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MICROSCOPÍA DE

FUERZA ATÓMICA
William Andrés Negrete Humanez
Guillermo Andrés Jiménez Buelvas
Estudiantes

UNIVERSIDAD DE CÓRDOBA
FACULTAD DE CIENCIAS BASICAS
PROGRAMA DE QUÍMICA
2019
INTRODUCCIÓN
Desde su aparición en los 80's, el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), ha sido
un equipo importante para la elucidación de la microestructura de materiales.
Basado en la interacción local entre la punta y la superficie de una muestra,
proporciona imágenes tridimensionales de superficies con alta resolución espacial
en tiempo real. Debido a esto, el AFM es utilizado en la caracterización de
materiales para determinar sus propiedades físicas. El Microscopio de Fuerza
Atómica trabaja en diferentes modos de operación como Tapping, Contacto e
Imagen de Fase para obtener la topografía de la superficie de la muestra. También
determina las propiedades físicas de los materiales como: viscoelasticidad, fuerza
eléctrica y fuerza magnética. En este trabajo, describimos los principales modos
de operación del Microscopio de Fuerza Atómica AFM y presentamos imágenes
obtenidas de la caracterización de diferentes materiales.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA

 El Microscopio de Fuerza Atómica monitorea la superficie de la muestra con una


punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm que se localiza al final de un cantilever.
Las fuerzas entre la punta y la muestra provocan la deflexión del cantilever,
simultáneamente un detector mide esta deflexión a medida que la punta se
desplaza sobre la superficie de la muestra generando una micrografía de la
superficie. La fuerza interatómica que contribuye a la deflexión del cantiléver es
la fuerza de Van der Waals.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA

 La microscopia AFM sondea la superficie de una muestra con una punta muy
aguda, de un par de micras de largo y menos de 100 Å de diámetro. La punta
se localiza al final del brazo del cantilever de 100 a 200 micras de largo.
 La fuerza entre la punta y la superficie de la muestra hace que el cantilever se
doble o flexione.
 Un detector mide esta flexión que ocurre conforme la punta barre la superficie
y con ello se obtiene un mapa topográfico.
 Este tipo de medida puede ser aplicada tanto a materiales aislantes,
semiconductores o conductores.
 Varias son las fuerzas que contribuyen a la flexión del cantilever siendo la más
común la fuerza de van der Waals.
AFM DE CONTACTO.
 La punta se une al final del cantilever con una baja constante de resorte, menor que la
constante de resorte efectiva que mantienen los átomos de la muestra. Conforme la
punta barre la superficie, la fuerza de contacto origina la flexión del cantilever de
modo que éste se adapta a la superficie topográfica de la muestra.
 Como resultado, en el modo de AFM de contacto, la fuerza de van der Waals se
equilibra con cualquier otra fuerza que intente mantener juntos a los átomos. Por
tanto, cuando el cantilever empuja a la punta contra la muestra, este se flexiona
forzando a los átomos de la punta y muestra a permanecer juntos.
 Ventajas: amplia gama de muestras a analizar; se pueden realizar medidas de
elasticidad; se pueden realizar medidas in situ en una celda líquida o en la celda
electroquímica; las resoluciones verticales y horizontales son muy elevadas.
 Desventajas: la punta está en contacto con la superficie; problemas de destrucción de
la punta o modificación de la superficie, arrastre de partículas, las capas de agua
absorbida generan problemas de importantes fuerzas de capilaridad; carga
electrostáticas de superficie.
AFM DE NO-CONTACTO (NC-AFM).
 En esta técnica se excita cantilever cerca de su frecuencia de resonancia de modo
que vibre cerca de la superficie de la muestra, a una distancia comprendida entre 10
y 100 Å.
 La técnica NC-AFM se utiliza cuando no se quiere deteriorar la superficie a medir.
La fuerza que ejerce la punta sobre la muestra es muy baja, 10−12 N.
 Ventajas: no existe modificación ni contaminación de la superficie de la muestra; se
pueden medir diferentes gradientes de fuerza (magnética, electrostática, etc.).
 Desventajas: resoluciones altas requieren que la punta se sitúe muy cerca de la
superficie; el barrido ha de ser muy lento para no perder el “contacto” con la
superficie; la oscilación de la punta se puede ver frenada por la existencia de capas
de agua/contaminación; las gotas de agua se confunden con la topografía de la
muestra.
AFM DE CONTACTO INTERMITENTE (TAPPING
MODE)
 Uno de los problemas que presenta la técnica AFM es el deterioro que ocasiona en
algunas muestras por el arrastre continuo de la punta sobre la superficie de la muestra.
 Para solventar este problema se utiliza una variante de la técnica AFM conocida
popularmente como Tapping Mode. En esta aplicación, la punta está en intermitente
contacto con la superficie a la vez que la barre.
 Ventajas: medida muy estable; fuerza de presión muy débil; resolución elevada;
proporciona las mejores prestaciones para la medida topográfica de alta resolución;
evita imágenes artificiales que ocurren en AFM.
 Desventajas: no puede trabajar en medio líquido; no se llega a resolución atómica;
barridos más lentos.
MODOS DE OPERACIÓN DEL MICROSCOPIO DE
FUERZA ATÓMICA
 El Microscopio de Fuerza Atómica utiliza múltiples modos de operación de acuerdo a las
características físicas de la muestra y de las propiedades a medir:
 Contacto: Mide la topografía de la muestra deslizando la punta sobre su superficie.
 Tapping: También llamado contacto intermitente, mide la topografía de la muestra tocando
intermitentemente su superficie.
 Imagen de Fase: Proporciona una imagen contrastada generada por las diferencias de
adhesión en la superficie de la muestra.
 No Contacto: Mide la topografía de acuerdo a las fuerzas de Van der Waals que existen entre
la superficie de la muestra y la punta.
 Fuerza Magnética: Mide el gradiente de fuerza magnética sobre la superficie de la muestra.
 Fuerza Eléctrica: Mide el gradiente de fuerza eléctrica sobre la superficie de la muestra.
MODOS DE OPERACIÓN DEL MICROSCOPIO DE FUERZA
ATÓMICA

 Potencial de Superficie: Mide el gradiente de campo eléctrico sobre la superficie de


muestra.
 Modo Lift: Técnica que utiliza dos modos de operación usando la información
topográfica para mantener la punta a una altura constante sobre la superficie.
 Modulación de Fuerza: Mide la elasticidad/suavidad relativa de la superficie de las
muestras.
 Fuerza Lateral: Mide la fuerza de fricción entre la punta y la superficie de las muestras.
 Microscopía de Tunelamiento: Mide la topografía de superficie de la muestra
utilizando la corriente de tunelamiento.
 Microscopía Electroquímica: Mide la estructura de la superficie y las propiedades de
los materiales conductores inmersos en soluciones electrolíticas.
 Litografía: Se emplea una punta especial para grabar información sobre la superficie de
muestra.
APLICACIONES DEL AFM EN LA CIENCIA DE
MATERIALES

 La aplicación de las técnicas de AFM en la investigación de


las propiedades (viscoelasticidad y dureza) y la
microestructura de los materiales permite obtener imágenes
con resolución del orden de los nanómetros. Además, estas
técnicas proporcionan imágenes tridimensionales que
permiten cuantificar la profundidad y morfología de las
muestras.
APLICACIONES DEL AFM EN LA CIENCIA DE MATERIALES

 Las Figuras 4 a 6 muestran las micrografías que se obtuvieron con un Microscopio de


Fuerza Atómica Nanoscope IV de Digital Instruments en modo Tapping usando puntas
de nitruro de silicio.
 En la Figura 4 se muestran las micrografías de un polímero depositado en un sustrato de
vidrio. La Figura 4. a) proporciona información topográfica de la superficie conocida
como su microestructura y las mediciones de altura del depósito. En la Figura 4. b) se
muestra la imagen de contraste de fases para la misma muestra, la cual proporciona
información cualitativa del grado de dureza de la superficie.
APLICACIONES DEL AFM EN LA CIENCIA DE MATERIALES

Las Figuras 5 a y b muestran las micrografías obtenidas de un cerámico que


corresponden a la imagen de contraste de fases y amplitud que proporcionan
información acerca de la homogeneidad y dureza de la superficie de la muestra.
APLICACIONES DEL AFM EN LA CIENCIA DE MATERIALES

Las Figuras 6 a y b corresponden a la imagen obtenida de una fibra de Nylon,


que proporcionan información morfológica y dureza de la superficie de la
muestra.
CONCLUSIÓN
La microscopía de fuerza atómica se basa en la interacción entre una punta muy fina y la
superficie de la muestra. Se trata de provocar un desplazamiento relativo entre punta y
muestra mediante un barrido fino basado en materiales piezoeléctricos. Manteniendo la
interacción punta - muestra constante, se obtienen mapas tridimensionales de resolución
nanométrica en los tres ejes. El uso de puntas especiales con propiedades eléctricas,
térmicas o mecánicas permite asimismo la caracterización de la muestra con respecto a
estas interacciones. Un gran número de aplicaciones derivadas de esta técnica se basan en
la manipulación de la muestra con estas puntas, como por ejemplo nanolitografía o
estiramiento ("pulling") de proteínas.
REFERENCIAS BIBLIOGRÁFÍCAS
 [1] D. A. Bonnell, "Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy" 2nd ed. Ed.
Wiley-VCH 2001.
 [2] J. D. Jacson, "Classical Electrodynamics, John Wiley and sons, New York,
1998.
 [3] S. M. Sze, "Physics of Semiconductor Devices" John Wiley and sons, New
York, 1981.
 [4] A. Zangwill, "Physics at Surfaces" Cambridge University Prees, Cambridge,
UK, 1988.
 [5] H. J. Guentherodt, R. Wiesendanger "Scanning bTunneling Microscopy I"
Springer-Verlag, Berlin, 1992.
GRACIAS POR SU
ATENCIÓN.

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