 1980.
[9] J.C. Zwinkels, M. Nöel “Specular gloss measurement
services at the Nationl Reseach Council of Canada”
Surface Coatings International, vol. 12, pp. 512-516,
1995.

Autores:
Físico, Oswaldo Luiz Bueno Martins, Instituto de Pesquisas
Tecnológicas do Estado de São Paulo - IPT – Divisão de Mecânica
e Eletricidade – Laboratório de Óptica, Av. Prof. Almeida Prado,
532 – Cidade Universitária – São Paulo – S.P. – Brasil – CEP
05508-901. Fone (11) 3767-4523, Fax (11) 3767-4053, e-mail
omartins@ipt.br .