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CAPACIDAD Y DESEMPEÑO
DEL PROCESO
H. Hernández / P. Reyes
Sept. 2007
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CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
CONTENIDO
1. Introducción
a. Definiciones básicas
b. Objetivos
c. Partes fuera de especificaciones
d. Variación a corto y a largo plazo
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CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
1. Introducción
Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente
importante asegurarse de antemano de que el proceso será capaz de
mantener las tolerancias. En las décadas recientes ha surgido el
concepto de capacidad del proceso ó habilidad del proceso, que
proporciona una predicción cuantitativa de qué tan adecuado es un
proceso. La habilidad del proceso es la variación medida, inherente del
producto que se obtiene en ese proceso.
1 a. Definiciones básicas.
• Proceso: Éste se refiere a alguna combinación única de máquinas,
herramientas, métodos, materiales y personas involucradas en la
producción.
• Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de
aptitud, basada en el desempeño probado, para lograr resultados
que se puedan medir.
• Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir
productos dentro de los límites de especificaciones de calidad.
• Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad
del proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el
resultado de la medición del trabajo realizado por el proceso.
• Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que
resulta de un proceso que se encuentra en estado de control
estadístico, es decir, en ausencia de causas especiales o
atribuibles de variación.
• Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idénticos
sino que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso está bajo
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1b. Objetivos1
1
Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307
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Las familias de variación han sido restringidas de tal manera que los
datos considerados, sólo son los que se obtuvieron del subgrupo
racional. Ayuda a determinar subgrupos racionales importantes.
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Z st =
( límite especif . − nom .)
desv .std ST
dónde:
Zlt = Zst-1.5shift
2
J.M. Juran, Análisis y planeación de la Calidad, Tercera Edición Mc. Graw Hill, Pp.404
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Cp =
( LSE − LIE )
6σ ST
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donde:
Cp = capacidad potencial
LSE = límite superior de especificaciones
LIE = límite inferior de especificaciones
σST = desviación estándar a corto plazo
El índice Cp debe
ser ≥ 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
Para calcular la ha
bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente fórmula:
menor Z I , Z S
C pk =
3
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Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265 205 263 307 220 268 260 234 299
197 286 274 243 231 267 281 265 214
346 317 242 258 276 300 208 187 264
280 242 260 321 228 250 299 258 267
265 254 281 294 223 260 308 235 283
200 235 246 328 296 276 264 269 235
221 176 248 263 231 334 280 265 272
265 262 271 245 301 280 274 253 287
261 248 260 274 337 250 278 254 274
278 250 265 270 298 257 210 280 269
215 318 271 293 277 290 283 258 275
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El histograma es el siguiente:
Histogram of Datos
40
30
Frequency
20
10
0
160 190 210 230 260 290 310 330 360
Datos
X = 264 .19
S = 32.15
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Cp =
( LSE − LIE ) =
( 330 − 200 ) = .674 < 1.33, el proceso no es hábil.
6S 192 .90
Zi =
( 330 − 264 .19 ) = 2.046
32.15
Zs =
( 200 − 264 .19 ) = −1.996
32 .15
menor Z I , Z S 2
C pk = = = 0.66
3 3
Ventajas
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Procedimiento
Ejemplo 2
. Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y,
cálculamos la probabilidad de su posición (Pj)
Pos. J Xj Pj
1 197 0.025
2 200 0.075
3 215 0.125
4 221 0.175
5 231 0.225
6 242 0.275
7 245 0.325
8 258 0.375
9 265 0.425
10 265 0.475
11 271 0.525
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12 275 0.575
13 277 0.625
14 278 0.675
15 280 0.725
16 283 0.775
17 290 0.825
18 301 0.875
19 318 0.925
20 346 0.975
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Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
99
Mean 262.9
StDev 38.13
95 N 20
AD 0.262
90
P-Value 0.667
80
70
Percent
60
50
40
30
20
10
1
150 200 250 300 350 400
Xj
Pj
0.84
0.5
Desv. Estándar
Fracción
Defectiva
LIE X Media Xj
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Predicción
Tiempo
R S
σ= ó σ= (Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2 C4
Donde,
S = Desviación estándar de la población
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Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de
control.
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Ejemplo 3 (carta X - R)
µ = x ( media de medias )
R 77 .3
σ= = = 33 .23
d2 2.326
Ejemplo 4 (carta X - S)
µ = x = 100
s 1.05
σ= = = 1.117
C4 .094
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(105 −100 )
El C pk = = 1.492
3 ×1.117
(105 − 85 )
El C p = = 2.984
6 ×1.117
Ejemplo 5:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), después de que
el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes, se obtuvo
lo siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3
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∑ (X i − X )2
S= i =1
n −1
4( n −1)
C4 =
4n − 3
S
σ LT =
C4
Pp =
( LSE − LIE )
6σ LT
donde:
Pp = Índice de desempeño potencial
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El índice Pp debe
ser ≥ 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
LSE − X
Zs = ;
σ LT
LIE − X
ZI =
σ LT
menor Z I , Z S
Ppk =
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser
≥ 1 .33.
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Ejercicio 6
De una carta de control X - R (con tamaño de subgrupo n = 5), después
de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE
= 36, LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:
d) Determinar el Cp
e) Determinar el Cpk
f) Determinar el Cpm
g) Determinar el Cpkm
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60
50
40
30
20
10
5
0.1
150 200 250 300 350
Datos
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Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar
que es normal la distribución.
60
50
40
30
20
10
5
0.1
150 200 250 300 350 400
Datos
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LSL USL
Process Data Within
LSL 200.00000 Overall
Target *
USL 330.00000 Potential (Within) Capability
Sample Mean 269.25354 Cp 0.70
Sample N 100 CPL 0.75
StDev(Within) 30.83472 CPU 0.66
StDev(O verall) 30.80011 Cpk 0.66
CCpk 0.70
O verall Capability
Pp 0.70
PPL 0.75
PPU 0.66
Ppk 0.66
Cpm *
Interpretación:
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4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper
spec 330
6. Estimate R-bar OK
320
_
X=269.3
240
LCL=176.7
160
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 210 240 270 300 330 360
100
50 __
MR=34.8
0 LCL=0
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 200 300 400
Cp 0.70 Overall
Pp 0.70
250
Cpk 0.66 Ppk 0.66
CCpk 0.70 Cpm *
200 Specs
80 85 90 95 100
Observation
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Ejemplo en Minitab
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USL
Process Data O verall Capability
LSL * Pp *
Target * PPL *
USL 3.50000 PPU 0.85
Sample Mean 0.82279 Ppk 0.85
Sample N 100
Exp. O verall Performance
Shape 1.24929
PPM < LSL *
Scale 0.88470
PPM > USL 3795.26
O bserved Performance PPM Total 3795.26
PPM < LSL *
PPM > USL 10000
PPM Total 10000
El índice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz
ya que 0.85<.1.33
También observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que
aproximadamente 3,795 PPM estarán fuera de los límites de
especificaciones.
3
Los índices Pp y Ppk son similares a los índices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo
plazo.
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a. Fracción defectiva
Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una
carta de control p de fracción defectiva con tamaño de muestra
constante con al menos 25 puntos, y una vez que está en control, se
determina su p media. La capacidad del proceso es
1-P media.
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b. Número de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en
control por medio de una carta C o U con muestra constante por al
menos 25 puntos.
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