Taller 2º Corte 2018

1. De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el

proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: x= 64.06 , R = 77.3Si el límite
de especificación es: LIE = 200, como se comporta el proceso?, cual es su capacidad (incluida
la capacidad real).
Ejemplo 3 (carta X - R)

De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,

después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes:

x = 64.06 , R = 77.3

Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:

  x media de medias 

R 77.3
   33.23
d 2 2.326

Si el límite de especificación es: LIE = 200.

El C pk 
200  264.06 = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
3  33.23
especificaciones.

2. De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el

proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: x  100, s  1.05
Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:
Si el límite de especificación es: LIE = 85 y el LSE = 105. Que está sucediendo con el proceso?
Analice y haga conclusiones.

Ejemplo 4 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes:

x  100, s  1.05

Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:

  x  100

s 1.05
 =  1.117
C4 .094

C4 para n = 5 tiene el valor 0.94

Si el límite de especificación es: LIE = 85 y el LSE = 105.

El C pk 
105  100  1.492
3  1.117

El C p 
105  85  2.984
6  1.117

Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones.

3. Los siguientes datos corresponden a la duración en meses de lámparas incandescentes. Se

tomaron 10 subgrupos de dos unidades como se muestra en la siguiente tabla:

Nº de muestra X1 X2

1 14,02 13,62
 2 13,9 13,8

3 14,48 13,5

4 14,32 13,78

5 14,28 13,84

6 13,82 13,92

7 13,58 13,78

8 14,4 13,62

9 13,66 13,48

10 13,68 13,38

a) Evalúe los parámetros estándares 𝜇0 𝑦 𝜎0

b) Calcule e interprete los índices Cp y Cpk y Cpm si las especificaciones son
13.6±0.60
c) Determine el porcentaje de artículos por fuera de las especificaciones

4. Considere tres procesos A, B y C cuyos parámetros e índices se muestran en la siguiente

tabla:

Proceso 𝜇0 σo Cp Cpk Cpm

A 50 4
B 56 2
C 59 1

Asuma que LSE=62 mm; LIE=38mm y T=50mm.

a) Complete la tabla, cual proceso es más estable

b) Interprete y exprese sus opiniones al comparar los índices.

5. En la fabricación de un semiconductor utilizado en ciertos chips para computadoras las

especificaciones están dadas por LSE 8.5 ; LIE 8.5 micrómetros.

Si el proceso está estable con una media de 6 micrómetros y varianza de 1.96.

a) Qué porcentaje de chips no cumplen con las especificaciones?

b) Si el diámetro es mayor que el LSE se desechan y si es menor que el LIE se reprocesan.
 Si se desea que el porcentaje de reproceso sea del 2.5% y el de desecho sea del 1.5%,
cuáles deben ser los LSE y el LIE para cumplir con esta exigencia.
c) Cuál debe ser el valor del promedio para que la compañía pueda afirmar que el 98.75%
de los conductores tiene un diámetro máximo de 8.338 micrómetros.

6. Los siguientes datos corresponden a la duración en meses de lámparas incandescentes. Se

tomaron 10 subgrupos de dos unidades como se muestra en la siguiente tabla:

Nº de muestra X1 X2
1 14,02 13,62
2 13,9 13,8
3 14,48 13,5
4 14,32 13,78
5 14,28 13,84
6 13,82 13,92
7 13,58 13,78
8 14,4 13,62
9 13,66 13,48
10 13,68 13,38

a) Calcule los límites de control 𝑋̅ − 𝑆

b) Evalúe los parámetros estándares 𝜇0 𝑦 𝜎0
c) Calcule e interprete los índices Cp y Cpk si las especificaciones son 13,6±0.60
d) Determine el porcentaje de artículos por fuera de las especificaciones
e) Si las unidades que caen por encima del LSE van a un laboratorio A y las que caen por
debajo del LIE van a un laboratorio B, cuál debe ser el LSE para que el porcentaje de
lámparas que van al laboratorio A en un 4.01% y cuál debe ser el LIE para que el porcentaje
que van ala laboratorio B sea del 1.1%.

7. Cierto producto es manufacturado mediante dos procesos A y B. Durante el control de cada

uno de estos procesos se han obtenido los siguientes estimadores de los parámetros:
Proceso A Proceso B
𝜇𝐴 = 100 𝜇𝐵 = 105
𝜎𝐴 = 3 𝜎𝐵 = 1
Las especificaciones del producto son 100±10. Calcule los índices Cp y Cpk, interprete estos
valores. Qué proceso prefiere usar y porque?

8. Sea el plan N=3000; n=89; c=2

a) Si la calidad del proceso de entrada es del 2.3% y se inspeccionan 90 lotes, cuantos
serán aceptados?
b) Si se desea incrementar la probabilidad de aceptación a 0.85, obtenga la calidad del
proceso de entrada
9. Obtenga la curva OC correspondiente a los siguientes planes de muestreo, cual plan
presenta mayor eficiencia.
a)
N n1 c1 r1 n2 c2 r2

10000 200 2 6 350 6 7

b)
N n1 c1 r1 n2 c2 r2

6000 80 2 4 160 5 6

10. Preguntas y ejercicios

a) Explique qué es el muestreo de aceptación
b) El muestreo de aceptación es una decisión intermedia entre dos extremos; cero
inspección o inspección al 100%. Explique en que condiciones se recomienda aplicar el
muestre de aceptación.
c) ¿Cuáles son las ventajas del muestreo de aceptación con respecto a la inspección al
100%.
d) Comente de manera general ¿en que consisten los planes de muestreo por atributos y
por variables
e) ¿En qué consiste un muestreo doble
f) Explique en forma general ¿Cómo se recomienda formar un lote que va a ser sometido
a un plan de muestreo por aceptación?
g) Apoyándose en las propiedades de la curva CO, señale que tanta influencia tiene el
tamaño de lote en el tipo de calidad que acepta un plan de muestreo por aceptación.
h) Algunas personas tienen la costumbre de tomar un tamaño de muestra igual a cierto
porcentaje del tamaño del lote (10%). Con base en las propiedades de la cuerva CO, ¿es
adecuada esta costumbre.
11. Consulte como se calcula el índice de capacidad por atributos, es decir, cuando la variable
(o cartas de control por atributos) se refiere a una cualidad.