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BOLETÍN DE LA S O C I E D A D ESPAÑOLA DE

Cerámica y Vidrio
D I D Á C T I C A

Análisis mineralógico cuantitativo por difracción de rayos X,


Aplicación del método del patrón interno "modificado"
en el estudio de compuestos AI2O3-AI2TÍO5
J. F. BARTOLOMÉ
Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM), C.S.I.C
28049 Cantoblanco. Madrid

En el presente trabajo se lleva a cabo una revisión general de los distintos métodos de análisis mineralógico cuantitativo por difrac-
ción de rayos X. Especialmente se han estudiado los métodos de Klug y Alexander y el de F.H. Chung, pues son los únicos méto-
dos que eliminan, mediante un artificio matemático riguroso, el efecto de los coeficientes de absorción másica. También se expo-
nen las causas de error en los métodos para la determinación cuantitativa por rayos X. Por último, se ha aplicado el método del
patrón interno ''modificado" en el estudio de compuestos de AI2O3 -AI2TÍO5. Estos compuestos con una matriz de a-Al203 y una
fase dispersa de ß-Al2Ti05, se han obtenido mediante sinterización y reacción «in situ» usando como materiales de partida mez-
clas de polvos de AI2O3 + TÍO2 . El titanato de aluminio se forma por reacción en estado sólido entre AI2O3 y TÍO2 alrededor de
la temperatura eutectoide 1280 °C en el sistema AI2O3-TÍO2 Se ha podido comprobar que el ciclo térmico utilizado tiene una
influencia determinante en la cantidad de AI2TÍO5 formado en estos compuestos.

Palabras clave: difracción de rayos X, análisis cuantitativo, compuestos de Al20^ -Al2TiO^.

Mineralogical quantitative analysis by X Ray Diffraction. Aplication of the «modificated» internal pattern on the study of
AI2O3-AI2TÍO5

The present paper comprises a general revision of the different mineralogical quantitative analysis methods by X- ray diffraction.
Especially the Klug and Alexander and F. H. Chung methods have been studied, since they are the only methods that eliminate,
through a rigorous mathematical artifice, the effect of the mass absorption coefficients. The error reasons in the methods for the
quantitative determination by X- ray diffraction have also been exposed. Finally, the method of the ''modificated'' internal pattern
in the study of AI2O3-AI2TÍO5 composites has been applied. These composites v^ith an a-Al203 matrix and a ß-Al2Ti05 disp-
persed phase, have been obtained by sintering and "in situ" reaction using powder mixtures of AI2O3+TÍO2 as starting materials.
Aluminium titanate can be formed by solid state reaction between AI2O3 and TÍO2 at temperatures above the eutectoid tempera-
ture 1280 °C in the AI2O3-AI2TÍO5 system. It has been possible to prove that the used thermal cycle has a determinant influence
on the quantity of AI2TÍO5 formed in these composites.

Key words: X-ray diffraction, quantitative analysis, Ál20^-Al2TiO^ composites.

1. INTRODUCCIÓN nes acerca de la difracción de rayos X por una pastilla de polvo


plana, dispositivo que actualmente se emplea en la práctica
El análisis por difracción de rayos X por el método de polvo difractométrica.
de Debye-Scherrer (1), es quizá la técnica más perfecta y rápi- En una muestra homogénea, que no posea orientaciones
da para el análisis cualitativo de mezclas cristalinas, puesto preferentes ni presente efectos de extinción o de microabsor-
que cada fase cristalina de la mezcla, produce un diagrama ción, la intensidad I^ de una determinada difracción de una
característico e independiente de las otras fases, lo que hace fase A es directamente proporcional a la fracción de volumen
posible identificar los distintos componentes separando los V^ de dicha fase e inversamente proporcional al coeficiente de
diagramas superpuestos que obtenemos. absorción lineal p | j ^ de la muestra
Por otro lado permite el análisis cuantitativo de los diversos
componentes cristalinos, ya que la intensidad de las líneas de V
difracción de cada componente en la mezcla es proporcional a ^a=Ka. 11}
la cantidad de fase cristalina presente. Por tanto se podrá rea-
lizar este análisis siempre y cuando se establezca la adecuada
relación entre la intensidad y la concentración de la fase cris- donde:
talina objeto de estudio. I^ == intensidad de la difracción elegida de la fase A
Se deben a Alexander y Klug (1) las investigaciones más K^= Constante de proporcionalidad que depende de las
importantes para la aplicación, al análisis cuantitativo, de las características del aparato y de la naturaleza de la fase a deter-
técnicas de difracción de rayos X, basadas en las consideracio-

Bol. Soc. Esp. Cerám. Vidrio, 35 [4] 271-283 (1996)


271
J. F. BARTOLOMÉ

R m ~ Coeficiente de absorción lineal de la muestra donde todos los valores son conocidos menos K^.
Vo = Fracción en volumen de la fase A. Una vez hallado éste, se registraría en las mismas condicio-
d.
nes, la línea de difracción del compuesto A en la mezcla, se
El coeficiente de absorción másico de una muestra cualquie- determinaría su intensidad y así se podría calcular el porcen-
ra viene dado por la relación: taje de A en la muestra problema.
Si bien existen tablas donde se encuentran tabulados los coe-
ficientes de absorción másica para los diferentes elementos, es
.^/-. necesario conocer la composición química o centesimal de la
'-^J^a^'^bH (21
muestra y el cálculo se hace tedioso, por lo que este método
directo no puede ser aplicado en determinaciones de control
donde: que requieren gran rapidez y sencillez de cálculo.
}ij^= Coeficiente de absorción másico de la muestra Por este motivo, se suele recurrir a métodos indirectos que,
1^1m~ Coeficiente de absorción lineal de la muestra dependiendo del número de componentes de la muestra pro-
l^m~ Densidad real de la muestra blema y de la igualdad o desigualdad de los coeficientes de
x^= Fracción en peso de la fase A en la muestra absorción másica del compuesto a determinar y de la matriz,
X]-,= Fracción en peso del resto de la muestra se pueden clasificar en dos grupos:
\x^= Coeficiente de absorción másico de la fase A
•p^= Coeficiente de absorción másico del resto de la muestra 1-) Mezcla de dos componentes en la que p^ = p ^
2-) Mezcla de n componentes en la que p ^ ^ \x^
puesto que

Xa -I- Xu = 1 2. MÉTODOS INDIRECTOS

por tanto: Como hemos expuesto anteriormente, para la aplicación de


la expresión {31, es necesario la determinación de los coefi-
cientes de absorción másica, y esto implica a su vez el conoci-
Mlm = Pm {Xa/^a + Mb " ^aMb}
miento exacto del análisis químico del material, por lo que se
opta por emplear una serie de métodos indirectos propuestos
y ya que: por diversos autores, todos ellos tendentes a eliminar de una u
otra forma la necesidad de cálculo de los coeficientes de absor-
ción, y que podemos reunir en :
9a
a a
- Método del Patrón Interno (Klug y Alexander) (1)
- Método de la Eliminación de Matriz (F.H. Chung)(2)
- Método de las Adiciones Sucesivas o de la Dilución
Sustituyendo en {1} se tiene que la intensidad de la fase A (Copeland y Bragg)(3)
será: - Método de la Adición Simple o del Patrón externo
(Legrand y J. Nicolas)(4)
- Método de la Adición Generalizada (Alegre)(5)
De todos los métodos expuestos, después de un análisis de
f^a-^a
131 los mismos, se ha establecido que los únicos que en general,
' P»,-^,)+fX,} deben ser utilizados son el de Klug y Alexander y el de F.H.
Chung, pues son los únicos métodos que eliminan, mediante
Esta última expresión es la relación básica en la que se fun- un artificio matemático riguroso, el efecto de los coeficientes
damenta todo el análisis cuantitativo por difracción, y en ella de absorción másica. Con anterioridad se contrastaron ambos
se relaciona la intensidad de una línea de difracción, previa- métodos por A. Caballero (6) observándose que tanto por el
mente seleccionada, de una fase cristalina en una mezcla, con método de Klug-Alexander como para el de Chung, se obtie-
su concentración, densidad, coeficiente de absorción másica y nen valores medios, para cada fase, tales que cumplen con que
coeficiente de absorción másica del resto de la muestra que la probabilidad de que el valor real se encuentre dentro del
denominaremos matriz. margen X ± a^^t es mayor del 95%.
Es obvio que si se conociera el coeficiente de absorción mási-
ca del componente a determinar y su densidad, así como el
coeficiente de absorción másica de la matriz, únicamente seria 2.1. Método del patrón interno
necesario determinar el valor de la constante de proporciona-
lidad K^, la cual, como hemos expuesto previamente, sólo Para el establecimiento de este método, recordemos la ecua-
depende de las condiciones del aparato y de la naturaleza de ción fundamental {31, que nos relaciona la intensidad de una
la fase A. Para ello, una vez elegida la línea de difracción a línea de difracción del compuesto a determinar con su con-
medir, se registraría la correspondiente al compuesto A en centración en la mezcla
estado puro y para el cual la ecuación |31 se transformaría en:
a a
/ =- 131

QX-
cuyo denominador se puede escribir dç la siguiente forma:

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y V i d r i o . V o l . 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996


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ANALISIS MINERALÓGICO CUANTITATIVO POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X. APLICACIÓN DEL MÉTODO DEL PATRON INTERNO "MODIFICADO" EN EL ESTUDIO DE COMPUESTOS AI2O J-AI2TÍO5

del patrón elegido y se registran, para cada una de ellas, las


P a { x a (/^a-i"b) + M b } = P a { X a M a - M b ( l - X a ) } = P a ( X aMa + M b ^ b ) } = P a - M t difracciones seleccionadas para la fase a determinar y el
patrón, calculándose los valores de Ta/Ip- Estos valores se lle-
van a una gráfica frente a los porcentajes conocidos de la fase
donde ]i^ es el coeficiente de absorción másica de la muestra a determinar en las mezclas, con lo que se obtiene una recta
total. que según la ecuación {61 pasa por el origen.
Sustituyendo en {3}: Obteniendo la recta de calibrado estaremos en condiciones
de analizar cualquier fase en una mezcla problema. Para ello
tomaremos una cantidad determinada del problema y se le
/= 141 añade la misma cantidad del patrón que en el caso anterior. Se
determina igualmente el valor de I'^/Ip Y ^ partir de este valor
y por medio de la recta de calibrado se hallará el valor de la
Ahora bien, si a un gramo de la muestra problema le añadi- fase a determinar en nuestro problema.
mos «p» gramos de un compuesto patrón, las nuevas concen-
traciones en la mezcla serán:
2. 2. Método de la eliminación de matriz

x\ para la fase a medir Para establecer una relación exacta entre la intensidad de la
]+p línea difractada y la concentración de esta fase en la muestra,
E.H. Chung (2) parte de la ecuación fundamental {41 que rela-
ciona estas dos variables:
^P=- para el patrón
1+;.
K .X
T a a 141
Las intensidades difractadas serán según {4}

K .x' Aplicando esta ecuación al compuesto puro obtendrenaos la


J - P P siguiente expresión:
r =-Pa^ t Pp\' t

Dividiendo miembro a miembro y teniendo en cuenta las (a=


expresiones x' ^ y x ' :

r K .p .x^ k .0 .X y dividiendo ambas expresiones, tendremos que:


a _ a rp a __ a "p a 151
I k .0 -x k .0 .p
p p ^a p p ^a^
17}
Si ponemos que «p» se mantiene constante: (a >.
p=cte Supongamos una mezcla problema donde queramos deter-
minar la concentración del compuesto A. Para ello añadiremos
una cantidad de un compuesto puro P, con la condición de que
^p'9a'P éste no este incluido en la muestra original.
La fracción en peso del patrón añadido y de la muestra ori-
De la ecuación |51 se tiene que ginal, denominados Xp y x^ serán

XD +K x„ + 2 Xi
x^^K.~ r, 161
y en base a la ecuación |5} se cumplirá pues, para la fase A y
el patrón P en la mezcla
Según esto, cuando el patrón interno se añade en proporción
constante, la concentración del componente A es una función
lineal de la razón de intensidades, siendo K la pendiente de la
recta.
/
2. 1. 1. PROCEDIMIENTO (y o V,
Se procede a obtener una serie de mezclas sintéticas de la Dividiendo ambas expresiones
fase a medir con una matriz apropiada, cuya condición funda-
mental es que no produzca difracciones en la zona en la que
vamos a realizar las medidas. 181
Una vez preparadas, se les añade a todas la misma cantidad

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 35 Num. 4 Julio-Agosto 1996 273
I. F. BARTOLOMÉ

En esta ecuación, el término (Ip)Q / (1^)0 ^^ constante e inde- 3. CAUSAS DE ERROR EN LOS MÉTODOS PARA LA
pendiente del porcentaje de fase A y patrón P presente en la DETERMINACIÓN CUANTITATIVA POR RAYOS X
mezcla.
Si preparamos una mezcla sintética, en proporciones iguales Los errores en la determinación cuantitativa por rayos x son
de patrón y fase A, aplicando la ecuación ¡8| a dicha mezcla en principio de dos tipos:
tendremos que:

3.1. Errores debidos a la técnica de medida


ya que x^=x^
Wo ^p Dependen fundamentalmente del aparato de medida y se
originan debido a:
Llamando constante de referencia K^ = V^^/V^ que es la - Variaciones en las condiciones de alimentación, lo que da
relación de intensidades de la fase A y el patrón en una mez- lugar a variaciones en la
cla al 50% en peso: intensidad de la radiación X primaria.
- Debilitación de la potencia del haz de rayos X debido a la
polución del anticátodo.
(Ço_ 1 ^a 191 - Envejecimiento del tubo contador.
- Errores de medida de la intensidad de reflexión.
- Defectuosa evolución del fondo continuo de los diagramas.
Luego sustituyendo el valor en la ecuación |8j obtenemos la
expresión
3, 2. Errores debidos a la muestra
I
Pueden provenir de:
'p'a - Tamaño de los cristales (óptimos entre 5 y 10 pm).
- Moliendas inadecuadas.
de donde - Mezclas inhomogéneas.
X I - Orientaciones preferenciales.
X - ~ ^ ^ iioi - Diferente cristalinidad entre patrones y muestra problema.
" K I - Patrones internos inadecuados.
a p
Los errores debidos a la técnica de medida se pueden obviar
expresión que nos da la concentración del compuesto A en en gran medida mediante el recalibrado de las muestras patro-
la mezcla y por tanto de la muestra original, puesto que la adi- nes de tiempo en tiempo, además de calibrar siempre de
ción del patrón es conocida. nuevo, tras cualquier pausa del aparato, por las circunstancias
Como podemos ver en la ecuación {10} han sido eliminados, que sean (revisiones, reparaciones, puesta a punto, etc). El
los coeficientes de absorción másica. Dicha expresión repre- obviar los errores debidos a la propia muestra es más difícil ya
senta una línea recta que pasa por el origen, con una pendien- que generalmente los errores parten de la naturaleza misma
te Xp/K^, siendo además una ecuación obtenida mediante de la muestra a estudiar. La mejor y casi única forma de
deducción matemática y sin ninguna imposición. minimizar los errores se basa en controlar los mismos median-
te un tratamiento estadística exhaustivo de los datos.
Igualmente en lo que se refiere a los patrones internos a selec-
2. 2. L PROCEDIMIENTO cionar, es necesario que éstos cumplan una serie de especifi-
caciones básicas, que se pueden resumir así:
Se preparan mezclas sintéticas binarias al 50% en peso del - Ser puro y bien cristalizado
patrón interno y de las muestras donde se encuentran las fases - Presentar una raya de difracción intensa, lo más próxima
a determinar. Registrando en cada una de ellas las difracciones posible a la fase a medir, pero sin interferencia con ésta.
seleccionadas para la fase a determinar y el patrón, y calcu- - Poseer una densidad semejante a la muestra en estudio con
lándose a continuación los valores de las constantes de el fin de lograr una perfecta homogeneización.
referencia Kj en cada caso. Una vez conocidas éstas, no hay - No dar lugar a orientaciones preferenciales.
más que tomar una cantidad de muestra problema y añadirle
una cantidad de patrón conocida. Se determina la relación de
intensidades de las líneas de difracción seleccionadas la/Ip/ Y
se conocerá directamente el valor de la fase a determinar en la 4. APLICACIÓN DEL MÉTODO DEL PATRON INTERNO
muestra problema en base a la ecuación |10|. «MODIFICADO» AL ESTUDIO DE COMPUESTOS DE
El método de F.H. Chung presenta la ventaja de que no AI2O3 -AI2TÍO5
necesita curva de calibrado, con lo que disminuye el número
de experimentos necesarios. Por otro lado no es preciso tener Como ya hemos visto, entre los métodos generales, el más
una información previa sobre el rango de concentraciones a difundido y el que quizás conlleve un error menor es el méto-
determinar. Por último la cantidad de patrón a añadir a la do del patrón interno de Klug y Alexander (1). Sin embargo, la
muestra problema se puede elegir en cada caso, cosa que no es problemática de la elección de un patrón adecuado para las dis-
posible en el método de Klug-Alexander, puesto que ésta tintas fases, su homogeneización y, sobre todo, el solapamien-
queda determinada por la cantidad empleada al realizar la to de sus picos de difracción con los de las fases presentes en la
curva de calibrado. muestra, hicieron desaconsejable el uso de este método.

274 Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 35 Num. 4 |ulio-Agosto 1996
ANÁLISIS MINERALÓGICO CUANTITATIVO POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X. APLICACIÓN DEL MÉTODO DEL PATRÓN INTERNO "MODIFICADO" EN EL ESTUDIO DE COMPUESTOS AI2O3-AI2TÍO5

Se trató de elaborar un método de determinación directa, en Calculamos la K a partir de la expresión |11}:


el que no hubiese necesidad de utilizar una sustancia patrón,
y que se pudiese aplicar en mezclas que contuvieran más de / X
dos fases (7). En nuestro caso estas fases fueron la AI2O3, TÍO2
y el AloTiOq
Hallamos la K' a partir de la K, ya que según vimos antes
Partimos de las expresiones: K^-l/K

Representamos la gráfica sustituyendo K' en jl2}, obtendre-


mos la recta de calibrado (fig. 1).

Despejamos p^, que es el coeficiente de absorción másico de


la muestra total, en ambas expresiones

/.
^^r \'r
^a'^a ^b'^'b

Como ]i^ es igual en las dos expresiones, las igualamos


+

Por tanto tendremos ^a^a ^b'^b

/ K .X
Ö _ a a

Si K=:Ka/Kb h ^b
.X,

[a=K.X a lili
Xa / Xa+Xb
Por lo cual
Fig. 1: Recta de calibrado.

4 1 _^«
h K ^b
Sil/K-K'
I 4. 1. Procedimiento
a X'-
Este método será aplicado para realizar el análisis cuanti-
tativo de una serie de muestras con composiciones variables
h-K' X
a de Alúmina, Titania y Titanato de Aluminio obtenidas a patir
de polvos submicrónicos comerciales de alúmina y titania
Es decir cuyas características y procesamiento se ha descrito anterior-
mente (8). El AI2TÍO5 se formará mediante sinterización y
reacción «in situ» en estado sólido entre AI2O3 y TÍO2 alrede-
dor de la temperatura eutectoide 1280 °C en el sitema AI2O3 -
TÍO2 (9, 10). Estudiaremos las siguientes composiciones trata-
Si das con diferentes ciclos térmicos (Tabla I).
En el desarrollo del presente trabajo se utilizó un difractó-
a_c^ (a+c) a
metro de la casa Siemens modelo D5000 con un generador
b d (b+d) b Kristalloflex 710, empleando la radiación Ka del cobre
(?i=l.54051 A) con filtro de níquel. Las condiciones de trabajo
empleadas fueron un voltaje de 50 kV y una intensidad de 30
I X' Kl +L mA, con una velocidad de barrido de 0.5°/min entre los valo-
res de 2 theta de 25° y 28°. Se eligió este rango de 2 theta ya que
LX' en él se encontraban picos de difracción representativos de los
tres componentes de las muestras estudiadas (Tabla II).
x,-x, K^i^.i^
Las muestras objeto de estudio fueron siempre molidas en
un mortero de carburo de wolframio hasta un tamaño de par-

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 35 Num. 4 Julio-Agosto 1996 275
. F. BARTOLOMÉ

TABLA I. COMPOSICIONES EN PESO Y TRATAMIENTO TÉRMICO DE LAS DIFERENTES


MUESTRAS

COMFQSÍCIONES <% í ^ FESO)


octo 95 % AI2O3 90 % AI2O3 85 % AI2O3
[ TEEiMICO 5 % TÍO, 10%TiO2 15%Ti02
(I) 1600 2 horas A95I A90I A85I

(II) 1300 20 horas A95II A90II A85II


1500 1 hora 20R
<

TABLA II. Picos DE DIFRACCIÓN REPRESENTATIVOS DE LOS TRES COMPONENTES DE


LAS MUESTRAS ESTUDIADAS
15R

AIA Al^TíQ^ TÍO3


10R
28 -25.6 -26.6 -27.5

; d 3.479 3.37 3.25

i/i, 75 80 100

TABLA III. MEZCLAS DE AI2O3 Y TÍO2 (RUTILO) EN PROPORCIONES EN PESO


DENTRO DEL R A N G O DE LAS MUESTRAS A ESTUDIAR PARA REALIZAR LA RECTA DE
CALIBRADO
Fig. 2: Difmctogmma de las mezclas patrón.

SR 10R 15R 20R


AljOj ( % en pesó) 96.04 91.99 85 80
Para el eje de abscisas
TlOi ( % e» peso) 3.96 8.01 15 20
Xtj/Xji+X^

TABLA IV. VALORES DEL ÁREA NORMALIZADA DE LOS PICOS DE LAS MEZCLAS PATRÓN
Si sustituimos este valor en el eje de ordenadas de la gráfica,
tendremos:
m im J5R 20R

AREA (Norm.) 7.802 22.743 34.6 41.89 ,


TÍO. l y
0.17 x l ^ i / 0 . 1 7 XITÍ + Ia¡
AREA (Norm.) 33.27 44.32 31.91 27.19
AiAíy
Sustituimos (Tabla VI), y representamos en tanto por ciento
la recta de calibrado (Fig. 3).
TABLA V. VALORES DE K PARA LAS DIFERENTES MEZCLAS PATRÓN

5R lOR 15R im TABLA VI. VALORES DE LOS PUNTOS PARA LA OBTENCIÓN DE LA RECTA DE
CALIBRADO DE LA TITANIA
•it. 5.7 5.9 6.1 6.2

EíeX Ej^Y
0J7xV0,17xl,,+Í^, (xlOO)

tícula menor de 35 pm y homogeneizadas tres veces con ace- 3.96 3.83


tona. 8.01 8.02
Para realizar la recta de calibrado, se realizaron mezclas de 15 15.56
AI2O3 y TÍO2 (rutilo) en proporciones en peso dentro del
20 20.75
rango de las muestras a estudiar (Tabla III).
Se realizó el barrido de las mezclas patrón según las carac-
terísticas anteriormente dichas obtuviéndose los difractogra- En el caso de nuestras muestras, donde tenemos AI2TÍO5, la
mas mostrados en la fig. 2. Los valores de I^ y de I^, se calcu- suma de Xjj + X^j no será 100, sino X^'p +Xjj + X^j = 100.
laron por medio de un programa de ordenador que nos da el El Titanato de Aluminio se forma a partir de Titania y
valor del área normalizada de los picos. Estos valores se pue- Alúmina en una proporción 1:1, por tanto si tenemos en cuen-
den ver en la tabla IV. ta sus masas moleculares tendremos una relación 102/80.
Según la ecuación | l l l calculamos la K. Posteriormente se Si partimos, por ejemplo, de 95 % en peso de Alumina + 5 %
halló la K'=l /K, obtuviéndose los siguientes valores (Tabla V): en peso de Titania (muestra A95), tendremos la relación:
La K será igual a ~ 6, por lo que:
Ti + Al
5 - x 95-1.275X
K'=0.17

276 Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y V i d r i o . V o l . 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996


ANÁLISIS MINERAL(')OIC() CUANTITATIVO POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X. APLICACIÓN DEL MÉTODO DEL PATRÓN INTERNO "MODIFICADO" EN EL ESTUDIO DE COMPUESTOS AI2O3-AÍ2TÍO5

C9 ~
C)

1
00 -

20 —
1 D Al 710,
80 -
< • TÍO,
+
60 -

E 10 - 40 -
X
1^ 1 / [ y = 1.03258.x

3,
5 - 20 - /

—•••yi^^--i—1—\—i—j—i—\—p '
A
y V ^
0 —
U 1 1 ' 1
r • i ^ i ^ " " t ""^•"" T ' "••
10 15 25 25 26 27 28
XTi / XTi+XAl
29
Fig. 3: Recta de calibrado de la Titania, obtenida a partir de mezclas de Fig. 4: Difractograma de la muestra A95I.
Titania+Álumina.

Por tanto la cantidad de Titanato de Aluminio que se for- Despejamos x, dándonos un valor de x = 0.0311
mará sera 2.275x, es decir Xjj + X^j = 100 - 2.275x Por tanto, igualamos con la fórmula para el eje de abscisas
El eje de abscisas de la gráfica en el caso de la muestra con
95 % en peso de Alumina y 5 % en peso de Titania (A95) será:
5-x
=0.0311
100-2.275X
5-x
Despejamos la x, que serán los gramos de Titania que reac-
100-2.275X Xj..+x^^
cionan con la Alúmina para dar el Titanato de Aluminio en 100
En el caso de las muestras en que partimos de 10 % en peso gramos de compuesto, obteniendo un valor de x = 2.03.
de Titania y 90 % en peso de Alumina (A90) y de la de 15 % en Por tanto
peso de Titania y 85 % de Alúmina (A85), sustituiremos el 5 en
la ecuación por 10 y 15 respectivamente.
2.59 2.03 4.62
4.2. Muestra A95I Tendremos que en 100 gramos de muestra habrá (Tabla
VIII):
Realizamos el barrido según las características ya dichas, y
obtenemos u n difractograma que se puede observar en la
figura 4. TABLA VIII. TANTOS POR CIENTO EN PESO DE LA MUESTRA A95I

Los valores de las áreas normalizadas se pueden ver en la


tabla (Tabla VII) % «n p«í$o
Aplicando la fórmula para el eje de ordenadas, tendremos
AkQ, 92.41
que
TSOj 2.97
0.17./^.
?í_=0.03214 liÍiÍiilÍiÍHÍMÍIÉiÍIÍ 4.62
O.l?./,,./,,

Si sustituimos este valor en la ecuación de la recta


Si dividimos por las densidades teóricas de cada compues-
0.03214 = 1.03258 . x
to, podremos calcular la densidad teórica

92.41 / 3.97 + 2,97 / 4.26 + 4.62 / 3.7 = 25.215


TABLA VIL VALORES DE LAS ÁREAS NORMALIZADAS DE LA MUESTRA A95I

d = 100 / 25.215 = 3.966


AREA(Norm.)TíOj[y 7.336
Si calculamos en tanto por ciento en volumen (Tabla IX):
AREA (Nûitû.) AïjOj p J 37.55

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. V o l . 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1 9 9 6 277


. F. BARTOLOMÉ

TABLA IX. TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A95I Despejamos x, dándonos un valor de x = 0.0255.

Por tanto, igualamos con la fórmula para el eje de abscisas


jliiiiililiiiil
92.3
5-x
iim 100-2.275JC
-0.0255
4.9
Despejamos la x, que serán los gramos de Titania que reac-
cionan con la Alúmina para dar el Titanato de Aluminio en 100
gramos de compuesto, obteniendo un valor de x = 2.6
4.3. Muestra A95II Por tanto

Realizamos el barrido según las características ya dichas, y


AI2O3 + TÍO2 - AI2TÍO5
obtenemos un difractograma que se puede observar en la
3.315 2.6 5.915
figura 5.

Tendremos que en 100 gramos de muestra habrá (Tabla XI):

0
100 - TABLA XI. TANTOS POR CIENTO EN PESO DE LA MUESTRA A95II

- 1 D Al TÍO. iiillííliBiiiiiiiiiiiiiiiij
o Al,0, iiilBIllll 91.685
80 -
• TiOj ¡lllllliilllll 2.4
^ ' ^ ^ ^ ^ 5.915
^60 -

Si dividimos por las densidades teóricas de cada compues-


40 - to, podremos calcular la densidad teórica

J
91.685 / 3.97 + 2.4 / 4.26 + 5.915 / 3.7 = 25.263
20 - •
1 ° d = 100/ 25.263 =3.96

Si calculamos en tanto por ciento en volumen (Tabla XII):


0 — 1 1 1
1 '
25 26 27 28
29 TABLA XII. TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A95II

Fig. 5: Difractograma de la muestra A9511.


lllliilllllllpllllljl
illilBIlSiiiiiii 91.5

|||||§|B^^^ 2.2
Los valores de las áreas normalizadas se pueden ver en la
|||1|||||H 6.3
tabla (Tabla X)

TABLA X. VALORES DE LAS ÁREAS NORMALIZADAS DE LA MUESTRA A95II


4.3. Muestra A90I
llilllllllllllll^^^ 7.061
Realizamos el barrido según las características ya dichas, y
lllillllllllllililllll 44.19 obtenemos un difractograma que se puede observar en la
figura 6.
Aplicando la fórmula para el eje de ordenadas, tendremos Los valores de las áreas normalizadas se pueden ver en la
que tabla (Tabla XIII)
0.17./^
^Ti
=0.0264
0.17^.-^/,, TABLA XIII. VALORES DE LAS ÁREAS NORMALIZADAS DE LA MUESTRA A90I

Si sustituimos este valor en la ecuación de la recta


l|i||||B||||¡|i||i 14.107
0.0264 = 1.03258 . x Í|¡iÍ|||||||||jJ 31.97

278 Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y V i d r i o . V o l . 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996


ANÁLISIS MINERALÓGICO CUANTITATIVO POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X. APLICACIÓN DEL MÉTODO DEL PATRÓN INTERNO "MODIFICADO" EN EL ESTUL":)IO DE COMPUESTOS AÍ203-Al2T¡05

Si dividimos por las densidades teóricas de cada compues-


C> to, podremos calcular la densidad teórica
00 -
- D Al TÍO. 85.1 / 3.97 + 6.1 / 4.26 + 8.8 / 3.7 = 25.243
o AI2O3
80 - d = 100/ 25.243 = 3,96
# TÍO2

Si calculamos en tanto por ciento en volumen (Tabla XV):


60 -

TABLA XV. TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A90I

40 - •
% en votóme»
Ai,0, 85
20 -
1 ° TÍO,
AI^TIOs
5.7
9.3


U 1 1 1 1
25 26 27 28
4.4. Muestra A90II
29
Fig. 6: Difrnctogmma de la muestra A90L Realizamos el barrido según las características ya dichas, y
obtenemos u n difractograma que se puede observar e n la
figura 7.

Aplicando la fórmula para el eje de ordenadas, tendremos que

0.17./^.
100
=0.0698

80 H
Si sustituimos este valor en la ecuación de la recta

0.0264 = 1.03258 . x 60
Despejamos x, dándonos un valor de x = 0.0676.

Por tanto, igualamos con la fórmula para el eje de abscisas 40

10-x
-0.0676 20 H
100-2.275X

Despejamos la x, que serán los gramos de Titania que reac-


cionan con la Alúmina para dar el Titanato de Aluminio en 100
gramos de compuesto, obteniendo un valor de x = 3.835
Por tanto

Fig. 7: Difractograma de la muestra A90n.


4.89 3.835 8.725

Tendremos que en 100 gramos de muestra habrá (Tabla XIV): Los valores de las áreas normalizadas se pueden ver en la
tabla (Tabla XVI)

TABLA XIV. TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A95II

% ejt fiesô 1 TABLA XVI. VALORES DE LAS ÁREAS NORMALIZADAS DE LA MUESTRA A90II

A130, 85.1

TÍ02 6.1 i^llllll^jillllp^^^^ 1.966

AljTiO^ 8.8 IBIililljIlil^^^^^^ 33.11

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996 279


I. F. BARTOLOMÉ

Aplicando la fórmula para el eje de ordenadas, tendremos 4.5. Muestra A85I


que
Realizamos el barrido según las características ya dichas, y
obtenemos un difractograma que se puede observar en la
=0.00999 figura 8.
0.17./,,./,

Si sustituimos este valor en la ecuación de la recta


0
0.00999 = 1.03258 . x 100 - 0 AITiO,

Despejamos x, dándonos un valor de x = 0.0096 D AI3O,


• TiOj
80 -
Por tanto, igualamos con la fórmula para el eje de abscisas


10~x _|60 -
í^^-í =0.0096
100-2.275JC

Despejamos la x, que serán los gramos de Titania que reac-


40 -
1 ¡
cionan con la Alúmina para dar el Titanato de Aluminio en 100
gramos de compuesto, obteniendo un valor de x = 9.24.
Por tanto 20 - /

AI2O3 + TÍO2 - AI2TÍO5 A


U
_y i
11.781 9.24 21.021 1 1
Tendremos que en 100 gramos de muestra habrá (Tabla 25 26 27 28
XVII): 26

Fig. 8: Difmctogmnm de la muestra A85I.

TABLA XVII. TANTOS POR CIENTO EN PESO DE LA MUESTRA A90II

Los valores de las áreas normalizadas se pueden ver en la


% en peso
tabla (Tabla XIX)

AIA 78.219

tiOj 0.76
TABLA XIX. VALORES DE LAS ÁREAS NORMALIZADAS DE LA MUESTRA A85I
WM^àà^Êk^mi 21.021

IIIIIIIIIIIIIIIB^^^^ 15.089

;ARÍA:ÍNorm.)-A]j03:tlbl >,: 29.22


Si dividimos por las densidades teóricas de cada compues-
to, podremos calcular la densidad teórica

78.219 / 3.97 + 0.76 / 4.26 + 21.021 / 3.7 = 25.5584


Aplicando la fórmula para el eje de ordenadas, tendremos
d = 100 / 25.5584 =3.91 que
0.17./,,.
Ti
Si calculamos en tanto por ciento en volumen (Tabla XVIII): =0.0807
0.17./,,./,,

Si sustituimos este valor en la ecuación de la recta


TABLA X V I I I . TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A90II

0.0807 = 1.03258 . x
% çit yoliímeii
Despejamos x, dándonos un valor de x = 0.07815.
AljO^ 77.1

TÍO, 0.7 Por tanto, igualamos con la fórmula para el eje de abscisas
AljTiOs 22.2

15-X
=0.07815
100-2.275X

280 Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. V o l . 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996


ANÁLISIS MINERALOCilCC) CUANTITATIVO POR DIFRACCIC)N DE RAYOS X. APLICACIC'^N DEL MÉTODO DEL PATRÓN INTERNO "MODIFICADO" EN EL ESTUDIO DE COMPUESTOS AI2O3-AI2TIO5

Despejamos la x, que serán los gramos de Titania que reac-


cionan con la Alúmina para dar el Titanato de Aluminio en 100 0
gramos de compuesto, obteniendo un valor de x = 8.74. 100 - D Al TÍO.
0 AljO,
Por tanto
80 - • TiO^

- D
AI2O3 + TÍO2 AI2TÍO5
11.14 8.74 19.88
í 60 -

Tendremos que en 100 gramos de muestra habrá (Tabla XX):



40 -
TABLA XX. TANTOS POR CIENTO EN PESO DE LA MUESTRA A85I

% m peso 20 -
Al,0, 73.86

TÍO2 6.38 n
u 1 1 1
AljTiO^ 19.88
25 26 27 28
29
Fig. 9: Difractograma de la muestra A85II.
Si dividimos por las densidades teóricas de cada compues-
to, podremos calcular la densidad teórica
Si sustituimos este valor en la ecuación de la recta
78.219 / 3.97 + 0.76 / 4.26 + 21.021 / 3.7 = 25.5584
0.0589 = 1.03258 . x
d = 100 / 25.5584 =3.91
Despejamos x, dándonos u n valor de x = 0.057.
Si calculamos en tanto por ciento en volumen (Tabla XXI):
Por tanto, igualamos con la fórmula para el eje de abscisas
TABLA XXI. TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A85I

|||¡j|i|li]ii||i!íi|i||i^ 15-x
••^^^^^ 73 100-2.275X
-0.057

^^
•^
•^^^^^^^^^^^^^^^^^^ 5.9

lliiililll 21.1 Despejamos la x, que serán los gramos de Titania que reac-
cionan con la Alúmina para dar el Titanato de Aluminio en 100
gramos de compuesto, obteniendo un valor de x = 10.7.
Por tanto
4.6. Muestra A85II
AI2O3 + TÍO2
13.64 10.7 24.34
Realizamos el barrido según las características ya dichas, y
obtenemos un difractograma que se puede observar en la
figura 9. Tendremos que en 100 gramos de muestra habrá (Tabla XXIII):
Los valores de las áreas normalizadas se pueden ver en la
tabla (Tabla XXII) TABLA XXIII. TANTOS POR CIENTO EN PESO DE LA MUESTRA A85II

|i||||||i|i||ii||iiilij
TABLA XXII. VALORES DE LAS ÁREAS NORMALIZADAS DE LA MUESTRA A85II
ilBilll 71.36

¡||||||||||||Í||^^^^^^^^^ 10.102
lllllllH 4.3

lljlllllllli 24.34
||||||¡|i|i|¡ip^^^^^ 27.44

Aplicando la fórmula para el eje de ordenadas, tendremos que


Si dividimos por las densidades teóricas de cada compues-
to, podremos calcular la densidad teórica
=0.0589
71.36 / 3.97 + 4.3 / 4.26 + 24.34 / 3.7 = 25.55

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996 281


. F. BARTOLOMÉ

^:.. «^ It;:;..«

^^W*^^: '*'*<

:^Hi p i n

Fig. 10: Micrografías obtenidas mediante electrones retrodispersados correspondientes a: (A) A90I y (B) A9011. A: Alumina, T: Titania, AT: Titanato de aluminio,

Si calculamos en tanto por ciento en volumen (Tabla XXIV): mezclas de AI2O3 + TÍO2 compuestos con una matriz de _-
AI2O3 y una fase dispersa de ß-Al2Ti05 (8). El titanato de alu-
minio se forma por reacción en estado sólido entre AI2O3 y
TABLA XXIV. TANTOS POR CIENTO EN VOLUMEN DE LA MUESTRA A85II TÍO2. La reacción se produce alrededor de la temperatura
eutectoide 1280 °C en el sistema AI2O3-TÍO2 (9,10) . La espe-
% en voLúmED
cie que se difunde más rápidamente a través de los granos de
rutilo es el Al ^+ dando lugar a los cristales de AI2TÍO5 (11). Si
AljOj 70.3
utilizamos un ciclo térmico más lento a baja temperatura, se
TÍOj 3.9 producirá una mayor formación de AI2TÍO5 en forma de gran-
lilÉlilJiiiiii 25.8 des aglomerados bien texturados formados por cristales indi-
viduales (Fig. 10b). La presencia de estos aglomerados es un
claro indicador de la dificultad de nucleación en la formación
del AI2TÍO5 . Dada la pequeña fuerza motriz a 1300 -C (~ 20
-C por encima de la temperatura eutectoide), se forman un
5. CONCLUSIONES limitado número de núcleos seguido de un rápido crecimien-
to de los granos (12). Si utilizamos el ciclo térmico más rápido
A la vista de los resultados obtenidos en los análisis cuanti- a mayor temperatura, el número de núcleos aumenta drástica-
tativos realizados mediante el método del patrón interno mente pero el crecimiento de estos núcleos es muy pequeño
''modificado'', se puede decir que el ciclo térmico utilizado, dando lugar a pequeños granos policristalinos no texturados y
tiene u n a influencia determinante en la formación del homogéneamente distribuidos (Fig. 10a), produciéndose una
AI2TÍO5. Gracias a esta técnica hemos logrado comprobar que menor formación de AI2TÍO5. Esta diferencia se puede ver en
en las muestras tratadas con el segundo ciclo térmico, es decir, la figura 11, donde se han superpuesto, para las mismas com-
1300 °C 20 horas - 1500 1 hora, se forma una mayor cantidad posiciones, las muestras con diferente ciclo térmico. El área
de AI2TÍO5 que en las tratadas con el primer ciclo térmico, correspondiente al AI2TÍO5 es mayor en todas las sometidas al
1600 2 horas. Partiendo de polvos de alúmina y titania se segundo ciclo (1300 20 horas - 1500 1 hora), mientras que las
puede producir mediante sinterización y reacción «in situ» de areas correspondiente a los picos de TÍO2 y AI2O3 son meno-

282 Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y V i d r i o . V o l . 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996


ANÁLISIS MINERALÓGICO CUANTITATIVO POR DIFRACCI()N DE RAYOS X. APLICACIÓN DEL MÉTODO DEL PATRÓN INTERNO "MODIFICADO" EN EL ESTUDIO DE COMPUESTOS AÍ20-5-Al2TiOr^

O res. Esto nos demuestra que la utilización del segundo ciclo


100 favorece la reacción entre la TÍO2 y la AI2O3, mientras q u e con
D AlJiO, el primer ciclo térmico (1600 -C 2 horas) la cantidad de TÍO2
que queda sin reaccionar es mayor como se observa el la figu-
o AI2O3
80 ra 10a.

^60 — AGRADECIMIENTOS

El autor agradece a la Dra. Carmen Pascual sus interesantes


40
comentarios y su ayuda en la preparación de este artículo. •

20

25
A 1
1
26
D

26
i

27
1

28
A95I
A95II
REFERENCIAS

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John Wiley y Sons. Pag.410. New York (1974).
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tures. I Matriz Flushing Method for quantitative multicomponent analysis»,
/. ofAppl. Cnjstnlogmfy, 7, 519-25 (1974).
3. L.E. Copeland y R.H. Bragg, «Quantitative X-Ray Diffracttion analysis»,
Amliti/cal Chmiishy, 25, 196-201 (1958).
0 4. C. Legrand y J. Nicolas,»Contribution a F etude du dosage quartz d a n s les
100 - argiles a Faide des rayons-X», Bull. Soc. Franc. Ceram., 33, 28-43 (1958).
5. R. Alegre, «Generalisation de le méthode d'addition pour Fanalyse quanti-
G Al,TÍO,
tative par diffraction rayons-X», Bull. Soc. Frac. Miner. Crist., 88, 569-74
0 AI^O^ (1965).
80 -
• TiO^ 6. A. Caballero, «Bauxitas refractarias. Constitución y comportamiento térmico.
Interpretación en base al sistema AI2O3 - SÍO2 - TÍO2 - Fe203», Tesis docto-
ral. Universidad Complutense de Madrid, 1985.
: 60 - 7. C. Pascual, «Contribución al estudio de sistemas Z r 0 2 - Ln203 y Zr02 - Y2O3
- Ln203 (Ln = Ce, Nd, Y, Dy, Er), Tesis doctoral. Universidad Complutense
de Madrid, 1980.
40 - 1 • 8. J. F. Bartolomé, J. Requena, J. S. Moya, M. Li and F. Guiu, "Cyclic Fatigue

1 Crack Growth Resistance of AI2O3 -AI2TÍO5 Composites", Acta, mater., 44,


[41,1361-1370 (1996).
9. E. Kato, K. Daimon, J. Takahasi,» Descomposition Temperature of ß-
20 - AI2TÍO5», /. Am. Ceram. Soc, 63, [5-61, 355-56 (1980).
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A90II Ceramics. Ed P. Vincenzini. Elsevier Sc. Pu. B. V. (1991).
f\ -
1
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26 12. J. Requena, J. S. Moya and P. Pena,"Al2Ti05-Al203 Functionally Gradient
Materials Obtained by Sequential Slip Casting", Ceramic Transactions v. 34:
Functionally Gradient Materials, 203-210. Eds. J. B. Holt, M. Koizumi, T.
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100 - D AIJ-ÎO, Recibido: 1-7-96.
0 AIP3 Aceptado: 1-8-96.

80 -
Il a
i 60 -
1 Î
iA
1
40

20
-

-
h
A
u
y
/

í
K^ 1
[V _^ !
vj
A85I
A85tl

25 26 27 28
26

Fig. 11: Diagramas de difracción en función del ciclo térmico.

Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 35 N u m . 4 Julio-Agosto 1996


283
Congreso Internacional

East Asian Ceramics


Minerals and Markets Outlook
20-22 octubre, Kuala Lumpur-Malasia

La revista inglesa «INDUSTRIAL MINERALS», de gran


tradición en el campo de la cerámica y el vidrio,
ORGANIZA este año en Asia un CONGRESO INTERNA-
CIONAL:

EAST ASIAN CERAMICS:


Minerals and Markets Outlook
20-22 octubre, Kuala Lumpur-Malasia

Los temas que se tratarán versarán sobre mercado,


características y yacimientos o fuentes de las materias primas
procedentes o utilizadas en la industria cerámica de Malasia,
Japón, Kalimantan, Taiv^an, Indonesia y Este Asiático en
general.

Las materias primas objeto del congreso serán: arcillas


(incidiendo en las tipo «ball clay»), caolín, feldespatos,
alúmina, pero también sobre productos cerámicos, fritas,
vidriados, etc.

Para más información sobre el congreso


contactar con:
Industrial Minerals Conferences
Park House, Park Terrace, Worcester Park, Surrey KT4 7HY
Tel +44(0) 1 71 827 9977 Fax +44(0) 181 337 3994
e-mail: 100635.2433 ©CompuServe.com
Inscripción: 420/US $ 650
Antes del 13 Septiembre 1996- 360 /US $ 555

El contenido de INDUSTRIAL MINERALS puede consultarse


también vía INTERNET:
http ://wwv\/. indmin.com

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