Universidad Tecnolgica Metropolitana. Facultad de Ciencias Naturales, Matemticas y Medio Ambiente. Departamento de Fsica.

Interferometria

Integrantes: Profesora: Lina Fernndez Carera: Qumica industrial

Objetivos -Determinar la longitud de onda de una fuente de laser utilizando el interfermetro de Michelson compacto.

Marco Terico El interfermetro es un instrumento que emplea la interferencia de las ondas de luz para medir con gran precisin longitudes de onda de la luz misma. En el siguiente informe se estudiara la interferometria de Michelson, pero antes es necesario conocer algunos conceptos claves como: -Principio de superposicin: cuando dos o ms ondas se superponen, el desplazamiento resultante en cualquier punto y en cualquier instante puede encontrarse sumando los desplazamientos instantneos que produciran en ese punto las ondas individuales si cada una estuviese sola.

- Interferencia: Se refiere ala capacidad de las ondas de poder estar en exactamente el mismo lugar fsico al mismo tiempo de lo cual se habla de superposicin de ondas. Estas pueden ser destructivas o constructivas, donde la superposicin de una onda sobre otra originando una onda de mayor amplitud le llamaremos interferencia constructiva y ala superposicin de onda que origine una onda mas de menos amplitud la llamaremos interferencia destructiva - Fuente coherente: son aquellas ondas con la misma longitud de onda o frecuencia las cuales siempre estn en fase la una con la otra o tienen una diferencia de fase constante

-Interfermetro de Michelson EL interfermetro de Michelson permite medir distancias con una precisin muy alta. Su funcionamiento se basa en la divisin de un haz coherente de luz en dos haces para que recorran caminos diferentes y luego converjan nuevamente en un punto El haz luminoso emitido por el laser incide sobre el separador de haces, el cual refleja el 50% de la onda incidente y transmite el otro 50%. Uno de los haces se transmite hacia un espejo mvil E1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2. Ambos espejos reflejan la luz hacia el separador de haces, de forma que los haces transmitido y reflejado por este ltimo se re combinan sobre la pantalla. Como los dos haces que interfieren sobre la pantalla provienen de la misma fuente luminosa, la diferencia de fase se mantiene constante y depende slo de la diferencia de camino ptico recorrido por cada uno. Por lo tanto, las franjas generadas por el interfermetro se pueden visualizar sobre la pantalla mediante la colocacin de una lente convergente de corta distancia focal entre el laser y el separador de haces.

Al desplazar lentamente el espejo mvil E1, la imagen se distorsionara se dilatara luego se ensanchara y se convertir en un punto en el centro. La dilatacin y contraccin de la imagen en la anchura de una franja, corresponde exactamente al desplazamiento de la distancia de de la luz por el espejo E2. Cuando E2 retrocede

la trayectoria total de la luz aumentara en una longitud de onda

completa. Si E2 se desplaza 1 , la imagen se desplazara dos franjas porque el camino total de la luz ha cambiado en 2 . Toda franja brillante observada es producida por dos haces coincidentes en fase. Cuando una trayectoria es alterada en X . Los dos haces que llegan a los mismos puntos del campo estarn de nuevo en fase. Contando el numero de franjas en la pantalla, y desplazando el espejo una distancia dada por el micrmetro del interfermetro, puede calcularse la longitud de onda de la luz considerando la siguiente expresin (Ecuacin n1) Donde: d: Registro obtenido en la rotacin del micrmetro m: N de mnimos o mximos registrados : Longitud de onda

Margen de error:

Ecuacin n 2

DESARROLLO EXPERIMENTAL.

-MATERIALES: 1.- Un interfermetro de Michelson 2.- Un equipo L.A.S.E.R. 3.- Una pantalla 4.- Una linterna 5.- Una regla 7.- Una lente convergente 8.- Un porta lente. 9.- Un riel ptico 10.- Dos mesas elevadoras

-PROCEDIMIENTO: Parte 1: Se procede a desarrollar el laboratorio, con el montaje de una fuente L.A.S.E.R, emitiendo un haz de luz, pasando por el separador de haces , el que tenia como funcin de dividir en dos al haz de luz, el cual era conducido a un espejo de modo que el haz incidente se refleje hacia la boca de la fuente L.A.S.E.R, luego el separador era rotado de tal manera que el haz incidente fuese reflejado en ambos espejos, el cual se reflejaba sobre la pantalla, el cual nos permita observar el efecto deseado, como se muestra en la figura 1. Figura 1.

Luego lo que se pudo observar en la pantalla fueron dos puntos rojos, separados a una pequea distancia, el cual se modifico dejando una superposicin de cada punto, o ms bien interferencia entre ellos, como se muestra en la figura 2. Figura 2.

Luego se introdujo un lente convergente entre el L.A.S.E.R y el interfermetro, como se muestra en la figura 3. Figura 3.

Al aplicar el lente convergente en el sistema, lo que facilito observar el espectro, al amplificar la interferencia de los dos puntos, creando unas zonas de color rojo (brillantes) y zonas de color negras (oscuras), como se muestra en la figura 4. Figura 4.

Luego se modificaba una perilla que estaba al costado del interfermetro (micrmetro), con el fin de medir las zonas oscuras al hacer mover el espectro milmetro a milmetro hasta que desapareciera la zona ms brillante, como se muestra en la figura 5, y as se tuvo que repetir por 25, 30, 35, 40, 45 y 50 veces, para obtener un resultado mas optimo. Figura 5.

Resultados

Grafico 1.

Tabla 1.

d: Registro obtenido en la rotacin del micrmetro m: N de mnimos o mximos registrados

Anlisis De los datos resultantes se observa una diferencia clara entre la longitud de onda terica versus la experimental siendo esta diferencia aun mayor al ser comparada con cada longitud de onda independiente como se observa en la siguiente tabla 2. Tabla 2.

Del resultado obtenido del grafico se obtiene una pendiente igual a 6.43E-7 el cual es equivalente ala longitud de onda del rayo. Comparando este con la longitud de onda terica se obtiene el siguiente porcentaje de error (ecuacin n2)

Con lo cual se infiere un error de 1.61%

Conclusin

Al analizar los datos se puede observar la alta precisin del interfermetro de michelson ya que el promedio de los datos obtenidos en el desarrollo experimental nos da cuenta de datos muy cercanos al terico, lo cual se puede verificar con el valor obtenido en el margen de error calculado con la ecuacin n 2

Discusin

-Una de las posibilidades que permitiera un error en los resultados, puede ser en la medicin de los mximos y mnimos en el espectro de interferencia, ya que era muy sensible el micrmetro, por lo que podra no haberse contado un mnimo o mximo, por lo que se tuvo que repetir varias veces el experimento, cosa importante ya que esto serva para la determinacin de la longitud de onda, que podra estar en la diferencia porcentual del resultado terico con el experimental. -Ahora si bien, tambin es discutible la cantidad de veces que eran calculados los mximos o mnimos, ya que a medida que se obtenan mas resultados, mas grado de exactitud se obtendra en la determinacin de la pendiente, como se muestra en el grafico 1, en el cual para este laboratorio solo se utilizaron 9 medidas, por lo que la diferencia porcentual, podra ser aun menor.

Bibliografa

- Fsica universitaria, Sears Zemansky Youngfreedman

- Fisica , Serway 5 Edicin Volumen I y II - Ciencias-plan comn fsica 2009, Preuniversitarios Cpech