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YACIMIENTOS MINERALES
MICROSCOPIO DE BARRIDO
ELECTRONICO (SEM)
Introduccin
Un microscopio electrnico de barrido tiene un rango de aumentos de 10 a
Funcionamiento
El SEM consiste de una columna ptica y una consola electrnica. La
primera con una cmara que esta a alto vacio (aproximadamente 2x10-6torr)
donde se coloca la muestra que se va a analizar. . La imagen del
microscopio es formada por un haz de electrones dirigido hacia la muestra,
dicho haz es generado a partir de un can electrnico, el cual tiene como
ctodo un filamento de tungsteno que se calienta mediante un sistema de
emisin termoinica a una temperatura que excede los 2,700 grados kelvin,
este filamento emite electrones en abundancia que produce un alto potencial
negativo con respecto al nodo, que son rpidamente acelerados hacia el
mismo a travs de la columna electrnica. El haz de electrones pasa por dos
o tres condensadores electromagnticos cuya funcin es disminuir el
dimetro del haz.
Sistema de iluminacin
Sistema de iluminacin
filamento
Capucha
Wehnelt
nodo
Fuente de iluminacin
Formacin del haz de electrones por efecto termoinico
Se da cuando por una diferencia de potencial se lleva un filamento a una
temperatura tal que el material del filamento desprende electrones creando
una nube continua de iones que se colectan y enfocan para formar
sucesivamente el haz de electrones.
Los emisores utilizados para el efecto termoinico pueden ser de dos tipos:
filamento de tungsteno (W) o cristales de hexaboruro de lantano (LaB6,
tambin conocidos como ctodos).
Ventajas y desventajas
Tipo de emisor
Ventajas
Desventajas
Filamento de tungsteno
Hexaboruro de lantano
Electrones secundarios
Se producen a partir de la emisin de los electrones de valencia de los
tomos de valencia de los tomos de la muestra.
Como son de muy baja energa(< 50 eV) solo logran salir de la muestra los
ms superficiales.
Con esta informacin obtenemos imgenes de campo claro en 3D.
Imagen topogrfica.
Ejemplo
Ejemplo
Electrones retrodispersos.
A veces llamados e-reflejados.
Estos responden a la composicin elemental de la muestra (contraste por
numero atmico), superficie local de diversos ngulos (topografa o contraste
de la forma), cristalografa (conduccin de electrones), y campos magnticos
internos(contraste magntico)
Poseen mayor E que los secundarios, por tanto proporcionan informacin de
regiones mas profundas de la muestra.
Son sensibles a la composicin de la muestra:
La localizacin del detector tambin ser crucial en la eficiencia de la deteccin para la obtencin del mejor coeficiente de
retrodispersion. La ubicacin mas favorable del detector para un buen contraste de numero atmico es debajo de la
posicin de punto de impacto del haz sobre la muestra
La influencia del ngulo de incidencia es notoria en el contraste de numero atmico. El coeficiente de retrodispersion para
muestras de gran inclinacin tiende hacia un valor similar a la unidad del ngulo de inclinacion. As es que , el contraste
por numero atmico entre 2 elementos decrece tanto como el ngulo se incrementa.
Cuando pares de elementos separados por una unidad de numero atmico la predisposicin del contraste decrece, as
como cuando el numero atmico se incrementa.
Ejemplos: B(5) y C(6).
Aquellos elementos separados por una unidad de peso atmico produce muy bajo contraste.
Ejemplo Al (13) y Si (14) permiten un contraste de solo un 6.7%, en cambio pares de elementos separados ampliamente
de un numero atmico el contraste es mayor. Por ejemplo: Al(13) y Au (79) producen un contraste del 69%.
Las regiones de un alto numero atmico aparecen con alta brillantes en relacin con las regiones de bajo numero atmico.
Entonces los niveles de grises pueden ser interpretados como regiones de diferente composicin con un incremento en el
numero atmico correspondiente al incremento de brillantes
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Ejemplo
Ejemplo
Ejemplo
Cloruros depositados sobre una aleacin de Nquel-Cromo. Imagen tomada con detector de
electrones secundarios y retro dispersados .
Preparacin de la muestra
Ya que existe una gran variedad de campos de aplicacin de SEM, hay muchos tipos de
muestras que pueden ser observadas. Por lo tanto se han desarrollado diversas
tcnicas de preparacin que dependen del objetivo de la investigacin.
Uno de los requerimientos es el tamao, que puede ser desde muy pequeo hasta 7cm
o tres veces mas en los equipos modernos.
Sin embargo, para cada caso se deben tomar en consideracin tres aspectos
importantes:
1) La muestra debe estar limpia y seca.
2) Se debe mantener la morfologa original.
3) No debe tener cargas electrostticas.
Preparacin de la muestra
Preparacin de la muestra
Requisito principal: La muestra debe ser conductora
Se monta sobre el porta de modo que este elctricamente conectada al
mismo.
Si la muestra NO es conductora
La superficie se recubre con una pelcula de metal:
Sputtering: Au, Au-Pd, Pt-Pd
Evaporacin en el vacio: C, Al.
Preparacin de la muestra
Muestras biolgicas
Protocolos habituales:
-Fijacin
-Deshidratacin
-Secado (por punto critico)
-Montaje y recubrimiento.
Metalizadoras
Minerales accesorios
Estos minerales por su pequeo tamao son complicados de identificar sin
el SEM, suelen encontrarse ampliamente distribuidos en las rocas afectadas
por diagnesis profundas y son condicionantes directos de la temperatura a
la que los fluidos diagenticos llegaron.
Ejemplo de minerales accesorios son pirita y barita
Texturas
Con las imgenes del SEM de alto aumento podemos observar ciertas