Professional Documents
Culture Documents
Exprience
Observation Les rayons lumineux sont dvis lors du passage par louverture : cest le phnomne de diffraction. Loptique gomtrique nexplique pas ce phnomne (propagation 2 en ligne droite ).
Explication Il faut considrer la lumire comme une onde lumineuse (onde EM). Loptique ondulatoire explique les phnomnes dinterfrence de la lumire (et en particulier la diffraction).
Interfrence de deux ondes progressives sinusodales de mme frquence (mme longueur donde) en un point M de lespace - Interfrence constructive :
onde 1 longueur d'onde Fig. 2a
+ =
onde 2
onde rsultante
Lamplitude de londe rsultante est maximale (ventre) quand les deux ondes vibrent en phase. 5
- Interfrence destructive
/2 onde 1
Fig. 2b
+ =
onde 2
onde rsultante
Lamplitude de londe rsultante est minimale (noeud) quand les deux ondes vibrent en opposition de phase.
6
- Dphasage et longueur donde ondes en opposition de phase dcalage spatial de /2, 3/2, 5/2 ... ondes en phase dcalage de 0, , 2 ...
Exemple : interfrence de deux ondes la surface de leau Soit deux vibreurs (S1et S2) vibrant en phase (donc mme frquence). Chaque vibreur cre une onde de surface de forme concentrique (fig. 3) :
Les deux ondes interfrent. On observe des nuds et des ventres (fig. 4) :
- Zones dinterfrence constructive (ventre) Ondes en phase au point M distance S2M - distance S1M = nombre entier de longueur donde
- Zones dinterfrence destructive (noeud) Ondes en opposition de phase au point M S2M - S1M = nombre demi-entier de longueur donde
- Cas gnral
S2 M S1M = k + 2
: dphasage (en rad) entre les vibreurs k entier : ventre k demi-entier : nud - Exemple : vibreurs en opposition de phase ( = 180) On retrouve la fig. 4 en permutant N et V.
12
1-2- Caractristiques dune onde lumineuse progressive frquence f (couleur) clrit c longueur donde (=c/f) = 0/n (n indice de rfraction)
1-3- Conditions pour avoir interfrence de 2 (ou plus) sources lumineuses Les sources doivent tre cohrentes (synchrones) entre elles mme frquence (mme longueur d onde) et relation de phase (sources en phase par exemple) On observe alors un phnomne dinterfrence avec : zones dinterfrences constructives (intensit lumineuse maximale) E = E1 + E2 I > I1 + I2 (zone brillante)
14
zones dinterfrences destructives (intensit lumineuse minimale) E = |E1 - E2| I < I1 + I2 (zone sombre) Cas particulier : I = 0 (obscurit totale) Un point clair par 2 sources lumineuses est dans le noir !
Remarque : si les sources sont incohrentes (indpendantes entre elles), il ny pas dinterfrence et : I = I1 + I2
15
1-4- Sources lumineuses cohrentes et incohrentes Sources incohrentes : ampoules, tubes non
ampoule 1
ampoule 2
Fig. 6
Sources cohrentes a)
ampoule diffraction S1 S2 zone d'interfrence
Fig. 7
source primaire
17
faisceau laser
S1 S2
zone d'interfrence
Fig. 8
18
c) par rflexion
ampoule (source relle) miroir source virtuelle cohrente
zone d'interfrence
Fig. 9
19
AB : distance (en m) n : indice de rfraction Diffrence de marche : cest la diffrence de chemin optique.
S1
S2
Fig. 10
Diffrence de marche entre les deux rayons : (M) = (S2M) - (S1M) = n [S2M - S1M]
20
1-6- Diffrence de marche et interfrence Soit S1 et S2 deux sources lumineuses cohrentes, en phase. Interfrence constructive si = k0 avec k entier Interfrence destructive si = k0 avec k demi-entier k : ordre dinterfrence 0 : longueur donde dans le vide - Cas gnral
= k + 0 2
a
Fig. 11a
cran S1 a S2 M
22
Explication : phnomne dinterfrence entre deux fentes franges sombres : franges brillantes : interfrence destructive constructive
23
r1 r2
interfrange
sombre (k=3/2) brillante (k=1) sombre (k=1/2) O brillante (k=0) sombre (k=-1/2) brillante (k=-1) sombre (k=-3/2)
a Thm. de Pythagore : r2 = D + y + 2
a y+ 2 r2 = D 1 + D
24
Mais :
1+ 1+ 2
Do :
a y+ 2 r2 D + 2D
a y 2 De mme : r1 D + 2D Finalement :
a = n(r2 - r1 ) n y D
(1)
25
= k0
(2)
0D D y=k = k na a
k entier : k demi-entier :
do linterfrange : i 13 mm
27
1-8- Rseau de diffraction Un rseau est constitu de N fentes (ou traits). Le pas du rseau (a) est la distance entre deux fentes :
a
Fig. 12a
Exprience
rseau k=2 k=1
k= -1 k= -2
28
Observation Aprs passage travers le rseau, on obtient des raies parfaitement distinctes et trs brillantes.
29
Position des raies ? Il y interfrence constructive dans la direction quand les rayons prsentent une diffrence de marche = k0 avec k entier :
(1) rseau a
Fig. 12c diffrence de marche
(2)
avec k entier
30
A.N.
laser : air = 0,6328 m (rouge) a = 1,6 m (625 traits par mm) k=0: k = 1 : k = 2 : 0 = 0 (raie centrale) 1 = 23 (1er ordre) 2 = 52 (2me ordre)
k= -1 k= -2
31
Remarque La finesse et lintensit des raies augmentent avec le nombre de fentes du rseau. Le dispositif dYoung est un rseau 2 fentes (N = 2) : les raies sont donc trs larges.
fig. 11c (N = 2)
32
lumire blanche
Fig. 12f
rseau
sp ec tr d'ord e re - 1
Diffrence avec le prisme : ce nest pas le mme phnomne (interfrence dispersion) le rouge est plus dvi que le violet il y a plusieurs spectres
33
sin k = k
avec k entier
0 = 0 (raie blanche)
14 (violet) < < 28 (rouge) 30 (violet) < < 72 (rouge) 49 (violet) <
34
Applications du rseau : analyse spectrale de la lumire spectromtrie (mesure de longueur donde) spectroscopie (ex. spectre du Soleil)
R=
On montre que : R = kN
A.N. rseau 625 traits / mm ; largeur 40 mm N = 62540 = 25 000 Pour k = 2 : R = 50 000 Pour = 632,8 nm : = 0,01 nm
36
Remarques : le pouvoir de rsolution dun rseau est meilleur que celui dun prisme la surface dun CD se comporte comme un rseau par rflexion (pas denviron 1,6 m)
37
1-9- Interfrences dans les lames minces Introduction : diffrence de marche introduite par un changement de milieu - Passage de la lumire dans un milieu moins rfringent (n2 < n1) : rflexion sans changement de signe plus rfringent (n2 > n1) : rflexion avec changement de signe
38
onde incidente
onde rflchie /2
paisseur << mm
40
(1) (2)
i I r
H K
e
J
Fig. 14a
- Diffrence de marche entre les rayons (1) et (2) = (IJK) - (IH) + 0/2 (car rflexion avec changement de signe en I) = nIJK - n0IH + 0/2 = 2en cosr + 0/2 = k0 avec k entier
41
42
- Remarques Ceci explique les couleurs de : tache dhuile la surface de leau coquillage, ailes de papillon bulle de savon ...
43
Application des lames minces : couche anti-reflet Lors dun changement de milieu, il y a rflexion et donc : perte dnergie lumineuse formation dune image parasite - Exemples :
lentille en verre (indice 1,5) air 92 % 100 % 4% Fig. 15a
T12 = 61 %
(39 % de pertes)
45
On peut, dans une certaine mesure, limiter la rflexion par interfrence : - Diffrence de marche entre les 2 rayons rflchis (sous incidence normale) : = 2(IJ) + 0/2 (changement de signe en I car n > n0) - 0/2 (changement de signe en J car n1 > n) = 2ne Pour limiter la rflexion il faut interfrence destructive : = k0 avec k demi-entier
46
air (n 0)
I
e couche A.R. (n)
J
Fig. 15b lentille (indice n 1)
A.N. n = 1,38 (MgF2) 0 = 0,55 m (longueur donde moyenne du spectre visible) d o : e = 0,10 m - Traitement anti-reflet dune lentille Le coeff. de rflexion chute de 4 % 1,5 % :
100 % 1,5 % Fig. 15c
47
couche anti-reflet
94,6 %
- Remarque : Pour augmenter la rflexion, il faut calculer lpaisseur pour avoir interfrence constructive (application dans les miroirs de qualit).
48
1-10- Interfromtrie en mtrologie dimensionnelle Les mesures de longueur les plus prcises se font actuellement avec des interfromtres (de type Michelson) :
rflecteur fixe
rflecteur mobile
LASER stabilis Photodtecteur
prisme sparateur
Compteur de franges
longueur mesurer L
156,7428 mm
49
rflecteur fixe
rflecteur mobile
LASER stabilis Photodtecteur
prisme sparateur
Compteur de franges
longueur mesurer L
156,7428 mm
Principe Le dplacement du rflecteur mobile se traduit par une diffrence de marche : = 2nL Deux franges brillantes successives correspondent un dplacement de /2 ( = 0) Le comptage du nombre de franges k donne donc le dplacement 50 total : L = k /2
Incertitude de mesure Laser He-Ne stabilis en frquence (avec du mthane) : incertitude relative sur la longueur donde : 10-9 dans le vide en pratique : 10-7 (dans lair) Finalement, lincertitude relative totale est de lordre de 10-6 (soit 1 m pour 1 m).
Applications en mtrologie dimensionnelle (talonnage de cales talons, MMT, machines-outils) mesure de vibrations
51