Cludia Batista Siqueira Leite

Marcos Antonio Florentino de O.Leite

Jason Jerry Atoche Medrano

Conceito
Espectroscopia de raios X por disperso em
energia (EDX ou EDS) uma tcnica analtica usada
para caracterizao qumica de uma amostra, que
analisa os raios X emitidos pela amostra em resposta
incidncia de partculas carregadas (eltrons).

Histrico
Fsico Britnico
BARKLA, Charles Grover (1877-1944)
Prmio Nobel em Fsica de 1917.

Em 1904, Barkla descobriu que diferentemente

dos elementos de massa atmica baixa, os
elementos pesados produziam radiao
secundria de comprimento de onda maior
que o do feixe de raios X primrios.
Em 1907, Barkla comeou sua pesquisa mais
importante sobre raios-X, trabalhando em
Liverpool com C. A. SADLER.
http://www.cbpf.br/FISCUL/barkla.html

Histrico
Barkla e Sadler descobriram que a radiao
secundria homognea, porm, a radiao
proveniente de elementos mais pesados pode
ser de dois tipos caractersticos: srie K (para as
emisses mais penetrantes) e srie L (para as
menos penetrantes).
Barkla e Sadler perceberam que estas radiaes
caractersticas eram emitidas somente aps um
elemento pesado ter sido exposto radiao X.

Histrico
Fsico Ingls
MOSELEY, Henry GJ (1887-1915)
Poderia ter recebido Prmio Nobel em Fsica de 1916

Entretanto, foi MOSELEY (1912) quem

instituiu, pela primeira vez, uma relao
matemtica entre a frequncia e o nmero
atmico de cada elemento estudado,
caracterstica indispensvel espectrometria
de fluorescncia de raios-X.
http://www.cbpf.br/FISCUL/barkla.html

Histrico
Quanto mais pesado o tomo, mais
partculas carregadas ele contm e so estas
partculas carregadas que so responsveis
pela disperso dos raios-X.

Histrico
1968 Desenvolvimento do primeiro detector EDS.

Projeto por David Wittry. Este modelo est alojado no

Museu de Tecnologia de Cambridge.

Histrico
Dispositivo: Detector EDS

No contexto de tcnicas analticas

instrumentais, a espectrometria de
fluorescncia de raios-X progrediu bastante.

Hoje est bem disseminada na comunidade cientfica, por sua

habilidade em determinar elementos qumicos, geralmente de
forma rpida, sem destruir a matriz, com baixo custo
operacional e mnimo preparo da amostra.
Tem inmeras aplicaes em medicina, geologia, biologia,
arqueologia, entre outras.

Histrico
Seu grande potencial enfocado para anlises in vivo, por se
tratar de uma tcnica no destrutiva que possibilita a anlise
multielementar em uma nica medio e permite uma
avaliao qualiquantitativa da composio qumica de vrios
tipos de amostras biolgicas.
Tem sido descrita por muitos autores na anlise de amostras de
tecidos biolgicos para investigar a influncia de elementos no
desenvolvimento de neoplasias.

Histrico

Atualmente vem ganhando destaque em aplicaes industriais

e nas anlises exploratrias em geologia.
Permite anlise de ligas, pigmentos, rochas, cermicas e
inmeros outros materiais que compem obras artsticas,
tornando-se assim uma ferramenta importante, em especial se
realizada in situ, para identificao de materiais e de seus
eventuais produtos de corroso.

Caractersticas da Tcnica
Tem fins qualitativos ou quantitativos.
Podem ser caracterizados elementos com nmero atmico Z
superior a 11.
O dimetro reduzido do feixe permiti uma anlise quase que
pontual.
Tcnica verstil, podendo ser aplicada em diversas amostras,
incluindo as de estado slido e lquidas, sem necessitar de
tratamento exaustivo para a preparao destas matrizes.
Oferece a grande vantagem de ser uma tcnica analtica no
destrutiva.

EDS- Princpios Fsicos

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Interao dos eltrons

Espalhamentos elstico e inelstico

Fonte: inelsticoFonte:KEVEX INSTRUMENTS, INC. Energy-Dispersive X-Ray

Microanalysis. Kevex

13

Espalhamento inelstico Bremsstrahlung.

14

Produo de raios-X e eltron Auger

Fonte:KEVEX INSTRUMENTS, INC. Energy-Dispersive X-Ray
Microanalysis. Kevex

15

Espalhamento inelstico.

16

Raios X caractersticos

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Nomenclatura para linhas de

emisso de Raios X

Energia caracterstica da linha de emisso

Energia = E final - E inicial

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Espectro dos Raios X caractersticos

TEM Specimen: Y1Ba2Cu3O6.9 Superconductor - 120 kV

19

Lembre-se que para cada tomo de cada ncleo corresponde um nvel de energia original
determinado pela configurao atmica desse elemento.

20

Relao Energia / comprimento de

onda
Os Raios X so uma radiao EM e podemos
quantificar o valor de sua energia E:
Equao de Planck

Onde : h e c , so constante universais conhecidas, o

comprimento do onda da radiao.

21

MICROANLISE DE RAIOS X

22

O ESPECTRMETRO DE RAIOS X
POR DISPERSO DE ENERGIA

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Detector Si(Li) do Espectrmetro de

Energia Dispersiva

Raios X
24

Detector de Silcio

rea do detector = 50 mm2 e baixa capacitncia (250 fF)

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RESOLUO DO DETECTOR

Artefatos no espectro
Devido a deteco do sinal:
- Picos fuga
- Picos fluorescncia interna

Devido ao processamento do sinal:

- Picos suma
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Picos escape:
Um Raio X entrante de energa E pode excitar a emisso de um
Raio X do detector (Si) K 1,74 keV que escape da regio
intrnseca da mesma. O detector vai registrar uma energia E= E
- 1,74 keV.

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Picos fluorescncia interna:

Um Raio X entrante pode excitar a emisso de um Raio
X do detector (Si) K e assim no distinguir a sua
procedncia e ser contado como parte da amostra.
Aparecer um pequeno pico no espectro.

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Picos suma
Quando a eletrnica no suficientemente rpida aparecen
picos suma, dos Raios X, ingressando no detector ao mesmo
tempo. O analizador os registra como nico pico, considerando
a energia como a soma deles.

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MAPEAMENTO POR RAIOS RAIOS-X

Mapeamento de sinais de raios X (EDS) usado

para modular o brilho de um tubo de raios
catdicos produzindo as imagens.

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Mapeamento em amostra com composi o elementar de cobre (Cu), nquel ( Ni ),

estanho (Sn) e chumbo (Pb).
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EDS pode ser usado para MEV ou MET

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Analises
Qualitativa
e
Quantitativa

baseada na discriminao
de energias de raios-X
pelo detector, onde cada
energia caracterstica de
cada elemento.

Dever ser considerada uma

calibrao adequada para
obter resultados confiveis. A
calibrao da resposta do
equipamento dever ser
comparada aos previamente
certificados.
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Vantagens e limitaes
uma tcnica simples, e
rpida.
No destrutiva.
Informao com boa
preciso.
Proporciona informao
quantitativa e
qualitativa.

A
intensidade
dessa
radiao pequena e a
resoluo energtica
baixa.
No apropriado para
elementos que possuem Z
baixo.
Para
elementos
com
energia prximas eles
produzem Raios X que
podem se sobrepor um
com outro e no ser muito
preciso.

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Aplicaes

B
A
(A) Imagem de microscpio eletrnico de varredura de cristais de sal. (B) Espectro
de energia de raios-X caractersticos emitidos a partir do sal (NaCl) cristais
mostrado acima. Na energia espectro os picos de raios-X a partir de sdio (Na) e
cloro (Cl) so identificados.
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 Fig 1. MET (a) - (e) nanocompsitos de ouro /xido de ferro sintetizados por
diferentes propores de nanopartculas de xido de ferro revestido com
citrato (CIONPs) e de cido urico (HAuCl4) com o tempo de reao fixa de
10 min. (f) o resultado de EDS para a amostra quando a razo molar de
CIONPs /HAuCl4 1:1.

EDS Razo molar de CIONPs /HAuCl 1:1

Comparao entre as duas Morfologias

Imagens de TEM: (a) nanofios de ouro/xido de ferro (AuIO-NW, depois da

lavagem com HCl) e (b) nanoesferas de ouro/xido de ferro (AuIO-NS, aps
Lavagem com HCl). Resultado de EDS (a1) AuIO-NW e (b1) AuIO-NS.

Tcnicas de EDS e MEV

CONCLUSES
As analises EDS so muito teis e devem ser consideradas
as limitaes da tcnica para interpretar os dados.

Precisa-se ter um conhecimento da amostra e como ela vai

reagir sob um feixe de eltrons para garantir a emisso de
Raios X caractersticos.
As anlises servem de informao complementar junto a
microscopia MET ou MEV.
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REFERNCIAS

Ribeiro, J. L. B. Estudo das interaes rocha-fluido em arenitos

inconsolidados com simuladores fsicos utilizando tomografia
computadorizada e microfluorescncia de raios-X por luz sncrotron. Tese
(Doutorado em Qumica) - UFRJ, Rio de Janeiro, 2006.
Centro Brasileiro de Pesquisas Fsicas (CBPF). Raio X. Disponvel em:
http://www.cbpf.br/FISCUL/barkla.html.
BORTOLETO, G. G. Desenvolvimento de Mtodos Analticos Usando
Espectrometria de Raios-X e Quimiometria. Tese (Doutorado em Qumica) Unicamp, Campinas, So Paulo, 2007.
NEIVA, A. C. et al. Cuidados com picos esprios no uso de spectroscopia de
fluorescncia de raios x para a anlise de peas metlicas pr-hispnicas do
museu de arqueologia e etnologia da USP. In: III Simpsio de Tcnicas
Avanadas em Conservao de Bens Culturais, 2006, Olinda. ARC - Revista
Brasileira de Arqueometria Restaurao Conservao. AERPA, Edio Especial
n. 1, Maro, 2006.
FIM

REFERNCIAS
A.J.Garratt-Reed y D.C.Bell, Energy-Dispersive X-Ray Analysis in the
Electron Microscope (BIOS Scientific Publishers Limited, 2003).
Murr, Lawrence E., Electron and Ion Microscopy and Microanalysis :
Principles and Applications (MARCEL DEKKER, INC., 1991).
Brent Fultz y James Howe, Transmission Electron Microscopy and
Diffractometry of Materials (Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2001).
L. Reimer y H. Kohl, Transmission Electron Microscopy (Springer
Science+Business Media, 2008).

FIM

MUCHAS GRACIAS

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