Ramn T. Arrieta Gonzales. Hernndez Ros Marco Antonio. Juan Fernando Barrn Romero.

MTODOS DE DIFRACCIN

MTODO DE LAUE

Se utiliza un monocristal fijo sobre el cual se hace incidir un haz de Rayos X blancos en direccin perpendicular a la placa fotogrfica. El haz directo forma una mancha negra sobre la placa fotogrfica, aunque se suele poner una chapa de plomo para interceptarlo y que no forme tal mancha. Cada familia de planos reticulares formar su mancha caracterstica.

Existen dos variantes del mtodo de Laue:

Por transmisin: Por reflexin:

PATRN DE DIFRACCIN OBTENIDO POR EL MTODO DE LAUE EN TRANSMISIN: LAS REFLEXIONES DISPUESTAS A LO LARGO DE UNA CURVA SON GENERADAS POR UNA MISMA LONGITUD DE ONDA.

MTODO DE POLVOS DIFRACTOGRAMA

LECTURA DE UN DIFRACTOGRAMA

Se va a hacer una tabla donde diga 1.- valor de 2Thetal 2.- longitud de onda 3.- intensidad 4.- intensidad(%)

Con una regla milimetrada se mide el tamao de cada pico en intensidad obtenidos a partir del valor 2 teta en donde la ley de bragg se cumpla mayormente. De esta manera se determina se indica que el pico mayor se tienen la familia de planos que cumplen con la ley de bragg. Conforme este pico se toma como un 100% los dems se toman como su proporcional.

Una vez hecho esto se pueden colocar valores de (hkl) y calcular parmetro de celdilla. 1/d =(h +k +l )/a

Con forme se tiene el resultado se comparan con fichas establecidas con la ASTM para corroborar resultados.

PARA UNA INFORMACION MAS PRECISA

Con el parmetro de celda se calcula el vol. De celdilla unidad V=(a)(a)(a)

Factor de empaquetamiento

=(vol. de tomos celdilla unidad)(vol. Celdilla)

INDEXACION PATRON DE POLVO

EQUIPO

MTODO DE CRISTAL GIRATORIO

Introduccin Esto se basa en ir combinando el Angulo esto se consigue colocando el cristal en un sistema que gire de tal manera que para cada valor que cumpla la condicin (ley de bragg) se produzca un punto en la pelcula con ello se puede saber cuales son los puntos reticulares asociados a cada difraccin

PREPARACIN DE MUESTRA
Se utiliza una pequeo cristal de ser posible con forma alargada de 2 a 5 mm de dimetro en la seccin transversal durante la exposicin El cristal gira a una velocidad de 10 a15 rpm

RESULTADOS DE EL MTODO

Si en el mtodo de cristal giratorio se toman fotografas de rotacin del cristal girando alrededor de cada eje se determina las dimensiones de la celda unidad

COMO SE REPRESENTAN LOS RESULTADOS

Se representa de la siguiente manera si el eje del giro es paralelo a una fila densa de red las capas de rayos son perpendiculares al eje el parmetro (j) de esta fila la distancia entre planos se determina J=n(landa)/senMn Donde n: es el numero de orden de la capa de los rayos Donde Mn: es el Angulo dado por la ecuacin TgMn=en/R Donde en: es la distancia de la capa de rayos de orden n

APLICACIONES

En la actualidad, este mtodo se utiliza para determinar la simetra: si un cristal se orienta de tal manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetra, la disposicin de las manchas en la fotografa revela su simetra. Una fotografa segn este mtodo de un mineral tomado con el haz incidente paralelo al eje binario de un cristal monoclnico, mostrar una disposicin binaria de manchas; si el haz es paralelo al plano de simetra, la fotografa presentar una lnea de simetra; si es un cristal rmbico mostrar una distribucin doble de las manchas, con dos ejes de simetra.