ALEJANDRA BERMUDEZ

MICROSCOPA ELECTRNICA DE ERIKA BERNAL

CARLOS MARTINEZ
BARRIDO (SEM)
ORIGEN DEL MICROSCOPIO
ELECTRNICO DE BARRIDO
Conocido el fundamento DeBroglie, Busch llevo a la practica las
primeras lentes electromagnticas
Von Ardenne en 1933 demostr que se podan recoger electrones
secundarios emitidos por la superficie de una muestra
bombardeada por un haz de luz de electrones.
PRINCIPIO BSICO

Debido a que el lmite de amplificacin de un microscopio ptico

est restringido por la longitud de onda de la luz visible; los
microscopios electrnicos emplean electrones, que tienen una
longitud de onda mucho menor que la de la luz y pueden revelar
estructuras mucho ms finas.

La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los

microscopios electrnicos es de 0,5 aproximadamente
PRINCIPIO BASICO
Los electrones del material se aceleran en un campo
elctrico
Se usan diferencias de potencial desde los 50 hasta
los 30.000 voltios
ALTO VOLTAJE: muestras metlicas
BAJO VOLTAJE. muestras comnmente
bilgicas
El haz de electrones se desplaza sobre la superficie de la muestra
realizando un barrido que obedece a una trayectoria de lneas
paralelas. La variacin morfolgica de la muestra entrega diversas
seales que son recogidas por distintos detectores; los cuales
permiten la observacin, caracterizacin y microanlisis superficial
de materiales tanto orgnicos como inorgnicos
INTERACCION HAZ-MUESTRA

Electrones secundarios:La propia muestra emite electrones

secundarios debido a la colisin con el haz incidente para generar
imgenes tridimensionales de alta resolucin, la energa de estos
electrones es muy baja, inferior a 50 eV, por lo que los electrones
secundarios provienen de los primeros nanmetros de la superficie.
Electrones retrodispersados:Algunos electrones primarios son
reflejados o retrodispersados tras interactuar con los tomos de la
muestra
Absorcin de electrones:La muestra absorbe electrones en
funcin del espesor y la composicin; esto produce la diferencia de
contraste en la imagen.
INTERACCIN HAZ-MUESTRA
Emisin de rayos X:Cuando los electrones de niveles internos
son expulsados por la interaccin de los electrones primarios,
habr transiciones entre los niveles de energa con emisin de
rayos X, esta energa y longitud de onda estn relacionadas con la
composicin elemental del material

Emisin de electrones Auger:Cuando un electrn es expulsado

de un tomo, otro electrn ms externo puede saltar hacia el
interior para llenar esta vacancia resultando en un exceso de
energa.
VENTAJAS DEL SEM
1. Su gran profundidad de campo que le da apariencia
tridimensional a las imgenes permitiendo enfocar y observar
amplias zonas de la muestra al mismo tiempo.
2. Puede producir imgenes de alta resolucin (de hasta 3 nm), es
decir, que detalles muy cercanos en la muestra pueden ser
observados separadamente a alta magnificacin.
3. La relativamente sencilla preparacin de las muestras.
4. Se pueden observar muestras de tamaos desde centmetros
hasta muestras del orden de nanmetros.
MICROSCOPIO
ELECTRNICO DE BARRIDO
La microscopia electrnica de barrido (SEM) posibilita conocer la
morfologa superficial de una muestra
COMPONENTES DE UN
MICROSCOPIO
ELECTRNICO
Can de electrones: Responsable de la generacin del haz de
electrones
Lentes electromagnticas
Pantalla
CARACTERIZACIN DE
MATERIALES MEDIANTE SEM
Dada a la alta resolucin que se puede lograr en la SEM se puede
conocer:
oEstructura cristalina
oPorosidad
oMorfologa superficial
oComposicin qumica
EJEMPLO
BIBLIOGRAFIA
https://
books.google.com.co/books?id=JNoMEWVRBmkC&pg=PA92&dq=micro
scopia+electronica+de+barrido+en+catalisis&hl=es&sa=X&redi
r_esc=y#v=onepage&q=microscopia%20electronica%20de%20barri
do%20en%20catalisis&f=false
http://
www.bahiablanca-conicet.gob.ar/biblioteca/principios-practica-micro
scopia-electronica.pdf
http://
ruc.udc.es/dspace/bitstream/handle/2183/9313/CC-011_art_5.pdf?
sequence=1
http://www.biologia.edu.ar/microscopia/meb.htm
https://
investigaciones.uniandes.edu.co/index.php/en/centro-de-microscopi