CAPITULO VIII

RENDIMIENRO DE UN
POROCESO YIELD
CONENIDO
Conceptos fundamentales
Rendimiento de primera vez
Rendimiento en cadena
Mtrica seis sigma

OBJETIVOS
Diferenciar los procesos de rendimiento de corto y largo
plazo
Evaluar el proceso basado en el nivel sigma

8.1. RENDIMIENTO DE UN PROCESO (YIELD)

El rendimiento tradicional de un proceso se obtiene
dividiendo el numero de pieza que entran entre numero de
piezas que son producidas de acuerdo con especificaciones
Problema 8.1
Obtener el rendimiento tradicional del proceso mostrado
en la figura 8.1

Figuro 4.46. Proceso productivo.

Figura 8.1: Proceso productivo

Rendimiento = 1 80/200 = 0.9 = 90 por ciento.

2

8.2. RENDIMIENTO DE PRIMERA VEZ (FIRST-TIME YIELD, Y FT)

El rendimiento de primera vez corresponde al nmero de
piezas hechas bien la primera vez en cada fase del proceso.
Problema 8.2
Obtener el YFT para el proceso mostrado en la figura 8.2

Figura 7.2: Rendimiento de

primera vez

8.3. RENDIMIENTO EN CADENA (ROLLED THROUGHPUT YIELD,

YRT)
El rendimiento en cadena es el producto del rendimiento en
cada paso del proceso. En este caso no se incluye el re
trabajo.
Para el proceso del problema 8.2 se tiene:
YRT = (0.985)(0.8985)0.9718)(1) = 0.86 = FT = 172/200.
Al incluir el re trabajo, ste tiene que considerarse como se
muestra en la figura 8.3.
Problema 9.3: En la figura 8.3 se muestra un proceso que
incluye re trabajo.

Figura 8.3: Proceso que incluye retrabajo

8.4. LA FBRICA OCULTA

El concepto de la fbrica oculta surge cuando una
compaa est utilizando recursos adicionales por no hacer
bien sus productos a la primera vez.
Al re trabajo o al desperdicio se le considera como la
fbrica oculta.
En el problema 8.3, la fbrica oculta se encuentra en los
pasos 1 y 4 (figura 8.4) y representan rea de oportunidad
de mejoramiento en ese mismo orden.

Figura 9.4. La fbrica oculto.

YRT = 82.37% representa el porcentaje de piezas que sern

8.5 MTRICA DE SEIS-SIGMA

La mtrica de SS evala el proceso basado en el nivel sigma
(), con la finalidad de estandarizar dicha evaluacin y poder
comparar diferentes procesos entre s.
Los pasos de la mtrica son:
1. Identificar los CTQs (CCC, caractersticas crticas de
calidad) del proceso.
Son las caractersticas o requerimientos de los clientes.
2. Definir oportunidades de defecto.
Cualquier paso en el proceso en donde un defecto pueda
ocurrir en una CCC.
3. Buscar defectos en productos o en servicios.
Contar los defectos o fallas para satisfacer CCCs en todos
los pasos del proceso.
4. Calcular dpmo individual.
Para cada una de sus fases.
5. Convertir a niveles sigma individual.
Para cada una de sus fases.

6. Resumir el anlisis.
Elaborar la tabla con los resultados finales. Calcular YFT,
dpmo (proceso), la distribucin de defectos, y comentar
sobre el nivel de calidad del proceso.
7. Detectar reas de oportunidad.
Jerarquizar las fases del proceso con base en sus niveles
sigma.
La diferencia
entre dpmu y dpmo
La tabla 8.1 presenta los elementos de la mtrica
SS.
es que una unidad puede tener
Elementos de la mtrica SS
varias oportunidades de cometer
defectos. Por ejemplo, si en cierto
proceso se encontraron 1 0
defectos en una muestra de 1 00
unidades,
dpu = 10/100 = 0.1 (defectos por
unidad)

Nmero de oportunidades totales(i) =

(Nm. de oportunidades)(Nm.
unidades)
Tabla 9.1. Elementos de la mtrica
SS.

dpmu = (dpu)(106) = 100,000

(defectos por cada milln de
unidades)
Si en cada unidad existen 1 0
posibilidades (pasos del
proceso. , nmero de partes que7
lo forman, etc.) de ocurrencia de

Si cada unidad solamente tiene una oportunidad en la que pueda

ocurrir algn defecto:
dpmo = dpmu.
Originalmente ppm significa unidades defectuosas por cada
milln, independientemente del nmero de defectos en dichas
unidades.
Actualmente, el objetivo de Motorola es tener 3.4 ppm
considerando ppm como el nmero de defectos* por cada milln
de unidades. En este caso, ppm = dpmu.
Si cada unidad se compone de cierto nmero de oportunidades
de ocurrencia de un defecto, entonces ppm = dpmo.
YFT (rendimiento de primera vez) = [1-dpmo/106]n = [1-1O,000/106
]10 = 0.904

El procedimiento para obtener el nivel sigma de

un proceso en el caso de atributos es:
1. Obtener dpmo.

Problema 7. 4: En la fabricacin de cierto tipo de tarjetas

electrnicas impresas, se tienen las siguientes oportunidades
de cometer errores:
Componentes equivocados 100
Componentes mal soldados 20
Componentes mal insertados 10
Soldadura faltante 1 20
Oportunidades totales 250
De una muestra de 3000 tarjetas se encontr un total de 85
defectos; as
dpu = 85/3000 = 0.0283
dpmo = (0.0283/250)(106) = (0.0001 132)(106) = 113.2
YFT = (1 -1 13.2/106)250 = 0.972
113.2 ppm = 113.2/106 = 0.0001132= 1.13(1 0-4). Ver figura 7.5
Figura 7.5: rea bojo la curvo normal.

Buscando en la tabla Z del apndice, se obtiene Z = 3.69

Este proceso tiene un nivel de calidad de 3.69 sigma.

EL PROCEDIMIENTO PARA OBTENER EL NIVEL

SIGMA DE UN PROCESO EN EL CASO DE
VARIABLES ES:
1.Evaluar la fraccin defectuosa con base en la
especificacin.
2. Si el valor en el cuerpo de la tabla Z est en
notacin cientfica, expresar dpmo en dicha
notacin con un entero y dos decimales.
3. Buscar el valor Z en la tabla Z del apndice.
PROBLEMA 8.5
En la fabricacin de cierto tipo de barras de
acero, se desea monitorear la longitud de las
mismas. La especificacin es 10 1 pulgadas. Se
tom una muestra de 100 barras y se verific su
estabilidad y su normalidad. Se obtuvo una
media de 9.62 pulgadas y una desviacin
estndar de 0.32 pulgadas. Calcular la fraccin
defectuosa

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Para calcular la fraccin defectuosa:

p( X > 11 ) + p( X < 9)
11 9.62
9 9.62

p Z
p Z

0.32
0.32

= p(Z > 4.31) + p(Z < - 1.94)= 8.24(10)-6 + 0.0262

= 0.00000824 + 0.0262 = 0.02620824
Z=1.94

El nivel sigma de este proceso es 1 .94.

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El siguiente problema se presenta el

clculo completo de la mtrica SS.
Problema
Se analizar el siguiente proceso para preparar caf
fresco en una cafetera automtica y servirlo (figura
7.6):

Figuro 7.6. Proceso para preparar

y servir caf.

12

Considerar que la muestra de 1 00 preparaciones se realiz

en un periodo largo. Es decir, se incluyeron todas las fuentes
de variacin posibles en este proceso.
REPORTE DE DESEMPEO DEL PROCESO
Con base en el tipo de estudio realizado, y en la manera
como se desee reportar el nivel de desempeo del proceso,
se deber aplicar la tabla 9.2. Esta evaluacin normalmente
se reporta en trminos de un estudio corto.

Tabla 9.2: Conversin de tipos de estudio.

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Aplicando los pasos de la mtrica SS se tiene:

1. Identificacin de CTQs (proceso: preparar y servir caf).
Temperatura adecuada del caf y llenado adecuado.
2. Definir oportunidades de defectos (tabla 8.3).

Tabla 8.3: Oportunidades de

error

Las oportunidades de error se obtienen basndose en el

conocimiento del proceso. Por ejemplo, en el paso 1 de la
tabla 8.3 se definieron dos oportunidades de error: poner el
filtro al revs y no poner el filtro. Algo parecido se hizo en
los dems pasos.

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3. Buscar defectos en productos o servicios (figura 9.7).

Figura 9.7: Anlisis del

proceso

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4 y 5 Calcular dpmo individual y su conversin a niveles

sigma, de manera individual:
YFY = 95/ 100 = 0.95 dpu = 5/100 =
0.0500
dpmo =(0.0500/2)(10)6 = 25,000
0.05/2 = 0.025 = 2.5(10-2)
Z=
1.96
YFT = 95/97=0.9794
dpu = (2/97)
=0.020619
dpmo = (0.020619/1)(106) = 20,619
0.020619/1 = 0.020619 = 2.0619(106)
Z = 2.04
YFT = 93/95=0.9789
dpu = (2/95) =
0.021053
dpmo = (0.021053/1)(106) = 21,053
0.021053/1 = 0.021053 = 2.11(10-2)

16

YFY = 93/ 94 = 0.9894

0.010638

dpu = (1/ 94) =

dpmo =(0.010638 /1)(10)6 = 10,638

0.010638/1 = 0.010638 = 1.0638(10-2)
Z=
2.30
YFY =
93/
93 = 1.0
dpu = 0
dpmo = 0
Tiende al infinito
(prcticamente Z= 4.5)
YFY = 91/ 93 = 0.9785
0.021505

dpu = (2/ 93) =

dpmo =(0.021505 /2)(10)6 = 10,753

0.021505/2 = 0.010735 = 1.0735(10-2)
Z = 2.30
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6. Resumen del anlisis (Zshift significa la Z final incluyendo

el factor de correccin de largo a corto plazo) (tabla 4).

Tabla 8.4: Resumen

del anlisis

El factor de correccin para tener el equivalente de un

estudio a corto plazo es 1.5
Total dpo = Total de defectos/Total de oportunidades.
El nmero de defectos por milln de oportunidades (dpmo)
de todo el proceso es (Total dpo)(106) = 13,986, lo cual
corresponde a un nivel de 2.20 sigma.
18

Para todo el proceso, tomando en cuenta el retrabajo:

YFT(proceso) = (1 -13,986/106)9 = 0.8809 = 88.09%
Con base en la aproximacin de Poisson a la binomial*
=dpmu/1O6 =123815/106 = 0.1238
YFT =p(X=0)=e- = e-0.1238 =0.8836
Adicionalmente, si se cumplen las condiciones para poder usar
la distribucin Poisson, se obtiene la distribucin del nmero
de defectos:
p(X=0)= e- =e-01238 = 0.8836
p(X = 1) = e- () = e-01238 (0.1238) = 0.1094
p (X =2) = e- ()2 / 2! = e-01238 (0.1238)2 / 2 = 0.006 77
p(X = 3) = e- ()3 / 3!= e-0.1238(0.1 238) / 3 = 0.000279

19

As, se obtiene la tabla 8.5

Tabla 7.5: Distribucin del

nmero de errores

El nmero de tazas con defectos se obtuvo con base en la

muestra de 1 00 preparaciones.
7. Deteccin de reas de oportunidad. Las tablas 8.6 y 7.7
presentan las reas de oportunidad con base en el orden del
proceso y en su nivel sigma, respectivamente.

20

Tabla 7.7 Ordenamiento

con base en el nivel
sigma.

Tabla 7.6
Ordenamiento con
base en el orden del
proceso.

21

22

23