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p

Resumen

Se pretende desarrollar un mtodo nuevo de

sensado de deflexin de luz que no dependa del


grado de colimacin de un haz ptico. Para
justificar la necesidad del desarrollo propuesto, se
realizaron
mediciones
de
sensibilidad
a
deflexiones de un haz ptico con el llamado
mtodo de la navaja con un diodo Lser y un
diodo LED.

Justificacin
Hasta

donde sabemos, todos los mtodos


desarrollados hasta ahora para sensar deflexiones
pticas requieren un haz de luz colimado, una de
sus limitaciones de estos mtodos, es que slo la
luz lser se puede colimar eficientemente. La luz
proveniente de otras fuentes como son los diodos
LED, no pueden ser colimados sin tener prdidas
muy considerables en su intensidad.

Sera

conveniente entonces explorar nuevos


mtodos pticos de deflectometra que no
dependan del grado de colimacin de la luz, de
manera que puedan ser utilizados con luz

Objetivo General

Proponer e investigar un nuevo mtodo de alta

sensibilidad de sensado de deflexin de luz no


colimada.

Objetivos particulares

Demostrar experimentalmente la perdida de

sensibilidad en la deteccin en la deflexin de un


haz ptico al aumentar la divergencia angular de
este.
Desarrollar un nuevo mtodo para detectar la

deflexin de luz no colimada de alta sensibilidad.


Aplicar el mtodo desarrollado al sensado de la

vibracin de un piezoelctrico.

Antecedentes

A la fecha se han desarrollado mtodos pticos para


medir deflexiones de piezas mecnicas o de la luz
misma basados en el uso de un haz ptico colimado.
Pueden ser de muy alta sensibilidad y comnmente
alcanzan resoluciones en el orden de nanoradianes.
Existen una gran variedad de aplicaciones donde se
utilizan estos mtodos. En particular se utilizan para
sensar vibraciones mecnicas y gradientes de
temperatura o de concentracin de algn qumico.

Antecedentes

El mtodo de deflexin de un haz ptico, esta tcnica es

muy sencilla y eficaz, la cual se puede utilizar para


medir una variedad de parmetros fsicos.
Por ejemplo para medir la amplitud de vibracin del

orden de fracciones de angstroms deben ser detectadas


con precisin, y entre otras aplicaciones como en
tcnicas de deflexin foto-trmica en el que el ngulo de
desviacin de un haz ptico es inducido por un gradiente
de ndice de refraccin debido a un gradiente trmico.

Antecedentes

La deflexin de un haz ptico se suele realizar con

sensores de posicin, estos estn basados en el


centrado y enfoque de un haz de luz para poder detectar
su punto de incidencia.
Un ejemplo del uso del mtodo de deflexin de un haz

ptico es el de monitorear la vibracin de una superficie.


Existen dos tipos de detectores de posicin, el detector

de cuadrantes y el de efecto lateral.

Antecedentes

El mtodo de la navaja, es un detector de silicio

en el cual se le coloca una navaja, cubriendo la


mitad del detector.

Metodologa

La

estrategia que seguiremos es buscar un


mtodo que utilice el fenmeno de interferencia
mltiple en la reflexin de la luz en una pelcula
delgada. La reflectancia de luz monocromtica de
una pelcula delgada presenta mximos u mnimos
como funcin del ngulo de reflexin.

Metodologa

Intentaremos

disear un mtodo que utilice estos


mximos y mnimos para sensar deflexin de luz
independientemente de si la luz esta colimada o no.
Propondremos un mtodo y lo pondremos a prueba con
luz lser no colimada. Esa se obtiene fcilmente
enfocando un haz lser con una lente simple. La razn de
hacerlo con luz lser es que las franjas de interferencia
en la reflectancia de pelculas delgadas pueden ser vistas
y diagnosticadas a simple vista. Si el mtodo funciona
con luz lser se harn pruebas con luz LED.

Infraestructura
El trabajo se realiza en el Laboratorio del grupo de
Sensores pticos y Elctricos del Departamento de
Instrumentacin y Medicin del CCADET. El equipo de
laboratorio utilizado se enlista a continuacin:

Generador de funciones,
Systems, Modelo DS345

Stanford

Research

Osciloscopio, Tektronix TDS 210

Lser de longitud de onda de 532nm (Color Verde)

Piezoelctrico

Infraestructura
Detector con una navaja
Preamplificador

de bajo ruido (Low noise


preamplifier), Stanford Research Systems, Modelo
SR560

Lente con enfoque de 15 cm


Lentes atenuadoras
Fuente de energa de 12V
Pilas de 9V

Arreglo experimental

Seal obtenida

Resultados obtenidos
Diodo Lser

Resultados obtenidos
Vpp, Vrms Vs Distancia
300
250
200
150
Amplitud (v)

Vpp
Vrms

100
50
0

Distancia (cm)

Resultados obtenidos

Resultados obtenidos

Vpp, Vrms Vs Distancia


180
160
140
120
100
Amplitud (v)

80

Vpp

60

Vrms

40
20
0

Distancia (cm)

Resultados obtenidos
Diodo Led

Resultados obtenidos
Vpp, Vrms Vs Distancia
30
25
20
15

Vpp

Amplitud (v)

Vrms

10
5
0

Distancia (cm)

Resultados obtenidos

Resultados obtenidos

Vpp, Vrms Vs Distancia


35
30
25
20
Amplitud (v)

Vpp

15

Vrms

10
5
0

Distancia (cm)

Arreglo experimental a
investigar

Bibliografa

S. Alexander, L. Hellemans, O. Marti, J. Schneir, V. Elings, P. K. Hansma, M. Longmire,

and J. Gurley, An atomicresolution atomic-force microscope implemented using an


optical lever, J. Appl. Phys. 65,164167 (1989).
C. A. J. Putman, B. G. De Grooth, N. F. van de Hulst, and J. Greve, A detailed analysis of

the optical beam deflection technique for use in atomic force microscopy, J. Appl. Phys.
72,612 (1992).
G. Meyer and N. M. Amer, Simultaneous measurement of lateral and normal forces

with an optical-beam-deflection atomic force microscope, Appl. Phys. Lett. 57, 2089
2091(1990).
Royer, M. H. Norory, and M. Fink, J. Phys. (France) III C7-4,, 673 (1995).
C. Murphy and L. C. Aamodt, J. Appl. Phys. 51, 4580 (1980).
Salazar, A. Sanchez-Lavega, and J. Fernandez, J. Appl. Phys. 65, 4150 (1989).

Bibliografa

Javier Brum. Estudio de vibraciones superficiales en medios visco-elsticos

utilizando un mtodo de deflexin ptico, Lab. Acusto ptica, Universidad


de Republica de la Uruguay, (Maestra Doctorado 2008), disponible en
lnea:http://acustoptica.fisica.edu.uy/informes/Informe%20Opcional.pdf
P. G. Datkos, T. Thundat, Uncooled thermal imaging using piezoresistive

microcantilever, Appl. Phys. Lett. Vol. 69, pp. 3277-3279 (1996).


H. Jensenius, J. Thaysen, A.A. Rasmussen, L.H. Veje, O. Hansen, and A.

Boisen. A microcantilever-based alcohol vapor sensor-application and


response model. Applied Physics Letters, 76(18):2615-17, 2000.
M. Sepaniak, P Datskos, N Lavrik. Microcantilever Transducers: A new

approach in sensor technology. Analytical Chemistry. November 1, 2002.

Bibliografa

Eduardo Ramrez Snchez Diseo de un microsensor para deteccin en el


espectro infrarrojo, Tesis para obtener el grado de maestro en ingeniera.
Universidad Nacional Autnoma de Mxico, Facultad de Ingeniera, (2006).

F. M. Battiston, J.-P. Ramseyer, H. P. Lang, M. K. Baller, C. Gerber, J. K.


Gimzewski, E. Meyer, and H.-J. Gu ntherodt, A chemical sensor based on a
microfabricated cantilever array with simultaneous resonance-frequency and
bending readout, Sens. Actuators B 77, 122131 (2001).

J. R. Barnes, R. J. Stephenson, C. N. Woodburn, S. J. OShea, M. E. Welland, T.


Rayment, J. K. Gimzewski, and C. Gerber, A femtojoule calorimeter using
michromechanical sensors, Rev. Sci. Instrum. 65, 37933798 (1994).

R. Raiteri, M. Grattarola, H.-J. Butt, and P. Skla`dal, Micromechanical


cantilever-based biosensors, Sens. Actuators B79, 115126 (2001).

Bibliografa

CINVESTAV. Fenmeno mirage. Centro de Investigacin y Estudios Avanzados


del I.P.N, Unidad Mrida.

A. C. Boccara, D. Fournier, and J. Badoz, Thermo-optical spectroscopy:


detection by the mirage effect, Appl. Phys. Lett. 36, 130132 (1980).

J. C. Murphy and L. C. Aamodt, Photothermal spectroscopy using optical beam


probing: mirage effect, J. Appl. Phys. 51, 45804588 (1980).

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