TRABAJO DE:

MATERIALES DE INGENERIA

TEMA:
PASOS DE LA METALOGRAFIA

PRESENTADO POR:
OMAR CASTANO HERNANDEZ
EVER MORENO RIVERA

INGENIERO:
FABIO BERMEJO

2018
Pasos de un análisis METALOGRAFICO:
 Corte de prueba
 Montaje
 Desbaste
 Pulido
 Ataque químico
 Observación

CORTE DE PRUEBA: El tamaño de la muestra siempre que se pueda debe ser

tal que su manejo no encierre dificultad en la operación.

 Corte por Sierra

Produce severas condiciones de trabajo en frío y no es ventajoso. El corte

mediante este método ocasiona superficies irregulares con valles
excesivamente altos, dando como efecto más tiempo de aplicación de las
técnicas de preparación de las muestras. Generalmente este tipo de corte es
utilizado para extraer probetas de piezas muy grandes, para poder luego
proceder con el corte abrasivo y adecuar la probeta a los requerimientos
necesarios.

 Corte por Disco Abrasivo

Este tipo de corte es el más utilizado, ya que la superficie resultante es suave,

y el corte se realiza rápidamente.
MONTAJE: Consiste en proporcionar una base que sostenga la muestra, lo
anterior brinda facilidad de uso. Por ejemplo, en la manipulación de
especímenes pequeños o cortantes. Es importante tener en cuenta que,
antes de realizar el montaje se debe limpiar la muestra según su naturaleza.
Por ejemplo, muestras con óxido (el cual no es objeto de estudio) deben ser
limpiadas químicamente, por otro lado la limpieza física es adecuada y casi
siempre necesaria. Con frecuencia, la muestra a preparar, por sus
dimensiones o por su forma, no permite ser pulida directamente, sino que es
preciso montarla o embutirla en una pastilla. El material del que se
componen estas puede ser Lucita (resina termoplástica) o Bakelita (resina
termoendurecible

 TIPOS DE MONTAJE :
MONTAJE MECÁNICO: Montaje en abrazaderas de diferentes tipos. Es un tipo
de montaje sencillo, pues no requiere maquinaria especializada
MONTAJE EN PLÁSTICO: Es el tipo de montaje más usado. Básicamente se
usan dos formas para montaje en plástico:
 Moldeo por compresión o montaje en caliente: Requiere de calor,
presión y por tanto algún tipo de prensa especializada.
 Montaje en frio: Se realiza vertiendo encima de la muestra, dos
mezclas líquidas poliméricas que se solidifican al reaccionar a
temperatura ambiente.
DEBASTE: Después de montada la probeta, se inicia el proceso de desbaste
sobre una serie de hojas de esmeril o lija con abrasivos más finos,
sucesivamente. El proceso de desbaste se divide en 3 fases: Desbaste
grosero, Desbaste intermedio y Desbaste final.
 Desbaste Grosero: El desbaste grosero se practica una vez extraída la
probeta con la finalidad de reducir las irregularidades, producidas en la
operación de extracción, hasta obtener una cara lo más plana posible.
Esta operación puede realizarse con una cinta de desbaste o bien en el
caso de materiales no muy duros como aceros sin templar y
fundiciones se puede hacer con lima, aunque aumente algo la
distorsión que se produce en la superficie a causa de la fluencia del
material.
 Desbaste Intermedio: Se realiza apoyando la probeta sobre el papel de
lija o de esmeril, colocado sobre una mesa plana o esrneriladora de
banda fija. En esta fase se utilizan los papeles de lija No. 320/340 y 400
o de esmeril # 1/O y 2/O
 Desbaste Final: La operación de desbaste final comienza con un
abrasivo de 150, seguido del 250, 400, para terminar con el 600 o
1000. El desbaste se puede realizar a mano o con desbastadoras
mecánicas. Para el caso de desbaste manual el papel abrasivo se coloca
sobre una placa plana y limpia y se mueve la probeta
longitudinalmente de un lado a otro del papel aplicándole una presión
suave; se debe mantener la misma la dirección para que todas las
rayas sean paralelas. Durante la operación se debe dejar que una
corriente de agua limpie los pequeños desprendimientos de material y
a su vez lubrique y refrigere la zona desbastada. El final de la operación
sobre un papel está determinada por la desaparición de las rayas
producidas durante el desbaste grosero o el papel anterior.
PULIDO
El pulido tiene por objeto eliminar las rayas finas producidas en el desbaste
final y producir una superficie con características especulares. Esta operación
por lo general se realiza en forma mecánica y se utiliza un paño impregnado
con partículas de algún abrasivo en solución acuosa. Básicamente, se pueden
utilizar dos tipos de paños: con pelo (pana, terciopelo, lanas) y sin pelo (seda
natural). Se debe elegir el que más se adapte al tipo de material a examinar.
Por ejemplo, el pulido de muestras de fundición se debe realizar con paños
sin pelo para evitar el arrancamiento de grafito.
 Pulido fino: La última aproximación a una superficie plana libre de
ralladuras se obtiene mediante una rueda giratoria húmeda cubierta
con un paño cargado con partículas abrasivas seleccionadas en su
tamaño.
 Pulido electrolítico: Es una alternativa de mejorar al pulido total
pudiendo reemplazar al fino pero muy difícilmente al pulido
intermedio. Se realiza colocando la muestra sobre el orificio de la
superficie de un tanque que contiene la solución electrolítica
previamente seleccionada, haciendo las veces de ánodo.
 Pulido de diamante: El diamante se utiliza como un abrasivo para
tratar la eliminación de material de forma más rápida y con unos
excelentes resultados de plenitud.
 Pulido de óxido: Ciertos materiales, especialmente los blandos y
dúctiles, requieren un pulido final aplicando el pulido de óxido para
obtener una calidad excelente.
ATAQUE QUIMICO
Permite poner en evidencia la estructura del metal o aleación. Existen
diversos métodos de ataque pero el más utilizado es el ataque químico. El
ataque químico puede hacerse sumergiendo la muestra con cara pulida hacia
arriba en un reactivo adecuado, o pasar sobre la cara pulida un algodón
embebido en dicho reactivo. Luego se lava la probeta con agua, se enjuaga
con alcohol o éter y se seca en corriente de aire. El fundamento se basa en
que el constituyente metalográfico de mayor velocidad de reacción se ataca
más rápido y se verá mas oscuro al microscopio, y el menos atacable
permanecerá más brillante, reflejará más luz y se verá más brillante en el
microscopio. En general aquellas regiones de la estructura donde la energía
libre del sistema es mayor, como por ejemplo los limites de fases, bordes de
grano, etc., son atacadas más rápidamente que las regiones monofásicas o
ínter granulares. Los reactivos de ataque por lo general son ácidos orgánicos
disueltos en agua, alcohol, glicerina, etc. El grado de ataque de una probeta
es función de la composición, temperatura y tiempo de ataque. Para que el
ataque sea apropiado es necesario elegir el reactivo de acuerdo a la
composición de la probeta, es decir, un reactivo a base de persulfato de
amonio es ideal para atacar probetas de cobre y latón, pero no es adecuado
para atacar al acero o aleaciones ferrosas. En cambio el nital (solución acuosa
o alcohólica de ácido nítrico al 2% o hasta el 5%) es uno de los reactivos más
comúnmente usado en aleaciones ferrosas y aceros. En la tabla 1 se
encuentran algunos reactivos con su composición y usos más frecuentes
  Métodos de ataque
Antes de realizar el ataque se debe limpiar y desengrasar con alcohol la cara
de la muestra a atacar y luego se debe secar con aire caliente. Los modos de
ataque principalmente son dos: uno sumergiendo la probeta en el reactivo
con la cara que se observará hacia arriba y el otro es mojando un algodón
con el reactivo y frotar la cara de la probeta. Transcurrido el tiempo de
ataque se debe tomar la probeta y lavar con agua o alcohol e
inmediatamente se debe secar con aire caliente. En el caso que se lave con
agua es conveniente enjuagar rápidamente la probeta con alcohol y luego
secarla con aire, esto previene la formación de manchas de oxido. La muestra
se debe manipular en todo momento con pinzas por dos razones
fundamentales: para no tener inconvenientes con el reactivo y para no tocar
la muestra con las manos ya que esto manchará la superficie de la misma.
OBSERVACION POR MIRCROSCOPIO
Microscopio
Microscopio electrónico de transmisión:
El microscopio electrónico de transmisión (TEM) es un instrumento que
aprovecha los fenómenos físico-atómicos que se producen cuando un haz de
electrones suficientemente acelerado colisiona con una muestra delgada
convenientemente preparada. Cuando los electrones colisionan con la
muestra, en función de su grosor y del tipo de átomos que la forman, parte
de ellos son dispersados selectivamente, es decir, hay una gradación entre
los electrones que la atraviesan directamente y los que son totalmente
desviados. Todos ellos son conducidos y modulados por unas lentes para
formar una imagen final sobre una CCD que puede tener miles de aumentos
con una definición inalcanzable para cualquier otro instrumento. La
información que se obtiene es una imagen con distintas intensidades de gris
que se corresponden al grado de dispersión de los electrones incidentes. La
imagen del TEM tal como se ha descrito ofrece información sobre la
estructura de la muestra, tanto si ésta es amorfa o cristalina. Además, si la
muestra es cristalina, es decir, hay una estructura de planos periódica, puede
ocurrir que varias familias de esos planos cumplan la condición de Bragg y
difracten de forma coherente la onda electrónica incidente. Esto da lugar a
un diagrama de difracción, que es una imagen de distintos puntos ordenados
respecto a un punto central (electrones transmitidos no desviados) que nos
aportan información sobre la orientación y estructura del/los cristales
presentes.
Microscopia electrónica de barrido:
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un instrumento capaz de
ofrecer un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la
muestra. Su funcionamiento se basa en barrer un haz de electrones sobre un
área del tamaño que deseemos (aumentos) mientras en un monitor se
visualiza la información que hayamos seleccionado en función de los
detectores que hayan disponibles. En el Servicio de Microscopía de la U.P.V.
existen los siguientes:
Detector de electrones secundarios (SE): es el que ofrece la típica imagen en
blanco y negro de la topografía de la superficie examinada. Es la señal más
adecuada para la observación de la muestra por ser la de mayor resolución.
Detector de electrones retrodispersados (BSE): también ofrece una imagen
de superficie aunque de menor resolución. Su ventaja consiste en que es
sensible a las variaciones en el número atómico de los elementos presentes
en la superficie. Si tenemos una superficie totalmente lisa observaremos
distintos tonos de gris en función de que existan varias fases con distintos
elementos.
Detector de rayos X (EDS): es el que recibe los rayos X procedentes de cada
uno de los puntos de la superficie sobre los que pasa el haz de electrones.
Como la energía de cada rayo X es característica de cada elemento, podemos
obtener información analítica cualitativa y cuantitativa de áreas del tamaño
que deseemos de la superficie. Por ello se conoce esta técnica como
Microanálisis por EDS.
Detector de rayos X (WDS): similar al anterior, pero en vez de recibir y
procesar la energía de todos los rayos X a la vez, únicamente se mide la señal
que genera un solo elemento. Esto hace que esta técnica, aunque más lenta,
sea mucho más sensible y precisa que la de EDS. Realmente son
complementarias, pues el EDS ofrece una buena información de todos los
elementos presentes en la superficie de la muestra y el WDS es capaz de
resolver los picos de elementos cuyas energías de emisión estén muy
cercanas, así como detectar concentraciones mucho más pequeñas de
cualquier elemento y, sobre todo, de los ligeros.
Detector de electrones retro dispersados difractados (BSED): en este caso
sólo se reciben aquellos electrones difractados por la superficie de la muestra
que cumplen la ley de Bragg en el punto que son generados, es decir, se trata
de una señal que nos aporta información de la estructura cristalina de la
muestra. Si conocemos previamente la o las fases cristalinas presentes en
nuestra muestra, el sistema es capaz de procesar la señal que recibe en
forma de “líneas de Kikuchi” y ofrecer una variada información
cristalográfica: orientación de granos, orientaciones relativas entre ellos,
textura, identificación de fases, evaluación de tensión, fronteras de grano,
tamaño de grano…