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单层二硫化钼的力学性能及缺陷工程研究进展
涂莉萍 ,李明林 ,万亚玲 ,王卫东
1 1,
2 1 3
0 引言 而上 制 备 方 法 以 及 其 电 学、光 学 特 性 和 应 用 前 景。
Chhowalla 等人[10] 综合介绍了 TMDs( 包括 MoS2 ) 的组成、
二硫化钼( MoS2 ) 是辉钼矿的主要成分,由于其存在 晶相和电子结构,化学剥离法和化学气相沉积法等制备方
与石墨类似的低层间摩擦特性,长期以来被广泛用作固体 法,以及其在储能方面的应用。Huang 等人
[11]
专门针对
润滑剂。2004 年以来由石墨烯的被发现而引发了二维材 MoS2 发表了讲解性评述,综合介绍了其制备方法、晶体结
[1]
料研究热潮 ,MoS2 由于其优异的半导体特性而得到特 构、机械特性、电学特性和光学特性,以及其在电子器件、
[2]
别关注。MoS2 体材料的能带间隙为 1.29e V ,是间接带 光电器件、传感器和储能器件等领域的应用。浙江大学徐
[12]
隙半导体,具有抗磁性。随着层数的不断减少,能带间隙 明生等人 全面回顾了类石墨烯二维材料在 2013 年前
不断 扩 大,单 层 二 硫 化 钼 ( SLMoS2 ) 的 能 带 间 隙 可 达 的重要研究进展,主要集中在电学和磁学特性、应变效应
[3] [13]
1.8e V ,为直接带隙半导体。这使得 SLMoS2 在纳电子 和功能化修饰。江进武 对比回顾了石墨烯、MoS2 、石墨
器件、纳光电子器件中拥有光明的应用前景
[3-8]
。 烯 / MoS2 异质结构等二维材料的力学性能研究进展。赖
[14]
已有多篇文献综合介绍了 MoS2 各方面的研究进展: 占平 简要介绍了当时 MoS2 的器件研制、性能表征和制
Wang 等人 [9]
回顾了包括 MoS2 在内的过渡金属二硫化物 备方法等方面的研究进展,并对制备高品质的 SLMoS2 提
[15]
( transition metal dichalcogenides,TMDs) 的自上而下和自下 出了研究建议。汤鹏等人 也综合介绍了 MoS2 的制备、
· 48·
·机械制造· 涂莉萍,等·单层二硫化钼的力学性能及缺陷工程研究进展
表征、光物理性质和相关机理以及在光电子器件领域的应 如图 2 所示,获得空前的比第一个石墨烯光电探测器高约
[16] 6 [6]
用研究进展。顾品超等人 也回顾了 MoS2 的几何结构、 为 10 倍的光敏特性,比 2011 年 Zhang 研究组 制作的
能带结构、光学性质、制备方法及其在电子器件领域的应 SLMoS2 光敏晶体管的光敏特性高出近 105 倍。
用。然而,这些文献均少有涉及 SLMoS2 缺陷工程方面的
研究进展。半导体缺陷工程的概念最早是由日本学者在
1984 年于日本东京召开的“半导体缺陷与性能”会议上提
[17]
出的 。其主旨是希望通过对缺陷的深入理解,扬长避
短,合理控制( 消除或引入) 缺陷以达到提高半导体器件
性能的目的。
本文重点阐述了 SLMoS2 独特的物理化学性质及其力
学性能的最新进展研究,着重介绍 SLMoS2 在制备和表征
过程中存在的固有缺陷类型和晶界,介绍近年来基于理论
和实验方法所揭示的缺陷和晶界对其物理化学性能的影
响,并对其力学性能和缺陷工程的研究提出了展望。
1 SLMoS2 优异的物理化学性能
1.1 在电特性方面
2011 年 Kis 研 究 组[3] 构 造 出 SLMoS2 场 效 应 晶 体 管
2
( FET) ,
率先实现室温下其电子迁移率约 200 cm / V / s,且
8
电流开关比高达 10 ,打开了 SLMoS2 在纳米半导体领域的
应用之门,
如图 1 所示。据此,将 SLMoS2 应用于制备集成
[4]
电路和非门逻辑电路 ,
推进了更小型、 更低能耗的半导体
[7] 图2 SLMoS2 光电探测器[5]
器件的研发进展。2012 年冯济等人 首次揭示了 SLMoS2
的谷选择圆偏振光吸收性质,解决了谷电子学应用的最大
挑战———谷极化在单层原子薄膜中的实现。2015 年 Lee 1.3 在热特性方面
[18]
及其团队 利用 NiOx 肖特基电极研究基于 MoS2 的金属
2014 年 Wei 等人[19] 对 SLMoS2 与单层石墨烯的声子
半导体场效应晶体管,获得在一定的低阈值电压下,约 10
2
层的 MoS2 的电子迁移率高达 500~ 1 200 cm / V / s。 热导率进行比较。研究发现由于其超短固有声子平均自
由程,SLMoS2 带的热传导率对尺寸和边缘粗糙度不敏感,
[20]
如图 3 所示。2015 年 Jin 等人研究了 SLMoS2 的电子和
声子的传输性能。通过分子动力学( molecular dynamics,
MD) 模拟,获得 SLMoS2 的热传导率高达 116.8 Wm -1 K -1 ,
这使其在热电工程领域具有光明的应用 前 景。2015 年
Zhang 等人[21] 利 用 改 良 后 的 光 热 拉 曼 技 术 测 得 室 温 下
SLMoS2 的热导率为 84( ± 17) Wm -1 K -1 ,与理论预测值十
分接近。实验还发现,由于声子散射,SLMoS2 的热导率随
着环境温度的升高而降低。
图1 SLMoS2 场效应晶体管
1.2 在光特性方面
Kis 研究组在 2013 年将 MoS2 应用于光电探测器[5] ,
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图4 SLMoS2 纳米谐振器
图3 依赖于 SLMoS2 热导率的长度、宽度和边缘粗糙度
1.5 在力学特性方面
1.4 在谐振性方面 1) 杨氏模量
[8]
2013 年 Feng 等人 将 9 层厚的 MoS2 薄膜应用于纳 SLMoS2 杨氏模量是近年来对其力学性能首要关注的
米谐振器,获得室温下其性能指标 ( 频率和品质因子乘 研究内容。目前,SLMoS2 杨氏模量主要通过理论预测和
10
积) f 0 × Q ≈ 2 × 10 Hz,是迄今包括石墨烯在内的二维 实验测试来获得,但不同方法得到的杨氏模量数值存在显
材料中性能最优良的纳米谐振器之一,
如图 4 所示。此外, 著的差异,如表 1 所示。
表1 SLMoS2 的杨氏模量
Ref. Method t / σ / Nm -1 D / eV E 2D / Nm -1 Y / GPa
Ref[23] nanoindentation 6.5 15±3 - 180±60 270±100
Ref[24] nanoindentation 6.15 16.5 - 120±30 -
Ref[25] MD( SW) 6.09 - - 139.5 229.0
Ref[26] MD( SW) 6.09 - - 78.4 128.75( AC)
Re[28] PBE 6.145 14.5( AC) - 123.08 200.3±0.2
Ref[29] First Principles 6.147 15.1 - 153.7 250
Ref[30] EIP 6.09 - 9.61 - -
Ref[32] LET - - 8.7-13.4 - -
表中 EIP 表示原子经验势,LET 表示经典线弹性理论。
· 50·
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[27]显示,
SLMoS2 杨氏模量在 4.2 K ~ 500 K 的温度范围内 为实现 MoS2 的上述应用,原则上期望能获得大面积
[28]
随温度升高而单调递减。2014 年 Gan 和 Zhao 使用第一 的无缺陷 SLMoS2 薄膜。然而,不管是机械剥离( ME) 法、
获得 SLMoS2 的杨氏模量为 200.3( ±0.2) GPa,并且
性原理, 物理气相沉积( PVD) 法或化学气相沉积( CVD) 法制备的
发现空穴的引入降低了 SLMoS2 的杨氏模量和断裂强度。 SLMoS2 薄膜都或多或少地存在各类缺陷或晶界。
2015 年 Fan 等人[29]基于第一性原理研究发现: 在约 2%的
SLMoS2 的杨氏模量约为 250 GPa,与文献[23]的
小应变下, 2 SLMoS2 的结构缺陷
实验结果一致。通过理论预测和实验测试,SLMoS2 的杨氏
-1
面内刚度为 78 ~ 240 Nm ,且手性
模量约为 120~ 370 GPa, 2013 年 Zhou 等人[38] 系统研究了化学气相沉积法制
效应不明显, 但受空穴的影响较大。 备的 SLMoS2 薄膜的固有结构缺陷———点缺陷和晶界,确
2) 强度 定了 6 种点缺陷———分别是: 单硫原子空穴( V S ) 、双硫原
2011 年 Bertolazzi 等人[23] 基于 AFM 纳米压痕实验测 子空穴( V S2 ) 、单钼原子和周边三硫原子空穴( V MoS3 ) 、单
得 SLMoS2 的平均断裂强度为 15( ±3) Nm 。利用同种方
-1
钼原子和周边六硫原子空穴( V MoS6 ) 、单钼原子替换双硫
2013 年 Cooper 等人[24] 测得 SLMoS2 的固有强度为 16.5
法, 原子的反位缺陷( Mo S2 ) 和双硫原子替换单钼原子的反位
-1
Nm ,与 Bertolazzi 等人的结果十分接近。2014 年 Gan 和 缺陷( S2 Mo ) ,点缺陷以 V S 和 V MoS3 为主; 以及 5 种位错芯类
Zhao[28] 利用第一性原理获得在单轴拉伸试验下 SLMoS2 型———分别是: 4 | 4 环、
4 | 6 环、
4 | 8 环、
5 | 7 环、
6 | 8 环,如图
在 AC 方向的极限强度为 23.6 GPa,在 ZZ 方向的极限强 5 所示。
[29]
度为 16.1 GPa。2015 年 Fan 等人 测得 SLMoS2 的理想强
度为 24.6 GPa,与文献[23]的实验结果一致。理论和实
验研究均获得较为一致的 SLMoS2 拉伸断裂强度。
3) 弯曲模量
2013 年 Jiang 等人[30] 结合原子经验势,得出 SLMoS2
弯曲模量的解析式:
( ) ( )
2 22 2
W r q W θ q
D = ∑ 2 ∑ 2
+ ( 1)
q r q κq θ q κ
其中: W 为弯曲能量密度,κ 为弯曲曲率,r q 为变形后的键
长,θ q 为键角。基于 SLMoS2 的三原子层厚,式中r q / κ 和
θ q / κ 均不为零。所获得 SLMoS2 的弯曲模量为 9.61e V,
[31]
比石墨烯的 1.4e V 大了 7 倍,这可归因于其三原子层
[32]
厚。2016 年 Xiong 和 Cao 使用 MD 模拟,获得 SLMoS2
合理的弯曲刚度为( 8.7 ~ 13.4) e V; 并且发现,如果采用合
理的厚度假设,连续力学弯曲理论可以准确预测 SLMoS2
[33]
弯曲刚度。此外,2016 年 Yu 等人 提出弯曲二维材料
可控制局部电荷和费米能级转移,并利用经典线弹性理论
研究了 1H-MoS2( 1H 是 SLMoS2 的一种相结构,1H -MoS2
[10,34]
中 Mo 原子是三方柱面体配位 ) 的 弯 曲 能 量,获 得
1H-MoS2 的弯曲刚度为 157.59 N。
4) 屈曲现象
屈曲的发生会影响材料在使用过程中的稳定性。欧
拉屈曲定理指出屈曲临界应变可以通过有效杨氏模量和
[35]
弯曲模量来确定,公式为 :
4π2 D
εc = - ( 2)
E2D L2
2D
其中: D 为弯曲模量,E 为有效杨氏模量,L 为系统长度。
2014 年 Jiang[36] 对受力下的 SLMoS2 声子能带隙工程进行
研究。研究发现: 单轴拉伸时 SLMoS2 的声子能带隙可以
缩小并在屈曲应变 ε = 0. 145 时完全闭合; 然而双轴拉伸
对声子能带隙只有有限的影响。此外还证明对 SLMoS2 进 图5 SLMoS2 的点缺陷和位错芯
[37]
行压缩会诱发屈曲。同年,Jiang 又发现当屈曲应变 ε =
0.009 4 时会产生屈曲现象( SLMoS2 的长度 L = 60 ) 。此 2015 年金传洪等人[39] 全面观察了 ME、PVD 和 CVD
外还发现在温度 T< 50 K 时,临界应变几乎与温度无关; 等方法制备的 SLMoS2 薄膜,研究其固有的点缺陷,特别是
当 T>50 K 时,临界应变则随温度的增加而增加。 反位缺陷,增加定义了 3 种点缺陷: 单钼原子空穴( V Mo ) 、
· 51·
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4 结语
由以上研究可以发现,SLMoS2 的杨氏模量和断裂强
度相对石墨烯而言并不大,但是 SLMoS2 有较高的弯曲模
相对而言更不易屈曲。因此,研究者综合利用 MoS2 和
量,
石墨烯的优异力学性能,构造异质结构,以便更好地发挥
出材料卓越特性。缺陷的引入更是赋予 SLMoS2 新的活
图6 SLMoS2 的反位缺陷和浓度 力,不仅不断激发和突破材料的各方面优异性能,而且也
在不断冲击人们对常规物理化学本质规律的认识。基于
上述研究,认为关于半导体性 SLMoS2 的缺陷工程研究在
3缺陷对 SLMoS2 物理化学性能的 以下方面需要更多的关注: 1) 缺 陷、掺 杂 等 因 素 的 SL-
影响 MoS2 的力学行为的影响及相关机制; 2) SLMoS2 在热、电、
磁、力等耦合状态下的力学性能及相关机制; 3) SLMoS2 压
[41]
在电特性方面,2013 年 Heine 等人 研究发现单原 拉伸、剪切等力学行为的实验测试及相关机制。此外,
缩、
子空穴可大幅度降低平均电导率。导电率的减少既依赖 虽然 SLMoS2 与其他物质组成异质结构已引起广泛的关
于缺陷的类型和浓度,又依赖于电子传输方向,特别是对 但其各异质结构力学性能参数的预测也是一个值得研
注,
于晶界或线缺陷,导电率呈现出明显的各向异性。同年美 究的方向。
[42]
国 Wang 等人 模拟研究显 示,钼 原 子 空 穴 可 促 使 SL- 自制备出单层和少层的 MoS2 以来,关于 SLMoS2 的研
MoS2 隧穿二极管的隧穿电流增加 10 倍。2015 年 Lauhon、 究不断取得新的突破,充分显示了 SLMoS2 在研究与应用
Hersam 等人[43] 巧妙地利用 SLMoS2 的晶界构造了三类门 领域的巨 大 潜 力。SLMoS2 具 有 不 同 于 石 墨 烯 的 直 接 带
控忆阻器。获得了开关比约为 1000 且可调的负微分电 隙,使得其在二维纳米材料领域更是脱颖而出。缺陷和晶
阻。 界的存在更赋予了 SLMoS2 薄膜优异的物理化学性质,对
[44]
在化学催化方面,2014 年 Rahman 等人 针对形成 缺陷的控制和利用可增强 SLMoS2 的各方面性能,然而其
队列和片状补丁的两类 V S 空穴堆积进行第一性原理计 缺陷工程方面的研究还不够充分,本文主要对半导体性
算,初步研究发现队列形状的 V S 空穴堆积对酒精合成的 SLMoS2 缺陷工程研究进行综述,引领研究者进一步拓展
催化活性优于片状补丁。该研究预示着可以通过裁制空 SLMoS2 薄膜新的应用领域。
穴的几何形状优化其催化特性。 参考文献:
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在光特性方面,
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倍,
而且在空穴处引入氧原子可进一步增强其发光性能。 [2] Mak K F,Lee C,Hone J,et al. Atomically thin MoS 2: a new
[46]
在磁特性 方 面,2014 年 杨 腾 研 究 组 通过计算发 direct- gap semiconductor[J]. Phys. Rev. Lett.,2010,105
现,拉伸应变会在 SLMoS2 的空穴附近诱发磁矩。对于 V S ( 13) : 1368-1373.
空穴和 V Mo 空穴,
10% 和 7% 的双轴拉伸应变可诱发不小 [3] Radisavljevic B,Radenovic A,Brivio J,et al. Single - layer
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于 2 μ B 的磁矩。该特性预示着可以利用无磁性的 MoS2 材
[4] Radisavljevic B,Whitwick MKis A Integrated circuits and logic
料制作新型的逻辑器件或存储开关。
[47]
operations based on single-layer MoS2[J]. ACS nano,2011,5
在热 特 性 方 面,2015 年 江 进 武 等 人 研 究 表 明, ( 12) : 9934-9938.
0.5%浓度的 V Mo 空穴或 12% 的拉伸应变可分别使得 SL- [5] Lopez - Sanchez O,Lembke D,Kayci M,et al. Ultrasensitive
MoS2 的导热率降低 60%。而且拉伸应变对热导率的影响 photodetectors based on monolayer MoS2[J]. Nat. Nanotechnol.,
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· 52·
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