En la historia de la humanidad el hombre ha tratado de cubrir sus necesidades básicas de

supervivencia, adaptándose a los medios que lo rodean. Debido a la diversidad de factores que
afectan dicha supervivencia; como el clima, geografía, situación política, eventos históricos, es
imprescindible que dichas necesidades se cubran cada vez mejor y de manera más específica,
basados en estos puntos, los materiales usados han ido evolucionando en el tiempo, razón por la
cual dichos materiales deben ser cada vez mas precisos y de mejor calidad, por esto ya no solo deben
ser funcionales a nivel macroscópico, sino aun mas lo deben ser a nivel microscópico, ya que es allí
donde la mayoría de los defectos puntuales se producen en cuanto al estado solido se refiere, por
esto es importante tener cada vez más y mejores técnicas que permitan determinar
experimentalmente dichos defectos, el conocimiento previo y puntual de cuales son y donde se
producen permite la prevención en el desarrollo de los mismos.

Así es como se recurre a la microscopia electrónica; al recurrir a la interacción de los electrones con
la materia, es posible obtener mediante un conjunto de estas técnicas, información estructural,
importante en la caracterización de los defectos, si tenemos en cuenta solo los microscopios ópticos,
los cuales solo llegan a dimensiones cercanas a los 0.5 𝜇𝑚, no se puede llegar a resoluciones
atomicas ya que la radiación incidente presenta longitudes de onda demasiado grandes, mientras
que con la microscopía electrónica podemos obtener longitudes de onda menores a 1 Å,
transformando los electrones difractados en imágenes reales.

En este tipo de microscopia encontramos, la microscopia electrónica de barrio SEM, en la cual

electrones secundarios de baja energía, menores a 50 eV, los cuales emitidos de la superficie se
pueden utilizar para dar un tipo de imagen, para que su emisión sea fácil, primero se debe metalizar
la muestra, cubriéndola con una fina capa de un metal conductor, como el oro. El haz de electrones
se concentra en un área diminuta de 20Å, que pueden barrer la superficie al ser deflactado por
bobinas. Dichos electrones secundarios se observan por encima y la imagen muestra la intensidad
de los mismos en cada parte de la muestra. Algunas aplicaciones para esta técnica permiten
encontrar: microestructura, fases cristalinas, impurezas, microfizuracion, en el caso de los
homigones, fases cristalinas, texturas, tamaño de grano, patologías y deterioro en el caso de
materiales cerámicos, asi como corrosión, fatiga, fragilidad, en el caso de los mismos, análisis de
fracturas, una gran ventaja de esta técnica es que no es un ensayo destructivo.

También se encuentra la microscopia electrónica de transmisión TEM, los electrones que se

difractan en el momento que pasan por la muestra generan lo que se conoce como un difracto
grama, que mediante el uso de lentes magnéticas se transforma directamente en imágenes lo cual
nos da una proyección de la estructura cristalina a lo largo del barrido de electrones. Se debe tener
en cuenta el espesor de la muestra y las condiciones de focalización, en general los microcristales
de alrededor de 500 Å son ideales y al tomar varias fotos en distintos niveles de focalización se
obtienen resultados cercanos a la resolución atómica. La imagen obtenida es comparada con la
imagen calculada para obtener la estructura de los compuestos, ya que es difícil de interpretar
tridimensionalmente, debido a que es necesario un alto vacío y el impacto de electrones es muy
acelerado, algunos materiales no sobreviven a estas condiciones, de la misma manera puede
deshidratarse perdiendo aguas e inclusive algunas moléculas orgánicas puedes volatilizarse o
reaccionar, sin embargo esta técnica presenta la gran ventaja de mostrar los defectos en los
materiales, difícil de apreciar con otra técnica.
Mediante el uso de la miscroscopia electroica como se dijo antes se puede de manera ideal estudiar
los defectos presentados en los solidos en la vida real, no solo en la frontera de grano y fases, como
lo permite la microscopia óptica , sino realmente entenderlos en un orden de µm a nm, usando TEM,
SEM y STEM, visualizando los defectos Frenkel, Schottky, dislocaciones de borde y dislocasiones en
espiral, estos últimos son aquellos que permiten entender como el material va a responder a
esfuerzos mecánicos, principalmente en el caso de las aleaciones y algunos metales.