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Proyecto final del curso de Micro y nano

manipulación
Cristian Cisneros Morales, UNI, FIM Roger Paredes Alta, UNI, FIM Enver Espinal Santos, UNI, FIM

Resumen—El presente trabajo es el informe grupal correspon-

diente a los avances, haSta la fecha de hoy, del apoyo brindado al
proyecto Implementación de un Microscopio de Fuerza Atómica
que se está realizando en la Facultad de Ciencia de la Universidad
Nacional de Ingeniería. Prensentamos una introducción que
describe el objeto del proyecto, el AFM, y luego el desarrollo
de nuestros aportes, como resultado mostramos la manufactura
de una tarjeta electrónica y la realización de la simulación del
modelo y control de un STM.
Palabras clave—AFM, nanotecnología, nano manipulación,
micro manipulación

I. I NTRODUCCIÓN : E L M ICROSCOPIO DE F UERZA Figura 1: Diagrama de un microscopio de fuerza atómica

ATÓMICA
FM(por sus siglas en inglés Atomic Force Microscope)
A es un instrumento mecanico-óptico capaz de detectar
fuerzas del orden de los piconewtons. Al rastrear una muestra,
es capaz de registrar continuamente su topografía mediante
una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica.
La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica
muy flexible de sólo unos 200µm. El microscopio de
fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la
nanotecnología, para la caracterización y visualización de
muestras a dimensiones nanométricas (1 · 10−9 m = 1nm).
I-A. Partes del AFM
Las partes de un AFM generalmente son:
Diodo LASER
Micropalanca
Fotodiodo
Tubo piezoeléctrico
La figura 1 muestra la ubicación y función de estos
componentes.
I-B. Tipos de medida
Un AFM puede realizar dos tipos de medidas: imagen y
fuerza.
En el modo de reconstrucción de imagen la superficie
es barrida en el plano de la superficie (X − Y ) por la
punta. Durante el barrido la fuerza interatómica entre
los átomos de la punta y los átomos en la superficie
muestral provoca una flexión del listón. Esta flexión
es registrada por un sensor adecuado (normalmente
balanza óptica) y la señal obtenida se introduce en un
circuito o lazo de realimentación. Este último controla
un actuador piezoeléctrico que determina la altura (Z)
de la punta sobre la muestra de forma que la flexión del
listón se mantenga a un nivel constante (Normalmente
introducido por el operador). Representando la altura
de la punta (Z) frente a su posición sobre la muestra
(X, Y ) es posible trazar un mapa topográfico de la
muestra Z = Z(X, Y ). La fuerza interatómica se
puede detectar cuando la punta está muy próxima a la
superficie de la muestra.
En el modo de medida de fuerza la punta se hace
oscilar verticalmente mientras se registra la flexión del
listón. La medida se expresa entonces representando
fuerza (F ) frente a altura (Z) sobre la muestra. Las
medidas de fuerza son útiles en estudios de fuerzas
de adhesión y permiten estudiar a nivel de una sola
molécula interacciones específicas entre moléculas (ej:
interacción antígeno-anticuerpo, interacción entre hebras
complementarias de ADN) o interacciones estructurales
de las biomoléculas (plegado de proteínas) así como
caracterizar la elasticidad de polímeros. También es útil
en estudios de indentación de materiales blandos (políme-
ros) que permitan caracterizar propiedades elásticas de la
muestra como el módulo de elasticidad o viscoelásticas.
I-C. Modos de operación para la captura de imagen
I-C1. Modo de Contacto: En el barrido en modo contacto
(figura 2a) la fuerza entre punta y muestra se mantiene
constante, manteniendo una constante de deflexión. La

deflexión de la punta estática se utiliza como una señal de
retroalimentación.
El principal problema del modo contacto es que las muestras
biológicas (blandas y delicadas) pueden dañarse. De ahí
que funcione especialmente bien con muestras fuertemente
adheridas a la superficie. En cristales de proteína, por
ejemplo, las fuerzas laterales no modifican la muestra, pero
sí en moléculas individuales.
I-C2. Modo dinámico: En los modos dinámicos se hace
vibrar la micropalanca a su frecuencia de resonancia valién-
dose para ello del actuador piezoeléctrico. La interacción
punta-superficie modifica la amplitud, frecuencia y fase de
la resonancia, mientras el lazo de realimentación mantiene
constante alguna de estas tres propiedades. Qué propiedad
sea ésta es el criterio que determina el modo concreto de
operación:
En el Modo de no contacto o de frecuencia modulada
(FM-AFM) (figura 2b) se mantiene constante la
frecuencia de resonancia. La principal aplicación del
FM-AFM es levantar topografías de superficies duras a
escala atómica y operando en vacío extremo o UHV (de
sus siglas en inglés Ultra High Vacuum).
En el Modo de repiqueteo (del inglés "tapping mode")
o de amplitud modulada (AM-AFM) (figura 2c) se
mantiene constante la amplitud. Se usa principalmente
en medio líquido para obtener imágenes de muestras
biológicas que sólo son estables en soluciones acuosas.
Figura 2: Modos de operación del AFM
Originalmente el uso del modo de no contacto implicaba
que la punta se encontraba siempre a distancia constante de
la superficie, mientras que en el modo de repiqueteo la punta
golpeaba intermitentemente la superficie. Posteriormente se
ha demostrado que ambos modos puden ser operados tanto a
distancia de la muestra como en contacto con ella.
I-D. Acerca del proyecto del curso
El proyecto del curso consiste en el apoyo brindado a la
implementación de un microscopio de fuerza atómica (AFM
por sus siglas en inglés), proyecto que viene desarrollandose
en la Falcutad de ciencias de nuestra universidad.
I-D1. Descripción: En este caso se trata de un AFM
para reconstrucción de imágenes, que trabaja haciendo oscilar
la punta de interacción y se pretende mantener constante la
distancia entre la punta y la muestra.
II. I MPLEMENTACIÓN PARA EL AFM
El principio de funcionamiento de este AFM consiste en
mantener al sistema Diapazón-Punta oscilando a su frecuencia
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de resonancia. La presencia de la muestra altera dicho estado
de resonancia, de modo que se hace necesario actuar sobre
la posición de la muestra mediante tubos piezoeléctricos. Se
aprobecha el hecho de que la medida de la desviación del
tubo piezoeléctrico guarda relación con la distancia entre la
punta y la muestra de modo que estimar esta medida equivale
a estimar en contorno de la superficie muestreada, relativo a
la posición inicial de la punta.
Para el propósito de implementar un AFM con estas
características se diseñaron los siguientes circuitos elctrónicos:
Un circuito que haga vibrar al diapazón a frecuencias
alrededor de 32KHz.
Un circuito que permita alimentar con voltaje a los tubos
piezoeléctricos.
Un circuito que mida la amplitud de las oscilaciones del
sistema diapazón-punta.
Los trabajos de implementación se centraron el circuito
detector de amplitud, se diseñó el circuto y se contruyó
una tarjeta electrónico con dicha función. La importancia de
este circuito radica en que se nececita mantener constante la
amplitud de las oscilaciones del sistema diapazón-punta. La
figura 3 muestra la apariencia del circuito detector de amplitud.
Figura 3: Apariencia física del circuito detector de amplitud
diseñado durante el curso
Este circuito entrega una señal DC igual en valor a la
amplitud de la señal senoidal conectada a su entrada.
La figura 4 muestra la simulación del circuito.
III. S IMULACION DEL COMPORTAMIENTO Y CONTROL
DEL AFM
Para la simulación, al no contar aún con un modelo de
la planta, es decir no se tiene una ecuación que modele la
interacción punta muestra, que vendría a ser la variacón de
amplitud de oscilación de la punta con la distancia a la que
se encuetre la muestra, se optó por desarrollar un algorimto
de control para un microscopio de efecto túnel (STM), el
cual cuenta con una ecuación característica que consiste en
aumento de corriente a la disminución de la distancia punta
mmuestra. Un modelo para la relación punta muestra, reflejada
como corriente-distancia, viene a ser la siguiente:
I = I0 e−Kz (1)
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(a) Esquema del circuito

(b) Resultado de la simulación

Figura 4: Circuito detector de amplitud simulado en proteus

Donde:
I: es la corriente que se obtiene al cerrar el circuito a
una distancia z.
z: es la distancia punta muestra.
I0 : es la corriente obtenida cuando la distancia es nula,
z = 0.
K: es una ganancia proporcional de la distancia punta
muestra z.
Con este modelo se procede a realizar el algortimo de
control, y su respectiva simulación.

III-A. Algoritmo de Control

El algoritmo de control se basa en un PID, sintonizado ma-
nualmente, los valores ingresados al programa del algoritmo
fueron los siguientes:
Figura 6: Algoritmo de Control

Figura 5: Ingreso de Parámetros
IV. R ESULTADOS
IV-A. Rediseño del circuito detector de amplitud
Se planteó un nuevo diseño de este circuito que incluye
conecciones de diodos en el OpAmp para mantenerlo en
su zona ideal, diodos protectores en la alimentación y un
diodo LED que indique el encendido del circuito. La figura
8 muestra el esquema de este circuito.

Luego se realiza el manejo de una lazo cerrado simple de

control, para el seguimiento de una muestra. IV-B. Simulación en LabView
Los resultados obtenidos de la simulación, son los siguien-
III-B. Simulación de Control tes:
Se realizó la simulación de control para un comportamiento Evolución del Error de la corriente.
de la muestra de forma sinusoidal positiva, tal como se muestra
en la figura.

Figura 8: Esquema del circuito detector de amplitud implementado para el AFM
Figura 7: Muestra de Referencia
Evolución de la interacción, podremos observar que la
punta modela la muestra.
Evolución del voltaje del piezotubo, se podrá observar
que para efecto de implementación, tiene validez los
valores de voltaje del piezotubo.
V. T RABAJOS FUTUROS
Se está rediseñando todos los circuitos electrónicos, de mo-
do que se incluyan etapas de protección y de verificación, esto
con el fin de descartar fallas electricas en el funcionamiento
del AFM y concentrarnos en el control del mismo.
Respecto al Microscopio AFM, para lograr simular e
implementar el Control PID, hace falta obtener un modelo
matemático de éste, es decir un modelo que nos sirva de
referencia, sobre todo para sintonizar el Controlador.
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Figura 9: Evolución del Error de la Corriente
Se está viendo la posibilidad de implementar controladores
adaptativos a diferentes puntas, ya que la respuesta entre una
y otra punta suelen variar. Esto se confirmará una vez que se
tengan datos experimentales para relacionar.
VI. C ONCLUSIONES
Las conclusiones a las que hemos arribado son las siguientes
Para lograr un buen desempeño de los circuitos electró-
nicos, es necesario implementarlos en tajetas, ya que el
protoboard es suceptible al ruido y a fallos por falta de
seguridad en las conexiones.
Es necesario incluir etapas de protección en los circuitos,
tales como limitadores de corriente, protectores ante
ruido y reguladores de voltaje.
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Figura 10: Acción Punta-Muestra

Figura 11: Voltaje del Piezotubo, señal de acción

AGRADECIMIENTOS
Nuestro sincero agradecimiento al Ph.D. Julien Noel por
insentivar el desarrollo de tecnologías de vanguardia en el
campo de la micro y nano tecnología en nuestro País.
Al Laboratorio de Física de la Facultad de Ciencias de la UNI,
con deferencia especial al Dr. Gutarra y a los Bachilleres José
Morán y Luis Ortega por su gentil acogida al grupo para el
desarrollo del proyecto Implementación de un AFM.
Finalmente, agradecemos al Bachiller Roberto Furucawua por
el apoyo brindado.