DIFRACCIN DE RAYOS X

En la mayora de los slidos, las grandes fuerzas de atraccin o

cohesin que existen entre las partculas que lo componen,
hacen que stas se distribuyan regular y simtricamente en
el espacio.

En funcin del tipo de fuente de partculas empleada se puede

hablar de difraccin de rayos X, difraccin de neutrones y
difraccin de electrones. De stas, la difraccin de rayos X
es, sin duda, la tcnica de aplicacin ms general y la ms
ampliamente utilizada para la identificacin de especies
cristalinas, determinacin de estructuras cristalinas

Planos reticulares. ndices de Miller. Espaciados : En una red cristalina

pueden trazarse series de infinitos planos paralelos y equidistantes
entre s. La distancia d entre dos planos consecutivos de una misma
familia se denomina distancia interplanar o, simplemente
espaciado.

La posicin y orientacin de cada familia de planos respecto a los ejes

cristalogrficos vienen dadas por los ndices h, k y l denominados
ndices de Miller.

Produccin de rayos X: se basa en el hecho de que cuando una

partcula, con masa muy pequea y dotada de una gran
energa cintica, choca contra un material, una pequea
parte de dicha energa se invierte en la produccin de rayos
X.

El espectro de rayos X emitido por estos tubos est

constituido por radiaciones de distintas longitudes de onda
que se extienden de forma continua en un amplio intervalo
espectral.

DISPERSIN (SCATTERING) DE LOS RAYOS X

Se producen cada vez que la luz pasa a travs de una estructura peridica
que posee caractersticas que se repiten regularmente o cuando la luz
es reflejada por una estructura de esta clase. Para que la difraccin sea
observable, la distancia que se repite en la estructura peridica debe
ser aproximadamente igual a la longitud de onda de la luz utilizada.
Analicemos qu ocurre cuando los rayos X de longitud de onda inciden
sobre dos planos de tomos paralelos de ndices de Miller (hkl).
Las ondas difractadas producirn intensidad mxima en un detector si
ambos llegan en fase al detector (con una cresta o con un valle), es
decir si la diferencia entre las trayectorias de los rayos es un nmero
entero de veces la longitud de onda de los rayos X empleados, n,
donde n es un nmero entero.

As tenemos
n = 2dhklsen
para la condicin que debe cumplirse a fin de obtener un mximo de
intensidad difractada. Luego si se representa la intensidad de
radiacin que llega al detector, frente al ngulo , aparecer un
pico cuando se cumpla la condicin de Bragg, a dicha
representacin se la denomina difractograma.

Como en un cristal hay distintas familias de planos, con distintos

espaciados, existirn tambin distintas direcciones de difraccin.

Al ser el conjunto de espaciados de un cristal caracterstico

para cada especie cristalina, si decamos que no existen
dos sustancias cristalinas que tengan un diagrama de
difraccin idntico. Se dice que el diagrama de difraccin
es como una huella dactilar de las sustancias cristalinas.

En la obtencin de la informacin que nos proporciona la

difraccin de rayos X pueden distinguirse dos aspectos por
una parte, la geometra de las direcciones de difraccin,
que est condicionada nicamente por el tamao y la
forma de la celdilla unidad del cristal. Conociendo estas
direcciones ser posible averiguar el sistema cristalino y
las dimensiones de la celdilla. El otro aspecto viene dado
por las intensidades de estos rayos difractados, que estn
relacionadas con la naturaleza de los tomos y con las
posiciones que stos ocupan en la red cristalina.

TECNICAS
Existen tres grandes grupos de tcnicas de difraccin de rayos X,
las cuales van a ser descritas brevemente en los apartados
siguientes:
1. Con radiacin policromtica y monocristal estacionario. Se trata
del mtodo de Laue.
2. Con radiacin monocromtica y monocristal mvil (movimiento
de rotacin total o parcial.
3. Se trata de los mtodos del cristal giratorio, cristal oscilatorio,
de Weissenberg, de precesin y el difractmetro de
monocristales. Con radiacin monocromtica y polvo cristalino.

POLVO CRISTALINO
La relativa escasez de los cristales verdaderamente bien
formados y la dificultad de llevar a cabo la precisa
orientacin requerida por los mtodos de Laue y de
cristal giratorio llevaron al descubrimiento del mtodo
del polvo en la investigacin de la difraccin por rayos
X.

En esta tcnica la muestra se pulveriza tan finamente como sea

posible y se asocia con un material amorfo.

Las diferentes familias de planos con distintos

espaciados d
satisfarn la ecuacin de Bragg para valores apropiados de q y
para valores enteros de n.

El mtodo del polvo encuentra su aplicacin principal en Mineraloga

como una tcnica de identificacin, pudiendo utilizarse en este
caso sin conocimiento alguno de la estructura o simetra del
cristal.
Este mtodo consiste en la irradiacin por un haz monocromtico de
rayos X sobre un material formado por diminutos cristales
distribuidos al azar en todas las orientaciones posibles. De este
modo, siempre habr algn cristal en una posicin adecuada para
satisfacer la ley de Bragg.

El mtodo del polvo tiene ciertas ventajas como:

1. La facilidad de preparacin de la muestra.
2. Todo el registro de la difraccin puede realizarse con un
solo experimento.
3. Proporciona una medida muy precisa de los espaciados
hkl de los distintos planos reticulares.
En esta tcnica se usan preparados de muestras molidas y
tamizadas a tamao inferior a las 53 m. La muestra
pulverizada se deposita sobre un portamuestras, evitando,
en lo posible, la orientacin preferente de los cristalitos.
Cada sustancia cristalina produce su propio diagrama de
difraccin, que es caracterstico para esa sustancia. De esta
forma, en una mezcla, cada una de las sustancias que la
componen da lugar a un diagrama propio y caracterstico.
Para la identificacin de fases puede utilizarse el fichero
Hanawalt o las fichas ASTM.

INTERPRETACIN DE LOS DIAGRAMAS

Identificacin de sustancias cristalinas: Se basa en la posicin
de las lneas (en trminos de o 2) y de sus intensidades
relativas.
1. Lectura del Difractograma: Con una regla milimetrada se
mide el ngulo 2 (eje de abscisas) de cada reflexin, as
como su intensidad (altura).
2. Para obtener los difractogramas se ha empleado radiacin K
de Cu,
= 1,5405
3. Se busca en los ficheros un mineral cuya reflexin de
intensidad 100 coincida en espaciado con la determinada en
el diagrama problema.

EJEMPLO DE INTERPRETACIN DE UN DIAGRAMA

Se representa el diagrama de difraccin de rayos X del cinabrio.
Para
la interpretacin de este diagrama, en primer lugar
construiramos una tabla como la que
aparece en la parte
superior de la figura, indicando los valores de los ngulos 2
,espaciado en y sealando el pico de mxima intensidad, al que
se le asigna el valor 100.

El fichero de Hanawalt recoge los ocho picos ms intensos de cada

mineral,
ordenados
segn
intensidad
decreciente
e
intercambiando las posiciones de los tres picos de mayor
intensidad, con el fin de reducir posibles problemas de
orientacin preferente de las muestras.

Pasos a seguir para identificar el mineral problema:

1. En primer lugar se busca el intervalo de espaciados en el que
se encontrara la reflexin ms intensa de nuestro diagrama.
En este caso, puesto que el pico de mxima intensidad del
diagrama est a 3.351 , buscaramos un mineral cuya
reflexin de intensidad 10 (x) estuviera en el intervalo entre
3.30 y 3.40 .
2. Posteriormente, en la segunda columna del fichero,
buscaramos la segunda reflexin en intensidad del diagrama
(a 2.867 ).
3. Finalmente, comprobaramos que el resto de los picos
estuviera presente para ese mineral (hasta los ocho picos ms
intensos de nuestro diagrama).
El mineral identificado, en este caso el cinabrio, sealado con una
flecha en tres tablas posibles, sera el mineral problema.

Como en el diagrama aparecen ms de ocho

reflexiones, deberamos comprobar que las restantes
tambin corresponden al mismo mineral. Para ello
utilizamos el fichero ASTM. En general Las fichas de
consulta ASTM constan de las siguientes reas de
informacin:

Una vez conocida la sustancia problema y su ficha se pueden

colocar en la quinta casilla de la tabla los valores de (hkl).
1 / d2 = (h2+ k2+ l2) / a2
con el parmetro de celdilla a se calcula el volumen de la
celdilla unidad
V = a3
as como el factor de empaquetamiento
fac.emp. = (vol. tomos celdilla unidad) / (vol. celdilla
unidad)
y conociendo la masa atmica o molecular del compuesto
(M), su densidad
= (n at. celdilla unidad x M) / (vol. celdilla unidad x N
Avogadro)