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Sciences et Techniques Industrielles Productique - Cours Gnie Mcanique Premire

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LA MTHODE S.P.C. (STATISTICAL PROCESS CONTROL)

Ne aux USA, la mthode S. P. C. est traduite le plus souvent par : Surveillance des Procds en Continu. Cest un vritable systme dinformation appliqu au procd de fabrication soit directement (contrle de ses paramtres), soit indirectement (contrle des caractristiques du produit). La mthode S. P. C. entre dans les dmarches dauto-contrle dont elle est la technique la plus volue. Elle repose sur trois principes fondamentaux : - La priorit donne la prvention (intervention avant de produire des rebuts). - La rfrence au procd tel quil fonctionne (qualification machine). - La responsabilisation de la production et la participation active des oprateurs.

MTHODOLOGIE DE MISE EN PLACE DU CONTRLE STATISTIQUE DU PROCESSUS

Il est indispensable de suivre une dmarche rigoureuse pour mettre en place le S. P. C. Remarque: Le contrle statistique a ses limites, il ne faut pas considrer cette technique comme un remde miracle pouvant tre utilis quelles que soient les conditions.

LES TYPES DE CONTRLE

Les diffrents types de contrle peuvent tre rsums dans le tableau ci-dessous :

CONTRLE 100%

CONTRLE PAR CHANTILLONNAGE

MTHODE

LA RECEPTION EN COURS DE FABRICATION

Tous les contrles Tous les contrles ncessaires sont effectus ncessaires sont effectus sur un chantillon sur la totalit des pices reprsentatif de pices produites prleves. Permet lacceptation ou le Permet deffectuer un refus dun lot de pices contrle statistique. produites ou achetes. Permet de surveiller le Permet deffectuer un processus de fabrication. contrle statistique.

PRINCIPES UTILISS POUR LE CONTRLE : NF X 06 - 031

Le contrle en cours de fabrication de la qualit des lments produits se fait gnralement partir de prlvements dont chacun est soumis un essai. Lensemble des rsultats obtenus sur un mme prlvement donne lieu au calcul dune statistique (moyenne ...). Les valeurs en sont reportes, dans lordre chronologique, sur une carte dite carte de contrle , et interprtes daprs leur position par rapport des limites traces lavance sur la carte. Nous nous intresserons aux types de contrle suivant : - contrle par mesures, - contrle par attributs.

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Quand contrler ?

Remarque : Le contrle 100% entrane une augmentation trs importante du prix de revient dune pice. Dans la suite du cours, nous nous intresserons uniquement aux contrles par chantillonnage en cours de fabrication.

Page 2 sur 5 CONTRLE PAR MESURE

La spcification contrle est une grandeur chiffrable par un appareil de mesure. Les cartes de contrles permettent de surveiller deux paramtres : - La tendance de la fabrication (moyenne). - La variabilit du processus (tendue).

CONTRLE PAR ATTRIBUTS

Si la suite dun contrle les produits sont classs en bon ou dfectueux , la carte de contrle correspondante est : La carte de contrle du nombre ou de la proportion de dfectueux. Si le nombre de dfauts constats sur chaque pice caractrise la qualit du produit, la carte de contrle est : La carte de contrle du nombre de dfauts par unit de contrle. Remarque : Ces cartes seront tudies en classe de terminale.

OBJECTIF DES CARTES DE CONTRLE

Le suivi et la matrise des dispersions disposent donc dun outil : les cartes de contrle. Elles permettent davoir une image du droulement du processus de fabrication et dintervenir rapidement et bon escient sur celui-ci.

LES CARTES DE CONTRLE PAR MESURE

Pour suivre lvolution du procd, des prlvements dchantillons sont effectus toutes les heures (5 pices par exemple). Pour chaque chantillon, la moyenne et ltendue sont calcules sur la caractristique contrler. Ces valeurs sont portes sur un graphique. Au fur et mesure quelle se remplit, la carte de contrle permet la visualisation de lvolution du processus. A partir de la valeur moyenne sont dfinis les diffrentes limites : - les limites infrieures et suprieures de contrle : Lc1 et Lc2. - les limites infrieures et suprieures de surveillance : Ls1 et Ls2. Moyenne de la caractristique sur un chantillon de n pice sur le 3me prlvement. Lc2 Ls2 Refus Surveillance

X
Ls1 Lc1

Acceptation

Surveillance Refus

TABLIR UNE CARTE DE CONTRLE

Nous allons tudier les cartes de contrle de la moyenne et de ltendue partir dun exemple. Vous devrez, tout en suivant scrupuleusement la procdure donne, complter la carte de contrle page 5. Cette tude portera sur le contrle de la fabrication dun axe de diamtre maxi 20,1 et de diamtre mini 19,9. La vrification de cette spcification est faite laide dun appareil de mesure au 1/100 de millimtre. Compte tenu de la cadence de production, du cot et des possibilits de contrle, on dcide dtablir une carte de contrle de la moyenne et de ltendue en prlevant un chantillon de 5 pices toutes les heures. Notre tude se limitera aux 8 premiers chantillons dont vous trouverez les mesures en page 3.
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N PICE 1 19,91 19,90 19,93 19,96 19,95 19,92 19,90 19,97 2 19,93 19,93 19,91 19,94 19,92 19,94 19,92 19,94 3 19,96 19,91 19,96 19,96 19,93 19,97 19,88 19,97 4 19,93 19,92 19,90 19,91 19,91 19,93 19,93 19,93 5 19,94 19,92 19,97 19,93 19,92 19,93 19,92 19,93

N CHANTILLON 1 2 3 4 5 6 7 8

- Calculer pour chaque chantillon sa moyenne ( X ) et son tendue ( R ). R = dimension maxi chantillon - dimension mini chantillon - Calculer la moyenne des moyennes ( X ) et la moyenne des tendues (

R ).

X = 19,936

R = 0,047

- A laide du tableau des valeurs des constantes Ac et As ci-dessous, dterminer les moyennes des coefficients : Ac et As.

Effectif de chaque chantillon 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Ac = 0,594

- Calculer les diffrentes limites de la carte de la moyenne. La limite suprieure de contrle :

Ac 1,937 1,054 0,750 0,594 0,498 0,432 0,384 0,347 0,317 0,295 0,274 As = 0,377

As 0,229 0,668 0,476 0,377 0,316 0,274 0,244 0,220 0,202 0,186 0,174

Lc2 = X + ( Ac * R ) Lc2 = 19,931 + ( 0,594 * 0,047 ) Lc2 = 19,959 La limite infrieure de contrle :

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Lc1 = X - ( Ac * R ) Lc1 = 19,931 - ( 0,594 * 0,047 ) Lc1 = 19,903 La limite suprieure de surveillance : Ls2 = X + ( As * R ) Ls2 = 19,931 + ( 0,377 * 0,047 ) Ls2 = 19,949 La limite infrieure de surveillance : Ls1 = X - ( As * R ) Ls1 = 19,931 - ( 0,377 * 0,047 ) Ls1 = 19,913 - A laide du tableau des valeurs des constantes Dc et Ds ci-dessous, dterminer les moyennes des coefficients : Dc et Ds.

Effectif de chaque chantillon 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Dc = 2,36 - Calculer les limites de la carte de contrle de ltendue : La limite suprieure de contrle :

Dc 4,12 2,99 2,58 2,36 2,22 2,12 2,04 1,99 1,94 1,90 1,87
Ds = 1,81

Ds 2,81 2,17 1,93 1,81 1,72 1,66 1,62 1,58 1,56 1,53 1,51

Lc = Dc * R Lc = 2,36 * 0,047 Lc = 0,11 La limite suprieure de surveillance : Ls = Ds * R Ls = 1,81 * 0,047 Ls = 0,08 - Tracer (page suivante) les cartes de contrle de ltendue et de la moyenne.

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CARTE DE CONTRLE X R
19.959 19.957 19.955 19.953 19.951 19.949 19.947 19.945 19.943 19.941 19.939 19.937 19.935 19.933 19.931 19.929 19.927 19.925 19.923 19.921 19.919 19.917 19.915 19.913 19.911 19.909 19.907 19.905 19.903 19.901 0.11 0.10 0.09 0.08 0.07 0.06 0.05 0.04 0.03 0.02 0.01 0.00 X1 X2 X3 X4 X5
19.91 19.93 19.96 19.93 19.94 99.67 19.90 19.93 19.91 19.92 19.92 99.58 19.916 0.03 19.93 19.91 19.96 19.90 19.97 99.67 19.934 0.07 19.96 19.94 19.96 19.91 19.93 99.70 19.940 0.05 19.95 19.92 19.93 19.91 19.92 99.63 19.926 0.04 19.92 19.94 19.97 19.93 19.93 99.69 19.938 0.05 19.90 19.92 19.88 19.93 19.92 99.55 19.910 0.05 Lc2

Ls2

Ls1

Lc1

Lc

Ls

Xi

19.97 19.94 19.97 19.93 19.93 99.74 19.948 0.04

des Xi

X R

19.934 0.05

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