RAIOS X E DIFRAO DE

RAIOS X

A DESCOBERTA DOS RAIOS

X
Raios catdicos

Wilhein Rntgem (University of

Wrtzburg ,Germany ,1895
Aplicaes na
Medicina
Cristal de
CuSO4
A natureza dos raios X : O Paul
Knipping( Rntgem)
Experimento de Max Von Walter
Laue
Friedrich(Sommerfeeld)
University of Munich
( 1912 )

Comportamento
ondulatrio Difrao

A ORIGEM DOS
RAIOS X
Teoria de Bohr do
tomo de
Hidrognio
W.Kossel ( 1920 )

Ehc(

Nota
: O modelo Bohr se aplica ao tomo de hidrognio e
aos tomos hidrogenides ( Li 2+ ,He1+ ) de sorte que a
equao de Rydberg fica :
1. )
2. Z2 - )
Onde :
n1 : rbita final
n2 : rbita inicial

A Gerao de Raios X

Raios X :
- Curto comprimento de
onda ;
- Alto poder de
penetrao .

Notas
:
1. Um eltron
retirado
do
nvel
K
gerando
a
vacncia ;
2. A transio K
L no pode
ocorrer ;
3. Ocorre a
excitao
(n=1) n =
4. O nvel K
preenchido
por transies
LK e M K
do mesmo
tomo

As linhas K e K do
espectro do Molibdnio
a 35 KV

Transioes
eletrnicas que originam
as linhas caractersiticas do espectro
de raios X .Os subscritos ,, e
designam
variao
no
nmero
quntico principal e no esto
relacionadas com intensidade .

Um conjunto adicional de linhas

espectrais caractersticas ( L,L)
podem
ser
observadas
em
comprimentos de onda maiores
.Resultam das transies n=3 n=2
e n=4 2.

Z-
: blindagem

Equao de
Rydberg

Sendo n2 > n1 , e :
n1 : rbita final
n2 : rbita inicial

Transies eletrnicas que originam as linhas

caractersiticas do espectro de raios X .Os
subscritos ,, e designam variao no
nmero quntico principal e no esto
relacionadas com intensidade .

A equao de Moseley e o efeito

blindagem ( )

ou

Notas :
1.A equao de Moseley
concorda com a equao de
Rydberg .

Aplicaes da Equao
modificada de Rydberg
1. Considerando a transio n=2 n=1 onde a blindagem da
carga nuclear total provida somente pelo nico eltron
remanescente no nvel K ( n=1 ) . Neste caso temos =1 e :
= onde :
R = constante de Rydberg e Z = nmero atmico do material alvo
.[O sinal negativo indica que o sistema libera energia ]

Para a srie caracterstica L de linhas espectrais

2.
( n=3 n=2 ) , aps a remoo de um eltron L , a
blindagem dos eltrons no nvel K e dos eltrons
remanescentes no nvel L reduz a carga nuclear em 7,4
( valor emprico ) . Logo :
= (
=< 0

Sistem
a libera
energia

O Efeito
Bremsstrahlung
(braking radiation)

Do balano de energia temos :

Ek1 = Eh + Ekk2 Ek1 Ek2
Logo :
Eh =
A converso total da energia
cintica (eV=1/2mv2 ) em energia
radiante ocorre quando Ek2 = 0 .

E(h)mx = Ek1 =h
= eV
eV=hmx =
SWL =: O corte do espectro contnuo na

direo dos `s decrescentes controlado

pelo potencial de acelerao

Difrao e Lei de Bragg

Sistema cbicos:
(1)
= n ( n=1,2,3 ,..)
E desde que :
e [ sen
n = 2dhkl sen

(2)

Notas :
1. Para n=1 ( reflexo de primeira ordem ) temos = 2d hkl sen;
2. A Lei de Bragg descreve a posio angular do feixe difratado
em termos de e dhkl ;
3. Esboo de um Difratmetro:
2dsen =
4. medida que o ngulo de difrao () aumenta ,diminui o espaamento interplanar ( dhkl ) .

Notas :
1. A intensidade dos picos de difrao depende das relaes de fase
entre a radiao espalhada por todos os tomos na clula unitria ;
2. A lei de Bragg no trata com a posio dos tomos mas somente
com o tamanho e forma (SC , BCC e FCC)das clulas unitrias ;

Tabela : Regras de seleo para picos de difrao em

sistemas cbicos
Reticulado de
Bravais
SC

Reflexes
presentes
Todas

Reflexes
ausentes
Nenhuma

BCC

( h+k+l ) = par

(h+ k + l ) =
mpar

FCC

(h, k , l ) todos
pares ou todos
mpares

( h,k,l ) nem
todos pares,
nem todos
mpares

2. ndices de Miller dos planos difratores em

redes CCC e CFC :
Planos difratores
Plano
s
{ hkl}

CFC

{100}

{110}

{111} (111)
{200} (200)

CCC
(110)
(200)

{210}

{211}

(211)

...

....

....

{220} (220)

(220)

{221}
{310}

(310)

Notas :
1. As regras
dadas
so
estritamente
vlidas para
clulas
unitrias onde
h um nico
tomo
associado
a
cada
posio
na rede ;

Abordagem experimental
para a difrao de Raios X
a. Identificar
sistemas
cristalinos
cbicos ( CCC, CFC ) ;
b. Determinar o parmetro de rede
( a) ;
c. Identificar
planos
ou
direes

fixo
;

importantes .
varivel

Notas :
1. Redes de difrao precisam
ter
espaamento
compararvel
ao
comprimento de onda da
radiao difratada ;
2. No h resoluo para d
< ;
3. Espaamento a distncia
entre planos paralelos

 fixo , varivel
O mtodo de Debye
-Sherrer

Cada pico de difrao corresponde

a uma interferncia construtiva em
planos de espaamento interplanar
d (hkl) .A indexao consiste em
determinar os ndices de Miller(hkl)
para as linhas de difrao .Partindo
da Lei de Bragg ,temos :

E para todas as linhas de um dado

padro , temos :

(hkl) ?
cons
t

O
passo-a-passo
da
indexao :
1. Os valores de para as
linhas so obtidos a partir
da relao geomtrica do
filme desenrolado ;
2. Entre o orifcio de sada
do feixe de raios X
( 2=00 ) e o orifcio de
entrada ( 2= 1800 ) a
relao angular linear ;
3. Os valores
de
sucessivamente crescentes
e os corresdpondes sen2
so
determinados
para
cada linha ;

Sistema
SC
Todos os planos so
difratores
As linhas sucessivas ( aumento
de ) resultam de difrao sobre
planos
com
espaamento
sucessivamente menor : (100) ,
(110) , (111) , (200) ,(210) ,
(211) , (220) , etc ..

Nota : O sistema SC pode ser diferenciado do BCC pelo fato

de que no h soma dos quadrados de trs inteiros que
possa dar 7 ,mas 14 pode ser obtido a partir dos planos (321)
.

Sistema BCC(CCC)

(h+k+l) = par
CCC
(110)
(200)
(211)
....
(220)
(310)

etc...= const

Sistema FCC ( CFC)

(h,k,l ) = Todos
pares ou todos
mpares
CFC
(111)

(200)
....
(220)

Aps
a indexao apropriada a
constante obtida :
E a rede de Bravais
identificada .

Clculo do parmetro
de rede ( a )

a =

Sugesto para leitura

Sources for Further Reading:

1. Azaroff, L.V., Introduction to Solids, McGraw-Hill,
1960.
2. Wert, C.A., and Thomson, R.M., Physics of Solids,
McGraw-Hill, 1970.
3. Nuffield, E.W., X-Ray Diffraction Methods, Wiley,
1966.
4. Cullity, B.D., Elements of X-Ray Diffraction,
Addison-Wesley, 1960.