MICROSCOPIO DE BARRIDO

ELECTRONICO

PARTES DEL EQUIPO

UN MEB MODERNO CONSTA ESENCIALMENTE

DE LAS SIGUIENTES PARTES:
Una unidad ptica-electrnica, que genera el haz que se
desplaza sobre la muestra.
Un portamuestra, con distintos grados de movimientos.
Una unidad de deteccin de las seales que se originan en
la muestra, seguida de un sistema de amplificacin
adecuado.
Un sistema de visualizacin de las imgenes ( tubo de
rayos catdicos ).
Un sistema de vaco, un sistema de refrigeracin y un
sistema de suministro elctrico, relativamente similares a
los del MET.
Un sistema de registro fotogrfico, magntico o de video.
Un sistema de procesamiento de la imagen con ayuda
computacional ( optativo ).

PREPARACIN DE LA MUESTRA
Las muestras destinadas al SEM han de cumplir dos
condiciones: deben estar secas y ser conductoras. El
proceso de secado ha de llevarse a cabo preservando
al mximo la estructura original de la muestra. Para
ello tenemos dos alternativas: usar el mtodo clsico
de fijacin y deshidratacin qumica que el usuario
realiza en su laboratorio y que finaliza con el secado
por punto crtico en nuestras instalaciones, o utilizar
el moderno mtodo de fijacin fsica por criofijacin
que ya est acoplado a uno de los microscopios.
En ambos casos la muestra necesita recubrirse
despus con un material que la haga conductora y
permita su observacin en el microscopio.

RECUBRIMIENTO DE MUESTRAS
EN BAJO VACO

Con este mtodo se realizan dos tipos de

recubrimientos: spputtering de oro para
obtener las mejores condiciones de imagen y, si se
requiere microanlisis por rayor X, el
recubrimiento por hilo de carbono.

RECUBRIMIENTO DE MUESTRAS
EN ALTO VACO

Sus aplicaciones van ms all de la necesidad de

obtener una muestra conductora para el SEM.
Consigue recubrimientos de grano mucho ms
fino y est preparado para realizar spputtering
con distintos metales. Tambin trabaja por el
mtodo de evaporacin, con lo que aumenta el
rango de posibles elementos de recubrimiento.
Utiliza electrodos de carbono para evaporarlo y
obtener films que recubren las rejillas
destinadas al TEM.

OBSERVACIN DE MUESTRAS
CRIOFIJADAS
El microscopio electrnico de barrido (SEM) puede dotarse
de un sistema capaz de observar la muestra a muy baja
temperatura de forma que su preservacin estructural es
mxima y la capacidad de trabajo del microscopio no se
afecta en absoluto, pues ya no tratamos con una muestra
hidratada sino congelada.
El proceso se inicia fuera del microscopio, enfriando la
muestra a la mxima velocidad posible mediante
nitrgeno nieve. A continuacin ya pasa al sistema de
criobservacin, donde se puede fracturar, sublimar el hielo
superficial y recubrir con oro o carbono para su
observacin y/o anlisis. La ventaja de este sistema es que
se puede observar cualquier muestra biolgica o hidratada
con una preparacin mnima y rpida con una buena
preservacin estructural.

CRIOFIJACION

Actualmente, la criofijacin es el nico modo de

fijar componentes celulares sin introducir
alteraciones estructurales importantes.