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Frmula
X
X R
X
N
X S
X - Rs Cp
(R ) = R / d 2 (s ) = S / C 4
(n 1) =
N X i2 ( X i ) N ( N 1)
*1, *4
Cpk Cm
Cmk
Z min 3 USL LSL Cm = 6 (n 1) Caso de X-R, X-S Z min Cmk = 3 Caso de X-R, X-S Cpk =
P=
Cm =
*2, *4
P Pe
(+ NG ) + ( NG ) x100
N
Calculada de ZUSL, ZLSL y la grfica de distribucin normal *4, *5 SD: (n-1) (SD = Desviacin estndar)
Frmula
X R
X S X= X i n
S=
*1
X
R, S Rs
X Rs X k X= m
2
R=MAX(Xi)-MIN(Xi)
nX i2 (X i ) n(n 1)
Rsk = xk + 1 -Xk
X
R, S Rs X-UCL X-UCL X-LCL X-LCL R-UCL S-UCL Rs-UCL R-LCL S-LCL
X= R= Rk m
Xk m S= Sk m
-------Rsk m 1
Rs =
X UCL = X + A2 R X LCL = X A2 R
X UCL = X + A3 S X LCL = X A3 S
S UCL = B4 S
R UCL = D 4 R R LCL = D3 R *2
S LCL = B3 S *3
Para la Tabla 1 *1: USL: Lmite superior de la tolerancia, LSL: Lmite inferior de la tolerancia *2: Zmin: ZUSL o ZLSL cualquiera que sea el menor
ZUSL =
*3: +NG o -NG es el nmero de defectivos. *4:"**** es graficado para Cp, Cpk, Cm, Cmk y Pe cuando (R), (S), (n-1) = 0 *5: Los valores de Cpk, Cmk y Pe no son garantizados en el, caso de X>USL o X<LSL
USL X (n 1)
Z LSL =
X LSL (n 1)
Para la tabla 2 *1: n = tamao de muestra m = nmero de subgrupos j = entre 1 y n k = entre 1 y m *2: R-LCL es calculado cuando el tamao de la muestra es mayor que 7 *3: S-LCL es calculado cuando el tamao de muestra e mayor que 6
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Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. a travs de su departamento de ingeniera de servicio tiene disponible servicio de medicin de piezas, para lo cual cuenta con variedad de equipo, tal como Mquinas de Medicin por Coordenadas (CMM), equipo de medicin por visin (QV, QS, QI), mquina de medicin de redondez y otras caractersticas geomtricas, equipo de medicin de contorno (perfil), mquinas de medicin de dureza, equipo de medicin de rugosidad, comparadores pticos y microscopios, lo cual permite una gran variedad de opciones para resolver eficientemente cualquier tipo de medicin dimensional.
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PAQUETES DE PAQUETES DE CALIBRACIN CALIBRACIN 3 equipos 10% 3 equipos 10% 6 equipos 15% 6 equipos 15% Ms de 6 equipos 20% Ms de 6 equipos 20%
Uso de software de Uso de software de inspeccin original de inspeccin original de Mitutoyo Mitutoyo
Condiciones sujetas a cambio sin previo aviso Condiciones sujetas a cambio sin previo aviso
ENTENDIENDO LA VARIACIN Los histogramas muestran rapidamente si la variacin en los resultados esta formando un patrn definido.
Si dibujamos una curva suave a traves de lo alto de cada barra del histograma, obtenemos un patrn en forma de campana.
Calibracin de anillos patrn de 6 a 120 mm con mquina que incorpora una holo escala lser con resolucin de 0,1 m y repetibilidad de 0,2 m SERVICIOS ACREDITADOS
Los patrones de variacin que siguen los principios de la distribucin normal pueden ser descritos por su LOCALIZACIN y DISPERSIN como sigue: En la figura 1 el patrn de variacin en las dos curvas con forma de campana A y B son idnticas. Sin embargo, el valor central del tamao ocurriendo ms frecuentemente en cada curva es diferente.
C A B D
calibracion@mitutoyo.com.mx
Pregunte por nuestros cursos sobre uso de software especifico para equipo de medicin ingenieria@mitutoyo.com.mx
5
TAMAO
TAMAO
Figura 1
Figura 2
En la figura 2 el valor central de las dos curvas con forma de campana C y D es el mismo pero la dispersin de la variacin de la curva D es mayor que la curva C
CONTROL DE PROCESO X y R
Registre 25 conjuntos de 5 lecturas consecutivas a intervalos regulares, calcular X y R para cada conjunto de lecturas. Para interpretar grafica de rangos para control Grafique los 25 puntos de los rangos (R) sobre la grafica de rangos Calcular R =
0.4 0.3 0.2 0.1 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
Rangos
UCLR R
1 X R
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
.70 .77 .76 .60 .75 .73 .73 .72 .78 .87 .75 .76 .72 .71 .72 .76 .76 .67 .70 .62 .66 .68 .70 .64 .66 .20 .20 .10 .15 .20 .20 .15 .20 .20 .20 .40 .20 .05 .25 .15 .15 .15 .10 .20 00 00 .20 .16 .10 .10
Calcular los lmites de control para rangos UCLR = D4 x R Tamao de muestra D4 D3 LCLR = D3 x R 2 3.27 0 3 2.57 0 4 2.28 0 5 2.11 0 6 2.00 0 7 1.92 0.08 8 1.86 0.14 9 1.82 0.18 10 1.78 0.22
NOTA: Para tamaos de muestra de 2 a 6 el LCLR = 0 UCLR = 2.11 x .178 = .376 Grafique R, UCLR y LCLR sobre la grfica Interpretar la grfica de control aplicando las siguientes pruebas 1) 2) 3) 4) Nmero de puntos fuera de los lmites de control 2/3 de puntos en el centro 1/3 de puntos cerca de los lmites de control No hay una corrida de 7 puntos consecutivos todos arriba o debajo de la lnea de R No hay una corrida de 8 puntos consecutivos hacia arriba o hacia abajo
Si alguno de las 4 pruebas anteriores falla, el proceso esta fuera de control para rangos. Investigar para causas especiales y corregir Si se pasan todas las 4 pruebas, interpretar la grfica X 6
Promedios
UCLX X LCLX
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
1 X R
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
.70 .77 .76 .60 .75 .73 .73 .72 .78 .87 .75 .76 .72 .71 .72 .76 .76 .67 .70 .62 .66 .68 .70 .64 .66 .20 .20 .10 .15 .20 .20 .15 .20 .20 .20 .40 .20 .05 .25 .15 .15 .15 .10 .20 00 00 .20 .16 .10 .10
X=
17.90 = .716 25 Calcular los lmites de control para promedios 2 1.88 3 1.02 4 0.73 5 0.58 6 0.48 7 0.42 8 0.37 9 0.34 10 0.31
LCLX = X (A2 x R)
UCLX = .716 + (0.58 x .178) = .819 LCLX = .716 + (0.58 x .178) = .613 Graficar X, UCL y LCL en la grfica Interpretar la grfica para control aplicando las siguientes pruebas 1) Ningn punto fuera de los lmites de control 2) 2/3 de puntos en el centro 1/3 de puntos cerca de los lmites de control 3) No hay una corrida de 7 puntos consecutivos todos arriba o debajo de la lnea de X 4) No hay una corrida de 8 puntos consecutivos hacia arriba o hacia abajo Si alguno de las 4 pruebas anteriores falla, el proceso esta fuera de control para promedios. Investigar para causas especiales y corregir Si se pasan todas las 4 pruebas, el proceso esta en control para promedios y rangos. 7
Capacidad de proceso Considerando que el proceso esta en control tanto para X y R X y S la desviacin del proceso s puede ser calculada por cualquiera de las siguientes formas:
X=
X1 + X2 +.....Xn n
n i=1
(Xi X)2
n 1
R=
R1 + R2 + ...... Rm m s1 + s2 + ......sm m
Desviacin estndar de la media s = (m es el nmero de subgrupos) UCLX, LCLX = X (A2)R UCLR = (D4)(R) LCLR = (D3)R (si n>6) UCLs = (B4)s LCLs = (B3)s (si n>5)
USL X y 6
X USL 3
Un proceso con Cpk de 1= Proceso ^ capaz a 3 Un proceso con Cpk de 1.33 = Proceso ^ capaz a 4
PROXIMOS CURSOS Metrologa Dimensional 1 (MD1) Metrologa Dimensional 2 (MD2) Calibracin de Instrumentos (CIVGP) Control Estadstico del Proceso (CEP) Tolerancias Geomtricas Norma ASME Y14.5-2009 Especificacin y Verificacin Geomtrica de Producto Incertidumbre en Metrologa Dimensional
INSTITUTO DE METROLOGA MITUTOYO 08-09 Noviembre Naucalpan 10-11-12 Noviembre Naucalpan 22-23-24 Noviembre Naucalpan 02-03 Septiembre Naucalpan 25-26 Noviembre Naucalpan 13-14-15 Septiembre Tijuana 24-25-26 Noviembre Monterrey 10 Septiembre Naucalpan 20-21-22 Septiembre Naucalpan 06-07-08 Diciembre Naucalpan 23-24 Septiembre Naucalpan 30 Sep-01 Oct Monterrey 11-12 Noviembre Tijuana 27-28-29 Septiembre Naucalpan 08-09-10 Noviembre Tijuana 29 Septiembre Naucalpan 30 Septiembre Naucalpan 01 Octubre Naucalpan $ 4300 ms IVA $ 6200 ms IVA $ 6600 ms IVA $ 4300 ms IVA $ 7500 ms IVA
Aplicacin de ISO 17025 en Laboratorios de Calibracin Verificacin Geomtrica de Producto con CMM Medicin de Acabado Superficial para Verificacin Geomtrica de Producto Equipo ptico y lser para Verificacin Geomtrica de Producto sin contacto Cualquiera de los cursos anteriores en sus instalaciones Informes e inscripciones: capacitacion@mitutoyo.com.mx Tel: (0155) 5312 5612 www.mitutoyo.com.mx 8