Professional Documents
Culture Documents
Sebastian Hernndez
Lina Gmez Solrzano
Leonardo Perez
RAYOS X
Los rayos x son ondas electromagnticas
producidas por la desaceleracin de los
electrones cuando se detienen en un blanco.
Los rayos x son una radiacin de elevada
energa y pequea longitud de onda, la cual se
encuentra entre 10-8 y 10 -12 m.
Los rayos x fueron descubiertos
por Roentgen en 1895,
mientras trabajaba con un tubo
de rayos catdicos.
Difraccin de rayos x
Es una tcnica que sirve para determinar la
estructura detallada de un material, es decir,
permite conocer la posicin que ocupan los
tomos, iones o molculas que lo forman.
Debido a este ordenamiento podemos
determinar propiedades tanto fsicas como
qumicas de los materiales.
METODOS DE
DIFRACCION DE RAYOS X
Existen varias tcnicas de difraccin de rayos x
Ley de Bragg
Mtodo de Laue
Mtodo de Polvo o Debye-Scherrer
Ley de Bragg
William H. Bragg (1862-1942) y William L. Bragg (18901971) fueron quienes demostraron la utilidad del fenmeno
que descubri Laue, para obtener la estructura interna de
los cristales.
n =2dsin
La variable d es la distancia entre los planos cristalinos
paralelos, la longitud de onda, n un
numero entero (1,2,3), el ngulo
entre el haz difractado y la direccin
original del haz.
Para que se cumpla la ley de Bragg
la interferencia debe ser constructiva.
Mtodo de Laue.
En este mtodo se utiliza un monocristal
estacionario y una placa de fotogrfica. Se hace
incidir un haz de rayos x al monocristal, el haz
directo produce un ennegrecimiento al tocar la
placa, la cual determinaran la informacin del
material que se este investigando.
Aplicaciones de la difraccin de
rayos X.
Identificacin de sustancias cristalinas desconocidas.
Anlisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas.
Caracterizacin y desarrollo de nuevos materiales.
Control de calidad de materias primas y productos
finales.
Especiacin de arcillas.
Determinacin de transformaciones de fase.
Determinacin de parmetros estructurales.
Determinacin del grado de orden estructural.
Deteccin de imperfecciones cristalinas.
Bibliografia
Ciencia e ingenieria de los materiales D.R
askelland.
Caracterizacion de materiales , libro de J.
Albella.
Tecnicas de caracterizacion RPS,
consultoria de laboratorios S.L.
Estudio de la estructura y propiedades
mecanicas. Magnetron sputtering.