UNIVERSIDAD AUTNOMA DEL ESTADO DE HIDALGO INSTITUTO DE CIENCIAS BASICAS E INGENIERA AREA ACADEMICA DE COMPUTACION

Alumna: L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Tema : Obtencin de Parmetros de una Imagen Tridimensional para su Aplicacin en Micro sensores Asesores de tesis: Dr. Heberto Gmez Pozos Dr. Jos Luis Gonzlez Vidal

CONTENIDO
1.- Introduccin 2.- Mtodos Analizados y Ejemplos 3.- Conclusin

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

INTRODUCCIN
3

Resulta bastante evidente que el conocimiento de la estructura real de los slidos es fundamental y necesario para interpretar y relacionar estas propiedades. De ah, que en el presente anlisis se pretende conocer las tcnicas mas esenciales en el estudio de la microestructura de los materiales. As como la informacin que se puede adquirir con cada tcnica, su utilizacin e interpretacin de resultados Los tcnicas a estudiar y analizar cada funcin son la Difraccin de Rayos X, Cristalografa de Rayos X, Microscopio de Fuerza Atmico, Microscopio Electrnico de Barrido y por ltimo el Microscopio Electrnico de Transmisin.

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Mtodo s
4

Rayos X Los rayos X son ondas electromagnticas producidas por la desaceleracin de los electrones cuando se detienen en un blanco. Los rayos X son una radiacin de elevada energa y pequea longitud de onda, la cual se encuentra entre 10-8 y 10-12 m. Los rayos x fueron descubiertos por Roentgen en 1895, mientras trabajaba con un tubo de rayos catdicos.
L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Rayos X
5

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Ejemplo de Rayos

Mtodo s
6

Difraccin de Rayos X (DRX) Es una tcnica que sirve para determinar la estructura detallada de un material, es decir, permite conocer la posicin que ocupan los tomos, iones o molculas que lo forman. Debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto fsicas como qumicas de los materiales. Los actuales sistemas digitales permiten la obtencin y visualizacin de la imagen radiogrfica directamente en Alejandracomputadora sin necesidad una Hernandez Salazar L.S.C. Esbeidy de imprimirla.

Formas cristalinas
7

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Orientacin cristalina
8

Y
(1 1 0)
X Y Z

Orientacin Del Resultado Del Espectro

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

(002) (101)

(102)

(103)

(112)
70

ZnO:In ZnO:Ga

Relative intensity (u. a.)

ZnO:F

ZnO:Al
20 30 40 50 60 80

2 (deg)
El anlisis de la Difraccin de Rayos X
A COMPARATIVE STUDY ON GAS SENSING PROPERTIES OF ZNO:RU AND ZNO:CR FILMS IN PROPANE ATMOSPHERE, H. GMEZ, J. L. GONZLEZ-VIDAL,Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar L.S.C. ARTURO MALDONADO, M. DE LA L. OLVERA, XX INTERNATIONAL MATERIALS RESEARCH CONGRESS, CANCUN, QUINTANA ROO, MEXICO, 14-19 DE AGOSTO DE 2011.

DRX .- patrones de (a) polvo sinterizado y (b) polvo oxidado

(004)

Mtodo s
10

Cristalografa de Rayos X Es una tcnica que utiliza un haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al entrar en contacto con el cristal, el haz se divide en varias direcciones debido a la simetra y agrupacin de los tomos y, por difraccin, da lugar a un patrn de intensidades que puede interpretarse segn la ubicacin de los tomos de los cristales.
L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Cristalografa de Rayos X
11

Se simulan diferentes diagramas de difraccin a partir de la informacin estructural de minerales, tomadas de una base de datos cristalogrfica.

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Cristalografa de Rayos X
12

Estructura de tomos del estao (Sn)

Estructura cristalogrfica del estao (Sn)

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Mtodo s
13

Microscopio de Fuerza Atmica (AFM)

Microscopia de Fuerzas Atmicas (AFM) permite visualizar los materiales y muchas de sus propiedades con una extraordinaria resolucin espacial. Su funcionamiento se basa en la deteccin de las minsculas fuerzas atmicas o moleculares de interaccin entre una punta y la superficie del material a estudiar. Explicado de forma sencilla, se trata de una aguja minscula (apenas 5 nanmetros) que va recorriendo a cierta distancia la superficie de un material y L.S.C. Esbeidy Alejandra fuerzaSalazar los tomos del midiendo la Hernandez de

Microscopio de Fuerza Atmica (AFM)

14

Representacin esquemtica de los componentes de un microscopio de fuerza atmica (AFM)

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Microscopio de Fuerza Atmica (AFM)

15

Ejemplos del Laboratorio AFM

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Mtodo s
16

Microscopio Electrnico de Barrido (SEM)

Es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tambin produce imgenes de alta resolucin, que significa que caractersticas especialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificacin
L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Microscopio Electrnico de Barrido (SEM)

17

Como se muestra en la Figura superficies morfolgicas diferentes, se observan las pelculas delgadas de ZnO, la morfologa de las superficies de las pelculas es fuertemente dependiente del tipo de los tomos dopantes.

A COMPARATIVE STUDY ON GAS SENSING PROPERTIES OF ZNO:RU AND ZNO:CR FILMS IN PROPANE ATMOSPHERE, H. GMEZ, J. L. GONZLEZ-VIDAL, ARTURO MALDONADO, M. DE LA L. OLVERA, XX INTERNATIONAL L.S.C. RESEARCH CONGRESS, Hernandez Salazar MATERIALS Esbeidy AlejandraCANCUN, QUINTANA ROO, MEXICO, 14-19 DE AGOSTO DE 2011.

Mtodo s
18

Microscopa electrnica de transmisin (TEM)

Es una microscopa tcnica mediante la cual un haz de electrones se transmite a travs de un espcimen ultra fino, interactuando con el espcimen. Se forma una imagen a partir de la interaccin de los electrones de transmisin a travs del espcimen; la imagen es ampliada y centrada en un dispositivo de imgenes, tales como una pantalla fluorescente , sobre una capa de pelcula fotogrfica , o para ser detectada por un sensor tal como un CCD cmara .

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Microscopa electrnica de transmisin (TEM)

19

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Las micrografas TEM de (a) el polvo tal como se sintetiza y (b) el polvo oxidado.

Conclusin
20

Las tcnicas de anlisis de superficies y estructuras de materiales en este caso nosotros utilizamos semiconductores (DRX, CRISTALOGRAFIA, AFM, SEM, TEM) son tcnicas tiles y potenciales para el estudio de la microestructura y morfologa, as como tambin para entender la relacin de la estructura que da cierta propiedad y que a su vez, tiene una funcionalidad (relacin estructura-propiedades-funcionalidad). Estas tcnicas nos dan como resultado un espectro o una imagen digital proporcionada por su respectivo aparato, la cual ser til para poder cumplir el objetivo de la tesis a realizar, ya que se pretende desarrollar un software de anlisis de espectros de rayos X y de micrografas de pelculas delgadas para la comparacin de composicin superficial
L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Bibliografa
21

Sensitivity Behavior Of Tin Oxide Based Semiconducting Sensor For Fluorocarbons B.B. Rao , V. J. Rao Indian Institute Of Chemical Technology, Hyderabad 500 007, India Jae-pyoung Ahn, Jung Han Kim, Jong-ku Park, Moo-young Huh Microstructure And Gas.Sensing Properties Of Thick Film Sensor Using Nanophase Sno2 Powder Www.Sciencedirect.Com 2004 Tin Dioxide Base Sensors For The Detection Of Liquified Petromeum Gas G.S.Trivikrama Rao, S.S. Madhavendra Inorganic An Physical Chemistral Division, Indian Institute Of Chemical Technology, Hyderabad 500 007, India Fabrication Of Nanostructured Superhydrophobic Film On Aluminum By Controllable Immersing Method Ruomei Wua,b, Shuquan Lianga,, Anqiang Pana, Zhiqing Yuanb, Yan Tanga, Xiaoping Tana, A Comparative Study On Gas Sensing Properties Of Zno:ru And Zno:cr Films In Dikai Guana, Ya Yua Propane Atmosphere, H. Gmez, J. L. Gonzlez-vidal, Arturo Maldonado, M. De La L. Olvera, Xx International Materials Research Congress, Cancun, Quintana Roo, Mexico, 14-19 L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar De Agosto De 2011.