RESUMEN De almacenamiento basado en MEMS es una tecnologa nueva, el almacenamiento no voltil en la actualidad en fase de desarrollo.

Promete acceso rpido a datos, de alto rendimiento, alta densidad de almacenamiento, tamao pequeo, bajo consumo de energa, y los bajos costos de entrada. Estas propiedades hacen que el almacenamiento basado en MEMS en una seria alternativa a las unidades de disco, en particular para aplicaciones mviles. La primera generacin de MEMS slo ofrecen una fraccin de la capacidad de almacenamiento de los discos, por lo tanto, proponemos la integracin de mltiples dispositivos de MEMS en una caja de almacenamiento de MEMS, la organizacin como un nivel de RAID 5 con repuestos varios, para ser utilizado como medio de almacenamiento de base la construccin de bloques. En este trabajo se investiga la fiabilidad de dicho recinto. Nos parece que el tiempo medio de fracaso es un indicador inadecuado fiabilidad de los troncos de MEMS. Se demuestra que la fiabilidad de los recintos es apropiado para su vida econmica si los usuarios optan por no reemplazar los componentes no MEMS de almacenamiento. Adems, se investigan los beneficios del mantenimiento de vez en cuando, de prevencin de los recintos. INTRODUCCION Discos magnticos de almacenamiento secundario han dominado durante dcadas. Una nueva clase de dispositivos de almacenamiento secundario basado onmicroelectromechanical sistemas (MEMS) es una tecnologa prometedora secundaria de almacenamiento no voltil est desarrollando actualmente [4, 18, 27, 28]. Con las arquitecturas subyacentes fundamentalmente diferentes, las promesas de almacenamiento basado en MEMS buscan veces diez veces ms rpido que los discos duros, las densidades de almacenamiento diez veces mayor, y el consumo de energa a dos rdenes de magnitud menor. Puede proporcionar varias decenas de gigabytes de almacenamiento no voltil en un chip del tamao de un trimestre, Con el apoyo de la Fundacin Nacional de Ciencia con el nmero de subvencin CCR-0073509 y el Instituto de Computacin Cientfica de Investigacin en el Laboratorio Nacional Lawrence Livermore con la subvencin nmero SC-20010378. Apoyado en parte por una beca de investigacin SCU-interna de IBM. Con el bajo coste de entrada, la sensibilidad de choque de baja, y potencialmente de alta potencia de computacin empotrados. Tambin se espera que sea ms fiable que los discos duros gracias a su arquitectura, estructuras en miniatura, y los procesos de fabricacin [5, 11, 21]. Por todas estas razones, el almacenamiento basado en MEMS es una tecnologa de almacenamiento atractivos de nueva generacin, especialmente en aplicaciones de informtica mvil en el poder, el tamao y la fiabilidad son importantes. Debido a la limitada capacidad de un nico dispositivo MEMS, sistemas de almacenamiento requieren de tales dispositivos, como los elementos de conexin correspondiente, uno o dos rdenes de magnitud ms que los discos para satisfacer sus necesidades de capacidad. Esto puede socavar de manera significativa la confiabilidad del sistema y aumentan los costos del sistema. Por lo tanto, proponemos la integracin de mltiples dispositivos MEMS, organizado como RAID-5, en una caja de almacenamiento de MEMS. recintos de almacenamiento de MEMS son la piedra angular de los sistemas de almacenamiento basados en MEMS, cuya funcin es exactamente la misma que disks'-para el almacenamiento persistente fiable. Adems de los dispositivos de datos y la

paridad, un recinto de MEMS tambin tiene la flexibilidad para contener varias piezas de repuesto en lnea gracias al bajo coste de entrada, un tamao pequeo y bajo consumo de energa de los dispositivos MEMS. Debido a la gran ancho de banda y la capacidad limitada de los dispositivos MEMS, los datos en un dispositivo no se puede recuperar a piezas de repuesto en lnea en minutos, lo que reduce significativamente el riesgo de prdida de datos durante la reconstruccin de datos y mejora la fiabilidad del sistema. El recinto notifica el sistema de acogida, el personal de mantenimiento y / o los usuarios finales cuando se queda sin piezas de repuesto. Puede ser mejorado por un nuevo recinto o reponerse con repuestos nuevos para aumentar su tiempo de vida, dependiendo de las decisiones de los usuarios. Nos parece que el tiempo medio entre fallos (MTTF) de los recintos de MEMS es menor que la de los discos a menos que agresivamente reemplazar piezas de repuesto, pero la probabilidad de prdida de datos durante el ciclo de vida (3-5 aos) de un recinto es menor que el de un disco. As llegamos a la conclusin de que MTTF no es una mtrica apropiada. No se pudo dispositivos MEMS tambin pueden ser reemplazados cuando sea necesario o deseado. Una simple estrategia de mantenimiento preventivo puede hacer cajas de MEMS de gran fiabilidad. Por razones de espacio, no consideramos en este trabajo la organizacin interna de los datos en un solo dispositivo MEMS. Al igual que los discos, los dispositivos MEMS tratar internamente con fallos, tales como defectos medios de comunicacin y errores de bits aleatorios. Adems, MEMS tambin se enfrentar a nuevos modos de fallo como los fallos punta. Hicimos una investigacin preliminar sobre el uso de avanzadas Control de errores de codificacin (ECC) para hacer frente a estos problemas. Como resultado, un dispositivo MEMS presentar una abstraccin similar a las unidades de disco modernos que hacer en un bloque de datos almacenados se pueden recuperar con una probabilidad muy alta y que la corrupcin de datos es extremadamente improbable. Dos basados en MEMS de almacenamiento dispositivo de almacenamiento basado en AMEMS est compuesto por dos componentes principales: los grupos de puntas de prueba llamada matrices punta que se utilizan para acceder a los datos en un soporte movible, no giratorio trineo. En una unidad de disco modernos, los datos se accede por medio de un brazo que busca en una dimensin por encima de un plato giratorio. En un dispositivo MEMS, los medios de comunicacin todo el trineo se coloca en las direcciones x e y por las fuerzas electrostticas mientras que las cabezas permanecen inmviles. Otra diferencia importante entre un dispositivo de almacenamiento de MEMS y un disco que es un dispositivo MEMS puede activar varias puntas al mismo tiempo. Datos pueden ser repartidos entre varias puntas, permitiendo que una cantidad considerable de paralelismo. Sin embargo, las consideraciones de energa y calor limitar el nmero de puntas que pueden estar activos al mismo tiempo, se estima que 200 a 2000 las sondas en realidad se activa a la vez. La Figura 1 ilustra el bajo nivel de diseo de datos de un dispositivo de almacenamiento de MEMS. Los medios de comunicacin trineo es lgicamente dividido en regiones no superpuestas punta, definido por el rea que sea accesible por una sola punta, unos 2.500 por 2.500 bits de tamao. Est limitado por la dimensin mxima del movimiento del trineo. Cada punta en el dispositivo MEMS slo pueden leer datos en su propia regin de la extremidad. La unidad ms pequea de datos en un dispositivo de almacenamiento de MEMS se denomina un sector de punta. Cada sector de punta, identificado

por el hx tupla, y, tipi, tiene su propia informacin de servo para el posicionamiento. El conjunto de bits de acceso a los consejos activos al mismo tiempo con la misma coordenada x se llama una pista de punta, y el conjunto de todos los bits (en todos los consejos) con la misma coordenada x se conoce como un cilindro. Adems, un conjunto de sectores punta al mismo tiempo de acceso se agrupan en un sector lgico. Para un acceso ms rpido, bloques lgicos pueden ser repartidos entre los sectores lgica. La Tabla 1 resume los parmetros fsicos del dispositivo de almacenamiento basado en MEMS utilizado en nuestra investigacin, basada en de las caractersticas previstas de la segunda generacin de almacenamiento basado en MEMS [21]. Si bien el nmero exacto depender de la fiabilidad de los detalles de esa especificacin, las tcnicas en s no. 3 Trabajo Relacionado Aunque el almacenamiento basado en MEMS est todava en su infancia y no la literatura pblico est disponible en su fiabilidad, la La tecnologa MEMS se ha jugado un papel importante en las industrias del automvil, las tecnologas mdicas, COMUNICACIONES, y as sucesivamente [1]. Entre ellos, Digital Micromirror Devices (DMD) es una tecnologa comercial de imagen digital basado en MEMS desarrollado por Texas Instruments (TI). Douglass [7, 8] reportaron y se estim su tiempo medio entre fallos (MTBF) fue 650.000 horas. Los diseadores de sistemas han intentado durante mucho tiempo la construccin de sistemas fiables de almacenamiento. RAID (Redundant Arrays de discos independientes) [6, 10, 19] se han utilizado durante muchos aos para mejorar la fiabilidad del sistema y el rendimiento. Tradicionalmente, los diseadores de sistemas estaban ms preocupados con el rendimiento del sistema de fiabilidad durante la reconstruccin de datos. Menon y Mattson y kevinb [15, 16, 26] evalu el desempeo de los ahorradores dedica [9], ahorradores distribuidos [16], y la paridad ahorradores [20] en el modo normal de recuperacin y los datos de los sistemas RAID. Muntz y Lui [17] propone que un conjunto de discos de n discos se declustered mediante la agrupacin de los bloques en la matriz de discos en conjuntos fiabilidad de g tamao y analiza su rendimiento en la recuperacin de errores. fabricantes de discos son ampliamente a travs de SMART (Self-Monitoring Anlisis y Tecnologa de Informacin) para reconocer las condiciones que indican una falla de la unidad y brinde suficiente advertencia antes de un fallo real se produce [2, 23, 14]. La estrategia de sustitucin de prevencin utilizadas en nuestros recintos de almacenamiento de MEMS puede ser visto como un fallo del dispositivo de grano grueso predictor.2 4 fiable de almacenamiento de bloques de creacin-MEMS Cajas de almacenamiento Gracias a su falta de volatilidad, el almacenamiento basado en MEMS puede sustituir o complementar los sistemas de almacenamiento en discos. En general, los discos tienen mucho mayor capacidad de almacenamiento de dispositivos de almacenamiento de MEMS, que espera que la capacidad es 3.10 gigabyte [21]. Por ejemplo, la capacidad de los discos duros de estado de la tcnica de rango desde 18 hasta 300 GB para el servidor de discos SCSI, desde 40

hasta 400 GB para discos IDE de escritorio, y 20 a 80 GB para porttiles discos IDE [13, 24], inform en agosto de 2004. Por lo tanto, los sistemas de almacenamiento requieren dispositivos MEMS ms que los discos duros de uno a dos rdenes de magnitud para satisfacer sus necesidades de capacidad. En consecuencia, varios de los componentes de conexin, es decir, los autobuses y las interfaces, tambin son necesarias. Estos significativamente pueden socavar la fiabilidad del sistema y aumentan los costos del sistema. El avance de la tecnologa de disco magntico no est bien equilibrado. El aumento de la capacidad del disco supera notablemente el aumento de ancho de banda [12]. As disco reconstruir las horas son cada vez ms, durante el cual un fallo en el disco posterior (o una serie de errores de disco posterior) puede resultar en la prdida de datos. Puesto que los dispositivos MEMS se espera que tengan en leastas, o incluso superior, anchos de banda como los discos duros y sus capacidades son limitadas, el dispositivo reconstruir los horarios son significativamente ms corto para los dispositivos MEMS que para los discos, que a su vez puede reducir la longitud de la ventana de vulnerabilidad por lo tanto mejorar el sistema fiabilidad. El pequeo tamao fsico, bajo consumo de energa y coste de entrada relativamente bajos de los dispositivos MEMS que sea flexible para agregar en la lnea de repuesto dispositivos MEMS en los sistemas de almacenamiento para mejorar su fiabilidad. Debido a la fiabilidad y del costo, creemos que mltiples dispositivos MEMS debe ser integrado en una caja de MEMS de almacenamiento en una sola interfaz y organizada como RAID-5. Elegimos RAID-5 como el esquema de redundancia de datos debido a su fiabilidad, la eficiencia del espacio, y una amplia aceptacin. Las cajas ofMEMS funcin de almacenamiento en sistemas de almacenamiento es exactamente el mismo que disks'-para el almacenamiento persistente fiable. Un controlador administra dispositivos MEMS en un recinto y expone un espacio de almacenamiento lineal a travs de la interfaz. recintos de MEMS son el componente bsico de los sistemas de almacenamiento basados en MEMS, al igual que los discos en los sistemas basados en disco. Adems de los dispositivos de datos y la paridad, un recinto de MEMS tambin tiene varias lneas de repuesto dispositivos MEMS para mejorar su fiabilidad total, durabilidad y economa. El controlador es capaz de detectar las fallas del dispositivo en cuestin de segundos o minutos. Como siempre que haya dispositivos de reserva, recuperacin de datos puede comenzar inmediatamente sin reemplazo de pedidos y las interferencias humanas, lo que reduce significativamente la ventana de vulnerabilidad de los datos y las posibilidades de errores humanos por lo tanto mejora la confiabilidad de MEMS recinto. Cuando una caja se queda sin piezas de repuesto, se puede notificar al sistema de acogida, el personal de mantenimiento y / o los usuarios finales a travs de seales. Por ejemplo, un rojo / mbar / verde LED de combinacin puede informar a un usuario de ordenador porttil de la situacin de los MEMS. El recinto puede ser mejorado por un nuevo recinto o reponerse con repuestos nuevos para aumentar su tiempo de vida, dependiendo de las decisiones de los usuarios. A pesar de un recinto sin piezas de repuesto todava puede tolerar un fracaso ms, gracias al RAID-5 la organizacin, una sustitucin preventiva o la estrategia de reparacin puede ser deseable, ya que todava puede mejorar significativamente la confiabilidad del sistema. Adicin de piezas de repuesto en lnea puede reducir los costos de mantenimiento ya que el mantenimiento de los troncos de estos pueden ser menos frecuentes. Tambin puede mejorar la durabilidad envolvente debido a un recinto

puede tolerar varios fracasos dispositivo en su vida econmica. 5 Fiabilidad de los recintos de almacenamiento de MEMS MEMS recintos de almacenamiento se organizan internamente como RAID-5 con piezas de repuesto en lnea. Los investigadores tradicionalmente la aproximacin de las vidas de RAID-5 sistemas como exponencial y el uso de tiempo medio entre fallos (MTTF) para describir su fiabilidad [6, 10, 19]. Esta aproximacin es suficientemente preciso, porque la vida til de los componentes del sistema son modelados como componentes exponencial y no puede ser sustituido en el tiempo, es decir, el sistema se puede reparar. As, con la sustitucin del dispositivo fall, recintos MEMS comparten caractersticas similares fiabilidad con RAID-5 sistemas y su vida tambin se puede modelar como exponencial. Sin embargo, sin la sustitucin del dispositivo no, la vida til de los recintos de MEMS puede ser visto como dos etapas: la etapa de confianza con los repuestos y la etapa de poco fiable, sin piezas de repuesto. Cuando todava tiene dispositivos de repuesto, una caja de MEMS puede ser tan fiable como RAID-5 con los sistemas de muy corto tiempo la reconstruccin, cuando quede sin piezas de repuesto, el recinto se convierte en fiable por cualquiera de los dos sucesivos fracasos dispositivo puede dar lugar a la prdida de datos. As, la vida de los recintos de MEMS sin reemplazo no puede ser simplemente el modelo como exponencial. 5.1 Fiabilidad sin reemplazo En primer lugar, estudia la fiabilidad de los recintos de almacenamiento de MEMS con repuestos dedicada en una situacin de idealista, pero simple. Los dispositivos de reserva no participan en los servicios de solicitud durante las operaciones normales. Slo tenemos en cuenta la fiabilidad de los dispositivos MEMS; otros componentes en los armarios son perfectos. No se pudo dispositivos MEMS no se reemplazan. Suponemos que aMEMS caja contiene 19 datos, la paridad, y k dedicada dispositivos de reserva. La capacidad visible para el usuario de la caja es de 60 GB ya que la capacidad de un solo dispositivo MEMS es de 3,2 GB (ver Tabla 1). Suponemos reconstruccin de datos veces desde un dispositivo no un on-line de recambio es exponencial con MTTRmems = 0.25 horas (tiempo medio de reparacin). Se trata de una estimacin muy conservadora, teniendo en cuenta el ancho de banda alto (76 MB / s) y relativamente de pequea capacidad (3.2 GB) de MEMS: slo usamos menos del 5% del ancho de banda del dispositivo de recuperacin de datos. Desafortunadamente, no hay datos sobre la fiabilidad de los dispositivos de almacenamiento basados en MEMS, ya que todava se estn desarrollando y no comercial todava disponible, aunque los investigadores y el almacenamiento de ingenieros ofMEMS basado en esperar que los dispositivos MEMS de almacenamiento son ms fiables que los discos [4, 11]. Slo literatura limitada sobre la fiabilidad de los sistemas microelectromecnicos estn a disposicin del pblico de hoy. Por ejemplo, Digital Micromirror Devices (DMD), una tecnologa de imagen digital comercializado basado en MEMS, Han tiempo medio entre fallos (MTBF) de 650.000 horas (74 aos) [7, 8]. Por simplicidad, suponemos que los dispositivos de almacenamiento basados en MEMS tienen tiempos de vida exponencial con la media de

200.000 horas (23 aos). A efectos de comparacin, se supone la vida til de los discos de los productos bsicos y "mejor" los discos son tambin exponencial de los medios de 100.000 y 200.000 horas, respectivamente. Si bien el nmero exacto depender de la fiabilidad estos supuestos, las tcnicas en s no lo hacen. La figura 2 muestra el modelo de Markov para el almacenamiento de MEMS recinto con los datos N y los dispositivos de una paridad y una dedicada de repuesto. Mediante el uso de un mtodo simple se describe en [10], MTTF de tales sistemas con s repuestos dedicada se puede aproximar como 3.5, 4.6, 5.8, 6.9, y 8.1 aos respectivamente, que son sorprendentemente bajos. Aunque con baja MTTF, recintos MEMS con varias piezas de repuesto puede ser ms confiable que los dispositivos individuales con MTTF tan alto como 200.000 horas (23 aos), aunque los recintos no se reparan en su vida econmica. La Figura 3 muestra las tasas de supervivencia de los recintos de MEMS sin reparaciones. La tasa de supervivencia R (t) de un sistema individual se define como la probabilidad de que el sistema sobrevive para cualquier t de por vida ya que es un principio de funcionamiento [25]: R (t) = Pr [li etime f> t | principio de funcionamiento] . Figura 3 indica que con 3-5 dedicada en lnea de repuestos de un recinto de MEMS es ms fiable que un solo dispositivo con MTTF, de 23 aos en los primeros 3-5 aos, incluso sin reparar la caja. Por ejemplo, la probabilidad de prdida de datos debido a la falta de aMEMS caja con cinco piezas de repuesto en los tres primeros aos es de 1,75%, mucho mejor que el 12,31% de un solo disco con MTTF, de 23 aos. Sin embargo, cuando se queda sin piezas de repuesto, el recinto se convierte en poco fiables y las probabilidades de prdida de datos debido a un fallo en una caja mes y un ao son 0.235% y 21,06%, respectivamente. Normalmente, un disco con un tiempo de vida exponencial tiene una curva de supervivencia de tarifa plana en forma de S. En comparacin, los recintos de MEMS, que tambin tienen curvas de supervivencia en forma de S tasa, lograr mayores tasas de supervivencia en el principio, pero luego en vez de repente entran en el ndice de supervivencia de un disco, como se muestra en la Figura 3. As, a pesar de caja aMEMS podra tener un MTTF ms pequeos, su tasa de supervivencia de 1, 2, ... aos puede ser significativamente mejor que la de un disco. Bsicamente, la tasa de supervivencia recinto sigue ya no es una distribucin exponencial, pero una distribucin tipo Weibull. Cursos de la vida econmica (3-5 aos) son mucho menores que los componentes MTTF (> 10 aos), lo que explica la situacin aparentemente paradjica de que las cajas con menor MTTF son ms confiables que una unidad de disco. Afortunadamente, el sistema de acogida, el personal de mantenimiento, y / o los usuarios finales pueden notar cuando un recinto entra en su etapa de poco fiables a continuacin, programar una reparacin en el tiempo. Tenga en cuenta que recintos MEMS son slo el bloque de construccin de sistemas de almacenamiento. Todos los datos de un "poco saludables" recinto se pueden replicar en un recinto en lnea de repuesto dentro de una hora, asumiendo 17 MB / s de ancho de banda de consumo, que es slo el 1,2% del ancho de banda agregado de la caja de MEMS. 5.2 Fiabilidad con reemplazo

Cuando se quedan sin repuestos, cajas de MEMS puede solicitar los servicios de mantenimiento. Hay dos estrategias de sustitucin inMEMS recintos: la estrategia preventiva derecho reemplazo horarios despus de quedarse sin piezas de repuesto y la estrategia de sustitucin obligatoria horarios slo cuando las cajas operan en el RAID-5 degradadas modo sin ningn tipo de repuestos. Figura 4 muestra el modelo de Markov para un recinto de MEMS con los datos de N y los dispositivos de una paridad y una dedicada de repuesto con el reemplazo, donde V V 0 y 1 son los tipos de reemplazo obligatorio y preventivo, respectivamente. Suponemos que los tiempos para reemplazar los dispositivos no son independientes y exponencial. sustitucin de prevencin puede mejorar significativamente la fiabilidad de los recintos de MEMS, ya que todava se puede tolerar un fracaso ms durante el tiempo de reemplazo, por lo general en das o semanas, gracias a su RAID interna-5 la organizacin. Imperativo y no preventivos pospone el reemplazo reparaciones recinto lo ms tarde posible para que pueda reducir la frecuencia de mantenimiento durante la vida til de los recintos. Sin embargo, el reemplazo no preventivos hace a los usuarios expuestos a mayores riesgos de prdida de datos o falta de disponibilidad. Figura 5 showsMTTF ofMEMS recintos de almacenamiento con diferentes nmeros de piezas de repuesto dedicada bajo diferentes estrategias de sustitucin y las tasas de sustitucin, que van desde un da a tres meses. Fijamos el nmero de datos de-vicios (N = 19) y el tiempo promedio de recuperacin de datos de piezas de repuesto en lnea (1 / = 15 minutos). Claramente, repuestos en lnea con el reemplazo de prevencin pueden aumentar drsticamente MTTF de los recintos de MEMS, de una a dos rdenes de magnitud ms alta que MTTF de los recintos sin piezas de repuesto en lnea, bajo la misma tasa de reemplazo. Sin reemplazo de prevencin, la mejora de la fiabilidad de piezas de repuesto en lnea es menos impresionante. La fiabilidad (MTTF) de los recintos de MEMS depende en gran medida la rapidez con dispositivos no puede ser sustituido: cuando aumenta la duracin media del tiempo de reemplazo de un da para un mes, MTTF de recintos puede caer en uno o dos rdenes de magnitud. En comparacin con el reemplazo no preventivos, la sustitucin preventiva puede reducir la urgencia de sustituir conforme a la exigencia misma fiabilidad, como se muestra en la Figura 5. El nmero de dispositivos activos de datos N y la tasa de recuperacin de datos promedio de piezas de repuesto en lnea tambin tienen un impacto en la fiabilidad recinto MEMS. Figuras 6 (a) y 6 (b) muestran MTTF de los recintos de MEMS, con una dedicada de repuesto y con el reemplazo de prevencin, en funcin de N y , dado que los tiempos de reemplazo promedio son un da y una semana, respectivamente. Variamos N desde 19 a 23 y de 4 (15 minutos) a 30 (2 minutos), que estn en rangos razonables de los troncos de MEMS en consideracin. En general, MTTF disminuye con el aumento de N y la disminucin de . Tenga en cuenta que los cambios de MTTF en virtud de los rangos especificados de N y son dentro de cuatro a cinco veces. Por lo tanto, N y tener efectos profundos en MTTF menos que el promedio de las tasas de sustitucin de dispositivos, V V 0 y 1, como se muestra en la Figura 5. Dado un tiempo de reemplazo relativamente grande (una semana en promedio), MTTF depende principalmente de N en lugar de , como se muestra en la Figura 6 (b). Cuando la sustitucin tiende a ser pospuesta, el riesgo de prdida de datos durante el tiempo de los datos de reconstruccin a corto es neglectable, en comparacin con el riesgo de prdida de datos durante el perodo de

reemplazo de largo. Sin embargo, la tasa de reconstruccin de datos se vuelve ms relevante cuando el tiempo de reemplazo se hace ms corto (un da en promedio), como se muestra en la Figura 6 (a).

5.3 Fiabilidad de los distribuidos Ahorradores Piezas de recintos inMEMS de almacenamiento tambin se pueden organizar en una manera distribuida. En distribuidos ahorradores [16], los datos del cliente, los datos de paridad, y el espacio libre se distribuyen uniformemente en todos los dispositivos en el recinto. Esta tcnica puede proporcionar mejor rendimiento que dedica ahorradores en los modos normal y reconstruccin de datos [15, 16, 26]. En comparacin con los ahorradores dedica, distribuidas ahorradores de las necesidades de la reconstruccin de menos datos de los ahorradores de dedicacin y su reconstruccin de datos se pueden procesar en paralelo desde y hacia todos los dispositivos, evitando el problema de la reconstruccin por entregas en ahorradores dedicado. Evitando as distribuida puede reducir los tiempos de la reconstruccin de datos, reduciendo as la ventana de la vulnerabilidad y el riesgo de prdida de datos. Sin embargo, ahorradores de distribucin utiliza ms dispositivos, que pueden socavar la fiabilidad total del envolvente. Figura 7 presenta un diseo bien conocido de ahorradores distribuidos. La figura 8 muestra el modelo de Markov para una caja con dispositivos MEMS N utilizando distribuidos ahorradores. Debido a que el recinto de MEMS en general se mantiene en los modos de datos para la reconstruccin de un tiempo muy corto, que con seguridad puede combinar los modos de reconstruccin de los modos normales mediante la adicin de transiciones directamente desde el modo normal al modo de la prdida de datos con probabilidades pequeas, N P qj, a simplificar nuestros clculos. La probabilidad de prdida de datos durante el tr datos de tiempo de reconstruccin cuando j - 1 dispositivos an sobreviven, qj, es 1-e-(j-1) P tr .= (j-1) tr P, donde tr es siempre no ms grande que su contraparte en el ahorro dedicado. ahorradores distribuidos ahorradores y dedicado puede ofrecer una fiabilidad similar o casi idnticas a las configuraciones recinto MEMS objeto de examen. Figura 9 comparesMTTF de los recintos de almacenamiento de MEMS utilizando ya sea dedicado o distribuido ahorradores con diferentes nmeros de piezas de repuesto en las tasas de sustitucin diferentes, que van desde un da a tres meses. El almacenamiento visible para el usuario es de 60 GB, que es equivalente a la capacidad de almacenamiento total de 19 dispositivos de MEMS. Hemos establecido las tasas de recuperacin de datos de piezas de repuesto en lnea en la distribucin ahorradores superiores a los ahorradores dedicado. ahorradores distribuidos requiere menos tiempo para reconstruir los datos de piezas de repuesto en lnea, que puede mejorar la fiabilidad, por el contrario, se trata de dispositivos ms activo, que puede socavar la fiabilidad. Estos dos efectos se equilibran entre s, como se muestra en la Figura 9 y las figuras 6 (a) y 6 (b). En particular, dedicada ahorradores y distribuido ahorradores de proporcionar casi idnticos MTTF a los troncos de MEMS en el marco del imperativo

estrategia de sustitucin no preventivos. Normalmente, el tiempo promedio es de dispositivo de reemplazo en das o semanas y el tiempo de la reconstruccin de datos promedio de piezas de repuesto en lnea es en cuestin de minutos. Por lo tanto, sin reemplazo de prevencin del riesgo de prdida de datos durante la sustitucin del dispositivo es mucho mayor que el riesgo durante la reconstruccin de datos. Aunque ahorradores distribuida tiempos ms cortos de la reconstruccin de datos, no tiene ningn impacto significativo sobre la fiabilidad recinto MEMS. Cuando la sustitucin preventiva se emplea, el riesgo de prdida de datos durante la reconstruccin de datos es comparable al riesgo en reemplazo rpido porque el tiempo de reemplazo es corto y las cajas pueden tolerar un fracaso ms durante el perodo de reemplazo. Por lo tanto, ahorrando distribuidos proporciona una mejor fiabilidad que dedica ahorradores slo bajo esta situacin, como se muestra en la Figura 9. 5.4 Otras cuestiones onMEMS StorageEnclosureReliability En las Secciones 5.1 a 5.3, que supone slo los dispositivos MEMS en los recintos de almacenamiento de MEMS puede fallar y otros componentes son perfectos. Las fallas de los dispositivos MEMS tambin se supone que es independiente. En realidad, la prdida de datos puede ser causada por una variedad de razones, como fallos de dispositivos relacionados, para compartir, fallas de los componentes, los fallos del sistema, irrecuperable rors er-bit, y as sucesivamente. Simplemente siga los anlisis de fallas en [6, 22] y presentar los resultados aqu. Al igual que los discos, las fallas del dispositivo MEMS tienden a ser comunes debido correlacionada con los factores ambientales y de fabricacin. dispositivos tambin vivo en una caja tras el fracaso inicial generalmente tienen al servicio de las cargas de trabajo mucho ms pesado de lo habitual debido tanto a las solicitudes externas y la reconstruccin de datos interna peticiones. Para simplificar, se sigue el supuesto de que cada fallo del dispositivo sucesivas es diez veces ms probable que el fracaso anterior hasta que el dispositivo no ha sido reconstruido [6]. Bajo este supuesto, MTTF de MEMS cajas con o sin gotas de sustitucin preventiva de 10.9 veces. En particular, la sustitucin preventiva es ms deseable que el imperativo y el reemplazo no preventivos, ya que todava puede ofrecer una gran fiabilidad sin reparaciones urgentes, como se muestra en la Figura 5. Por ejemplo, las probabilidades de prdida de datos debido a un fallo del dispositivo doble en los primeros tres aos de un recinto de MEMS con una dedicada de repuesto, con el reemplazo de prevencin o no preventivos, con un tipo de reparacin de una semana a la media son 0,65% y el 14,54% , , respectivamente. Suponemos que todos los dispositivos de MEMS en un recinto se adjuntan a la energa comn y cadenas de datos. A continuacin, las probabilidades de prdida de datos debido a fallos en cadena y el controlador en los primeros tres aos del 0,52% y 2,59% respectivamente, suponiendo que la cadena de alimentacin ha MTTF de 5 106 horas (571 aos) y el controlador de RAID-5 tiene MTTF de 106 horas (114 aos) [22]. Se sugiere que el controlador ms probable resulta en la prdida de datos que los dispositivos MEMS aunque es mucho ms fiable que un

solo dispositivo MEMS. estimaciones de confiabilidad, a raz de los enfoques en [6], muestran que las probabilidades de prdida de datos debido a errores de bits y no se puede corregir los fallos del sistema seguido por un fallo del dispositivo MEMS en los tres primeros aos son de 0,14% y 0,18%. En resumen, como el bloque bsico de construccin de sistemas de almacenamiento, recintos de MEMS puede ser mucho ms fiables que los discos, incluso con las consideraciones de la prdida de datos debido a fallos possile doble, compartida fallas de los componentes, los fallos del sistema y errores irrecuperables poco. Los clculos muestran que la probabilidad de prdida de datos en un recinto de MEMS con repuesto en sustitucin de prevencin en los tres primeros de un ao es de 4,0%, lo que es significativamente menor que el 12,3% de un solo disco con MTTF, de 23 aos. Tenga en cuenta que MEMS recintos slo son la piedra angular de los sistemas de almacenamiento y un mayor nivel de redundancia se proporciona para proteger la prdida de datos por los sistemas basados en MEMS recinto, como en los sistemas basados en disco. 6 Durabilidad de los recintos de almacenamiento de MEMS En los recintos de almacenamiento de MEMS, los dispositivos no tienden a ser reemplazados lo ms tarde posible o no sustituido durante la vida econmica de los recintos para reducir al mnimo los costos de mantenimiento y las interferencias humanas. Esta estrategia plantea interrogantes sobre la durabilidad de los recintos de MEMS: cunto tiempo pueden trabajar sin reparaciones? Cuntas veces lo que necesitan reparacin en los primeros 3-5 aos? Cmo las diferentes polticas de sustitucin afecta a la frecuencia de mantenimiento? Una vez ms se considera un recinto de MEMS con 19 datos, la paridad, y k dedicada dispositivos de reserva. Por simplicidad, suponemos que la reconstruccin de datos de piezas de repuesto en lnea completa instantneamente como un dispositivo falla. Que pn (t) la probabilidad de que exactamente n dispositivos MEMS en el recinto han fallado durante el perodo de (0, t]. Como se explica en [3], donde P P N = N, N es el nmero de datos y la paridad dispositivos en el recinto y  1 / P es MTTF dispositivos ofMEMS, que se supone que es 23 aos en nuestro estudio. Por lo tanto, la probabilidad de que caja aMEMS enfrenta hasta k errores durante el perodo de (0, t] es En otras palabras, el recinto puede sobrevivir despus de un tiempo t con la probabilidad de Mx (t) siempre y cuando se puede tolerar hasta k errores. Figura 10 ilustra las probabilidades hasta que a los fallos k se producen en un recinto de MEMS en] t (0,. Sin ningn tipo de reparaciones, un recinto de MEMS con repuestos k puede tolerar hasta k una fracasos en su vida. Con reparaciones m ( m 1), el recinto se puede tolerar hasta k (m +1) fallas en el reemplazo de prevencin y (k +1) fallos (m +1), bajo imperativo y no preventivos de reemplazo antes de la reparacin (m +1) est programado. Aqu asumimos reparaciones recinto se puede completar de forma instantnea, ya que nos interesa cuntas veces un recinto tiene que ser reparado durante su vida econmica, en lugar de su fiabilidad. En comparacin, las probabilidades de que un disco con MTTF de 23 aos puede sobrevivir por

ms de una, tres y cinco aos son el 95,7%, 87,7% y 80,3%, respectivamente. AMEMS recinto con dos piezas de repuesto tiene la oportunidad de 98,8% para sobrevivir durante un ao sin reparacin. La probabilidad de que una caja con cinco piezas de repuesto pueden sobrevivir durante cinco aos sin reparacin 84,6% La probabilidad de que un recinto con tres piezas de repuesto en sustitucin preventiva requiere algo ms que una reparacin durante cinco aos es del 15,4%;. lugar, la posibilidad de que el mismo recinto en el reemplazo no preventivos es tan slo el 3,5% agregar uno. La figura ms libre puede reducir an ms estas probabilidades a 3,5% y 0,6%, respectivamente. Obviamente, la sustitucin preventiva oficios ms servicios de mantenimiento para una mayor fiabilidad, en comparacin a la sustitucin obligatoria. 10 es casi idntica a la figura 3, ya que el tiempo medio para la reconstruccin de datos onrepuestos de lnea es muy corta en la realidad. As, la asuncin de recuperacin de datos inmediata en la Figura 10 es muy preciso en el clculo de la fiabilidad de los recintos de MEMS sin reparaciones. Por lo tanto, de que puedan ponerse a la aproximacin de las tasas de supervivencia de los recintos de MEMS sin reparaciones utilizando La ecuacin 2, sin resolver desordenado ecuaciones diferenciales ordinarias. 7 Observaciones finales Aunque el almacenamiento basado en MEMS se espera que sea ms fiable que los discos, el uso indiscriminado de estos aparatos pueden provocar una degradacin significativa en la fiabilidad de los sistemas informticos. Proponemos paquete de mltiples dispositivos MEMS, 8, junto con piezas de repuesto en lnea, en una caja de almacenamiento de MEMS, que es el componente bsico de los sistemas de almacenamiento. recintos de MEMS puede ser ms fiable que los discos, incluso sin las reparaciones en su vida econmica, por ejemplo 3-5 aos. Por otra parte, una poltica de simple sustitucin preventiva puede hacer cajas de MEMS de gran fiabilidad con MTTF de ms de 1.000 aos. Tambin encontramos que los ahorradores y distribuido dedicado ahorradores no tienen ninguna diferencia apreciable en la fiabilidad recinto MEMS.