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Caracterizacin de nanomateriales
Difraccin de rayos X.
Microscopias de sonda de barrido
Microscopia electrnica
Difraccin de rayos X
Ley de Bragg
n= 2dsen
d=
Espacios
interatomicos
Microscopia electronica de
transmision
Fundamento:
Un haz de electrones que manejado a travs de lentes
electromagnticas se proyecta sobre una muestra muy
delgada situada en una columna d e alto vaco. Los
electrones atraviesan la muestra o bien chocan con
tomos d ela misma y acaban su viaje.
Seguimiento de crecimiento
cristalino
Aplicaciones
Grado de cristalinidad y morfologa
Defectos en semiconductores.
Perfiles de concentracin
Mapas de distribucin de elementos qumicos
Control del deterioramiento de los materiales