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r
a
p
Resumen
Justificacin
Hasta
Sera
Objetivo General
Objetivos particulares
vibracin de un piezoelctrico.
Antecedentes
Antecedentes
Antecedentes
Antecedentes
Metodologa
La
Metodologa
Intentaremos
Infraestructura
El trabajo se realiza en el Laboratorio del grupo de
Sensores pticos y Elctricos del Departamento de
Instrumentacin y Medicin del CCADET. El equipo de
laboratorio utilizado se enlista a continuacin:
Generador de funciones,
Systems, Modelo DS345
Stanford
Research
Piezoelctrico
Infraestructura
Detector con una navaja
Preamplificador
Arreglo experimental
Seal obtenida
Resultados obtenidos
Diodo Lser
Resultados obtenidos
Vpp, Vrms Vs Distancia
300
250
200
150
Amplitud (v)
Vpp
Vrms
100
50
0
Distancia (cm)
Resultados obtenidos
Resultados obtenidos
80
Vpp
60
Vrms
40
20
0
Distancia (cm)
Resultados obtenidos
Diodo Led
Resultados obtenidos
Vpp, Vrms Vs Distancia
30
25
20
15
Vpp
Amplitud (v)
Vrms
10
5
0
Distancia (cm)
Resultados obtenidos
Resultados obtenidos
Vpp
15
Vrms
10
5
0
Distancia (cm)
Arreglo experimental a
investigar
Bibliografa
the optical beam deflection technique for use in atomic force microscopy, J. Appl. Phys.
72,612 (1992).
G. Meyer and N. M. Amer, Simultaneous measurement of lateral and normal forces
with an optical-beam-deflection atomic force microscope, Appl. Phys. Lett. 57, 2089
2091(1990).
Royer, M. H. Norory, and M. Fink, J. Phys. (France) III C7-4,, 673 (1995).
C. Murphy and L. C. Aamodt, J. Appl. Phys. 51, 4580 (1980).
Salazar, A. Sanchez-Lavega, and J. Fernandez, J. Appl. Phys. 65, 4150 (1989).
Bibliografa
Bibliografa
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