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DIFRACCION DE RAYOS X

Sebastian Hernndez
Lina Gmez Solrzano
Leonardo Perez

RAYOS X
Los rayos x son ondas electromagnticas
producidas por la desaceleracin de los
electrones cuando se detienen en un blanco.
Los rayos x son una radiacin de elevada
energa y pequea longitud de onda, la cual se
encuentra entre 10-8 y 10 -12 m.
Los rayos x fueron descubiertos
por Roentgen en 1895,
mientras trabajaba con un tubo
de rayos catdicos.

Que es la difraccin de rayos x?

Difraccin de rayos x
Es una tcnica que sirve para determinar la
estructura detallada de un material, es decir,
permite conocer la posicin que ocupan los
tomos, iones o molculas que lo forman.
Debido a este ordenamiento podemos
determinar propiedades tanto fsicas como
qumicas de los materiales.

Algunos casos de difraccin.


Uno de los ejemplos mas comunes donde se
aplica una concisa caracterizacin de los
materiales son las dos cristalizaciones del
carbono: el grafito y el diamante, los cuales
poseen propiedades totalmente distintas pero
tienen la misma composicin qumica.

METODOS DE
DIFRACCION DE RAYOS X
Existen varias tcnicas de difraccin de rayos x
Ley de Bragg
Mtodo de Laue
Mtodo de Polvo o Debye-Scherrer

Ley de Bragg
William H. Bragg (1862-1942) y William L. Bragg (18901971) fueron quienes demostraron la utilidad del fenmeno
que descubri Laue, para obtener la estructura interna de
los cristales.
n =2dsin
La variable d es la distancia entre los planos cristalinos
paralelos, la longitud de onda, n un
numero entero (1,2,3), el ngulo
entre el haz difractado y la direccin
original del haz.
Para que se cumpla la ley de Bragg
la interferencia debe ser constructiva.

Mtodo de Laue.
En este mtodo se utiliza un monocristal
estacionario y una placa de fotogrfica. Se hace
incidir un haz de rayos x al monocristal, el haz
directo produce un ennegrecimiento al tocar la
placa, la cual determinaran la informacin del
material que se este investigando.

Mtodo de Laue por transmisin


En este mtodo la pelcula se coloca detrs del
cristal y se hacen pasar los rayos x, el efecto
de las ondas dar como resultado una
elipse proyectada en la
placa fotogrfica.

Mtodo Laue por reflexin


Aqu se coloca la placa fotogrfica delante
del cristal con un pequeo agujero, cuando
las ondas atraviesan el cristal se reflejan
hacia arriba y generan una especie de
parbola proyectada en la
placa fotogrfica.

Mtodo de polvo o DebyeScherrer.


En este mtodo se tiene que pulverizar de una manera
muy fina los cristales de la muestra los cuales se
mezclan con un material amorfo para compactarlo y
poder obtener una buena reflexin de los rayos. El
mtodo consta de tener la placa fotogrfica y en el
centro la muestra del polvo
cristalino, cuando el efecto
del haz incide en el polvo,
los rayos se reflejan sobre
la placa fotogrfica.

Aplicaciones de la difraccin de
rayos X.
Identificacin de sustancias cristalinas desconocidas.
Anlisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas.
Caracterizacin y desarrollo de nuevos materiales.
Control de calidad de materias primas y productos
finales.
Especiacin de arcillas.
Determinacin de transformaciones de fase.
Determinacin de parmetros estructurales.
Determinacin del grado de orden estructural.
Deteccin de imperfecciones cristalinas.

Bibliografia
Ciencia e ingenieria de los materiales D.R
askelland.
Caracterizacion de materiales , libro de J.
Albella.
Tecnicas de caracterizacion RPS,
consultoria de laboratorios S.L.
Estudio de la estructura y propiedades
mecanicas. Magnetron sputtering.

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