AVR120: AVR 的 ADC 校正和说明 翻译 : 邵子

AVR120：AVR 的 ADC 校正和说明

翻译：邵子扬 2006 年 10 月 20 日
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shaoziyang@gmail.com

特点：
 理解模拟到数字转换（ADC）的特点
 测量参数说明 ADC 特点
 温度、频率和电压的依赖性
 偏移量和增益误差补偿

1 介绍
这篇应用笔记解释了各种 ADC（模拟到数字转换）的特性以及它们怎样影响测量。同时说明
了怎样在产品测试中测量这些参数，以及怎样在运行时补偿测量误差。

AVR 单片机的 Flash 存储器的一个很大的优点在于校正代码可以用程序替换，这样校正代

码不会在最终产品中占用空间。

2 理论
在进入讨论前，先介绍一些中心概念。下面小节（一般 ADC 的概念）可以忽略如果读者已经
熟悉了量化、分辨率和 ADC 转化。

2.1 一般 ADC 的概念

ADC 转变一个模拟输入信号为数字输出参数，表示出输入信号和参考信号的相对大小。为了
更好的说明 ADC，这篇应用笔记区别说明完美、理论和实际的 ADC。

一个完美的 ADC 只是一个理论概念，在实际中并不存在。它有无限分辨率，每个输入在指定

范围输出一个唯一的值。理想的 ADC 是一个线性转换函数，如图 1。
图 1. 完美的 ADC

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为了定义一个理论的 ADC，必须介绍量化的概念。由于将 ADC 数字化，不可能连续的输出数

值，输出范围分为一定的台阶，每个都是一个可能的输出值。这意味着一个输出值不是只
对应一个唯一输入，而是一个小范围的输入值。结果就是一个阶梯转换函数，分辨率是不
同输出的个数。例如，ADC 输出为 8 个台阶，即分辨率是 8，或者说 3 位。转换函数如图 2 所
示，理论 ADC 等于完美的 ADC 在每一级台阶的中间点。这说明理论 ADC 本质上是输入参数对
应的最接近的台阶输出参数。

图 2. 理论上的 3 位 ADC 转换函数

对于一个理论上的 3 位 ADC，最大误差是±1/2 台阶，也就是说最大的量化误差总是 1/2

LSB，LSB 是输入电压对应输出参数最小数据位。实际的 ADC 还存在其他误差，这将在后面
说明。

2.2 转换范围
Atmel 的 AVR 单片机可以配置为单端输入或者差分输入。单端输入用于测量单个通道的输入
电压，差分模式用于测量两个不同通道之间的差。不论哪种模式，每个通道的输入电压范
围都要在 GND 到 Avcc 之间。

使用单端模式，相对于 GND 的输入电压被转换为数值信号。使用差分模式，从差分运放的输

出（可选增益）转化为数字量（可能是负数）。一个简化的图例如图 3：

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图 3. 简化的 ADC 输入电路

为了决定转换范围，转换电路需要一个参考电压（VREF），用于代表最大输出值。根据数据
手册，对于标准芯片 VREF 至少是 2V，对于工作电压是 1.8V 的芯片参考电压允许低至 1V，
对于单端输入和差分输入都是一样。

2.2.1 单端转换范围
单端转换输入通道直接连到转换电路，如图 3A 所示。AVR 的 10 位 ADC 将从 GND 到 VREF 的连
续输入信号转换为从 0 到 1023 的离散输出信号。

2.2.2 差分转换范围
差分转换连接两个输入通道到可变增益差分放大器，放大器的输出反馈到转换电路，如图
3B。差分电压从-VREF 到+VREF ，转换结果从-512 到+511。XX。即使测量负的差分电压，每个通
道的输入电压范围还是在 GND 到 AVcc 之间。

小于-VREF 的差分电压将得到最小值（在 10 位 ADC 时是-512），大于 VREF 的差分电压将得到

最大值（在 10 位 ADC 时是 511）。

注意某些型号的器件不能测量负的差分电压，如 ATiny26。

2.3 校正
ADC 实际的总误差不只是量化误差，这篇文档说明了偏置和增益误差，以及如何进行补偿。
同时介绍了两种测量非线性度的方法，微分法和积分法。

对于大多数应用，在使用单端模式时 ADC 无需校正。典型精度是 1-2LSB，既不需要也难以

通过校正获得更高的精度。

但是，使用差分模式时情况就不同了，特别在高增益时，微小的变化通过放大器就变成了
很大的误差，未补偿的误差通常大于 20LSB。这些误差需要用软件针对每个器件进行补偿。

初看起来 20LSB 是一个很大的参数，但是这并不代表差分模式就没有用处了，经过简单的

校正算法，误差就可以控制在 1-2LSB 之内。

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2.4 绝对误差
绝对误差是理想直线和实际曲线，包括量化误差的最大差值。因为量化误差，最小绝对误
差是 ½LSB。

绝对误差或者叫绝对精度是未补偿误差的总和，包括了量化误差、偏置误差、增益误差和非
线性误差。偏置、增益和非线性在后面说明。

绝对误差可以通过使用斜坡输入电压测量，在这种情况下所有的输出参数都和输入电压做
比较，最大差值给出了绝对误差。

注意绝对误差不能直接补偿，除非使用占用很大内存的查表或多项式逼近。但是绝对误差
最重要的贡献是可以补偿偏置和增益误差。
绝对误差会缩小 ADC 的范围，需要考虑最大和最小输入范围，避免被绝对误差截短。

2.5 偏置误差
偏置误差定义为在 0 输入时，实际 ADC 转换函数和理想直线的差。

当输入参数是 ½LSB 时输出没有产生从 0 变到 1，我们就称之为偏置误差。对于正偏置，当

输入从下往上逼近 ½LSB 时输出值大于 0；对于负偏置第一次输出变化时输入大于 ½LSB。换
句话说，如果实际的转换结果低于理想直线，就是负偏置。偏置示意图如图 4。

图 4. 正偏置（A）和负偏置（B）

因为单端转换只产生正数结果，所以单端和差分的偏置测量过程是不同的。

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2.5.1 偏置误差 – 单端通道

为了测量偏置误差，从 GND 开始增加输入电压直到输出产生第一个转换结果变化。计算输入
电压差，这个差值转换到 LSB，就等于偏置误差。

在图 5A，第一次转变发生在 1LSB。转变从 2 到 3，等效输入电压是 2½LSB。差值是+1½LSB，

这就是偏置误差，双箭头指示出差值。在图 5B 中显示了同样的过程，第一次转变发生在
2LSB，从 0 到 1 时，等效输入电压为 ½LSB，偏置误差也就是差值为-1½LSB。

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图 5. 单端模式下的正偏置（A）和负偏置（B）误差

测量过程如图 6。

图 6. 单端偏置误差测量过程

偏 置 测 量

保 存 输 入 电 压 为
设 置 输 入 为 0 实 际 电 压

保 存 当 前 输 出 到 A 计 算 输 出 从 A变 到
B需 要 的 理 论 电 压

增 加 输 入 直 到 输
出 产 生 变 化 偏 置 误 差 等 于
（ 理 论 -实 际 ）
换 算 为 LSB
保 存 当 前 输 出 到 B
结 束

为了补偿单端模式下的偏置误差，可以从每个测量结果中减去偏置误差。注意到偏置误差
会影响 ADC 的范围，一个大的正偏置误差使输出值在输入达到最大值前就已经饱和，而大
的负偏置误差使输出值变为 0 在输入变为最小值前。

2.5.2 偏置误差 – 差分通道

使用差分通道，测量偏置误差变得更容易，因为不需要外部输入电压。两个差分输入端可
以连接到同一内部电压上，输出就是偏置误差。因为这种方法无法确定何时发生第一次转
换，所以给出误差是 ½LSB 到 1LSB（最差情况）。

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为了补偿差分模式下的偏置误差，同样是从每次测量结果中减去偏置误差。

2.6 增益误差
增益误差的定义是在补偿了偏置误差后，最后输出中点和理想直线的偏离。在补偿了偏置
误差后，输入电压是 0 时输出结果通常也是 0，但是增益误差将导致实际的转换函数斜率
偏离理想直线的斜率。这个增益误差可以通过将输出值比例化来测量和补偿。

实时补偿通常使用整数算法，因为浮点数计算起来要花费较长的时间。为了获得最高的精
度，斜率偏离的测量要尽量远离 0 点。参数越大，精度越高。这将在后面详细论述。

图 7 显示了一个 3 位 ADC 的增益误差，下面的说明同时包括了单端模式和差分模式。

图 7. 正（A）和负（B）增益误差例子

为了测量增益误差，输入从 0 开始直到达到最后的输出。增益补偿的比例系数等于理想输出
值和最后输出值中点除以实际步数。

如图 7A，输出值在达到最大之前就已经饱和，垂直箭头显示了最后输出的中点。在这个电
压下理想输出值是 5.5，比例系数等于 5.5 除以 7。在图 7B，输入电压达到最大时输出值只
有 6，这对于实际值是负偏差。在这个情况下理想的输出值是 7.5，比例系数等于 7.5 除以
6。测量过程如图 8。

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增 益 测 量
用 实 际 最 大 输 出 值
作 为 分 母 A
设 置 输 入 到 0

增 加 输 入 直 到 达 到 用 理 论 值 作 分 子 B
最 大 输 出

补 偿 系 数 = B/A
找 出 基 于 前 级 长 度
的 最 后 级 中 点
结 束

2.7 非线性
当补偿了偏置误差和增益误差后，实际的转换函数应当等于理论 ADC 的转换函数。但是由于
存在着非线性，时间的曲线和理论曲线还是有微小的差别。有两个办法可以用来测量非线
性，它们将在后面说明，图 9 显示了两种测量方法。

图 9. 非线性曲线例子

2.7.1 差分非线性
差分非线性（DNL）定义为在实际台阶宽度和理论宽度（1LSB）之间最大和最小差异。

非线性产生变化宽度的量化台阶：所有台阶应当都是 1LSB 宽，但是有的宽有的窄。

为了测量 DNL，输入一个斜坡电压并记录下所有的转换值。步长由转换间的距离而定，来自
1LSB 的最大正偏离和负偏离用来报告最大和最小的 DNL。

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2.7.2 整体非线性
整体非线性（INL）定义为实际曲线和理论曲线之间最大垂直差。

INL 可以被解释为所有 DNL 的总和。例如，一些连续的负 DNL 使得实际曲线高于理论曲线，

如图 9A。负的 INL 说明实际曲线低于理论曲线。

最大和最小 INL 使用同样的斜坡输入电压测量，记录下每个台阶中点的偏离，其中最大的

正偏离和负偏离就是最大和最小的 INL。

2.7.3 测量和补偿
在补偿了偏置误差和增益误差之后再测量 DNL 和 INL 误差很重要。否则，偏置误差和增益误
差会影响测量结果，就不能得到真实的 DNL 和 INL。

非线性误差不能通过简单的计算来补偿，可以用多项式逼近或查表法补偿。不过 AVR 的 10
位 ADC 的 DNL 和 INL 的典型值是 ½LSB，足以满足一般的实际应用了。

2.8 温度、频率和电压影响
使用 ADC 的内部电压参考源时，必须考虑它的精度。内部电压参考源和能隙电压成正比，它
的特性在数据手册中说明了。特性显示能隙电压轻微的受到供电电压和温度影响。

ADC 的精度也受到 ADC 时钟的影响。推荐最大的 ADC 时钟频率受内部 DAC 转换电路的限制，

为了优化性能，ADC 时钟不要超过 200KHz。但是即使频率达到 1MHz 也不会显著降低 ADC 的
分辨率的。

不要用高于 1MHz 的频率来操作 ADC。

2.9 带宽和输入阻抗
使用单端模式时，ADC 的带宽受 ADC 的时钟速度限制。因为 1 次转换需要 13 个 ADC 时钟周期，
所以最大时钟 1MHz 的 ADC 时钟意味着大约每秒 77K 的采样速度。按照 Nyquist 采样定律单
端模式的带宽是 38.5KHz。

使用差分模式时，因为差分放大器带宽被限制在 4KHz。大于 4KHz 的信号需要通过外部的滤

波器过滤掉，避免非线性。

对于 Vcc 和 GND 的输入阻抗典型是 100MΩ。与之对应的是信号源输出阻抗，它会产生一个

分压。信号源的输出阻抗要足够低才能获得正确的转换结果。

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3 执行
图 10 显示了一个 ADC 校正的例子。

在产品测试中，每个设备的 ADC 都要使用一个类似的测试装置。AVR 使用高精度 DAC（如 16

位分辨率）产生校正需要的输入电压。校正完成后，偏置和增益补偿参数编程到 EEPROM 中。

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注意这里需要编程 EESAVE 熔丝，这样在编程 Flash 存储器是不会擦除 EEPROM 内容的。否则

就需要暂存 ADC 参数。

3.1 偏置和增益误差补偿的定点算法
浮点数运算对于 ADC 的比例化计算缺乏效率。增益补偿的比例系数一般接近 1，需要一个比
较合适的精度进行 ADC 参数补偿，这可以使用通过整数进行计算的定点数。

因为增益补偿系数肯定不会超过 2，如果乘以 214 也不会超过一个有符号的 16 位字。换句话

说，比例系数可以用两字节 1:14 的有符号定点数表示。偏置误差和增益误差补偿的公式如
公式 1。

公式 1.
实际参数 = （ADC 参数 – 偏置）* 增益系数
计算结果取整后，结果是小于或等于计算结果的最大整数。为了保证结果是最接近的整数
在取整前需要加上 0.5（译者注：即四舍五入）。加上 0.5，乘以比例 214 并减去偏置就得
到了公式 2。

公式 2.
214 * 实际参数 = 214 * ADC 参数 * 增益系数 + 214 * 0.5 - 214 * 偏置 * 增益系数

因为增益系数和偏置修正是常数，可以进一步进行优化。如果等式两边乘以 22，得到 216，

高 2 字节等于取整后的结果，这样不用右移 16 位。

我们引入一些常数，并在公式 3 中总结。
公式 3.
系数 = 214 * 增益系数
修正 = 214 * (0.5 – 偏置 * 增益系数)
216 * 实际结果 = 22 * （ADC 参数 * 系数 + 修正）

使用这个方法，校正软件计算常数系数和修正，并存储它们到 EEPROM 中。运行中，只需要

对 ADC 参数进行一次乘法，一次加法和左移两位。使用 IAR C 编译器以及最高速度优化，只
需要 42 个 CPU 周期。

3.1.1 校准
测试工装设计超出了这篇笔记的范围。下面只给出了 AVR 校准流程图，它使用了外部 DAC。
无需使用多个 ADC 通道，只使用一个开关切换单端和差分模式。ADC 参数认为和使用的通道
是一致的，多路复用不会引入误差。

软件执行过程如图 11。

图 11. 软件校正流程

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校 正

等 待 校 正 信 号

使 用 外 部 DAC测 量 偏 置
误 差

使 用 外 部 DAC和 偏 置 误
差 补 偿 测 量 增 益 误 差

存 储 参 数 到 EEPROM

发 出 校 正 结 束 信 号

结 束

这一段程序应当先编程到 AVR 单片机中以进行校正，以后在用最终的程序替换。再次说明要

编程 EESAVE 熔丝，这样在编程 Flash 时可以防止将 EEPROM 的数据也擦除了。

3.1.2 补偿
运行时补偿的代码可以做为一个小函数，每次 ADC 测量后都通过这个函数校正，使用公式
3 中的系数和修正参数。
图 12. 配置和增益补偿的流程图

增 益 和 配 置 补 偿

获 取 ADC原 始 值

乘 以 系 数

加 上 修 正

左 移 两 位

È¡ ¸ß Á½ ¸ö ×Ö ½Ú

结 束

计算过程可以用下面的 C 函数，也可以用宏的方式表示：
signed int adc_compensate(signed int adcvalue,
signed int factor,
signed long correction)

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{
return (((((signed long)adcvalue*factor)+correction)<<2)>>16);
}
存放在 EEPROM 中的参数可以在程序启动时复制到 SRAM 中，这样可以在程序中快速访问。

4 参考
 Robert Gordon – A Calculated Look at Fixed-Point Arithmetic
http://www.embedded.com/98/9804fe2.htm
 Application Note AVR210 – Using the AVR Hardware Multiplier
http://www.atemel.com/dyn/resources/prod_documents/DOC1632.PDF

（全文完）

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