xx

a a
La interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase entre la
radiación emitida por diferentes átomos es proporcional a 2. Esta condición
se expresa en la ley de Bragg:
Donde

 n es un número entero,
 λ es la longitud de onda de los rayos X,
 d es la distancia entre los planos de la red cristalina y,
 θ es el ángulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersión.
Longitud de onda Cu: k = 1.542 A
m= h2+k2+l2 1 2 3 4 5 6 ¿7? 8 9

PLANOS (100) (110) (111) (200) (210) (211) (220) (221)

 S.C. SI SI SI SI SI SI SI SI

 B.C.C. NO SI NO SI NO SI SI NO

 F.C.C. NO NO SI SI NO NO SI NO

S.C. Aparecen todos los planos.

B.C.C. Aparecen los planos donde h+k+l = par.
F.C.C. Aparecen los planos donde los h k l son todos par o impar.
 EJERCICIO
En un análisis por DRX se encontraron los soguientes picos de
difracción con su respectivo ángulo 2:

PICO 2  Sen  Sen2 m (hkl)

Primer pico 21.0 10.5 0.1822355 0.0332097

Segundo pico 24.3 12.15 0.2104717 0.0442983

Tercer pico 34.6 17.3 0.2973748 0.0884318

Cuarto pico 40.8 20.4 0.3485720 0.1215024

Quinto pico 42.6 21.3 0.3632512 0.1319514

Sexto pico 49.6 24.8 0.4194520 0.1759400

Séptimo pico 56.0 28.0 0.4694715 0.2204035

La dispersión de onda incidente por una celda unitaria tiene que ver con la
suma de diferentes ondas dispersadas por los electrones contenidos en la
celda, con diferentes fases y diferentes amplitudes.

La intensidad de la reflexión esta dada por la siguiente ecuación:

Ihkl  [Fhkl]2
Donde

 Fhkl = Factor de estructura, definido como:

Donde
fa = Factor de dispersión atómico
x, y, z = Posición de los átomos
Ihkl  [Fhkl]2 
 Demostrar que en la red cúbica simple se observan todos los planos

Demostrar que en la red cúbica centrada en el cuerpo se observan solo los planos
donde h+k+l = par

Demostrar que en la red cúbica centrada en las caras se observan solo los planos
donde h k l son todos par o impar

000
000 000
0½½
½½½
½½0
½0½
 TAREA JUEVES 8 DE ABRIL
Demostrar los planos que aparecen en la estructura del NaCl

Cloro
000
0½½
½½0
½0½

Sodio
½½½
00½
0½0
½00
Rigaku Miniflex
(Tokyo, Japan).

Phillips X’PERT XRD

(Phillips Electronics,
Eindhoven, The
Netherlands).
Longitud de onda Cu: k = 1.542 A
•Determinar las características estructurales de muestras sólidas

•Se obtendrán patrones de difracción de muestras cerámicas, metálicas y

polímeros que presenten cierto grado de cristalinidad, así como de muestras
orgánicas o inorgánicas que puedan presentarse en polvo.
Counts
wollas100

150

100

50

0
20 30 40 50 60 70

Position [°2Theta]
 Pos. [°2Th.] Height [cts] FWHM [°2Th.] Rel. Int. [%]
11.4845 46.52 0.4723 29.10
16.1524 5.53 0.4723 3.46
21.1423 3.62 0.9446 2.27
23.1586 115.04 0.3936 71.96
25.3290 105.22 0.3936 65.82
26.8611 159.85 0.3936 100.00
29.1141 36.74 0.9446 22.99
32.7876 23.52 0.9446 14.71
35.0960 64.88 0.4723 40.59
38.4379 45.20 0.3936 28.28
39.0578 88.67 0.4723 55.47
41.5401 29.78 0.6298 18.63
44.5823 6.08 0.6298 3.80
45.7432 21.17 0.3936 13.24
47.3437 37.40 0.4723 23.40
50.5464 10.28 0.4723 6.43
52.0514 65.61 0.4723 41.04
53.2151 32.84 0.3936 20.54
55.1051 2.49 0.6298 1.56
57.3601 16.09 0.4723 10.07
60.3071 42.75 0.4723 26.74
62.9892 17.72 0.6298 11.09
63.8171 47.54 0.4723 29.74
65.4220 4.04 0.6298 2.53
68.9629 37.17 0.4723 23.26
70.0811 8.08 0.4723 5.05
71.8358 0.38 0.3936 0.24
74.0597 19.08 0.4723 11.93
76.8809 10.82 0.5760 6.77

FWHM: Full width at half maximum